电子组件的测试装置的制造方法
【技术领域】
[0001]本实用新型涉及一种测试装置，特别是涉及一种电子组件的测试装置。
【背景技术】
[0002]IC等电子组件在组装或出货前需要利用测试装置进行各项电性效能的测试，如图1、2所示，为现有的一种测试装置，包含一以金属制成的座体11，及数个设置于该座体11内的弹簧探针12。通过所述弹簧探针12与电子组件100形成电连接以进行各项测试。如图2所示，上述结构设计虽然能够使弹簧探针12受到座体11的金属全屏蔽，但座体11中用于容置弹簧探针12的穿孔111直径并非连续，将导致特征阻抗无法匹配，而阻抗不匹配容易引起谐振与低通滤波效应而造成信号失真，影响测试效果。
【发明内容】
[0003]本实用新型的目的在于提供一种同时具有金属全屏蔽的功效，又易于调整阻抗匹配的电子组件的测试装置。
[0004]本实用新型电子组件的测试装置，用于测试一个电子组件，该电子组件具有一个电路本体部，及数个设置于该电路本体部上的电性接触部，该测试装置包含一个以金属材质制成的测试座，及数个弹簧探针，该测试座包括数个间隔设置且上下贯穿的穿孔，每一个穿孔具有一个单一尺寸的预定孔径，所述弹簧探针是穿设于该测试座并分别定位于所述穿孔内而且能与该电子组件的电性接触部形成电连接，而且所述电性接触部及所述弹簧探针皆不显露于相对应的穿孔外。
[0005]本实用新型所述电子组件的测试装置，该测试座还包括数个分别设置于所述穿孔内而用于定位所述弹簧探针的绝缘层。
[0006]本实用新型所述电子组件的测试装置，每一个弹簧探针具有一个侧周面及两个端点，而所述绝缘层的至少一个是完全包覆对应弹簧探针的侧周面，但不包覆所述端点。
[0007]本实用新型所述电子组件的测试装置，每一个弹簧探针具有一个侧周面及两个端点，而所述绝缘层中的至少一个是与对应弹簧探针的侧周面局部接触以定位该弹簧探针，并使该弹簧探针与该测试座间形成气隙。
[0008]本实用新型所述电子组件的测试装置，该测试座还包括一个上座体及一个下座体，所述穿孔是贯穿该上座体及该下座体。
[0009]本实用新型所述电子组件的测试装置，该上座体包括一个基座部，及一个环绕该基座部设置且由该基座部一体向上延伸的环壁部，该环壁部与该基座部共同围绕出一个用于容置该电子组件的容置空间。
[0010]本实用新型电子组件的测试装置，包含一个以金属材质制成的测试座，及数个弹簧探针，该测试座包括数个间隔设置且上下贯穿的穿孔，每一个穿孔具有一个预定孔径及两个开口，每一个穿孔于所述开口间的孔径变化量为± 10 %，所述弹簧探针是穿设于该测试座并分别定位于所述穿孔内而且能与该电子组件的电性接触部形成电连接，而且所述弹簧探针不显露于相对应的穿孔外。
[0011]本实用新型电子组件的测试装置，用于测试一个电子组件，该电子组件具有一个电路本体部，及数个设置于该电路本体部上的电性接触部，该测试装置包含一个以金属材质制成的测试座，及数个弹簧探针，该测试座包括数个间隔设置且上下贯穿的穿孔，每一个穿孔具有一个单一尺寸的预定孔径，且每一个穿孔具有两个开口，定义所述开口间的距离为一个第一距离，所述弹簧探针是穿设于该测试座并分别定位于所述穿孔内而且能与该电子组件的电性接触部形成电连接，每一个弹簧探针不显露于相对应的穿孔外，而每一个电性接触部的局部是显露于相对应的穿孔外，定义每一个电性接触部沿所述开口的联线方向显露于相对应的穿孔外的距离为一个第二距离，该第二距离是小于等于该第一距离的5%。
[0012]本实用新型的有益效果在于:通过该测试座的每一穿孔实质上为单一孔径的直孔的设计，更容易调整每一弹簧探针的阻抗匹配，提高测试装置的测试性能。
【附图说明】
[0013]图1是一剖视图，说明现有的一种测试装置。
[0014]图2是一局部放大部视图，辅助说明图1中假想线框示处。
[0015]图3是一剖视图，说明本实用新型电子组件的测试装置的实施例。
[0016]图4是一局部放大部视图，为图3中假想线框示处，辅助说明本实施例中，一电子组件与一测试装置的一种接触态样。
[0017]图5是一局部放大部视图，辅助说明本实施例中，该电子组件与该测试装置的另一种接触态样。
【具体实施方式】
[0018]下面结合附图及实施例对本实用新型进行详细说明。
[0019]参阅图3，本实用新型电子组件的测试装置的实施例包含一测试座2，及数个穿设于该测试座2的弹簧探针3。
[0020]如图4所示，该测试座2是以金属材质制成，并包括数个间隔设置且上下贯穿的穿孔21，每一穿孔21具有两个开口 210。要特别说明的是，每一穿孔21在所述开口 210间，实质上具有单一尺寸的预定孔径，但是实际实施时，可能为了成型出导引锥度，或是其他加工上的选择，使得每一穿孔21于所述开口 210间的孔径变化量为±10%。所述弹簧探针3是穿设于该测试座2并分别定位于所述穿孔21内且不显露于相对应的穿孔21夕卜。
[0021]如图3所示，于本实施例中，该测试座2还包括一上座体22及一下座体23，所述穿孔21是贯穿该上座体22及该下座体23。其中，该上座体22包括一基座部221，及一环绕该基座部221设置且由该基座部221 —体向上延伸的环壁部222，该环壁部222与该基座部221共同围绕出一容置空间223。当然，于实际实施时，该测试座2本身也能够是一体成型的设计，不以此为限。
[0022]参阅图3、4，要特别说明的是，一般的测试装置，其弹簧探针3能够区分为提供电源、传递信号、接地三种功能，也就是说，所述弹簧探针3中，会有至少一支作为提供电源的用途，至少一支进行接地，其余则作为信号的传递。由于作为接地用途的弹簧探针3，需与该测试座2直接接触以产生接地作用。而该弹簧探针3用于提供电源时，则需要相当良好的绝缘效果以避免短路的情形发生，因此该测试座2还包括数个分别设置于所述穿孔21内的绝缘层4，绝缘层4的数量配合提供电源与传递信号功能的弹簧探针3的数量。其中，每一弹簧探针3具有一侧周面311及两个端点312，提供电