检具的制作方法
【专利摘要】本实用新型涉及一种检具，包括检具台，检具台为长方体结构，所述检具台上设有与其中一个长边平行的第一凹槽，与长边相邻的两个短边上均设有与短边平行的第二凹槽，在第一凹槽和第二凹槽之间设有检查块，所述检查块与检具台通过螺栓固定连接，检查块上设有若干个检查孔。本实用新型很方便就能检查平板工件上两个圆柱体之间的轴距是否符合公差要求，提高检测效率。
【专利说明】
检具
技术领域
[0001]本实用新型涉及一种检具，尤其是一种检查平板上两个圆柱体形凸起的轴距的检具。
【背景技术】
[0002]在平板上具有两个以上的圆柱体是目前常用的工件形状。传统检查两个圆柱体之间的轴距时，采用游标卡尺或者千分尺卡在两个圆柱体上测量，还必须要去除两个圆柱体的半径，如果圆柱体的尺寸有误差，则测量不准确，检测效率也差。
【发明内容】
[0003]本实用新型的目的在于提供一种很方便就能检查平板工件上两个圆柱体之间的轴距是否符合公差要求，提高检测效率的检具。
[0004]为了达到上述目的，本实用新型的技术方案是:一种检具，包括检具台，检具台为长方体结构，所述检具台上设有与其中一个长边平行的第一凹槽，与长边相邻的两个短边上均设有与短边平行的第二凹槽，在第一凹槽和第二凹槽之间设有检查块，所述检查块与检具台通过螺栓固定连接，检查块上设有若干个检查孔。
[0005]采用上述结构后，本实用新型在使用时，只要将被检查的工件上设置与第一凹槽和第二凹槽形状位置相同的凸台，将凸台卡装在第一凹槽和第二凹槽内，然后就可以对工件进行限位。在将工件上的两个圆柱体试着伸入检查块的检查孔内，如果可以伸入，则工件上的圆柱体轴距尺寸公差在规定范围内；如果不能伸入，则工件上的圆柱体轴距尺寸公差不能满足公差要求，必须重新加工。同时在不同规格形状的工件，可以设置不同检查孔位置的检查块，用来扩大检具的使用范围。
【附图说明】
[000?]图1是本实用新型的结构不意图；
[0007]图2是图1的仰视图。
【具体实施方式】
[0008]以下结合附图给出的实施例对本实用新型作进一步详细的说明。
[0009]参见图1所示，一种检具，包括检具台I，检具台I为长方体结构，所述检具台I上设有与其中一个长边2平行的第一凹槽3，与长边2相邻的两个短边4上均设有与短边4平行的第二凹槽5，在第一凹槽3和第二凹槽5之间设有检查块6，所述检查块6与检具台I通过螺栓7固定连接，检查块6上设有若干个检查孔8。
[0010]参见图1所示，本实用新型在使用时，只要将被检查的工件上设置与第一凹槽3和第二凹槽形5状位置相同的凸台，将凸台卡装在第一凹槽3和第二凹槽5内，然后就可以对工件进行限位。在将工件上的两个圆柱体试着伸入检查块6的检查孔8内，如果可以伸入，则工件上的圆柱体轴距尺寸公差在规定范围内；如果不能伸入，则工件上的圆柱体轴距尺寸公差不能满足公差要求，必须重新加工。同时在不同规格形状的工件，可以设置不同检查孔8位置的检查块6，用来扩大检具的使用范围。
[0011]以上所述的仅是本实用新型的优选实施方式，应当指出，对于本领域的普通技术人员来说，在不脱离本实用新型创造构思的前提下，还可以做出若干变形和改进，这些都属于本实用新型的保护范围。
【主权项】
1.一种检具，其特征在于:包括检具台(I)，检具台(I)为长方体结构，所述检具台(I)上设有与其中一个长边(2)平行的第一凹槽(3)，与长边(2)相邻的两个短边(4)上均设有与短边(4)平行的第二凹槽(5)，在第一凹槽(3)和第二凹槽(5)之间设有检查块(6)，所述检查块(6)与检具台(I)通过螺栓(7)固定连接，检查块(6)上设有若干个检查孔(8)。
【文档编号】G01B5/14GK205561723SQ201620135816
【公开日】2016年9月7日
【申请日】2016年2月23日
【发明人】章华亮
【申请人】昆山市杰尔电子科技股份有限公司