专利名称：一种存储器芯片的性能检测装置的制作方法
技术领域：
本实用新型涉及内燃和电力机车的存储器芯片，尤其涉及一种存储器芯片的性能 检测装置。
背景技术：
内燃和电力机车的监控主机记录板存储器芯片用于存储机车运行数据及各项运 行参数，是机车运行控制中不可缺少的部件。机车存储器芯片属于可擦除存储芯片，由于 机车运行过程中有大量的数据需要进行存储，芯片在存储过多运行文件之后容易造成主机 运行慢、死机、运行数据丢失等现象，严重影响了机车的运行安全。目前由于无法获知芯片 的存储状态，只能在由于芯片故障导致机车运行出现问题时通过更换存储器芯片来解决问 题，降低了机车运行的安全性和可靠性，并且由于芯片费用较高，也增加了不少检修成本。
实用新型内容本实用新型的目的是针对目前只能在由于芯片故障导致机车运行出现问题时通 过更换存储器芯片来解决问题，导致降低了机车运行的安全性和可靠性，同时增加了检修 成本的问题，提供一种能够提高存储器芯片的性能、由此降低检修成本、提高机车运行安全 性的存储器芯片的性能检测装置。本实用新型提供的存储器芯片的性能检测装置包括主体；用于连接存储器芯片 的芯片连接装置；用于输入清空指令的操作按键；以及控制模块；所述芯片连接装置和操 作按键分别设置在所述主体的外表面，所述控制模块设置在所述主体的内部，所述控制模 块包括用于根据所输入的清空指令对存储器芯片执行清空操作、在清空操作完成之后输出 表示清空成功的电信号的清空单元，所述操作按键和所述芯片连接装置分别与所述控制模 块的清空单元电连接。采用本实用新型提供的性能检测装置对存储器芯片进行检测，能够根据所输入的 清空指令对存储器芯片执行清空操作，由此可以擦除存储器芯片中无用的数据，保证存储 器芯片的存储空间。定期采用本实用新型提供的性能检测装置对存储器芯片进行清空，由 于清空后的存储器芯片没有过多的文件堆积，可以提高主机的运行速度，减少死机、数据丢 失等现象的发生，进而避免频繁更换芯片，降低了检修成本，并且提高了机车运行安全性。
图1为本实用新型提供的存储器芯片的性能检测装置的结构示意图；图2为本实用新型提供的存储器芯片的性能检测装置中的控制模块10的结构示 意图。
具体实施方式
以下结合附图对本实用新型提供的存储器芯片的性能检测装置做进一步的详细描述。如图1所示，本实用新型提供的存储器芯片的性能检测装置包括主体7 ；用于连 接存储器芯片的芯片连接装置8 ；用于输入清空指令的操作按键9 ；以及控制模块10 ；所述 芯片连接装置8和操作按键9分别设置在所述主体7的外表面，所述控制模块10设置在所 述主体7的内部，所述控制模块10包括用于根据所输入的清空指令对存储器芯片执行清空 操作、在清空操作完成之后输出表示清空成功的电信号的清空单元11，所述操作按键9和 所述芯片连接装置8分别与所述控制模块10的清空单元11电连接。根据本实用新型的技术方案，主体7可以为便于手持的结构，例如图1所示的立方 体结构，可以在主体1的顶部设置芯片连接装置8，该芯片连接装置8用于实现存储器芯片 与所述性能检测装置内部的控制模块10的清空单元11的连接，以实现对芯片的检测操作， 该芯片连接装置8例如可以为防插反式插槽。该插槽被设置成可以容纳存储器芯片的大 小，其内设置有与存储器芯片针脚一一对应的接触点，为了防止存储器芯片插反，可以在插 槽的边角设置一个或两个不对称的凸起定位点，以与存储器芯片上的凹槽对应。在插入时， 可以根据存储器芯片凹槽位置来判断正反方向，再将存储器芯片上的凹槽对准插槽内的凸 起定位点，沿着两旁沟槽将存储器芯片放入插槽中。如果芯片插入方向错误，由于凸起定位 点的作用，存储器芯片无法完全放入插槽中。该防插反式设计可以防止存储器芯片插反而 导致所述性能检测装置无法工作。操作按键9可以设置在所述主体7的外表面，用于通过按压动作而输入操作指令 到控制模块10。为了方便操作，操作按键9例如可以设置在主体7的外表面靠近芯片连接 装置8的位置。所述主体7还包括设置在主体7内部的控制模块10，该控制模块10为当接收到所 输入的指令时根据预先设定的程序的指示执行相应操作的控制器，例如可以为PLC或单片 机。该控制模块10包括清空单元11，该清空单元11用于根据所输入的清空指令对存储器 芯片执行清空操作，并在清空操作完成之后输出表示清空成功的电信号。根据本实用新型的一种实施方式，所提供的性能检测装置主要用于对现有的内 燃、电力机车的主机存储器芯片执行性能检测，所述存储器芯片为DALLAS芯片。根据本实用新型的技术方案，所述性能检测装置还可以包括电源指示灯(未示 出)，该电源指示灯设置在主体7的外表面，用于显示工作电源是否正常。所述性能检测装 置还可以包括设置在主体7外表面的充电插座和复位开关(未示出)，所述充电插座用于连 接外部电源以对所述性能检测装置进行充电，所述复位开关用于通过按压动作而输入复位 指令以重新启动所述性能检测装置。采用本实用新型提供的性能检测装置，在对机车进行检修期间，操作人员可以首 先对机车主机的存储器芯片中的有用数据文件进行转存，以避免有用数据文件的丢失，之 后将存储器芯片取下并与所述性能检测装置连接，通过按压操作按键9可以向控制模块10 的清空单元11输入清空指令，以执行对存储器芯片的清空操作，对存储器芯片内剩余的无 用数据文件进行擦除。在清空操作完成之后，清空单元11将输出表示清空成功的电信号， 操作人员通过采集该电信号可以获知清空操作已完成。由于清空后的存储器芯片中没有过 多的文件堆积，再次使用时可以提高主机的运行速度，减少死机、数据丢失等现象的发生， 进而避免频繁更换芯片，降低了检修成本且提高了机车运行安全性。[0016]为了对操作人员进行提醒，保证用于进行清空操作的存储器芯片已完成了有用数 据文件的转存，避免由于失误而造成有用数据文件的丢失，并且可以提醒操作人员清空操 作是否成功，优选情况下，所述性能检测装置还包括转存指示灯1、清空指示灯2和操作失 败指示灯5，所述转存指示灯1、清空指示灯2和操作失败指示灯5分别设置在所述主体7 的外表面且与所述控制模块10的清空单元11电连接。可以对清空单元11中的程序进行设置，以使得每次将存储器芯片与所述性能检 测装置连接时，清空单元11都控制转存指示灯1开启，并在接收到所输入的清空指令(即 操作人员按压操作按键9)时控制该转存指示灯1熄灭，以提示操作人员在清空操作开始之 前是否已完成有用数据文件的转存，避免造成数据丢失。同时，可以对清空单元11中的程序进行设置，以使得清空单元11在根据清空指令 控制对存储器芯片执行清空操作的同时还控制清空指示灯2开启，在完成清空操作并输出 表示清空成功的电信号的同时还控制该清空指示灯2熄灭，以提示操作人员已成功完成清空。由于对不同存储器芯片的清空执行时间不相同，在清空操作正常的情况下，清空 指示灯2开启的时间(即清空执行时间)也不相同。根据本实用新型的技术方案，所述存 储器芯片为DALLAS DS1250Y-70芯片，根据实际操作表明，该芯片的清空操作执行时间为 17秒。由于对存储器芯片的清空操作有可能因为各种因素的影响而失败，造成清空中断 或停止，为了对清空失败进行提示，可以对清空单元11中的程序进行设置，以使得清空单 元11在清空操作失败的情况下控制所述清空指示灯2熄灭，同时控制所述操作失败指示灯 5开启，以对操作人员进行提醒。由于无法获知芯片是否存在故障，有可能出现清空后的存储器芯片由于存在芯片 故障而在再次使用时出现问题，为了避免上述情况的发生，保证清空后的存储器芯片能正 常工作，优选情况下，本实用新型提供的性能检测装置中，所述控制模块10还包括用于根 据所述表示清空成功的电信号对存储器芯片执行故障检测操作、在故障检测操作成功之后 输出表示检测成功的电信号、在故障检测操作失败时输出表示检测失败的电信号的检测单 元12，该检测单元12与所述清空单元11连接；所述性能检测装置还包括故障检测指示灯 3和操作成功指示灯4，所述故障检测指示灯3和操作成功指示灯4设置在所述主体7的外 表面且与所述控制模块10的检测单元12电连接，所述操作失败指示灯5还与所述控制模 块10的检测单元12电连接。可以对检测单元12中的程序进行设置，以使得当检测单元12接收到清空单元11 输出的表示清空成功的电信号之后，根据该电信号对存储器芯片执行故障检测操作，同时 控制所述检测指示灯3开启，以提示操作人员正在进行芯片的故障检测操作，并且使得该 检测单元12在完成故障检测操作之后输出表示检测成功的电信号到检测指示灯3和操作 成功指示灯4，控制检测指示灯3熄灭，操作成功指示灯4开启，以提示操作人员芯片的性能 检测操作已全部成功完成，在故障检测失败的情况下输出表示检测失败的电信号到检测指 示灯3和操作失败指示灯5，控制检测指示灯3熄灭，操作失败指示灯5开启，以提示操作人 员芯片的性能检测失败。所述检测单元12对芯片故障的具体判断过程如下所述检测单元12内预先存储有正常芯片的各种参数值，在执行故障检测操作时，检测单元12采集被检测的存储器芯片 的各种参数值，并将采集到的参数值与预先存储的芯片参数值进行比较，以判断被检测的 芯片是否存在故障。当被检测的芯片的所有参数值都在正常芯片参数值的允许范围内时， 检测单元12判断被检测的芯片不存在故障，当被检测的芯片有某一参数值超出了正常芯 片参数值的允许范围时，检测单元12判断被检测的芯片存在故障。由于对不同存储器芯片的故障检测执行时间不相同，在故障检测正常的情况下， 检测指示灯3开启的时间(即故障检测执行时间)也不相同。根据本实用新型的技术方案， 所述存储器芯片为DALLAS DS1250Y-70芯片，根据实际操作表明，该芯片的故障检测操作执 行时间为8秒。采用本实用新型提供的性能检测装置对存储器芯片进行检测，能够根据所输入的 清空指令对存储器芯片执行清空操作，由此可以擦除存储器芯片中无用的数据，保证存储 器芯片的存储空间。定期采用本实用新型提供的性能检测装置对存储器芯片进行清空，由 于清空后的存储器芯片没有过多的文件堆积，可以提高主机的运行速度，减少死机、数据丢 失等现象的发生，进而避免频繁更换芯片，降低了检修成本，并且提高了机车运行安全性。虽然本实用新型已通过上述实施方式所公开，然而上述实施方式并非用以限定本 实用新型，任何本实用新型所属技术领域中的技术人员，在不脱离本实用新型的精神和范 围内，应当可作各种更动与修改。因此本实用新型的保护范围应当以所附权利要求书所界 定的范围为准。
权利要求1.一种存储器芯片的性能检测装置，其特征在于，该性能检测装置包括主体(7)；用 于连接存储器芯片的芯片连接装置(8)；用于输入清空指令的操作按键(9)；以及控制模块(10)；所述芯片连接装置⑶和操作按键(9)分别设置在所述主体(7)的外表面，所述控制 模块(10)设置在所述主体(7)的内部，所述控制模块(10)包括用于根据所输入的清空指 令对存储器芯片执行清空操作、在清空操作完成之后输出表示清空成功的电信号的清空单 元(11)，所述操作按键(9)和所述芯片连接装置(8)分别与所述控制模块(10)的清空单元(11)电连接。
2.根据权利要求1所述的性能检测装置，其特征在于，所述性能检测装置还包括转存 指示灯(1)、清空指示灯( 和操作失败指示灯(5)，所述转存指示灯(1)、清空指示灯(2) 和操作失败指示灯( 分别设置在所述主体(7)的外表面且与所述控制模块(10)的清空 单元(11)电连接。
3.根据权利要求2所述的性能检测装置，其特征在于，所述控制模块(10)还包括用于 根据所述表示清空成功的电信号对存储器芯片执行故障检测操作、在故障检测操作成功之 后输出表示检测成功的电信号、在故障检测操作失败时输出表示检测失败的电信号的检测 单元(12)，该检测单元(1 与所述清空单元(11)连接；所述性能检测装置还包括故障检 测指示灯⑶和操作成功指示灯G)，所述故障检测指示灯⑶和操作成功指示灯⑷设置 在所述主体(7)的外表面且与所述控制模块(10)的检测单元(12)电连接，所述操作失败 指示灯(5)还与所述控制模块(10)的检测单元(12)电连接。
4.根据权利要求3所述的性能检测装置，其特征在于，所述转存指示灯(1)、清空指示 灯O)、故障检测指示灯(3)、操作成功指示灯(4)和操作失败指示灯( 为发光二极管。
5.根据权利要求1-4中任一项权利要求所述的性能检测装置，其特征在于，所述芯片 连接装置(8)为防插反式插槽。
6.根据权利要求1-4中任一项权利要求所述的性能检测装置，其特征在于，所述存储 器芯片为DALLAS芯片。
专利摘要本实用新型提供的存储器芯片的性能检测装置包括主体(7)；用于连接存储器芯片的芯片连接装置(8)；用于输入清空指令的操作按键(9)；以及控制模块(10)；芯片连接装置(8)和操作按键(9)分别设置在主体(7)的外表面，控制模块(10)设置在主体(7)的内部，控制模块(10)包括用于根据所输入的清空指令对存储器芯片执行清空操作、在清空操作完成之后输出表示清空成功的电信号的清空单元(11)，操作按键(9)和芯片连接装置(8)分别与控制模块(10)的清空单元(11)电连接。采用本实用新型提供的性能检测装置可以避免频繁更换机车存储器芯片，降低检修成本，并提高机车运行安全性。
文档编号G11C29/56GK201853496SQ20102064026
公开日2011年6月1日 申请日期2010年11月29日 优先权日2010年11月29日
发明者王绍成 申请人:中国神华能源股份有限公司, 神华包神铁路有限责任公司