专利名称：信息记录装置、信息再现装置、记录介质制造装置、信息记录介质、方法及程序的制作方法
技术领域：
本发明涉及信息记录装置、信息再现装置、记录介质制造装置、信息记录介质、方法及程序，特别涉及这样的信息记录装置、信息再现装置、记录介质制造装置、信息记录介质、方法及程序其中，附加信息(例如内容密钥)被叠加在将被作为附加信息(例如盘(信息记录介质)的记录条件)而记录的凹槽(groove)信号上，并且被记录或者再现。
背景技术：
已知光盘中凹槽的弯曲(meandering)或者摆动(wobbling)被用作数据记录轨道的地址信息以及附加信息(例如记录条件)。该摆动凹槽被用于将拾取器(pickup)设定于期望的轨道位置并且将数据记录在轨道上或者从该轨道再现数据。另一方面，近来对光盘上记录的内容的非法复制已成为问题，并且为了保护内容而希望有强壮的内容保护系统(CPS Contents Protection System)。作为内容保护系统之一，存在一种对将被存储在盘上的内容进行加密的方法。 已经提出一种构造，其中，用于对加密内容解密的密钥信息、其他内容使用控制信息等在被叠加在上述凹槽中的地址信息上的状态下被记录。专利文献1(日本专利早期公开 No. 2004-213781)例如公开了一种构造，其中密钥信息被记录在凹槽中并被使用。然而，用于对加密内容解密的密钥信息、其他内容使用控制信息等常常是秘密信息，并且为了泄露保护而需要防止被容易地读取。另一方面，当密钥数据被记录在盘上时， 对内容具有合法使用权的用户的再现装置需要正确地读取密钥构成比特。这是因为当读出精度降低时，正确密钥信息无法被获得，并且内容无法被解密。当用于对内容的解密的密钥信息被记录在上述凹槽中时，例如有必要满足避免容易读出以及实现正确读出的矛盾需求。对其中诸如密钥信息之类的作为内容保护系统(CPS)中的应用数据的CPS数据被记录在盘上并且被使用的构造的要求例如包括以下要求。1. CPS数据的再现信号的高可靠性。2.难以将CPS数据复制到另一介质。3.制造CPS数据存储介质以及记录和再现驱动器的成本不极大增加。例如存在这些要求。上面描述的专利文献1(日本专利早期公开第2004-213781号)公开了这样一种构造其中，密钥信息被记录在凹槽中并且被使用。该传统技术也被设计为满足以上要求。 然而，与此同时，用于解密秘密信息的技术已经进步。需要一种提供高度保密性的记录构造。专利文献1 日本专利早期公开第2004-213781号发明内容
技术问题例如鉴于以上问题而做出了本发明；本发明的一个目的是提供这样的信息记录装置、信息再现装置、记录介质制造装置、信息记录介质、方法及程序其增加解密难度并且还使得能够在如下构造中进行正确的数据读出在该构造中，附加信息(例如用于盘上记录的内容的加密密钥(cryptographic key))被叠加到凹槽信号上并且被记录或者再现。技术方案根据本发明的第一方面，提供了一种记录介质制造装置，包括记录信号生成部件，被配置为生成用于记录附加信息的凹槽信号；以及记录部件，被配置为将由所述记录信号生成部件生成的记录信号记录到主盘上；其中，所述记录信号生成部件决定与构成所述附加信息的每个比特值相对应的相位误差设定模式，并且所述记录信号生成部件生成以记录信号的预定区间为单位被设定了与构成所述附加信息的每个比特值相对应的相位误差的记录信号。另外，在根据本发明的记录介质制造装置的一个实施例中，所述记录信号生成部件生成记录信号，其中所述凹槽信号中设定的相位误差的方向或者方向组合根据所述附加信息的比特值是零的情况和所述附加信息的比特值是一的情况而被设定在不同模式下。另外，在根据本发明的记录介质制造装置的一个实施例中，所述附加信息是包括用于对将被记录在所述盘上的内容的加密处理或者对内容的解密处理的加密密钥的信息。另外，根据本发明的第二方面，提供了一种信息再现装置，包括再现部件，被配置为读取盘上记录的凹槽信号；以及信号分析部件，被配置为分析所述再现部件的再现信号；其中所述信号分析部件以预定信号区间为单位判定所述凹槽信号中包括的相位误差的方向，并且基于判定结果来判定所述凹槽信号中包括的附加信息的构成比特值。另外，在根据本发明的信息再现装置的一个实施例中，所述信号分析部件利用所述凹槽信号的过零点之前和之后的采样点处的检测值来计算相位误差指标值，并且通过将通过以所述预定信号区间为单位对所述相位误差指标值进行积分而获得的结果与预先设定的阈值相比较来判定所述预定信号区间中的相位误差的设定方向。另外，在根据本发明的信息再现装置的一个实施例中，所述信息再现装置还包括解密处理部件，其被配置为通过应用由所述信号分析部件分析出的、附加信息中包括的加密密钥来解密所述盘上记录的加密内容。另外，根据本发明的第三方面，提供了一种信息记录装置，包括再现部件，被配置为读取盘上记录的凹槽信号；信号分析部件，被配置为以预定信号区间为单位判定所述再现部件从所述盘中读取的凹槽信号中包括的相位误差的方向，并且基于判定结果通过比特值判定处理来分析被记录为叠加在所述凹槽信号上的加密密钥；加密处理部件，被配置为通过应用由所述信号分析部件分析出的所述加密密钥来对内容加密；以及记录部件，被配置为将由所述加密处理部件生成的加密内容记录到所述盘上。另外，在根据本发明的信息记录装置的一个实施例中，所述信号分析部件利用所述凹槽信号的过零点之前和之后的采样点处的检测值来计算相位误差指标值，并且通过将通过以所述预定信号区间为单位对所述相位误差指标值进行积分而获得的结果与预先设定的阈值相比较来判定所述预定信号区间中的相位误差的设定方向。另外，根据本发明的第四方面，提供了一种其上记录有用于记录附加信息的凹槽信号的信息记录介质，其中，所述凹槽信号被记录作为附加信息叠加信号，根据所述附加信息的构成比特值而模式不同的相位误差以预定信号区间为单位被设定到所述附加信息叠加信号，并且可以基于再现装置中对所述相位误差的设定模式的检测来读取所述附加信息。另外，在根据本发明的信息记录介质的一个实施例中，所述凹槽信号是其中所述凹槽信号中设定的相位误差的方向或者方向组合根据所述附加信息的比特值是零的情况和所述附加信息的比特值是一的情况而被设定在不同模式下的信号。另外，在根据本发明的信息记录介质的一个实施例中，所述附加信息是包括用于对将被记录在所述盘上的内容的加密处理或者对内容的解密处理的加密密钥的信息。另外，根据本发明的第五方面，提供了一种在记录介质制造装置中执行的信息记录介质制造方法，该信息记录介质制造方法包括记录信号生成步骤，由记录信号生成部件生成用于记录附加信息的凹槽信号；以及记录步骤，由记录部件将在所述记录信号生成步骤中生成的记录信号记录到主盘上；其中，所述记录信号生成步骤包括决定与构成所述附加信息的每个比特值相对应的相位误差设定模式的步骤，以及生成以记录信号的预定区间为单位被设定了与构成所述附加信息的每个比特值相对应的相位误差的记录信号的步骤。另外，根据本发明的第六方面，提供了一种在信息再现装置中执行的信息再现方法，该信息再现方法包括再现步骤，由再现部件读取盘上记录的凹槽信号；以及信号分析步骤，由信号分析部件分析所述再现步骤中的再现信号；其中，所述信号分析步骤包括以预定信号区间为单位判定所述凹槽信号中包括的相位误差的方向并且基于判定结果来判定所述凹槽信号中包括的附加信息的构成比特值的步骤。另外，根据本发明的第七方面，提供了一种在信息记录装置中执行的信息记录方法，该信息记录方法包括再现步骤，由再现部件读取盘上记录的凹槽信号；信号分析步骤，由信号分析部件以预定信号区间为单位判定在所述再现步骤中从所述盘中读取的凹槽信号中包括的相位误差的方向，并且基于判定结果通过比特值判定处理来分析被记录为叠加在所述凹槽信号上的加密密钥的构成比特信息；加密处理步骤，由加密处理部件通过应用在所述信号分析步骤中分析出的所述加密密钥来对内容加密；以及记录步骤，由记录部件将在所述加密处理步骤中生成的加密内容记录到所述盘上。另外，根据本发明的第八方面，提供了一种使得在信息再现装置中执行信息再现处理的程序，该程序包括再现步骤，使再现部件读取盘上记录的凹槽信号；以及信号分析步骤，使信号分析部件分析所述再现步骤中的再现信号；其中，所述信号分析步骤包括实现以预定信号区间为单位对所述凹槽信号中包括的相位误差的方向的判定并且基于判定结果实现对所述凹槽信号中包括的附加信息的构成比特值的判定的步骤。另外，根据本发明的第九方面，提供了一种使得在信息记录装置中执行信息记录处理的程序，该程序包括再现步骤，使再现部件读取盘上记录的凹槽信号；信号分析步骤，使信号分析部件以预定信号区间为单位判定在所述再现步骤中从所述盘中读取的凹槽信号中包括的相位误差的方向，并且基于判定结果通过比特值判定处理来分析被记录为叠加在所述凹槽信号上的加密密钥的构成比特信息；加密处理步骤，使加密处理部件通过应用在所述信号分析步骤中分析出的所述加密密钥来对内容加密；以及记录步骤，使记录部件将在所述加密处理步骤中生成的加密内容记录到所述盘上。附带提及，根据本发明的程序例如是通过以计算机可读格式提供的存储介质或者通信介质可被提供给能够执行各种程序代码的图像处理装置和计算机系统的程序。这种程序是以计算机可读格式提供的，从而在图像处理装置和计算机系统上实现与该程序相对应的处理。根据稍后将要描述的基于本发明实施例和附图的更详细描述，本发明的其他以及另外的目的、特征和优点将变得明显。顺带提及，本说明书中的系统是多个装置的逻辑组配置，并且不限于其中各个配置的装置位于同一外壳内的系统。有利效果根据本发明的一个实施例，可以将诸如加密密钥之类的高度秘密的附加信息叠加记录在盘上记录的凹槽信号中，该叠加记录兼实现了读出困难和高精度读出。在记录附加信息时记录设定有与比特值相对应的相位误差的凹槽信号，并且在读出附加信息时，使预定区间内的凹槽信号的相位误差经受积分处理并且确定每个区间内的凹槽信号的相位误差的方向。通过这种处理可以实现用于增大读出困难并实现高精度读出的附加信息的记录和再现。
[图1]根据本发明一个实施例，辅助说明记录介质制造装置的配置示例的示图。[图2]根据本发明一个实施例，辅助说明记录介质制造装置中的记录信号生成部件的配置示例的示图。[图3]根据本发明一个实施例，辅助说明相位误差设定凹槽信号的示例的示图。[图4]根据本发明一个实施例，辅助说明记录相位误差设定凹槽信号的处理和再
8现该相位误差设定凹槽信号的处理的示例的示图。[图5]根据本发明一个实施例，辅助说明信息再现装置的配置示例的示图。[图6]根据本发明一个实施例，辅助说明信息再现装置中的信号分析部件的详细配置示例的示图。[图7]根据本发明一个实施例，辅助说明通过由信息再现装置对凹槽信号执行的信号分析处理来获取附加信息的处理示例的示图。[图8]根据本发明一个实施例，辅助说明通过由信息再现装置对凹槽信号执行的信号分析处理来获取附加信息的处理示例的示图。[图9]根据本发明一个实施例，辅助说明通过由信息再现装置对凹槽信号执行的信号分析处理来获取附加信息的处理示例的示图。[图10]根据本发明一个实施例，辅助说明通过由信息再现装置对凹槽信号执行的信号分析处理来获取附加信息的处理示例的示图。[图11]根据本发明一个实施例，辅助说明信息记录装置的配置示例的示图。[图12]根据本发明一个实施例，辅助说明记录相位误差设定凹槽信号的处理和再现该相位误差设定凹槽信号的处理的示例的示图。
具体实施例方式此后将参考附图描述根据本发明的信息记录装置、信息再现装置、记录介质制造装置、信息记录介质、方法及程序的细节。将根据以下标题进行描述。1.记录介质制造装置和信息记录介质的配置和处理2.信息再现装置的配置和处理3.信息记录装置的配置和处理4.其他实施例[1.记录介质制造装置和信息记录介质的配置和处理]首先将参考图1和后续附图描述根据本发明一个实施例的记录介质制造装置和信息记录介质的配置和处理。图1是示出根据本发明实施例的记录介质制造装置的配置的框图。记录介质制造装置100制造主盘130作为母盘。此后，作为将被提供给用户的信息记录介质的盘150通过对主盘130的压模处理被大量制造。用于记录诸如记录条件等的附加信息的凹槽信号被记录在主盘130上。凹槽信号由弯曲或者摆动的凹槽形成。如图1所示，记录介质制造装置100被提供以诸如记录条件之类的附加信息120， 例如诸如加密密钥之类的附加信息120，并且生成记录信号。将凹槽信号记录到主盘130上的处理是根据所生成的记录信号来执行的。附加信息120是包括加密密钥的构成比特(constituent bits，例如64比特或者 1 比特)的数据。该附加信息120被输入到记录信号生成部件102。记录信号生成部件102被提供以诸如记录条件之类的附加信息120，并且生成将被记录在主盘130上的记录信号(凹槽信号)。记录信号生成部件102通过FM(频率调制) 调制处理生成指示诸如记录条件之类的附加信息的摆动凹槽信号。通过将相位误差设定到凹槽信号(FM调制信号)来记录诸如记录条件之类的附加信息。该处理稍后将被详细描述。由记录信号生成部件102生成的记录信号被输出到记录部件103。记录部件103 例如通过激光输出在主盘130中形成根据记录信号的凹槽。记录在主盘130上的凹槽信号是沿着记录有内容的数据轨道的螺旋形式的凹槽。其上记录有如下凹槽信号的主盘130是由记录部件103通过记录处理制造的，该凹槽信号上叠加有诸如记录条件等附加信息，例如加密密钥。将被提供给用户的大量的盘 150通过对主盘130的压模处理而被制造。附带提及，盘150可以是其上记录有例如电影内容的盘或者其上没有记录内容的盘中的任一个。其上没有记录内容的盘允许用户将数据写入在其上。购买了这种盘150的用户稍后可以将电影内容等记录到盘150上。例如，购买了其上没有记录内容的盘的用户利用诸如用户的PC之类的记录和再现装置经由网络连接到内容提供服务器。该服务器将可利用盘150上记录的加密密钥来解密的加密内容提供给用户装置。用户装置把从服务器下载的内容记录到盘150上。此后，在内容再现处理时，从盘 150上记录的凹槽信号中读取加密密钥，并且利用所读取的加密密钥执行对盘150上记录的加密内容的解密处理，使得可以执行内容再现处理。作为替代，可以从服务器获取未加密内容，通过应用从用户装置侧的盘上的凹槽信号中读取的加密密钥来执行对所获取内容的加密处理，并且将内容记录到盘上。在两者中的任一模式中，加密内容和用于对加密密钥的解密的加密密钥被整体存储在一个盘上。因此，即使当加密内容例如被输出并复制到另一介质时，加密密钥无法被使用。因此，可以有效地防止对内容的未授权使用。接着将参考图2详细描述记录介质制造装置100中的记录信号生成部件102的配置和处理。如上所述，记录信号生成部件102生成包括作为诸如记录条件等附加信息的加密密钥等的记录信号。如图2所示，记录信号生成部件102包括调制信号生成部分122和相位误差设定信号生成部分123。记录信号生成部件102例如生成相位误差设定信号，该相位误差设定信号当附加信息的构成比特是[1]时将正向的相位误差与凹槽信号相关联，并且当附加信息的构成比特是W]时将负向的相位误差与凹槽信号相关联。附带提及，该设定可被改变为各种设定，包括与以上相反的设定以及以下设定在比特[1]的情况下正向的在先相位误差和负向的随后相位误差的设定的组合； 以及在比特
的情况下负向的在先相位误差和正向的随后相位误差的设定的组合。包括这种设定在内的各种设定是可能的。调制信号生成部分122根据诸如记录条件之类的附加信息通过执行FM调制处理来生成调制信号。相位误差设定信号生成部分123根据与附加信息比特相对应的相位误差信息通过将相位误差设定到由调制信号生成部分122生成的调制信号来生成记录信号。图3示出了在主盘和盘150上记录的凹槽信号的示例。凹槽信号是通过再现以螺旋形式设定在盘150中的凹槽而得到的信号。图2(1)、(2a)和Qb)示出了凹槽信号的一部分的细节。就是说，图2示出了盘150的AB部分中的凹槽信号的示例。图3示出了以下信号示例(1)没有相位误差设定的凹槽信号(2a)正向相位误差设定的凹槽信号(2b)负向相位误差设定的凹槽信号(1)、(2a)和Qb)对应于盘的平面，并且右方向是轨道上信号的方向。在图3(1) 中示出的没有相位误差设定的相位信号在图3 Qa)和3 Qb)中由虚线表示。图3 Qa)和 3 (2b)中示出的实线表示具有相位误差的凹槽信号，并且虚线表示没有相位误差的原始凹槽信号，原始凹槽信号仅根据诸如记录条件之类的附加信息来形成。在图中示出的示例中，由实线表示的正向相位误差设定的凹槽信号与由虚线表示的凹槽信号(无相位误差)相比在轨道行进方向(正方向)上被略微偏移。该偏移是正向相位误差。此外，在图中示出的示例中，由实线表示的负向相位误差设定的凹槽信号与由虚线表示的凹槽信号(无相位误差)相比在轨道逆方向(负方向)上被略微偏移。该偏移是负向相位误差。在主盘和盘上记录的凹槽信号被设定为使得图3(1)、(2a)和Qb)的不同类型的凹槽信号被互相混合。诸如密钥信息之类的附加信息的构成比特通过相位误差被记录。再现装置在读取凹槽信号时从凹槽信号中检测相位误差，并且基于检测到的相位误差来分析附加信息的比特值。将参考图4描述具体相位误差的设定示例以及具有比特数据的相位误差的对应示例。图4是示出记录凹槽信号的处理和再现凹槽信号的处理的示例的示图。图4的示例表示其中凹槽信号被利用如下设定来记录的示例在比特=1的情况下被设定了正向相位误差的凹槽信号；以及在比特=O的情况下被设定了负向相位误差的凹槽信号。在记录凹槽信号的处理中，在附加信息构成比特=1的情况下，被设定了正向(轨道行进方向)相位误差的凹槽信号被记录在预定区间(section)中。在附加信息构成比特 =1的情况下，被设定了负向(轨道逆方向)相位误差的凹槽信号被记录在预定区间中。在图4所示的示例中，利用如下设定来生成并记录凹槽信号tl t2 正向相位误差设定的凹槽信号(与比特值=1相对应)t2 t3 负向相位误差设定的凹槽信号(与比特值=O相对应)t3 t4 正向相位误差设定的凹槽信号(与比特值=1相对应)t4 t5 正向相位误差设定的凹槽信号(与比特值=1相对应)t5 t6 正向相位误差设定的凹槽信号(与比特值=O相对应)顺带提及，所设定的相位误差是非常轻微的误差。例如，约为再现处理中采样信号的时段T的1 5%的相位误差被设定。因此，在这种设定的情况下，难以基于被执行一次的读出来判定所设定的相位误差是正向还是负向的。在记录凹槽信号的处理中，例如在附加信息构成比特的比特值=1的情况下，具有正向相位误差的凹槽信号被设定并记录在一定区间中。此外，例如在比特=O的情况下，具有负向相位误差的凹槽信号被设定并记录在一定区间中。再现装置以预定采样时间(T)间隔读取凹槽信号，并且累积(积分)在每个采样时刻读取的信号的值。在一定区间(例如tl t2)中读取的凹槽信号的相位误差的方向 (正或者负)是通过积分处理判定的。顺带提及，记录装置和再现装置中的任一个基于该装置中设定的时钟来设定各种控制时刻，并且能够基于预先指定的时钟计数来判定图4所示的诸如tl t2等的区间。如参考图3描述的，以下三种模式的信号被记录在盘上。(1)没有相位误差设定的凹槽信号(2a)正向相位误差设定的凹槽信号(2b)负向相位误差设定的凹槽信号利用以上三种模式之一的设定以一定区间为单位(例如，图4所示的诸如tl t2、t2 t3等的一定区间的单位)来记录凹槽信号。再现装置以图4所示的诸如tl t2、t2 t3等的一定区间为单位分析相位误差。 通过该分析可以生成与以上三种模式相对应的不同相位误差累积信号(积分信号)。通过这种相位误差累积处理，即检测信号积分处理，可以正确地检测出所设定的相位误差是正方向还是负方向。该处理在图4的下部示出。例如，再现装置执行以下处理。tl t2 基于读出凹槽信号的相位误差的判定结果被累积(积分)，判定正向的相位误差被设定在区间中，并且判定比特值=[1]。t2 t3 基于读出凹槽信号的相位误差的判定结果被累积(积分)，判定负向的相位误差被设定在区间中，并且判定比特值=
。此后执行类似处理以顺序地获得比特值。通过继续该处理，构成64位或者1 位密钥的所有比特值例如可被正确地获得。[2.信息再现装置的配置和处理]接下来将对再现如下盘的再现装置的配置和处理的示例进行描述，该盘上记录了其上叠加有上述附加信息的凹槽信号。图5是示出根据本发明实施例的信息再现装置的配置示例的框图。如图5所示， 信息再现装置200包括再现部件201、信号分析部件202以及解密处理部件204。再现部件201执行从盘150的信号读出。盘150是上面记录有凹槽信号的盘，其中诸如如上所述的加密密钥的附加信息被叠加在该凹槽信号上。还记录了通过该加密密钥加密的加密内容。再现部件201读取凹槽信号，并且将凹槽信号输出到信号分析部件202。如先前参考图3等描述的，凹槽信号是其中以下三种模式的信号被互相混合的凹槽信号。(1)没有相位误差设定的凹槽信号(2a)正向相位误差设定的凹槽信号(2b)负向相位误差设定的凹槽信号信号分析部件202对从再现部件201输入的凹槽信号进行解调和分析，检测相位误差，并且基于检测到的相位误差来检测凹槽信号中记录的附加信息的构成比特值。附加信息120是基于在信号分析部件202中检测到的附加信息的构成比特信息而获得的。例如，附加信息120是加密密钥，并且被应用于对盘150上记录的加密内容的解密处理。此外，例如凹槽信息中包括的地址信息125的其他附加信息被从信号分析部件 202的解调结果中获得。顺带提及，在凹槽信号中设定的相位误差如上所述是轻微的相位误差，并且不产生以至于造成获得地址信息的错误这种程度的效果。顺带提及，获得其他附加信息(例如凹槽信号中包括的地址信息125)的处理是作为普通凹槽信号读取处理来执行的。例如，执行对作为凹槽信号读出信号获得的推挽(push-pull)信号的FM解调处理，对解调处理的结果执行带通滤波处理和二值化处理，按要求进一步执行诸如ECC解码和去交错之类的处理，并且获得其他附加信息，例如凹槽信号中包括的地址信息125和关于盘的基本信息(盘类型、写策略参数等)。顺带提及，在读取数据轨道上记录的内容时，例如通过应用数据区域中的地址信息将拾取器设定在预定轨道位置，并且读取加密内容。解密处理部件204通过应用从凹槽信号中获得的附加信息(加密密钥)120来执行对加密内容的解密处理，并且再现内容。将参考图6描述信号分析部件202的详细配置和处理。如图6所示，信号分析部件202包括解调部分221、相位误差检测部分222以及比特值判定部分223。解调部分221被提供以作为来自再现部件201的FM调制信号的、盘上记录的凹槽信号，并且执行解调处理。相位误差检测部分222以预定采样时间(T)间隔检测读取凹槽信号，并且累积 (积分)在每个采样时刻读取的信号的值，如先前参考图4描述的。顺带提及，积分处理例如是作为对从凹槽信号读出信号获得的推挽信号的积分处理来执行的。在一定区间(例如 tl t2)中读取的凹槽信号的相位误差的方向(正或者负)是通过积分处理来判定的。如参考图3描述的，以下三种模式的信号被记录在盘上。(1)没有相位误差设定的凹槽信号(2a)正向相位误差设定的凹槽信号(2b)负向相位误差设定的凹槽信号例如，信息再现装置中的相位误差检测部分222判定以图4所示的诸如tl t2、 t2 t3等的一定区间为单位对凹槽信号做出了以上三种模式的误差设定中的哪一种。将参考图7和后续附图来描述由相位误差检测部分222执行的相位误差检测处理的具体示例。图7(1)示出了与先前参考图3 Qa)描述的凹槽信号类似的凹槽信号的示例。被在正方向(轨道行进方向)上设定相位误差的凹槽信号由实线指示。虚线指示供参考的没有相位误差的凹槽信号。再现装置以一定时段的采样间隔读取凹槽信号。图7(1)所示的多个上向箭头指示采样时刻。以间隔T从左向右地读取凹槽信号。凹槽信号的过零点之前和之后的采样数据被用于检测相位误差。过零点指的是凹槽信号的线与中央位置(0)相交处的点，如图7所示。过零点之前和之后的采样时间(即图7所示的时间tp和tq)的两条采样数据被用于相位误差检测。
将参考图7⑵和7 (3)描述该处理的细节。图7 (2)是以放大尺寸示出图7(1)所示采样时间tp和tq的邻域(neighborhood) 的放大视图。实线指示具有正向相位误差的凹槽信号。虚线指示作为参考数据的没有相位误差的凹槽信号。图7( 中示出的过零点两侧的采样时间tp和tq处的两条采样数据被用于相位
误差检测。例如，在图7(2)所示的示例中，以下测量值被得到。采样时间tp 测量值& ；以及采样时间tq:测量值)(2。顺带提及，测量值是作为与凹槽位置相对应的相对电势(电压)值得到的。例如， 测量值是从凹槽信号的一个极端到其一个极端作为相对电势值在-64到+64的范围内测量的，如图7(2)所示。相位误差指标值(Δ τ )例如是通过应用夹着过零点的两个采样时间tp和tq处的测量值&和\并且应用图7(3)所示的公式来计算的。具体而言，相位误差指标值(Δ τ )是根据下式(式1)来计算的。Δ τ = ((Yk) (Xk^1)) - ((Yk^1) (Xk)) · · ·(式 1)其中Xk^1是紧接过零点之前的测量值，&是紧接过零点之后的测量值，并且Ylrl 和 Yk 是当χ彡0时γ = (+1)或者当χ < 0 时 Y = (-1)。上式(式1)是用于计算与一个过零点相对应的相位误差指标值(Δ τ )的公式。 如上所述，被设定给凹槽信号的相位误差是轻微误差(例如，采样时段T的几个百分点左右)。因此，仅利用一条数据难以判定相位误差是正向还是负向的，并且比特值判定时发生错误的可能性很高。因此，如先前参考图4描述的，记录装置在一定时段内将设定有同向连贯误差的凹槽信号记录在连续的凹槽信号区间(例如图4所示的tl t2)内。再现装置通过将一定凹槽信号区间内误差顺序相加的积分处理来判定在该区间内设定的相位误差的方向。再现装置在某一时段内的连续凹槽信号区间(例如图4所示的tl t2)内对由上式(式1)表示的相位误差指标值(△ τ)进行积分，并且做出图7 C3)所示的判定。具体而言，通过如下将相位误差指标值(Δ τ)的积分结果(Σ Δ τ)与阈值Thl和Th2相比较来判定相位误差的存在与否和方向。Thl <Σ Δ τ < Th2 —无相位误差Σ Δ τ彡Thl —具有正方向的相位误差Σ Δ τ彡Th2—具有负方向的相位误差···(式2)根据以上判定式(式幻来判定相位误差的存在与否和方向。图8是辅助说明将相位误差指标值(Δ τ )的积分结果(Σ Δ τ )与阈值相比较的处理的具体示例的示图。图8示出了以下三种模式的示例。(1)没有相位误差设定的凹槽信号(2a)正向相位误差设定的凹槽信号(2b)负向相位误差设定的凹槽信号针对这三种模式的信号将相位误差指标值(Δ τ )的积分结果(Σ Δ τ )与阈值 (Thl和TM)相比较的处理示例被示出。图8(1)表示一个示例，其中信号区间tl t2内的凹槽信号是未设定有相位误差的凹槽信号。在这种情况下，每个过零点的相位误差指标值(△ τ)在不同方向上以基本平衡的方式发生，而不在一侧发生偏差。因此，信号区间tl t2内的相位误差索引值(Δ τ) 的积分结果(Σ Δ τ ) = VO在预先设定的阈值Thl至阈值Th2的范围内。这对应于如下情况其中，例如通过应用根据没有相位误差的凹槽信号测量的测量值X11和X12根据上述公式(即Δ τ = ((Yk) (^))-((^) (Xk)))来计算相位误差索引值(Δ τ)，并且计算其积分结果(Σ Δ τ) = V0。图表示一个示例，其中信号区间tl t2内的凹槽信号是设定有正方向的相位误差的凹槽信号。这对应于参考图7描述的示例。在这种情况下，每个过零点的相位误差指标值(Δ τ )具有在一侧发生的偏差。因此，信号区间tl t2内的相位误差指标值 (Δ τ)的积分结果(Σ Δ τ) = Vl是等于或者小于预先设定的阈值Thl的值。图W2b)表示一个示例，其中信号区间tl t2内的凹槽信号是设定有负方向的相位误差的凹槽信号。同样在这种情况下，每个过零点的相位误差指标值(△ τ)具有在一侧发生的偏差。与图相反的偏移发生。因此，信号区间tl t2内的相位误差指标值(Δ τ)的积分结果(Σ Δ τ) = V2是等于或者大于预先设定的阈值Th2的值。因此，通过将相位误差指标值(Δ τ )的积分结果(Σ Δ τ )与阈值相比较可以针对三种模式的凹槽信号中的每一种进行判定。具体而言，Thl <Σ Δ τ < Th2 —无相位误差Σ Δ τ彡Thl —具有正方向的相位误差Σ Δ τ彡Th2—具有负方向的相位误差根据以上判定式可以对相位误差的存在与否和方向进行判定。已经参考图7描述了当正向相位误差设定的凹槽信号在过零点处形成向右下倾斜的线时计算相位误差指标值(Δ τ)的处理示例。然而，过零点对两种线发生，即向右下倾斜的线以及向右上倾斜的线。然而，向右下倾斜的线和向右上倾斜的线分别对应于相对于盘的平面的轨道方向的不同偏离方向。将参考图9描述针对这些模式中的每一种模式计算正向相位误差设定的凹槽信号和负向相位误差设定的凹槽信号中的相位误差索引值(△ τ)的具体处理示例。图9是辅助说明为正向相位误差设定的凹槽信号计算相位误差指标值(Δ τ )的具体处理示例的示图。图9(al)通过实线示出在正方向(轨道行进方向)上设定有相位误差的凹槽信号。虚线指示出供参考的没有相位误差的凹槽信号。图9(a2)和(a3)是凹槽信号的过零点的邻域中的两种模式的放大视图。以下示例被示出(a2)针对向右下倾斜的线的邻域的处理示例；以及(a3)针对向右上倾斜的线的邻域的处理示例。顺带提及，虚线指示出作为参考数据示出的没有相位误差的凹槽信号的示例。(a2)在针对向右下倾斜的线的邻域的处理示例中，在由实线指示的设定有正方向的相位误差的凹槽信号中的过零点之前和之后的采样点tp和tq处的两条采样数据被用于相位误差检测。图9(a2)示出了在设定有正方向的相位误差的凹槽信号(实线)和没有相位误差的凹槽信号(虚线)中的每一个凹槽信号中的采样点tp和tq处的测量值的示例。设定有正方向上的相位误差的凹槽信号(实线)的测量值如下。采样时间tp 测量值c = +40采样时间tq 测量值d = -26没有相位误差的凹槽信号(虚线)的测量值如下。采样时间tp 测量值a = +32采样时间tq 测量值b = -32以上测量值例如是根据线(即实线和虚线)的位置关系得到的。相位误差指标值(△ τ )是基于这些测量值通过应用先前描述的公式(式1)来计算的。设定有正方向上的相位误差的凹槽信号(实线)的测量值如下。采样时间tp 测量值c = +40采样时间tq 测量值d = -26当这些测量值被应用时，Δ τ = ((Yk) (XkJ ) - ((Yk^1) (Xk))= ((-1) (+40))-((+1) (-26)) = -14 < 0由此计算出小于零的值。这对应于图8 Ga)。另一方面，没有相位误差的凹槽信号(虚线)的测量值如下。采样时间tp 测量值a = +32采样时间tq 测量值b = -32当这些测量值被应用时，Δ τ = ((Yk) (XkJ ) ~ ((Yk^1) (Xk))= ((-1) (+32)) - ((+1) (-32)) = 0由此计算出零。这对应于图8(1)。接下来将对图9(a!3)中的针对向右上倾斜的线的邻域的处理示例进行描述。图 9(a3)表示一个示例，其中过零点的邻域中的凹槽信号的线向右上倾斜。图9(a3)还示出了在设定有正方向的相位误差的凹槽信号(实线)和没有相位误差的凹槽信号(虚线)中的每一个凹槽信号中的采样点tr和ts处的测量值的示例。设定有正方向上的相位误差的凹槽信号(实线)的测量值如下。
采样时间tr 测量值g = -40采样时间ts 测量值h = +26没有相位误差的凹槽信号(虚线)的测量值如下。采样时间tr 测量值e = -32采样时间tq 测量值f = +32以上测量值例如是根据线(即实线和虚线)的位置关系得到的。相位误差指标值(△ τ )是基于这些测量值通过应用先前描述的公式(式1)来计算的。设定有正方向上的相位误差的凹槽信号(实线)的测量值如下。采样时间tr 测量值g = -40采样时间ts 测量值h = +26当这些测量值被应用时，Δ τ = ((Yk) (XkJ ) - ((Yk^1) (Xk))= ((-1) (-40))-((-1) (+26)) = -14 < 0由此计算出小于零的值。这对应于图8 Ga)。另一方面，没有相位误差的凹槽信号(虚线)的测量值如下。采样时间tp 测量值e = -32采样时间tq 测量值f = +32当这些测量值被应用时，Δ τ = ((Yk) (XkJ ) ~ ((Yk^1) (Xk))= ((+1) (-32)) - ((-1) (+32)) = 0由此计算出零。这对应于图8(1)。因此，在过零点处的线向右上倾斜的情况和过零点处的线向右下倾斜的情况中的任一种情况下，基于夹着设定有正方向上的相位误差的凹槽信号的过零点的两点的测量值计算出的相位误差指标值(△ τ)具有比基于未设定相位误差的凹槽信号的测量值计算出的相位误差指标值(Δ τ)更小的值。早先描述的如图所示的积分结果Vl是通过对预定测量区间内的相位误差指标值(△ τ)进行积分而得到的。该积分结果Vl被与预先设定的阈值Thl相比较。当得到以下结果时可以判定该测量区间内的相位误差是正方向(轨道行进方向)的。Vl 彡 Thl图10是辅助说明为负向相位误差设定的凹槽信号计算相位误差指标值(Δ τ )的具体处理示例的示图。图10 (bl)通过实线示出在负方向(轨道逆方向)上设定有相位误差的凹槽信号。 虚线指示出供参考的没有相位误差的凹槽信号。图10(b2)和(b3)是凹槽信号的过零点的邻域中的两种模式的放大视图。以下示例被示出(b2)针对向右下倾斜的线的邻域的处理示例；以及
(b3)针对向右上倾斜的线的邻域的处理示例。顺带提及，虚线指示出作为参考数据示出的没有相位误差的凹槽信号的示例。(b2)在针对向右下倾斜的线的邻域的处理示例中，在由实线指示的设定有负方向的相位误差的凹槽信号中的过零点之前和之后的采样点tp和tq处的两条采样数据被用于相位误差检测。图10(b2)示出了在设定有负方向的相位误差的凹槽信号(实线)和没有相位误差的凹槽信号(虚线)中的每一个凹槽信号中的采样点tp和tq处的测量值的示例。设定有负方向上的相位误差的凹槽信号(实线)的测量值如下。采样时间tp 测量值c = +26采样时间tq 测量值d = -40没有相位误差的凹槽信号(虚线)的测量值如下。采样时间tp 测量值a = +32采样时间tq 测量值b = -32以上测量值例如是根据线(即实线和虚线)的位置关系得到的。相位误差指标值(△ τ )是基于这些测量值通过应用先前描述的公式(式1)来计算的。设定了负方向上的相位误差的凹槽信号(实线)的测量值如下。采样时间tp 测量值c = +26采样时间tq 测量值d = -40当这些测量值被应用时，Δ τ = ((Yk) (XkJ ) - ((Yk^1) (Xk))= ((-1) (+26))-((+1) (-40)) = +14 > 0由此计算出大于零的值。这对应于图8 Qb)。另一方面，没有相位误差的凹槽信号(虚线)的测量值如下。采样时间tp 测量值a = +32采样时间tq 测量值b = -32当这些测量值被应用时，Δ τ = ((Yk) (Xlri)) _ ((Ylri) (Xk))= ((-1) (+32)) - ((+1) (-32)) = 0由此计算出零。这对应于图8(1)。接下来将对图10(b3)中的针对向右上倾斜的线的邻域的处理示例进行描述。图 10 (b3)表示一个示例，其中过零点的邻域中的凹槽信号的线向右上倾斜。图10(b3)还示出了在设定有负方向的相位误差的凹槽信号(实线)和没有相位误差的凹槽信号(虚线)中的每一个凹槽信号中的采样点tr和ts处的测量值的示例。设定有负方向上的相位误差的凹槽信号(实线)的测量值如下。采样时间tr 测量值g = -26采样时间t s 测量值h = +40没有相位误差的凹槽信号(虚线)的测量值如下。
采样时间tr 测量值e = -32采样时间tq 测量值f = +32以上测量值例如是根据线(即实线和虚线)的位置关系得到的。相位误差指标值(△ τ )是基于这些测量值通过应用先前描述的公式(式1)来计算的。设定有正方向上的相位误差的凹槽信号(实线)的测量值如下。采样时间tr 测量值g = -26采样时间ts 测量值h = +40当这些测量值被应用时，Δ τ = ((Yk) (Xk^1)) - ((Yk^1) (Xk))= ((-1) (-26))-((-1) (+40)) = +14 > 0由此计算出大于零的值。这对应于图8 Qb)。另一方面，没有相位误差的凹槽信号(虚线)的测量值如下。采样时间tp 测量值e = -32采样时间tq 测量值f = +32当这些测量值被应用时，Δ τ = ((Yk) (XkJ ) ~ ((Yk^1) (Xk))= ((+1) (-32))-((-1) (+32)) = 0由此计算出零。这对应于图8(1)。因此，在过零点处的线向右上倾斜的情况和过零点处的线向右下倾斜的情况中的任一种情况下，基于夹着设定有负方向上的相位误差的凹槽信号的过零点的两点的测量值计算出的相位误差指标值(△ τ)具有比基于未设定相位误差的凹槽信号的测量值计算出的相位误差指标值(Δ τ)更大的值。早先描述的如图W2b)所示的积分结果V2是通过对预定测量区间内的相位误差指标值(△ τ)进行积分而得到的。该积分结果V2被与预先设定的阈值Th2相比较。当得到以下结果时可以判定该测量区间内的相位误差是负方向(轨道逆方向)的。Vl ^ Thl[3.信息记录装置的配置和处理]当叠加在凹槽信号上的附加信息例如是加密密钥时，用户的信息记录和再现装置可以读取所加载的盘上记录的凹槽信号，并且获取加密密钥。另外，从服务器获得的内容例如可以通过应用所获取的加密密钥来加密，并且被记录在盘上。作为替代，服务器还可以向用户装置提供通过应用与盘上记录的加密密钥相同的加密密钥而被加密的内容，将加密内容记录在用户装置侧的盘上，并且在后续再现处理中通过应用从盘的凹槽信号中得到的加密密钥来执行解密和再现处理。将参考图11描述用于执行将加密内容记录在盘上的信息记录装置的配置和处理的示例，加密密钥由此在被叠加在凹槽信号上的状态下被记录在该盘上。图11是示出作为加载有上述盘150( S卩，具有作为附加信息被记录在凹槽信号中的加密密钥的盘150)并且执行在盘150上记录加密内容的处理的用户装置的信息记录装置300的配置示例的框图，如图11所示，信息记录装置300具有记录和再现部件301、信号分析部件302、加密处理部件304以及通信部件305。记录和再现部件301执行从盘150中读取凹槽信号和记录内容以及进一步记录内容的处理。信号分析部件302具有与先前参考图5和图6描述的信息再现装置200中的信号分析部件202的配置类似的配置，并且执行与之类似的处理。具体而言，通过对从记录和再现部件301输入的凹槽信号进行解调和分析来检测相位误差，并且基于所检测到的相位误差来检测凹槽信号中记录的附加信息的构成比特值。附加信息120是基于在信号分析部件302中检测到的附加信息的构成比特信息而获得的。例如，附加信息120是加密密钥，并且被应用于对盘150上记录的加密内容的解密处理。此外，附加信息120被应用于对盘150上记录的加密内容的解密处理。此外，作为凹槽信号中包括的其他附加信息的地址信息125是由信号分析部件 302中的解调而得到的。地址信号125被用于对盘150上的数据的记录和再现处理。信息记录装置300经由通信部件305与内容服务器400通信，并且从内容服务器 400获取内容。所获取的内容或者是加密内容或者是尚未被应用加密处理的明文内容。在加密处理的情况下，可以通过从盘150的凹槽信号中读取的加密密钥对加密内容解密。当从服务器接收到这种加密内容时，经由记录和再现部件301将所接收的加密内容记录在盘150上。此外，当从内容服务器400接收到未被应用加密处理的明文内容时，加密处理部件304通过应用从盘150的凹槽信号中读取的作为附加信息120的加密密钥来执行加密处理。结果，经由记录和再现部件301将所生成的加密内容记录到盘150上。当将要再现盘150上记录的加密内容时，从盘150中读取加密内容，并且从凹槽信号中读取加密密钥。通过应用所读取的加密密钥来对加密内容解密，并且执行再现处理。该处理类似于先前参考图5描述的信息再现装置200的处理。顺带提及，虽然在图11所示的配置中将要记录在盘上的内容是经由通信部件305 从内容服务器400得到的，但是从之获得内容的源不限于服务器，而是可以做出各种设定， 包括广播、其他信息处理装置和其他介质。经由作为与这些源相对应的内容输入部件的接口输入的内容可被作为加密内容记录到盘上。当图11所示的信息记录装置300将加密内容记录到盘上时，加密内容和用于这些加密内容的解密的加密密钥被整体存储在一个盘上。因此，即使当加密内容例如被输出并复制到另一介质时，加密密钥也无法被使用。因此可以有效地防止对内容的未授权使用。[4.其他实施例]关于根据凹槽信号上叠加记录的附加信息中的比特值的相位误差设定模式，除了先前参考图4描述的配置之外可以做出各种设定。参考图4描述的示例是这样一种示例其中，凹槽信号是利用以下设定来记录的， 并且其中比特值判定是基于这些相位误差做出的在比特=1的情况下设定有正方向上的相位误差的凹槽信号；以及
在比特=0的情况下设定有负方向上的相位误差的凹槽信号。针对比特值与相位误差之间的对应关系可以做出各种设定。可以做出与上面相反的设定、将比特值与多种相位误差模式相关联的设定，等等。图12示出了其一个示例。如先前描述的图4 一样，图12是示出记录凹槽信号的处理和再现凹槽信号的处理的示例的示图。图12的示例表示这样的示例其中，凹槽信号是利用如下设定来记录的在比特=1的情况下，在先的正向相位误差设定的信号以及随后的负向相位误差设定的信号；以及在比特=0的情况下，在先的负向相位误差设定的信号以及随后的负向相位误差设定的信号。图12中示出的示例表示如下设定的示例tl t2:正向相位误差设定的凹槽信号t2 t3:负向相位误差设定的凹槽信号比特值=1是由区间tl t3中的凹槽信号表示的。t3 t4:负向相位误差设定的凹槽信号t4 t5 正向相位误差设定的凹槽信号比特值=0是由区间t3 t5中的凹槽信号表示的。如图12的上部所示，在记录凹槽信号的处理中，在附加信息的构成比特的比特值 =1的情况下并且在附加信息的构成比特的比特值=0的情况下，具有根据以上设定的传输误差的凹槽信号被生成并记录。在再现处理中，再现设备以预定采样时间(T)间隔读取凹槽信号，并且执行将在每一个采样时间读取的信号的值顺序相加的积分处理，如图12的下部所示。通过该积分处理来判定在一定区间(例如tl t2)中读取的凹槽信号的相位误差的方向(正或者负)。例如，再现装置执行以下处理。tl t2 基于所读取凹槽信号的相位误差的判定结果被累积(积分)，并且判定该区间内设定了正方向的相位误差。t2 t3 基于所读取凹槽信号的相位误差的判定结果被累积(积分)，并且判定该区间内设定了负方向的相位误差。基于对区间tl t3内的在先的正向相位误差设定的凹槽信号和随后的负向相位误差设定的凹槽信号的组合的检测来确定比特值[1]。接下来，t3 t4 基于所读取凹槽信号的相位误差的判定结果被累积(积分)，并且判定该区间内设定了负方向的相位误差。t4 t5 基于所读取凹槽信号的相位误差的判定结果被累积(积分)，并且判定该区间内设定了正方向的相位误差。基于对区间t3 t5内的在先的正向相位误差设定的凹槽信号和随后的负向相位误差设定的凹槽信号的组合的检测来确定比特值
。通过执行这种处理，例如可以正确地得到构成64位或者1 位密钥的所有比特值。顺带提及，当相位误差设定方向被设定为[+] [“] [+] [“] [+][“]时，产生无法将在先的凹槽信号区间与随后的凹槽信号区间区别开的可能性。然而，例如可以通过使用未设定相位误差的信号区间来解决该问题。例如让
是未设定相位误差的区间，则具有以下设定的凹槽信号被记录。[+] [-]
[+] [_]
[+] [_]
[_] [+]这种信号被记录，并且W]被用作分隔符信号。该设定使得可以在再现时判定一对[+]和[_]中的哪一个在凹槽信号中在先。在以上信号的情况下，判定以下比特串的处理变为可能。1110 · · · ·顺带提及，图12中示出的示例已被描述为其中通过两种不同相位误差设定的凹槽信号(即，正相位误差设定的凹槽信号和负相位误差设定的凹槽信号)的排列来标识比特值(0，1)配置。然而，可以做出包括以下设定在内的各种其他设定[+] [+][-]表示比特值=1 ；并且[-] [-] [+]表示比特值=0。上面参考本发明的具体实施例详细说明了本发明。然而，在不脱离本发明精神的情况下，本领域技术人员显然可以做出这些实施例中的修改和替换。就是说，本发明是以例示形式公开的并且不应以限制性方式理解。要确定本发明的精神，将考虑权利要求书部分。此外，说明书中描述的一系列处理可以由硬件、软件或者硬件和软件两者的复合配置来执行。当由软件执行处理时，其中记录有处理序列的程序在被安装到专用硬件中包括的计算机中的存储器内之后可被执行，或者在该程序被安装在能够执行各类处理的通用计算机上之后可被执行。例如，该程序可被预先记录在记录介质上。除了被从记录介质安装到计算机上之外，程序可经由诸如LAN(局域网)、因特网等网络而被接收，并且被安装在诸如内建硬盘等记录介质上。将会注意到，说明书中描述的各种处理不仅可以按照根据说明书的时间顺序执行，而且可以根据执行处理的设备的处理能力或者必要性而并行或者独立地执行。此外，本说明书中的系统是多个装置的逻辑组配置，并且不限于其中各个配置的装置位于同一外壳内的系统。工业应用性如上所述，根据本发明一个实施例的配置，可以将诸如加密密钥之类的高度秘密的附加信息叠加记录在盘上记录的凹槽信号中，该叠加记录兼实现了读出困难和高精度读出。在记录附加信息时记录设定有与比特值相对应的相位误差的凹槽信号，并且在读出附加信息时，使预定区间内的凹槽信号的相位误差经受积分处理并且确定每个区间内的凹槽信号的相位误差的方向。通过这种处理实现了用于增大读出困难并实现高精度读出的附加信息的记录和再现。标号说明100记录介质制造装置102记录信号生成部件103记录部件120附加信息122调制信号生成部分
123相位误差设定信号生成部分125地址信息130 主盘150 盘201再现部件202信号分析部件204解密处理部件221解调部分222相位误差检测部分223比特值判定部分301记录和再现部件302信号分析部件304加密处理部件
权利要求
1.一种记录介质制造装置，包括记录信号生成部件，被配置为生成用于记录附加信息的凹槽信号；以及记录部件，被配置为将由所述记录信号生成部件生成的记录信号记录到主盘上；其中，所述记录信号生成部件决定与构成所述附加信息的每个比特值相对应的相位误差设定模式，并且所述记录信号生成部件生成以记录信号的预定区间为单位被设定了与构成所述附加信息的每个比特值相对应的相位误差的记录信号。
2.根据权利要求1所述的记录介质制造装置，其中，在所述记录信号生成部件生成的记录信号中，所述凹槽信号中设定的相位误差的方向或者方向组合按照所述附加信息的比特值是零的情况和所述附加信息的比特值是一的情况而被设定在不同模式。
3.根据权利要求1或2所述的记录介质制造装置，其中，所述附加信息是包括加密密钥的信息，所述加密密钥用于对将被记录在所述盘上的内容进行加密处理或者解密处理。
4.一种信息再现装置，包括，再现部件，被配置为读取盘上记录的凹槽信号；以及信号分析部件，被配置为分析所述再现部件的再现信号；其中，所述信号分析部件以预定信号区间为单位来判定所述凹槽信号中包括的相位误差的方向，并且基于判定结果来判定所述凹槽信号中包括的附加信息的构成比特值。
5.根据权利要求4所述的信息再现装置，其中，所述信号分析部件利用所述凹槽信号的过零点之前和之后的采样点处的检测值来计算相位误差指标值，并且通过将通过以所述预定信号区间为单位对所述相位误差指标值进行积分而获得的结果与预先设定的阈值相比较来判定所述预定信号区间中的相位误差的设定方向。
6.根据权利要求4或5所述的信息再现装置，还包括解密处理部件，该部件被配置为通过应用由所述信号分析部件分析出的、附加信息中包括的加密密钥来解密所述盘上记录的经加密内容。
7.一种信息记录装置，包括再现部件，被配置为读取盘上记录的凹槽信号；信号分析部件，被配置为以预定信号区间为单位来判定在所述再现部件中从所述盘读取的凹槽信号中包括的相位误差的方向，并且通过基于判定结果而进行的比特值判定处理来分析被叠加地记录在所述凹槽信号上的加密密钥；加密处理部件，被配置为通过应用由所述信号分析部件分析出的所述加密密钥来对内容加密；以及记录部件，被配置为将由所述加密处理部件生成的经加密内容记录到所述盘上。
8.根据权利要求7所述的信息记录装置，其中，所述信号分析部件利用所述凹槽信号的过零点之前和之后的采样点处的检测值来计算相位误差指标值，并且通过将通过以所述预定信号区间为单位对所述相位误差指标值进行积分而获得的结果与预先设定的阈值相比较来判定所述预定信号区间中的相位误差的设定方向。
9.一种信息记录介质，其上记录有用于记录附加信息的凹槽信号，其中，所述凹槽信号被记录作为附加信息叠加信号，按照所述附加信息的构成比特值而处于不同模式的相位误差以预定信号区间为单位而被设定到所述附加信息叠加信号，并且所述附加信息能被基于再现装置中对所述相位误差的设定模式的检测来读取。
10.根据权利要求9所述的信息记录介质，其中，所述凹槽信号是这样的信号在该信号中，所述凹槽信号中设定的相位误差的方向或者方向组合按照所述附加信息的比特值是零的情况和所述附加信息的比特值是一的情况而被设定在不同模式。
11.根据权利要求9或10所述的信息记录介质，其中，所述附加信息是包括加密密钥的信息，所述加密密钥用于对将被记录在所述盘上的内容进行加密处理或者解密处理。
12.—种在记录介质制造装置中执行的信息记录介质制造方法，该信息记录介质制造方法包括记录信号生成步骤，由记录信号生成部件生成用于记录附加信息的凹槽信号；以及记录步骤，由记录部件将在所述记录信号生成步骤中生成的记录信号记录到主盘上； 其中，所述记录信号生成步骤包括决定与构成所述附加信息的每个比特值相对应的相位误差设定模式的步骤，以及生成所述记录信号的步骤，所述记录信号以记录信号的预定区间为单位被设定了与构成所述附加信息的每个比特值相对应的相位误差。
13.一种在信息再现装置中执行的信息再现方法，该信息再现方法包括， 再现步骤，由再现部件读取盘上记录的凹槽信号；以及信号分析步骤，由信号分析部件分析所述再现步骤中的再现信号； 其中，所述信号分析步骤包括下述步骤以预定信号区间为单位判定所述凹槽信号中包括的相位误差的方向并且基于判定结果来判定所述凹槽信号中包括的附加信息的构成比特值。
14.一种在信息记录装置中执行的信息记录方法，该信息记录方法包括 再现步骤，由再现部件读取盘上记录的凹槽信号；信号分析步骤，由信号分析部件以预定信号区间为单位判定在所述再现步骤中从盘中读取的凹槽信号中包括的相位误差的方向，并且通过基于判定结果而进行的比特值判定处理来分析被叠加地记录在所述凹槽信号上的加密密钥的构成比特信息；加密处理步骤，由加密处理部件通过应用所述信号分析步骤中分析出的加密密钥来对内容加密；以及记录步骤，由记录部件将在所述加密处理步骤中生成的加密内容记录到所述盘上。
15.一种使得在信息再现装置中执行信息再现处理的程序，该程序包括 再现步骤，使再现部件读取盘上记录的凹槽信号；以及信号分析步骤，使信号分析部件分析所述再现步骤中的再现信号； 其中，所述信号分析步骤包括下述步骤进行以预定信号区间为单位对所述凹槽信号中包括的相位误差的方向的判定，以及基于判定结果进行对所述凹槽信号中包括的附加信息的构成比特值的判定。
16. 一种使得在信息记录装置中执行信息记录处理的程序，该程序包括 再现步骤，使再现部件读取盘上记录的凹槽信号；信号分析步骤，使信号分析部件以预定信号区间为单位来判定在所述再现步骤中从所述盘读取的凹槽信号中包括的相位误差的方向，并且通过基于判定结果进行的比特值判定处理来分析被叠加地记录在所述凹槽信号上的加密密钥的构成比特信息；加密处理步骤，使加密处理部件通过应用所述信号分析步骤中分析出的加密密钥来对内容加密；以及记录步骤，使记录部件将在所述加密处理步骤中生成的加密内容记录到所述盘上。
全文摘要
公开了用于信息的存储器处理配置。该存储器处理配置实现了读出困难和高读出精度。可以将诸如加密密钥之类的高度秘密的附加信息叠加记录在盘上记录的凹槽信号中，该叠加记录兼实现了读出困难和高精度读出。在记录附加信息时记录设定有与比特值相对应的相位误差的凹槽信号，并且在读出附加信息时，使预定区间内的凹槽信号的相位误差经受积分处理并且确定每个区间内的凹槽信号的相位误差的方向。通过这种处理实现了用于增大读出困难并实现高精度读出的附加信息的记录和再现。
文档编号G11B20/12GK102473427SQ20108003079
公开日2012年5月23日 申请日期2010年6月30日 优先权日2009年7月13日
发明者小林昭荣, 梶原祥行 申请人:索尼公司