技术总结
本发明公开了非易失性存储单元和方法。在一种装置中，形成在半导体衬底的一部分中的非易失性存储单元的阵列包括：第一存储单元，具有第一位单元和第二位单元；第二存储单元，具有第三位单元和第四位单元；以及列复用器，耦合至多条列线，列线中的选定一条耦合至第一存储单元和第二存储单元的第一源极/漏极端子并且耦合至第一存储单元和第二存储单元的第二源极/漏极端子，列复用器将电压耦合至连接至对应于数据的第一存储单元的列线中的一条，并且将电压耦合至连接至对应于互补数据的第二存储单元的列线中的一条。公开了用于操作非易失性存储单元的方法。本发明还公开了用于非易失性存储单元的方法和装置。
技术研发人员：池育德
受保护的技术使用者：台湾积体电路制造股份有限公司
文档号码：201310019946
技术研发日：2013.01.18
技术公布日：2017.07.04