1.一种存储器系统，包括：
存储器装置，其适用于存储数据；以及
控制器，当存储器系统在第一时间点从通电状态改变为断电状态时，所述控制器适用于在第一时间点之前对存储器装置的第一存储块编程测试数据并且对存储器装置的第二存储块编程对应于编程的测试数据的元数据。
2.如权利要求1所述的存储器系统，其中所述控制器生成具有预定模式的测试数据，将生成的测试数据存储在第一缓冲器中，并且在第一时间点之前将存储在第一缓冲器中的测试数据编程至第一存储块，并且
其中，所述控制器根据测试数据的编程生成元数据，将生成的元数据存储在第二缓冲器中，并且在第一时间点之前将存储在第二缓冲器中的元数据编程至第二存储块。
3.如权利要求2所述的存储器系统，其中当在第一时间点之后的第二时间点存储器系统改变为通电状态时，控制器读取编程在第二存储块中的元数据，并且将读取的元数据载入第二缓冲器。
4.如权利要求3所述的存储器系统，其中控制器通过载入第二缓冲器的元数据检查测试数据的映射数据，通过映射数据读取编程在第一存储块中的测试数据，并且将读取的测试数据载入第一缓冲器。
5.如权利要求4所述的存储器系统，其中控制器通过载入第二缓冲器的元数据检查第一时间点之前编程的测试数据的第一数据分布，通过载入第一缓冲器的读取的测试数据检查在第二时间点读取的测试数据的第二数据分布。
6.如权利要求5所述的存储器系统，其中控制器分别检查存储第一时间点之前编程的测试数据的存储器单元的电压分布和存储第二时间点读取的测试数据的存储器单元的电压分布作为测试数据的第一数据分布和第二数据分布。
7.如权利要求5所述的存储器系统，其中控制器分别检查存储第一时间点之前编程的测试数据的存储器单元的数量或者位置和存储第二时间点读取的测试数据的存储器单元的数量或者位置作为第一数据分布和第二数据分布。
8.如权利要求5所述的存储器系统，其中控制器通过第一数据分布和第二数据分布之间的差异检查测试数据的数据偏移，根据测试数据的数据偏移调整存储器系统的参数，并且使用调整的参数对存储器系统执行命令操作。
9.如权利要求1所述的存储器系统，其中控制器将测试数据编程至包括在第一存储块中的所有页面或者所有页面中的第一页面。
10.如权利要求9所述的存储器系统，其中元数据包括在所有页面或者第一页面中的多个存储器单元中被编程测试数据的存储器单元的数量或者位置。
11.一种包括存储器装置的存储器系统的操作方法，包括：
确认存储器装置在第一时间点从通电状态改变为断电状态；
在第一时间点之前将测试数据编程至存储器装置的第一存储块；以及
在第一时间点之前将对应于编程的测试数据的元数据编程至存储器装置的第二存储块。
12.如权利要求11所述的操作方法，
其中在第一时间点之前将测试数据编程至第一存储块包括：
生成具有预定模式的测试数据并且将生成的测试数据存储在第一缓冲器中；以及
将存储在第一缓冲器中的测试数据编程至第一存储块，并且
其中，在第一时间点之前将元数据编程至第二存储块包括：
生成元数据并且将生成的元数据存储在第二缓冲器中；以及
将存储在第二缓冲器中的元数据编程至第二存储块。
13.如权利要求12所述的操作方法，进一步包括，当存储器系统在第一时间点之后的第二时间点改变为通电状态时，
读取编程在第二存储块中的元数据，并且将读取的元数据载入第二缓冲器。
14.如权利要求13所述的操作方法，进一步包括：
通过载入第二缓冲器的元数据检查测试数据的映射数据；以及
通过映射数据读取编程在第一存储块中的测试数据，并且将读取的测试数据载入第一缓冲器。
15.如权利要求14所述的操作方法，进一步包括：
通过载入第二缓冲器的元数据检查在第一时间点之前编程的测试数据的第一数据分布；以及
通过载入第一缓冲器的读取的测试数据检查在第二时间点读取的测试数据的第二数据分布。
16.如权利要求15所述的操作方法，其中第一数据分布和第二数据分布的检查包括分别检查存储第一时间点之前编程的测试数据的存储器单元的电压分布和存储第二时间点读取的测试数据的存储器单元的电压分布作为测试数据的第一数据分布和第二数据分布。
17.如权利要求15所述的操作方法，其中第一数据分布和第二数据分布的检查包括分别检查存储第一时间点之前编程的测试数据的存储器单元的数量或者位置和存储第二时间点读取的测试数据的存储器单元的数量或者位置作为第一数据分布和第二数据分布。
18.如权利要求15所述的操作方法，进一步包括：
通过第一数据分布和之间的差异检查测试数据的数据偏移；
根据测试数据的数据偏移调整存储器系统的参数；以及
使用调整的参数执行对存储器系统的命令操作。
19.如权利要求11所述的操作方法，其中对第一存储块编程测试数据包括将测试数据编程至包括在第一存储块中的所有页面或者所有页面中的第一页面。
20.如权利要求11所述的操作方法，其中元数据包括在所有页面或者第一页面中的多个存储器单元中被编程测试数据的存储器单元的数量或者位置。