技术总结
在所描述实例中，BIST控制器(40)通过BIST数据路径产生待应用于嵌入式存储器(45)的测试数据样式。每个嵌入式存储器(45)耦合到专用本地比较器(46)，所述专用本地比较器(46)比较在测试期间从所述存储器(45)读取的数据与从所述BIST控制器(40)转发的预期数据响应。与一群组(48)待并行测试的存储器相关联的所述本地比较器(46)从所述群组(48)当中共享的本地响应延迟产生器(44)并行地接收所述预期数据响应。
技术研发人员：R·梅赫罗特拉;N·纳雷什;P·纳拉亚南;V·萨卡尔
受保护的技术使用者：德州仪器公司
技术研发日：2016.10.31
技术公布日：2018.06.08