ZQ校准方法和执行该方法的存储器器件与流程

文档序号:14654413发布日期:2018-06-08 22:49阅读:来源:国知局
技术总结
被配置为执行ZQ校准方法的存储器器件可以包括共享连接到ZQ引脚的电阻器的第一裸芯和第二裸芯。第一裸芯可以被配置为响应于从存储器器件外部施加的ZQ校准命令,使用电阻器执行第一校准操作。第一裸芯可以被配置为在第一校准操作结束之后生成ZQ标志信号以及执行第二校准操作。第二裸芯可以被配置为响应于ZQ标志信号执行第一校准操作并在第二裸芯的第一校准操作结束之后执行第二校准操作。

技术研发人员:田周鄠;崔训对
受保护的技术使用者:三星电子株式会社
技术研发日:2017.11.27
技术公布日:2018.06.08

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