的熔丝数据ARE_DATA储存在熔丝组锁存部分300中，以基于储存的熔丝数据ARE_DATA来执行修复操作。当确定第一熔丝组110和第二熔丝组120包括可用熔丝时，启动控制块210可以将关于第一熔丝组110中的可用熔丝的初始熔丝信息UP_NPPR输出至第一熔丝信息储存块230且将关于第二熔丝组120中的可用熔丝的初始熔丝信息UP_PPR输出至第二熔丝信息储存块240。由于在上电操作期间启动操作被重复执行，所以启动控制块210可以将熔丝信息(其是关于第一熔丝组110和第二熔丝组220中包括的可用熔丝的配置信息)分别传送至第一熔丝信息储存块230和第二熔丝信息储存块240，且更新熔丝信息。
[0040]地址锁存块220可以接收自外部器件施加的缺陷地址F_ADD。地址锁存块220可以锁存缺陷地址F_ADD。缺陷地址F_ADD可以包括缺陷行地址和与缺陷行地址对应的存储体地址。地址锁存块220可以将锁存的缺陷地址LF_ADD输出至第一熔丝信息储存块230和第二熔丝信息储存块240。
[0041]如上所述，第一熔丝信息储存块230和第二熔丝信息储存块240可以从启动控制块210分别接收关于第一熔丝组110中的可用熔丝的初始熔丝信息UP_NPPR和关于第二熔丝组120中的可用熔丝的初始熔丝信息UP_PPR，且储存初始熔丝信息UP_NPPR和UP_PPR。
[0042]第一熔丝信息储存块230可以从启动控制块210接收初始熔丝信息UP_NPPR(其是第一熔丝组110中的可用熔丝信息)、且储存该初始熔丝信息UP_NPPR，且其可以通过确定第一熔丝组110中是否存在未使用的熔丝来产生过流信号0VER_SIG。由于第一熔丝信息储存块230储存关于包括在第一熔丝组110中的可用熔丝的配置信息，所以第一熔丝信息储存块230可以在非PPR模式下储存可用熔丝信息。当第一熔丝组110中不存在可用熔丝时(即，用于非PPR模式的修复操作的形成在第一熔丝组110中的所有熔丝都被用过)，第一熔丝信息储存块230可以输出使能的过流信号0VER_SIG。从地址锁存块220接收锁存的缺陷地址LF_ADD的第一熔丝信息储存块230可以输出储存的熔丝信息之中的关于与对应于锁存缺陷地址LF_ADD的熔丝相邻设置的熔丝的配置信息。具体地，第一熔丝信息储存块230可以接收锁存的缺陷地址LF_ADD且输出第一熔丝信息NPPR_R和NPPR_C (其是储存的配置信息之中的与锁存的缺陷地址LF_ADD相邻设置的配置信息)
[0043]第二熔丝信息储存块240可以从启动控制块210接收初始熔丝信息UP_PPR(其是第二熔丝组120中的可用熔丝信息)，且储存该初始熔丝信息UP_PPR。由于第二熔丝信息储存块240储存关于包括在第二熔丝组120中的可用熔丝的配置信息，所以第二熔丝信息储存块240可以在PPR模式下储存可用熔丝信息。从地址锁存块220接收锁存的缺陷地址LF_ADD的第二熔丝信息储存块240可以输出第二熔丝信息PPR_R和PPR_C(其是储存的配置信息之中的与锁存的缺陷地址LF_ADD相邻设置的配置信息)。
[0044]选择输出块250可以从第一熔丝信息储存块230接收过流信号0VER_SIG和第一熔丝信息NPPR_R和NPPR_C。选择输出块250可以从第二熔丝信息储存块240接收第二熔丝信息PPR_R和PPR_C。选择输出块250可以接收PPR模式使能信号PPREN和扩展模式信号EXTEND_TM。扩展模式信号EXTEND_TM可以自外部器件施加或在半导体存储器件内部产生。当扩散模式信号EXTEND_TM被使能时，半导体存储器件可以通过将可用熔丝面积扩展至第一熔丝组110 (而非PPR模式下的第二熔丝组120)来进入扩展模式。
[0045]选择输出块250可以基于PPR模式使能信号PPREN、扩散模式信号EXTEND_TM和过流信号0VER_SIG来选择性地输出第一熔丝信息NPPR_R和NPPR_C或第二熔丝信息PPR_R和PPR_C。选择输出块250可以将第一熔丝信息NPPR_R和NPPR_C或第二熔丝信息PPR_R和PPR_C作为选择信息ARE_R和ARE_C输出至熔丝部分100。当PPR模式使能信号PPREN被禁用时，选择输出块250可以将第一熔丝信息出至熔丝部分100。当PPR模式使能信号PPREN被使能且扩散模式信号EXTEND_TM被禁用时，选择输出块250可以将第二熔丝信息PPR_R和PPR_C输出至熔丝部分100。当PPR模式使能信号PPREN被使能且扩散模式信号EXTEND_TM被使能时，选择输出块250可以基于过流信号0VER_SIG来选择性地输出第一熔丝信息NPPR_R和NPPR_C或第二熔丝信息PPR_R和PPR_C。换言之，当第一熔丝组110中存在未使用的熔丝时，选择输出块250可以接收禁用的过流信号0VER_SIG且输出第一熔丝信息当第一熔丝组110中不存在未使用的熔丝时，选择输出块250可以接收使能的过流信号0VER_SIG且输出第二熔丝信息PPR_R和PPR_C。
[0046]当根据本发明的实施例的半导体存储器件在PPR模式下响应于使能的扩散模式信号EXTEND_TM而进入扩展模式时，即使在PPR模式下选择输出块250也可以使用第一熔丝组110直到过流信号0VER_SIG被使能为止。因而，当确定在PPR模式下第一熔丝组110中是否存在可用熔丝的结果是第一熔丝组110中存在可用熔丝时，半导体存储器件可以不使用针对PPR模式分配的第二熔丝组120，而可以使用第一熔丝组110。
[0047]熔丝部分100的行解码器130可以对从选择输出块250接收的第一熔丝信息NPPR_R和NPPR_C和第二熔丝信息PPR_R和PPR_C之中的基于行的熔丝信息NPPR_R/PPR_R进行解码作为行选择信息ARE_R。因此，行解码器130可以产生用于选择第一熔丝组110或第二熔丝组120的字线的信号。
[0048]熔丝部分100的列解码器140可以对从选择输出块250接收的第一熔丝信息NPPR_R和NPPR_C和第二熔丝信息PPR_R和PPR_C之中的基于列的熔丝信息NPPR_C/PPR_C进行解码作为列选择信息ARE_C。因此，列解码器140可以产生用于选择第一熔丝组110或第二熔丝组120的位线的信号。
[0049]断裂控制块260可以将断裂使能信号PGMEN输出至熔丝部分100，且接收断裂使能信号PGMEN的熔丝部分100可以执行断裂操作。
[0050]熔丝部分100可以接收从选择输出块250输出的选择信息ARE_R和ARE_C、和从断裂控制块260输出的断裂使能信号PGMEN。熔丝部分100可以响应于断裂使能信号PGMEN而执行断裂操作。断裂使能信号PGMEN和选择信息ARE_R和ARE_C可以包括在修复控制信号中。关于缺陷地址的信息可以被编程在从选择输出块250中输出的选择信息六1?_1?和ARE_C中。随后，熔丝数据ARE_DATA(其是被编程在熔丝部分100中的信息)可以被输出至熔丝组锁存部分300且经由启动操作被顺序锁存。半导体存储器件可以基于锁存的熔丝数据ARE_DATA和自地址锁存块220输出的锁存的缺陷地址LF_DATA来执行修复操作。
[0051]在下文中，将描述半导体存储器件的操作。
[0052]当为了操作半导体存储器件而自外部器件供应电源电压时，启动控制块210执行启动操作。当储存在第一熔丝组110和第二熔丝组120中的熔丝数据ARE_DATA被顺序读取时，熔丝数据ARE_DATA被锁存在熔丝组锁存部分300中。当启动控制块210执行启动操作时，初始熔丝信息UP_NPPR/UP_PPR(其是关于第一熔丝组110和第二熔丝组120中的可用熔丝的配置信息)被分别输出至第一熔丝信息储存块230和第二熔丝信息储存块240。第一熔丝信息储存块230和第二熔丝信息储存块240储存从启动控制块210接收的可用熔丝信息。
[0053]现在将描述非PPR模式下的半导体存储器件的操作。在非PPR模式下，PPR模式使能信号PPREN和扩展模式信号EXTEND_TM被禁用。地址锁存块220从外部器件接收缺陷地址F_ADD，且锁存该缺陷地址F_ADD。第一熔丝信息储存块230接收锁存的缺陷地址LF_ADD且输出第一熔丝信息NPPR_R和NPPR_C(其是储存的熔丝信息之中的与锁存的缺陷地址LF_ADD相邻设置的配置信息)。选择输出块250可以将从第一熔丝信息储存块230接收的第一熔丝信息NPPR_R和NPPR_C作为选择信息ARE_R和ARE_C输出至行解码器130和列解码器140。当断裂使能信号PGMEN被输出至熔丝部分100时，熔丝部分100通过对第一熔丝组110中的与选择信息ARE_R和ARE_C相对应的熔丝执行断裂操作来编程缺陷地址的信息。随后，当启动控制块210顺序读取被编程在第一熔丝组110中的熔丝数据ARE_DATA时，启动控制块210将读取的熔丝数据ARE_DATA传送至熔丝组锁存部分300。
[0054]接下来描述在PPR模式和非扩展模式下执行的半导体存储器件的操作。半导体存储器件接收使能的PPR模式使能信号PPREN和禁用的扩展模式信号EXTEND_TM。如上所述，当启动控制块210执行启动操作时，关于可用熔丝的配置信息可以被更新、且被储存在第一熔丝信息储存块230和第二熔丝信息储存块240中。地址锁存块220从外部器件接收缺陷地址F_ADD，且锁存该缺陷地址F_ADD。第二熔丝信息储存块240接收锁存的缺陷地址LF_ADD且输出第二熔丝信息PPR_R和PPR_C (其是储存的熔丝信息之中的与锁存的缺陷地址LF_ADD相邻设置的熔丝信息)。选择输出块250可以将从第二熔丝信息储存块240接收的第二熔丝信息PPR_R和PPR_C作为选择信息ARE_R和ARE_C输出至行解码器130和列解码器140。当断裂使能信号PGMEN被输出