接的第1个比较单元111、与第2条位线BL2连接的第2个比较单元211和与第3条位线BL3连接的第1个比较单元311。
[0032]第1个比较单元111包括:第1个电压比较器SA11和第2个电压比较器SA21。第1个电压比较器SA11和第2个电压比较器SA21的第一输入端均连接第1条位线BL1，第1个电压比较器SA11的第二端适于输入第1个基准电压VII，第2个电压比较器SA21的第二端适于输入第2个基准电压V21，第1个基准电压VII和第2个基准电压V21的电压值不相同。第1个电压比较器SA11输出数字编码D11，第2个电压比较器SA21输出数字编码D21。
[0033]第2个比较单元211包括:第3个电压比较器SA12和第4个电压比较器SA22。第3个电压比较器SA12和第4个电压比较器SA22的第一输入端均连接第2条位线BL2，第3个电压比较器SA12的第二端适于输入第3个基准电压V12，第4个电压比较器SA22的第二端适于输入第4个基准电压V22，第3个基准电压V12和第4个基准电压V22的电压值不相同。第3个电压比较器SA12输出数字编码D12，第4个电压比较器SA22输出数字编码D22。
[0034]第3个比较单元311包括:第5个电压比较器SA13和第6个电压比较器SA23。第5个电压比较器SA13和第6个电压比较器SA23的第一输入端均连接第3条位线BL3，第5个电压比较器SA13的第二端适于输入第5个基准电压V13，第6个电压比较器SA23的第二端适于输入第6个基准电压V23，第5个基准电压V13和第6个基准电压V23的电压值不相同。第5个电压比较器SA13输出数字编码D13，第6个电压比较器SA23输出数字编码D23。
[0035]存储器的测试装置包括至少两个比较单元时所述至少两个比较单元的结构相同，即每个比较单元包含的电压比较器数量相同，每个比较单元适于输入的基准电压相同，并且输入的基准电压值相同的电压比较器在每个比较单元中的排列位置相同。
[0036]继续参考图2，第1个比较单元111适于输入第1个基准电压VII和第2个基准电压V21，第2个比较单元211适于输入第3个基准电压V12和第4个基准电压V22的电压值，第3个比较单元311适于输入第5个基准电压V13和第6个基准电压V23，其中第1个基准电压VI1、第3个基准电压VI2和第5个基准电压VI3的电压值相同，第2个基准电压V21、第4个基准电压V22和第6个基准电压V23的电压值相同且均小于第1个基准电压VII。所以，输入第1个比较单元111、第2个比较单元211和第3个比较单元311的基准电压相同。
[0037]本实施例将连接同一条位线且电压比较器和位线的连接点距离存储单元和位线的连接点最近的视为在比较单元中的第1位。在第1个比较单元111中，第1个电压比较器SA11与第1条位线BL1的连接点距离存储单元21与第1条位线BL1的连接点最近，则第1个电压比较器SA11位于第1个比较单元111中的第1位，第2个电压比较器SA21位于第2位。由于第1个电压比较器SA11适于输入第1个基准电压VII,所以,适于输入的电压值与第1个基准电压VII相同的第3个电压比较器SA12也位于第2个比较单元211中的第1位，于此相同的，第5个电压比较器SA13位于第3个比较单元311中的第1位；适于输入的电压值与第2个基准电压V21相同的第4个电压比较器SA22位于第2个比较单元211中的第2位，第6个电压比较器SA23位于第3个比较单元311中的第2位。
[0038]每个比较单元可以输出一组数字编码，每一组数字编码可以代表一条位线上的电流值。当一个存储单元被激活时，与其连接的位线上的电流值可以体现被激活的存储单元能够提供的电流大小。第1个比较单元111可以输出一组代表第1条位线BL1上电流值的数字编码D11D21，第2个比较单元211输出一组代表第2条位线BL2上电流值的数字编码D12D22，第3个比较单元311输出一组代表第3条位线BL3上电流值的数字编码D13D23。
[0039]每个比较单元适于输入的基准电压数量以及输入相邻电压比较器的基准电压差值决定了测试精度和范围。
[0040]若每个比较单元中包含的电压比较器数量较多，比较单元输出的一组数字编码位数较多，则为了减少代表电流值的编码位数，所述存储器的测试装置还可以包括编码器，编码器与比较单元一一对应连接。如图3所示，比较单元1中的电压比较器的输出端连接所述编码器的输入端，编码器输出的数字编码Q[0:q]位数小于比较单元输出的数字编码位数。
[0041]如图4所示，与上述存储器的测试装置相对应的，本实施例还提供一种存储器的测试方法，包括:
[0042]步骤S1，激活需测试的存储单元，同一次激活的存储单元连接不同的位线；
[0043]步骤S2，存储单元被激活后，获得被激活的存储单元在预定时刻对应的第一数字编码，所述第一数字编码表征在所述预定时刻所述被激活的存储单元连接的位线上的电压值与至少两个基准电压值的比较结果，所述至少两个基准电压值不相同；
[0044]步骤S3，测量与不同的第一数字编码对应的存储单元连接的位线上的电流值以获得存储单兀和电流值的对应关系。
[0045]本实施例所述的需测试的存储单元是指计划进行测试的存储单元，例如，存储器有100个存储单元，这100个存储单元都是需测试的存储单元，而100个存储单元中部分连接同一条位线，所以只能执行多次激活步骤。激活存储单元的方法与选择存储单元进行读操作或写操作的方法相同，此处不再赘述。下面结合图2对本实施例提供的测试方法做进一步说明。
[0046]在步骤S1中，同一次被激活的存储单元应当连接不同的位线，即连接同一条位线的存储单元不应同时被激活。例如，存储单元11、存储单元12和存储单元13可以在同一次激活步骤中被激活，而存储单元11和存储单元21只能在不同的激活步骤中被激活。
[0047]所述步骤S2可以由比较单元1来执行。当存储单元11被激活后，与存储单元11连接的第1条位线BL1电压发生变化，第1条位线BL1上变化的电压值可以体现存储单元11能够提供的电流大小。例如，激活存储单元11之前，将第1条位线BL1充电到高电位；存储单元11被激活后，存储单元11会提供稳定的电流以将第1条位线BL1的电压进行下拉，直到地电压0V。从激活步骤的开始时刻到预定时刻，例如5s，第1条位线BL1的电压逐渐下降到一定值，在预定时刻第1条位线BL1上的电压值与至少两个基准电压值的比较结果可以代表存储单元提供的稳定电流的电流值。
[0048]本实施例所述的预定时刻可以任意选择，如果需测试的存储单元分配在多次激活操作中，那么每次激活后获得第一数字编码的时间点应当都是在预定时刻。例如，假设预定时刻为5s，在第一次激活步骤中激活存储单元11，从第一次激活步骤开始时刻(Os)持续5s时到达预定时刻，此时获得第1条位线BL1上的电压值与至少两个基准电压值的比较结果，并将所述比较结果作为存储单元11对应的第一数字编码。在第二次激活步骤中激活存储单元21，从第二次激活步骤开始时刻(Os)持续5s时到达预定时刻，此时获得第1条位线BL1上的电压值与至少所述两个基准电压值的比较结果，并将所述比较结果作为存储单元21对应的第一数字编码。所述预定时刻都是相对于每一次激活存储单元的开始时刻来说的。
[0049]执行步骤S3是为了获得不同的第一数字编码对应的实际电流值，因此，需要实际测量与不同的第一数字编码对应的存储单元连接的位线上的电流值。位线电流的测量方式可以采用现有的位线电流测量方法。例如，将连接位线引到存储器芯片的焊盘上，并将焊盘连接到外部电流测试设备。
[0050]执行步骤S2可以获得代表位线电流值的第一数字编码，相同的第一数字编码代表的电流值相同，不同的第一数字编码代表的电流值不同。所以，只需在相同第一数字编码对应的多个存储单元中，选出合理数量的存储单元，测量选择的存储单元在激活后与其连接的位线上的实际电流值即可。如果为了提高检测速度，可以只在相同第一数字编码对应的多个存储单元