图2为图1实施例的存储器模块12的测试方法的流程图。如图2所示，本发明的存储 器模块12的测试方法的流程包含但不限定于步骤S201至步骤S205,如下所示：
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[0057] 为了让图2的测试流程与后文所述的详细的测试方法更容易了解，本文将上述的 步骤S201至步骤S205归类为三个阶段。如图2所示，第一阶段I包含了步骤S201以及步骤 S202。而第一阶段I的目的在于将用户端机台10与测试机台11确实建立合法且专用的连结。 第二阶段II包含了步骤S203以及步骤S204。而第二阶段II的目的在于将不同的错误型样 (Error Pattern)注入存储器模块12中，并观察存储器模块12接受到这些错误型样后会有 那些反应及错误状态。第三阶段III包含了步骤S205,而第三阶段III的目的在于依据观察 存储器模块12的错误状态后(可能为存储器模块12对应的操作系统当机或是存储器模块12 执行自我回复功能，将于后文详述），于用户端机台10产生测试分析资料(或是测试结论报 告，Summary Report)。如此，测试人员将可轻易由用户端机台10获得存储器模块12的检测 结果。为了描述更为精准，下文将针对第一阶段I内部的详细流程，以及在第二阶段II考虑 两种错误型样(例如多位元错误形样以及单位元错误型样）的使用做详细说明。并且，在第 二阶段II使用的两种错误型态之下，其所对应的第三阶段III的详细流程亦会描述于后文。
[0058] 图3为图2的存储器模块12的测试方法的第一阶段I的流程图。如上述，第一阶段I 的目的在于将用户端机台10与测试机台11确实建立合法且专用的连结。图3的流程包含但 不限定于步骤S301至步骤S305,如下：
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[0060] 图3的步骤S301至步骤S305说明如下。首先，测试系统100于步骤S301启动检测，接 下来，用户端机台10与测试机台（System Under Test Device)ll于步骤S302建立连结。用 户端机台10将会于步骤S303检查连结是否成功，当连结建立失败时，会返回步骤S302重新 建立连结。反之，若连结建立成功，贝进入步骤S304。在步骤S304中，测试机台11会复制一份 连结资料(SCP)，并传至用户端机台10。用户端机台10会于步骤S305检查此连结资料(SCP) 的合法性或完整性，并判断测试机台11是否真的透过连结将完整的连结资料(SCP)传送。要 是连结资料（SCP)的传送不完整或不合法，测试机台11将会被要求重新传送连结资料 (SCP)，直到认证通过为止。这里所指的合法性可为任何的完整度指标，例如利用循环冗余 校验(Cyclic redundancy check，CRC)检测连结资料(SCP)是否是正确的，或直接观察传送 封包内容判断连结资料(SCP)是否存在等等。当连结资料(SCP)已被接收且认证通过，则进 入步骤S401(将于图4说明）。换言之，步骤S302及步骤S303为图2中步骤S201的子步骤，而步 骤S304及步骤S305为图2中步骤S202的子步骤。通过透过步骤S301至步骤S305(第一阶段 I)，用户端机台10与测试机台11可建立合法且专用的连结。接下来，测试系统100将会进行 第二阶段II，也就是存储器模块12测试的程序，详述于下。
[0061] 在本发明中，存储器模块12测试的程序(第二阶段II)将考虑两种方式来进行，一 种为利用多位元错误型样（MM Pattern)进行测试，一种为利用单位元错误型样（SBE Pattern)进行测试，下文将针对这两种测是手段做详细说明。
[0062] 图4为存储器模块12的测试方法，使用多位元错误型样的第二阶段II的流程图。当 用户端机台10与测试机台11利用图3的流程建立合法且专用的连结后，测试系统100即开始 执行存储器模块12的测试程序。而存储器模块12的测试程序包含但不限定于以下步骤：
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[0064]图4的步骤S401至步骤S405说明如下。当用户端机台10与测试机台11利用图3中的 步骤S301至步骤S305(第一阶段I)可建立合法且专用的连结后，用户端机台10上的测试软 件13,会利用Intel?开发的Rastool测试工具，并透过测试机台11，于步骤S401启动检测循 环。这边所指的检测循环为一种循序式的处理流程，可对任何单位的存储器模块12循序启 动测试程序。例如将存储器模块12量化为以DIMM为单位或是以Bank为单位，再循序进行测 试。在步骤S402中，未被检测的存储器模块12将会被测试软件13侦测出来。之后，于步骤 S403中，这些未被检测的存储器模块12将透过测试机台11逐一注入多位元错误型样。应当 理解的是，正常的存储器模块12在被注入多位元(至少2位元)的错误型样时，其支持的操作 系统最后必然失败(俗称，当机，System Hang Up)。然而，在注入多位元的错误型样至存储 器模块12的当下，其支持的操作系统不一定会于第一时间失败，可能会因为系统忙碌 (System Busy)而延迟了系统失败的时间。因此，在步骤S404中，测试软件13会检查存储器 模块12对应的操作系统是否失败，若系统失败，则进入步骤S405,若系统当下并未失败(可 能为前述的延迟原因），则返回步骤S403。当操作系统失败后，依据步骤S405,测试机台11将 会被重新启动，并进入步骤S501(将于图5中描述）。换言之，步骤S401及步骤S402为步骤 S403的前置步骤，步骤S403为图2中对应步骤S203,而步骤S404及步骤S405为图2中步骤 S204的子步骤。通过透过步骤S401至步骤S405(第二阶段II)，错误型样(Error Pattern)将 会被注入至存储器模块12(未被检测的存储器模块）中，并进一步观察存储器模块12接受到 这些错误型样后会有那些反应及错误状态(例如操作系统失败）。而在执行步骤S401至步骤 S405之后，测试系统100将会进入第三阶段III，也就是产生错误及分析资料的阶段，详述于 下。
[0065]图5为存储器模块12的测试方法，使用多位元错误型样的第三阶段III的流程图。 图5的流程包含但不限定于步骤S501至步骤S509,如下：
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[0068]图5的步骤S501至步骤S509说明如下。首先，测试系统100将测试机台11重新启动 后，透过步骤S501检查其内部操作系统的状态。此时，重新启动的操作系统会发生两种情 况，一种为正常启动且正常汇入驱动程序而进入待命状态，另一种情况为异常情况，重启的 操作系统仍然执行失败。因此，若是重启的操作系统仍然失败时，表示操作系统可能有其他 原因导致执行失败，例如存储器模块12发生物理性损坏等等。这时候，用户端机台10就会透 过步骤S502记录错误资料。若是重启的操作系统能正常运作，则测试系统100将依据步骤 S503,进一步检查远端服务器连线回报资料(BMC)的状态。若是回报资料异常，用户端机台 10就会透过步骤S504记录错误资料。若是回报资料正常，则测试系统100将依据步骤S505， 进一步检查测试机台11系统回报资料(System Logs)的状态。若是回报资料正常，则测试系 统100将执行步骤S507。若是回报资料异常，用户端机台10就会透过步骤S506记录错误资 料。而测试系统100于执行步骤S502、步骤S504及/或步骤S506之后，也会进入步骤S507。在 步骤S507中，用户端机台10上的测试软件13会透过测试机台11侦测所有存储器模块12的检 测状态，以避免漏掉测试某些存储器模块12。因此，当所有存储器模块12都被检测完成时， 用户端机台10将会依据前述步骤S501至S506的资料状态或是记录的错误资料，于步骤S508 产生测试分析资料（报告）（Analysis Summary Report)，并于步骤S509结束测试流程。反 之，当某些存储器模块12尚未被检测完成时，测试系统100将会返回图4中的步骤S402。因 此，在使用多位元错误型样的第三阶段III的流程中，透过步骤S501至步骤S509,存储器模 块12的测试分析报告及资料将会被自动产生出来，测试人员不需要手动去对存储器模块12 逐一测试。
[0069] 图6为存储器模块12的测试方法，使用单位元错误型样的第二阶段II的流程图。不 同于上述考虑多位元错误型样(MBE Pattern)，在此考虑了单位元错误型样(SBE P