attern) 的测试。当用户端机台10与测试机台11利用图3的流程建立合法且专用的连结后，测试系统 100即开始执行存储器模块12的测试程序。而存储器模块12的测试程序包含但不限定于以 下步骤：
[0070]
[0071]图6的步骤S601至步骤S606说明如下。当用户端机台10与测试机台11利用图3中的 步骤S301至步骤S305(第一阶段I)可建立合法且专用的连结后，用户端机台10上的测试软 件13,会利用Intel?开发的Rastool测试工具，并透过测试机台11，于步骤S601启动检测循 环。这边所指的检测循环为一种循序式的处理流程，可对任何单位的存储器模块12依序启 动测试程序。例如将存储器模块12量化为以DIMM为单位或是以Bank为单位，再循序进行测 试。在步骤S602中，这些未被检测的存储器模块12将透过测试机台11逐一注入单位元错误 型样。应当理解的是，正常的存储器模块12在被注入单位元的错误型样时，将会执行错误位 元回复的功能，使发生错误的位元自动被更正。因此，在步骤S604中，测试软件13会检查存 储器模块12被注入单位元错误型样之后的状态，并于步骤605中，检查存储器模块12是否被 执行正确的错误位元回复机制。若错误位元回复机制被正确执行而使错误位元被更正，则 进入步骤S701(将于图7说明）。反之，若错误位元回复机制执行异常，则进入步骤S606。在步 骤S606中，测试系统100会计算单位元错误型样被重复注入的次数(Retry)，若重复注入的 次数(这里亦称为重试次数)大于R，进入步骤S702(将于图7说明）。反之，若重复注入的次数 小于等于R，则返回步骤S603,继续重复地将单位元错误型样注入至存储器模块12中，这里 所指的R为正整数。换言之，步骤S601及步骤S602为步骤S603的前置步骤，步骤S603对应图2 中的步骤S203，而步骤S604及步骤S605为图2中步骤S204的子步骤。通过透过步骤S601至步 骤S606(第二阶段II)，错误型样(Error Pattern)将会被注入至存储器模块12(未被检测的 存储器模块）中，并进一步观察存储器模块12接受到这些错误型样后会有那些反应及错误 状态(例如存储器模块12自我更正错误位元）。而在执行步骤S601至步骤S606之后，测试系 统100将会进入第三阶段III，也就是产生错误及分析资料的阶段，详述于下。
[0072]图7为图2的存储器模块12的测试方法，使用单位元错误型样的第三阶段III的流 程图。图7的流程包含但不限定于步骤S701至步骤S705,如下：
[0073]
[0074]图7的步骤S701至步骤S705说明如下。首先，若存储器模块12被注入单位元的错误 型样后，成功地更正单位元错误。此时，用户端机台10将会透过步骤S701，记录检测通过资 料(Pass Log)，表示这一个存储器模块12为正常状态。反之，若存储器模块12被注入单位元 的错误型样后，无法成功地更正单位元错误。此时，用户端机台10将会透过步骤S702,记录 错误资料(Error Log)，表示这一个存储器模块12可能发生某些问题。在步骤S703中，用户 端机台10上的测试软件13会透过测试机台11侦测所有存储器模块12的检测状态，以避免漏 掉测试某些存储器模块12。因此，当所有存储器模块12都被检测完成时，用户端机台10将会 依据前述步骤S701或S702的资料状态或是记录的错误资料，于步骤S704产生测试分析资料 (报告）（Analysis Summary Report)，并于步骤S705结束测试流程。反之，当某些存储器模 块12尚未被检测完成时，测试系统100将会返回图6中的步骤S602。因此，在使用单位元错误 型样的第三阶段ΠΙ的流程中，透过步骤S701至步骤S705,存储器模块12的测试分析报告及 资料最后会自动产生出来，测试人员不需要手动去对存储器模块12逐一测试。
[0075] 综上所述，本发明描述了一种存储器模块的测试方法及系统，其设计概念为利用 软件进行全自动化的测试，并利用多位元错误型样或单位元错误型样对存储器模块进行测 试，来自动侦测存储器模块是否有异常的情况发生。因此，由于本发明的测试系统为具有自 动测试存储器模块的功能，相较于传统手动的测试流程，本发明的测试时间亦可大幅缩短， 且所花的人力成本以及人为失误造成的错误亦可大幅降低。
[0076] 显然，本领域的技术人员可以对发明进行各种改动和变型而不脱离本发明的精神 和范围。这样，倘若本发明的这些修改和变型属于本发明权利要求及其等同技术的范围之 内，则本发明也意图包括这些改动和变型在内。
【主权项】
1. 一种存储器模块的测试方法，其特征在于，包含： 一用户端机台与一测试机台建立一连结； 验证所述用户端机台与所述测试机台间的所述连结的合法性； 产生一错误型样至所述测试机台的一存储器模块中； 检查所述存储器模块的一错误状态;及 依据所述存储器模块的所述错误状态，所述用户端机台产生一测试分析资料。2. 如权利要求1所述的测试方法，其特征在于，其中验证所述用户端机台与所述测试机 台间的所述连结的合法性，包含： 所述测试机台传送一连结资料至用户端机台；及 所述用户端机台检查所述连结资料是否合法。3. 如权利要求1所述的测试方法，其特征在于，另包含： 侦测一未被测试的存储器模块； 其中产生所述错误型样至所述测试机台的所述存储器模块中，包含： 产生并注入一多位元错误型样至所述未被测试的存储器模块。4. 如权利要求3所述的测试方法，其特征在于，其中检查所述存储器模块的所述错误状 态，包含： 检查注入所述多位元错误型样后的所述存储器模块对应的一操作系统是否失败;及 若所述操作系统失败，重新启动所述测试机台。5. 如权利要求4所述的测试方法，其特征在于，其中依据所述存储器模块的所述错误状 态，所述用户端机台产生所述测试分析资料，包含： 重新启动所述测试机台后，检查所述测试机台对应于所述存储器模块的所述操作系统 的一状态； 若所述操作系统为一执行失败状态，产生并记录一错误资料;及 依据所述错误资料，产生所述测试分析资料。6. 如权利要求4所述的测试方法，其特征在于，其中依据所述存储器模块的所述错误状 态，所述用户端机台产生所述测试分析资料，包含： 检查所述对应于所述存储器模块的一远端服务器回报资料的一状态； 若所述远端服务器回报资料为一资料异常状态，产生并记录一错误资料;及 依据所述错误资料，产生所述测试分析资料。7. 如权利要求4所述的测试方法，其特征在于，其中依据所述存储器模块的所述错误状 态，所述用户端机台产生所述测试分析资料，包含： 检查所述测试机台对应于所述存储器模块的一系统回报资料的一状态； 若所述系统回报资料为一资料异常状态，产生并记录一错误资料;及 依据所述错误资料，产生所述测试分析资料。8. 如权利要求1所述的测试方法，其特征在于，另包含： 侦测一未被测试的存储器模块； 其中产生所述错误型样至所述测试机台的所述存储器模块中，包含： 产生并注入一单位元错误型样至所述未被测试的存储器模块。9. 如权利要求8所述的测试方法，其特征在于，其中检查所述存储器模块的所述错误状 态，包含： 检查所述存储器模块的一单位元的所述错误状态;及 检查所述存储器模块是否被执行一错误位元回复机制。10.如权利要求9所述的测试方法，其特征在于，其中检查所述存储器模块的所述错误 状态，另包含： 若所述存储器模块未被执行所述错误位元回复机制，重新将所述单位元错误型样注入 至所述存储器模块中；及 所述方法另包含： 产生并记录一错误资料。
【专利摘要】本发明提供一种存储器模块的测试方法，包含用户端机台与测试机台建立连结，验证用户端机台与测试机台间的连结的合法性，产生错误型样至测试机台的存储器模块中，检查存储器模块的错误状态，及依据存储器模块的错误状态，用户端机台产生及记录测试分析资料。本发明所述的测试方法相比于传统手动的测试流程，测试时间亦可大幅缩短，且所花的人力成本以及人为失误造成的错误亦可大幅降低。
【IPC分类】G11C29/42
【公开号】CN105469831
【申请号】CN201510827459
【发明人】林大华, 陈腾湖
【申请人】英业达科技有限公司, 英业达股份有限公司
【公开日】2016年4月6日
【申请日】2015年11月24日