用于发光装置的多孔膜的制作方法
【专利摘要】一些多孔膜，例如有机非聚合性多孔膜，可用于光输出耦合以增加发光装置的效率。多孔膜也可在其他装置中用于光散射以及用于与光传输相关的其他应用。
【专利说明】用于发光装置的多孔膜
[0001]相关申请的交叉引用
[0002]本申请根据35U. S. C. § 119(e)要求于2011年3月3日提交的美国临时申请第61/449，032号的优先权，通过引用以整体方式将其公开内容并入本文。
[0003]发明背景
发明领域
[0004]一些实施方案涉及多孔膜，例如用于装置（例如发光装置）的多孔膜。
_5] 相关领域描述
[0006]有机发光装置（OLED)可用于并入节能的照明仪器或装置。可惜的是，OLED的效率可能会在产生发射光以及发射光离开装置以提供照明的能力方面受到任何固有的效率不足的限制。发射光不能离开装置也可称为捕获（trapping)。由于捕获，装置效率可能减少至发射效率的约10-30%。光提取（light extraction)可减少捕获,从而基本上改善效率。
[0007]发明简述
[0008]一些实施方案可包括多孔膜。多孔膜可包括：非聚合性有机化合物，其具有在约I. I至约I. 8的范围内的折射率；多个不规则排列的纳米突起物、纳米颗粒或其聚集体；和/或多个空隙，其总体积为所述膜的体积的至少约50%，并且多个空隙中至少约10%具有在约O. 5 μ m至约5 μ m的范围内的最长尺寸。多孔膜可具有在约500nm至约20 μ m的范围内的厚度；和/或包括空隙的多孔膜的密度可为约O. 5皮克（picograms)/μ m3或更小。
[0009]一些实施方案可包括发 光装置，其包括：多孔膜，所述多孔膜可包括：与发光装置中部分内反射层的第一界面，其中部分内反射层的折射率可高于多孔膜的折射率；与折射率低于多孔膜的折射率的物质的第二界面；并且其中第二界面可包括多个不规则排列的纳米突起物或纳米颗粒。
[0010]一些实施方案可包括发光装置，其包括：可布置在阳极或阴极上方的多孔膜；其中多孔膜可具有低于阳极折射率和阴极折射率的折射率。
[0011]一些实施方案包括发光装置，包括：发光二极管，其包括：阳极；阴极；布置于阳极与阴极之间的发射层；以及多孔膜；其中多孔膜可布置在阳极上或阴极上；或发光装置可还包括布置于阳极和多孔膜之间的透明层或是布置于阴极和多孔膜之间的透明层。
[0012]在一些实施方案中，可通过包括以下方法来制备多孔膜：沉积有机膜并以约100°C至约290°C的温度加热有机膜。
[0013]一些实施方案可包括发光装置，包括：发光二极管，其包括多孔膜；其中将多孔膜布置在内反射层上，所述内反射层选自：阳极；阴极；布置于阳极和多孔膜之间的透明层，或布置于阴极和多孔膜之间的透明层；其中内反射层的折射率高于多孔膜的折射率；其中多孔膜可包括本文所述的化合物。
[0014]这些和其他实施方案详细描述于本文中。
[0015]附图简述
[0016]图I示出了辅助确定颗粒或突起物的X尺寸、y尺寸以及z尺寸。[0017]图2A示出了可被描述为当在Xz平面观察时为大致矩形的、准平面的或为纳米片的颗粒的理想化实例。
[0018]图2B示出了可被描述为曲形或波形纳米片的颗粒的实例。
[0019]图3示出了在平面中基本具有全部为大致直角的角的颗粒的理想化实例。
[0020]图4示出了具有大致上不为直角的角的准平行四边形颗粒的理想化实例。
[0021]图5示出了为大致胶囊形的颗粒的理想化实例。
[0022]图6示出了多孔膜的实施方案的表面的SEM图像。
[0023]图7示出了多孔膜的实施方案的表面的SEM图像。
[0024]图8示出了多孔膜的实施方案的表面的SEM图像。
[0025]图9示出了多孔膜的实施方案的表面的SEM图像。
[0026]图10示出了多孔膜的实施方案的表面的SEM图像。
[0027]图11示出了多孔膜的实施方案的表面的SEM图像。
[0028]图12示出了多孔膜的实施方案的表面的SEM图像。
[0029]图13示出了多孔膜的实施方案的表面的SEM图像。
[0030]图14示出了多孔膜的实施方案的表面的SEM图像。
[0031]图15示出了多孔膜的实施方案的表面的SEM图像。
[0032]图16示出了多孔膜的实施方案的表面的SEM图像。
[0033]图17示出了多孔膜的实施方案的表面的SEM图像。
[0034]图18示出了多孔膜的实施方案的表面的SEM图像。
[0035]图19示出了多孔膜的实施方案的表面的SEM图像。
[0036]图20示出了多孔膜的实施方案的表面的SEM图像。
[0037]图21示出了多孔膜的实施方案的表面的SEM图像。
[0038]图22示出了多孔膜的实施方案的表面的SEM图像。
[0039]图23示出了多孔膜的实施方案的表面的SEM图像。
[0040]图24示出了多孔膜的实施方案的表面的SEM图像。
[0041]图25示出了多孔膜的实施方案的表面的SEM图像。
[0042]图26示出了多孔膜的实施方案的表面的SEM图像。
[0043]图27示出了多孔膜的实施方案的表面的SEM图像。
[0044]图28示出了多孔膜的实施方案的表面的SEM图像。
[0045]图29示出了多孔膜的实施方案的表面的SEM图像。
[0046]图30示出了多孔膜的实施方案的表面的SEM图像。
[0047]图31示出了多孔膜的实施方案的表面的SEM图像。
[0048]图32示出了多孔膜的实施方案的表面的SEM图像。
[0049]图33示出了多孔膜的实施方案的表面的SEM图像。
[0050]图34示出了多孔膜的实施方案的表面的SEM图像。
[0051]图35示出了多孔膜的实施方案的表面的SEM图像。
[0052]图36示出了多孔膜的实施方案的表面的SEM图像。
[0053]图37示出了多孔膜的实施方案的表面的SEM图像。
[0054]图38示出了多孔膜的实施方案的表面的SEM图像。[0055]图39示出了多孔膜的实施方案的表面的SEM图像。
[0056]图40示出了多孔膜的实施方案的表面的SEM图像。
[0057]图41示出了多孔膜的实施方案的表面的SEM图像。
[0058]图42示出了多孔膜的实施方案的表面的SEM图像。
[0059]图43示出了多孔膜的实施方案的表面的SEM图像。
[0060]图44示出了多孔膜的实施方案的表面的SEM图像。
[0061]图45示出了多孔膜的实施方案的表面的SEM图像。
[0062]图46示出了多孔膜的实施方案的表面的SEM图像。
[0063]图47示出了多孔膜的实施方案的表面的SEM图像。
[0064]图48示出了多孔膜的实施方案的表面的SEM图像。
[0065]图49示出了多孔膜的实施方案的表面的SEM图像。
[0066]图50示出了多孔膜的实施方案的表面的SEM图像。
[0067]图51示出了多孔膜的实施方案的表面的SEM图像。
[0068]图52示出了多孔膜的实施方案的表面的SEM图像。
[0069]图53示出了多孔膜的实施方案的表面的SEM图像。
[0070]图54示出了多孔膜的实施方案的表面的SEM图像。
[0071]图55为本文所述的装置的一些实施方案的示意图。
[0072]图56为本文所述的装置的一些实施方案的示意图。
[0073]图57A至图57B为本文所述的装置的一些实施方案的示意图。
[0074]图58为本文所述的装置的一些实施方案的示意图。
[0075]图59为本文所述的装置的一些实施方案的示意图。
[0076]图60为本文所述的装置的一些实施方案的示意图。
[0077]图61为示出制备发光装置的方法的实施方案中某些步骤的流程图。
[0078]图62A为涉及本文所述的装置的实施方案的示意图。
[0079]图63B为示出制备发光装置的方法的实施方案中某些步骤的流程图。
[0080]图63为本文所述的装置的一些实施方案的示意图。
[0081]图64为本文所述的装置的一些实施方案的示意图。
[0082]图65为本文所述的装置的一些实施方案的功率效率与亮度的函数的图表。
[0083]图66为本文所述的装置的一些实施方案的示意图。
[0084]图67示出了装置的多孔膜的表面SEM图像。
[0085]图68为本文所述的装置的一些实施方案的功率效率与亮度的函数的图表。
[0086]图69为本文所述的装置的一些实施方案的示意图。
[0087]图70为本文所述的装置的一些实施方案的功率效率与亮度的函数的图表。
[0088]图71为包括本文所述化合物的多孔膜的功率效率与厚度的函数的图表。
[0089]图72为用于测定在透明衬底的实施方案中的捕获的方法的示意图。
[0090]图73为本文所述的装置的一些实施方案的功率效率与亮度的函数的图表。
[0091]图74A至图74B为本文所述的装置的一些实施方案的照片。
[0092]图75为本文所述的多孔膜的一些实施方案的照片。
[0093]图76示出了多孔膜的实施方案的表面的SEM图像。[0094]图77示出了多孔膜的实施方案的表面的SEM图像。
[0095]图78示出了多孔膜的实施方案的表面的SEM图像。
[0096]图79示出了多孔膜的实施方案的表面的SEM图像。
[0097]图80为本文所述的装置的一些实施方案的功率效率与亮度的函数的图表。
[0098]图81示出了本文所述的多孔膜的一实施方案的照片。
[0099]图82为本文所述的装置的一些实施方案的功率效率与亮度的函数的图表。
[0100]图83为本文所述的装置的一些实施方案的功率效率与亮度的函数的图表。
[0101]发明详述
[0102]本文所述的多孔膜可用于涉及将光从一层传送至另一层的多种装置，例如发光二极管、光伏电池、检测器等。在一些实施方案中，多孔膜可向用于例如照明的有机发光二极管提供有效的光输出耦合。对一些装置，可实现接近90%或可能更大的从衬底的光提取。多孔膜可提供易于加工性以及潜在低成本地改善装置效率。
[0103]在一些实施方案中，本文所述的多孔膜可通过降低装置的层中的全内反射(totalinternal reflection)量来改善装置的效率。全内反射可能是捕获的主因。当光从高折射率材料进入低折射率材料时，光可能以偏离界面的法线角的方向偏折。如果较高折射率材料中的光抵达与较低折射率材料的界面且角度基本偏离90度时，则光的偏折可大于光接近界面的角度，以致于光可折回进入较高折射率的材料，而非传出较高折射率的材料。这可称为全内反射。因为空气可具有低于许多材料的折射率，所以装置与空气之间的界面可能会由于全内反射而遭受损失。此外，由于全内反射引起的捕获可发生在装置的任何界面处(光自较高折射率层行进至较低折射率层的界面处)。包括本文所述的多孔膜的装置可减少全内反射或捕获，因此具有改善的效率。
[0104]在一些实施方案中，本文所述的多孔膜可向涉及光自一种材料行进至另一种材料的多种装置提供光散射，所述装置包括吸收光或发射光的装置。光散射可用于装置中以提供视角色彩一致性(viewing angle color consistency),以致于无论从什么角度观察光，色彩基本类似。不具有光散射层的装置可以以观察者根据观看光的角度而观察到不同色彩的方式发光。
[0105]在一些实施方案中，本文所述的多孔膜可用作涉及光自一种材料行进至另一种材料的各种装置的过滤器(filter)，所述各种装置包括吸收光或发射光的装置。
[0106]多孔膜可包括任何包括多个孔的膜。举例而言，多孔膜可包括不规则取向的交错纳米结构。
[0107]在一些实施方案中，可将多孔膜布置于透明衬底上,这可以降低衬底内的光的全内反射。
[0108]在一些实施方案中，多孔膜可包括第一表面和第二表面，其中第一表面的共面面积基本大于第二表面的共面面积。虽然“共面面积”为广义的术语，但一种确定表面的共面面积的方式可以是将目标表面放置在平滑平面上，并且测量与平滑平面接触的表面的面积。
[0109]多孔膜可具有各种结构。在一些实施方案中，多孔膜可具有包括多个不规则排列的突起物、颗粒或其聚集体的表面。突起物或颗粒可以是纳米突起物，包括一个或多个尺寸为纳米至微米的范围的纳米结构。举例而言，纳米突起物或纳米颗粒可具有:为约400nm、约500nm、约lOOOnm、约1500nm、约2000nm、约2500nm、约3000nm或以任何这些长度为界的或在任何这些长度之间的范围中的任何值的平均X尺寸；为约50nm、约lOOnm、约300nm、约500nm、约 700nm、约 lOOOnm、约 1200nm、约 1500nm、约 1800nm、约 2000nm 或以任何这些长度为界的或在任何这些长度之间的范围中的任何值的平均y尺寸；和/或为约10nm、约30nm、约50nm、约70nm、约90nm、约IOOnm或以任何这些长度为界的或在任何这些长度之间的范围中的任何值的平均z尺寸。在一些实施方案中，膜中至少一个颗粒可具有，或膜中颗粒平均可具有约 5nm、约 0.01 μ m、约 0.02 μ m、约 0.05 μ m、约 0.1 μ m、约 0.5 μ m、约 I μ m、约2 μ m、约 5 μ m、约 10 μ m、约 20 μ m、约 50 μ m、约 100 μ m、约 150 μ m、约 200 μ m、约 500 μ m、约1000 μ m或以任何这些长度为界或在任何这些长度之间的长度的X尺寸、y尺寸或z尺寸。在一些实施方案中，纳米突起物或纳米颗粒可具有:在约400nm至约3000nm、约IOOOnm至约3000nm或约2000nm至3000nm的范围内的平均x尺寸；在约IOOnm至约2000nm、约IOOnm至约1500nm或约IOOnm至IOOOnm的范围内的平均y尺寸；和/或在约IOnm至约100nm、约30nm至约90nm或约30nm至70nm的范围内的平均z尺寸。在一些实施方案中，膜中至少一颗粒可具有，或膜中颗粒平均可具有在约5nm至约1000 μ m、约0.02 μ m至约I μ m、或约I μ m至约200 μ m的范围内的x尺寸、y尺寸或z尺寸。
[0110]在一些实施方案中，突起物、颗粒或其聚集体可基本为透明或基本为半透明的。
[0111]虽然颗粒、突起物或空隙可为不规则形状，但可量化三个尺寸Ouy以及Z)，如图1所示。若在颗粒110周围形成矩形棱柱形的箱体120，或在突起物周围形成矩形棱柱形的开放式箱体，使得箱体尽可能地小但仍将颗粒包含于其中(或在不改变箱体的开口端的尺寸的情况下，使突起物尽可能大)，则X尺寸为箱体的最长尺寸，y尺寸为箱体的第二长尺寸，且z尺寸为箱体的第三长尺寸。
[0112]可通过描述颗粒或突起物当在特定平面观察时的形状来表征颗粒或突起物的三维形状。举例而言，当在二维的xy、xz或yz平面观察时，颗粒或突起物可为大致矩形的、大致正方形的、大致椭圆形的、大致圆形的、大致三角形的、大致平行四边形的等。颗粒形状不需要在几何上为完美的，仅需可被辨识出合理地相似于已知形状。也可使用其他术语来表征或描述颗粒或突起物的三维形状。
[0113]图2A示出颗粒210的理想化实例，当在Xz平面观察时，颗粒210基本为矩形220。如此图所示，颗粒看起来为完美的矩形，但当在XZ平面或任何其他平面观察时，此形状仅需要可被辨识为相似于矩形，从而基本为矩形的。
[0114]对于图2A，当在xy平面观察时，因为X尺寸远大于z尺寸，所以也可将颗粒210描述为基本线形的。如此图所示，颗粒的X尺寸看起来为完美直线的，但当在XZ平面观察或任何其他平面时，该形状仅需要可被辨识为相似于线形，从而基本为线形的。
[0115]也可将颗粒210描述为纳米片(nanoflake)。术语“纳米片”为广义的术语，其包括形状像片状且任何尺寸在纳米至微米的范围的颗粒。这可包括一维度(例如z)中相对薄且在另外两个维度(例如xy)中具有相对大的面积的颗粒。
[0116]较大面积的表面仅需为可辨认的，但不需为平面的。举例而言,较大面积的表面可基本处于xy平面(例如颗粒210)，但也可为曲形或波形的，以致于大部分表面不在平面中。
[0117]也可将颗粒210描述为准平面(pseudoplanar)。术语“准平面”为广义的术语，其包括本质上为平面的颗粒。举例而言，准平面颗粒可具有与基本在xy平面中的颗粒的xy面积相比，相对不明显的Z尺寸。
[0118]在图2B中，颗粒250为曲形或波形的纳米片的实例。若大部分表面不在平面中，则纳米片可包括具有大的曲形或波形表面260以及小厚度270的颗粒，所述厚度270垂直于表面上的给定点280。
[0119]对于任何纳米片或准平面颗粒或突起物(包括颗粒210、颗粒250等)，较大面积或表面的平方根与垂直于大表面上的点的最小尺寸或厚度之比(例如:xy面积的平方根与z尺寸之比)可以是:约3、约5、约10、约20、约100、约1000、约10，000、约100，000或以任何这些长度为界的或在任何这些长度之间的范围中的任何值。在一些实施方案中，较大面积或表面的平方根与垂直于大表面上的点的最小尺寸或厚度之比可以是约3至约100，000、约5至约1000、或约1000至10，000。
[0120]图3示出颗粒310的理想化实例，其中颗粒310在xy平面中基本具有全部为大致直角的角。虽然未示于此图中，一些颗粒可以不具有基本全部为大致直角的角，但可具有至少一个大致为直角的角。也可将此图中的颗粒310描绘为准平行四边形。准平行四边形颗粒可包括颗粒的外边缘的两个基本线性部分，其中在xy平面、Xz平面或yz平面的二维中观察时所述外边缘的两个基本线性部分为基本平行的。
[0121 ] 颗粒的外边缘主要可基本由多个线性边缘部份组成。
[0122]准平行四边形颗粒可具有大致为直角的角(例如，图3所示的那些)，或者准平行四边形颗粒可具有大致不为直角的角。
[0123]图4为准平行四边形颗粒410的理想化实例，其中准平行四边形颗粒具有大致不为直角的角。
[0124]若颗粒或突起物的形状可合理地被辨认为相似于针的形状，则可将颗粒或突起物描述为针状。
[0125]若颗粒或突起物的形状可合理地被辨认为相似于纤维的形状，则可将颗粒或突起物描述为纤维形。
[0126]若颗粒或突起物的形状可合理地被辨认为相似于带的形状，可将颗粒或突起物描述为带形。这可包括具有沿着一个维度伸长且在另一维度为薄的平坦矩形表面的颗粒或突起物。带形也可为弯曲或扭转的，以致于颗粒不需要为了成为带形而为基本共面的。
[0127]图5示出基本为胶囊形的颗粒1010的理想化实例。当在xy或Xz平面观察时,也可将颗粒1010描述为大致卵形的。当在yz平面观察时，也可将颗粒1010描述为大致圆形的。
[0128]若颗粒或突起物的形状可合理地被辨认为相似于棒的形状，可将颗粒或突起物描述为棒形的。此形状可包括沿着一个维度伸长的颗粒或突起物。棒形颗粒或突起物可基本为直线的，或可具有一些曲率或弯曲。
[0129]若x、y以及z尺寸相似,例如在一个数量级或另一个数量级内，可将颗粒或突起物描述为基本粒状的。
[0130]图6至图53示出实际多孔膜的SEM图像。所有SEM图像是使用FEI x TnfInspectF"SEM ；2007型，3.3.2版本记录的。在这些图中，“mag”表示这些图像的放大等级，“mode”表示用来产生图像的检测器的类型，其中“SE”代表二次电子模式，“HV”表示用于产生图像的电子束的加速电压，“WD”表示检测器与实际被拍摄的表面之间的工作距离，“spot”表示电子束直径的无单位指针，以及“pressure”表示在图像采集时显微镜室内的压力(以帕斯卡计)O
[0131]图6示出多孔膜的实施方案的表面的SEM图像。虽然并非详尽的描述，但以下的描述至少可适用于在xy平面观察时该图中的至少一突起物或颗粒:准平行四边形的，至少一个为大致直角的角，以及基本全部为大致直角的角。虽然并非详尽的描述，但以下的描述至少可适用于在yz平面观察时该图中的至少一突起物或颗粒:大致矩形的，大致线形的，基本全部为大致直角的角。虽然并非详尽的描述，但以下其他描述也可适用于在该图中的至少一突起物或颗粒:纳米片以及准平面的。
[0132]在SEM中指出5μηι的比例尺,该比例尺可提供膜中的纳米颗粒、纳米突起物或空隙的尺寸的指示。此图表明:大量颗粒或空隙的X、y和/或ζ尺寸在约I μ m至约20 μ m的范围内。大量颗粒的xy面积的平方根与ζ尺寸之比在约10至约100的范围内。举例而言，假设可见边缘的长度约等于面积的平方根，则图中圈起来的颗粒可以具有约40的如下
比例:[Xy#<R】W此方法可用于膜，例如本文示出的一个膜，其中基于图中可见的其他纳米
2ο
片，大面积或xy面积约等于从yz平面观察的一侧的长度。此外,表面上至少约50%、约70%或约90%的颗粒可具有在约10至约1000的范围内的xy面积的平方根与ζ尺寸之比。
[0133]图7也示出多孔膜的实施方案的表面的SEM图像。虽然并非详尽的描述，但以下描述可适用于在xy平面观察时该图中的至少一突起物或颗粒:准平行四边形的以及大致平行四边形的。虽然并非详尽的描述，但以下描述可适用于在yz平面观察时该图中的至少一突起物或颗粒:大致矩形的，大致线形的，基本全部为大致直角的角。虽然并非详尽的描述，但以下其他描述也可适用于该图中的至少一突起物或颗粒:纳米片以及准平面的。
`[0134]在图7的SEM中指出50 μ m的比例尺,该比例尺可提供膜中的纳米颗粒、纳米突起物或空隙的尺寸的指示。此图表明:大量颗粒或空隙的x、y和/或ζ尺寸可在约Ιμπι至约500 μ m的范围内。大量颗粒的xy面积的平方根与ζ尺寸之比在约5至约100的范围内。
[0135]图8也示出多孔膜的实施方案的表面的SEM图像。虽然并非详尽的描述，但以下描述可适用于在xy平面观察时该图中的至少一突起物或颗粒:准平行四边形的以及大致平行四边形的。虽然并非详尽的描述，但以下描述可适用于在yz平面观察时该图中的至少一突起物或颗粒:大致矩形的，大致线性的，至少一个为大致直角的角以及基本全部为大致直角的角。虽然并非详尽的描述，但以下其他描述也可适用于该图中的至少一突起物或颗粒:纳米片以及准平面的。
[0136]在图8的SEM中指出ΙΟΟμπι的比例尺，该比例尺可提供膜中的纳米颗粒、纳米突起物或空隙的尺寸的指示。此图表明:多个颗粒或空隙的x、y和/或ζ尺寸可在约I μ m至约500 μ m的范围内。大量颗粒的xy面积的平方根与ζ尺寸之比也可在约5至约100的范围内。
[0137]图9也示出多孔膜的实施方案的表面的SEM图像。虽然并非详尽的描述，但以下描述可适用于在xy平面观察时该图中的至少一突起物或颗粒:准平行四边形的以及大致平行四边形的。虽然并非详尽的描述，但以下描述可适用于在yz平面观察时该图中的至少一突起物或颗粒:大致线形的。虽然并非详尽的描述，但以下其他描述也可适用于此图中的至少一突起物或颗粒:纳米片以及准平面的。[0138]在图9的SEM中指出50 μ m的比例尺,该比例尺可提供膜中的纳米颗粒、纳米突起物或空隙的尺寸的指示。此图表明:大量颗粒或空隙的X、y和/或ζ尺寸在约I μ m至约500 μ m的范围内。
[0139]图10也示出多孔膜的实施方案的表面的SEM图像。虽然并非详尽的描述，但以下描述可适用于该图中的至少一突起物或颗粒:纳米片以及准平面。
[0140]在图10的SEM中指出4μ m的比例尺,该比例尺可提供膜中的纳米颗粒、纳米突起物或空隙的尺寸的指示。此图表明:大量颗粒或空隙的x、y和/或ζ尺寸可在约Ιμπι至约20 μ m的范围内。
[0141]图11也示出多孔膜的实施方案的表面的SEM图像。虽然并非详尽的描述，但当在xy平面、Xz平面和/或yz平面观察时，以下描述可适用于该图中的至少一突起物或颗粒:大致线形的。虽然并非详尽的描述，以下其他描述也可适用于该图中的至少一突起物或颗粒:纤维形以及针状的。
[0142]在图11的SEM中指出ΙΟΟμπι的比例尺，该比例尺可提供膜中的纳米颗粒、纳米突起物或空隙的尺寸的指示。此图表明:大量颗粒或空隙的X、y和/或Z尺寸可在约20 μ m至约1000 μ m的范围内。
[0143]图12也示出多孔膜的实施方案的表面的SEM图像。虽然并非详尽的描述，但以下描述可适用于当在xy平面观察时该图中的至少一突起物或颗粒:大致线形的，准平行四边形的以及大致平行四边形的。虽然并非详尽的描述，但以下描述可适用于当在yz平面观察时该图中的至少一突起物或颗粒:大致矩形的，大致线形的，准平行四边形的以及大致平行四边形的。虽然并非详尽的描述，但以下其他描述也可适用于该图中的至少一突起物或颗粒:纤维形以及针状的。
[0144]在图12的SEM中指出10 μ m的比例尺，该比例尺可提供膜中的纳米颗粒、纳米突起物或空隙的尺寸的指示。此图表明:大量颗粒或空隙的x、y和/或Z尺寸可在约Ιμπι至约100 μ m的范围内。
[0145]图13也示出多孔膜的实施方案的表面的SEM图像。虽然并非详尽的描述，但以下描述可适用于当在xy平面观察时该图中的至少一突起物或颗粒:大致线形的。虽然并非详尽的描述，但以下描述可适用于当在yz平面观察时该图中的至少一突起物或颗粒:大致线形的。虽然并非详尽的描述，但以下其他描述也可适用于该图中的至少一突起物或颗粒:纤维形、针状以及准平面的。
[0146]在图13的SEM中指出20 μ m的比例尺，该比例尺可提供膜中的纳米颗粒、纳米突起物或空隙的尺寸的指示。此图表明:大量颗粒或空隙的x、y和/或ζ尺寸可在约2μπι至约100 μ m的范围内。
[0147]图13也呈现出具有准花形(pseudofloral)排列的聚集体的颗粒和突起物。举例而言，一些颗粒从共同中心区域突出的方式提供了可被辨识为与花相似的外观。大量的这些准花形聚集体可具有在约10 μ m至约50 μ m的范围内的直径。
[0148]图14也示出多孔膜的实施方案的表面的SEM图像。虽然并非详尽的描述，但以下描述可适用于当在xy平面观察时该图中的至少一突起物或颗粒:大致线形的，大致平行四边形的以及准平行四边形的。虽然并非详尽的描述，但以下描述可适用于当在yz平面观察时该图中的至少一突起物或颗粒:大致线形的，大致平行四边形的以及准平行四边形的。虽然并非详尽的描述，但以下其他描述也可适用于该图中的至少一突起物或颗粒:纤维形、针状以及准平面的。
[0149]在图15的SEM中指出5 μ m的比例尺,该比例尺可提供膜中的纳米颗粒、纳米突起物或空隙的尺寸的指示。此图表明:大量颗粒或空隙的x、y和/或ζ尺寸可在约0.5 μ m至约50 μ m的范围内。
[0150]图15也示出多孔膜的实施方案的表面的SEM图像。虽然并非详尽的描述，但以下描述可适用于该图中的至少一突起物或颗粒:准平面的。
[0151]在图15的SEM中指出I μ m的比例尺,该比例尺可提供膜中的纳米颗粒、纳米突起物或空隙的尺寸的指示。此图表明:大量颗粒或空隙的x、y和/或ζ尺寸可在约0.1 μ m至约5μπι的范围内。
[0152]图16也示出多孔膜的实施方案的表面的SEM图像。虽然并非详尽的描述，但以下描述可适用于当在xy平面观察时该图中的至少一突起物或颗粒:大致线形的。虽然并非详尽的描述，但以下描述可适用于当在yz平面观察时该图中的至少一突起物或颗粒:大致线形的。虽然并非详尽的描述，但以下其他描述也可适用于该图中的至少一突起物或颗粒:针状以及准平面的。
[0153]在图16的SEM中指出5 μ m的比例尺,该比例尺可提供膜中的纳米颗粒、纳米突起物或空隙的尺寸的指示。此图表明:大量颗粒或空隙的x、y和/或ζ尺寸可在约0.1 μ m至约10 μ m的范围内。
[0154]图17也示出多孔膜的实施方案的表面的SEM图像。虽然并非详尽的描述，但以下描述可适用于当在xy平面观察时该图中的至少一突起物或颗粒:大致矩形的，大致线形的，准平行四边形的，大致平行四边形的，至少一个为大致直角的角以及基本全部为大致直角的角。虽然并非详尽的描述，但以下描述可适用于当在yz平面观察时该图中的至少一突起物或颗粒:大致矩形的，大致线形的，准平行四边形的，大致平行四边形，至少一为大致直角的角以及基本全部为大致直角的角。虽然并非详尽的描述，但以下描述也可适用于该图中的至少一突起物或颗粒:纳米片、纤维形以及准平面的。
[0155]在图17的SEM中指出I μ m的比例尺,该比例尺可提供膜中的纳米颗粒、纳米突起物或空隙的尺寸的指示。此图表明:大量颗粒或空隙的x、y和/或ζ尺寸可在约0.1 μ m至约5μπι的范围内。
[0156]图18也示出多孔膜的实施方案的表面的SEM图像。虽然并非详尽的描述，但以下描述可适用于当在xy平面观察时该图中的至少一突起物或颗粒:大致矩形的，准平行四边形的，大致平行四边形的以及基本全部为大致直角的角。虽然并非详尽的描述，但以下描述可适用于当在yz平面观察时该图中的至少一突起物或颗粒:大致线形的，大致矩形的，大致平行四边形的以及准平行四边形的。虽然并非详尽的描述，但以下其他描述也可适用于该图中的至少一突起物或颗粒:准平面的。
[0157]在图19的SEM中指出I μ m的比例尺,该比例尺可提供膜中的纳米颗粒、纳米突起物或空隙的尺寸的指示。此图表明:大量颗粒或空隙的x、y和/或ζ尺寸可在约0.Ιμπι至约20 μ m的范围内。
[0158]图19也示出多孔膜的实施方案的表面的SEM图像。虽然并非详尽的描述，但以下描述也可适用于该图中的至少一突起物或颗粒:纳米片以及准平面的。[0159]在图19的SEM中指出5 μ m的比例尺,该比例尺可提供膜中的纳米颗粒、纳米突起物或空隙的尺寸的指示。此图表明:大量颗粒或空隙的x、y和/或ζ尺寸可在约Ιμπι至约20 μ m的范围内。
[0160]图20也示出多孔膜的实施方案的表面的SEM图像。虽然并非详尽的描述，但以下描述可适用于当在yz平面观察时该图中的至少一突起物或颗粒:大致线形的。虽然并非详尽的描述，但以下描述也可适用于该图中的至少一突起物或颗粒:纳米片以及准平面的。
[0161]在图20的SEM中指出30μπι的比例尺，该比例尺可提供膜中的纳米颗粒、纳米突起物或空隙的尺寸的指示。此图表明:大量颗粒或空隙的x、y和/或Z尺寸可在约Ιμπι至约50 μ m的范围内。
[0162]图21也示出多孔膜的实施方案的表面的SEM图像。虽然并非详尽的描述，但以下描述也可适用于该图中的至少一突起物或颗粒:准平面的。
[0163]在图21的SEM中指出50 μ m的比例尺，该比例尺可提供膜中的纳米颗粒、纳米突起物或空隙的尺寸的指示。此图表明:大量颗粒或空隙的x、y和/或Z尺寸可在约Ιμπι至约200 μ m的范围内。
[0164]图22也示出多孔膜的实施方案的表面的SEM图像。虽然并非详尽的描述，但以下描述也可适用于该图中的至少一突起物或颗粒:准平面的。
[0165]在图22的SEM中指出I μ m的比例尺，该比例尺可提供膜中的纳米颗粒、纳米突起物或空隙的尺寸的指示。此图表明:大量颗粒或空隙的x、y和/或ζ尺寸可在约0.1 μ m至约5μπι的范围内。
[0166]图23也示出多孔膜的实施方案的表面的SEM图像。虽然并非详尽的描述，但以下描述可适用于该图中的至少一突起物或颗粒:准平面的。
[0167]在图23的SEM中指出500nm的比例尺，该比例尺可提供膜中的纳米颗粒、纳米突起物或空隙的尺寸的指示。此图表明:大量颗粒或空隙的x、y和/或ζ尺寸可在约50nm至约5μπι的范围内。
[0168]图24也示出多孔膜的实施方案的表面的SEM图像。虽然并非详尽的描述，但当在xy平面、Xz平面或yz平面观察时，以下描述可适用于该图中的至少一突起物或颗粒:大致卵形的，大致椭圆形的以及大致圆形的。虽然并非详尽的描述，但以下其他描述也可适用于该图中的至少一突起物或颗粒:棒形的以及大致胶囊形的。
[0169]在图24的SEM中指出3 μ m的比例尺，该比例尺可提供膜中的纳米颗粒、纳米突起物或空隙的尺寸的指示。此图表明:大量颗粒或空隙的X、y和/或ζ尺寸可在约0.01 μ m至约Ιμπι的范围内。
[0170]图25也示出多孔膜的实施方案的表面的SEM图像。虽然并非详尽的描述，但以下描述可适用于该图中的至少一突起物、颗粒和/或其聚集体:纤维形的。
[0171]在图25的SEM中指出5 μ m的比例尺,该比例尺可提供膜中的纳米颗粒、纳米突起物或空隙的尺寸的指示。此图表明:大量颗粒或空隙的X、y和/或ζ尺寸可在约0.01 μ m至约20 μ m的范围内。
[0172]图25也包括具有纤维束组态的纳米颗粒或纳米突起物的聚集体。在一些实施方案中，可将聚集体描述为具有中心束缚纤维束(center-bound fiber bundle)组态,因为聚集体可类似于如下的一束纤维，即在束的中心具有套带或束缚物以使其捆在一起，以致于末端与束的中心相比更分散。
[0173]图26也示出多孔膜的实施方案的表面的SEM图像。虽然并非详尽的描述，但以下描述可适用于该图中的至少一突起物、颗粒和/或其聚集体:纤维形的。
[0174]在图26的SEM中指出2 μ m的比例尺,该比例尺可提供膜中的纳米颗粒、纳米突起物或空隙的尺寸的指示。此图表明:大量颗粒或空隙的X、y和/或ζ尺寸可在约0.01 μ m至约10 μ m的范围内。
[0175]图26也包括具有纤维束组态和/或中心束缚纤维束组态的纳米颗粒或纳米突起物的聚集体。
[0176]图27也示出多孔膜的实施方案的表面的SEM图像。虽然并非详尽的描述，但以下描述可适用于该图中的至少一突起物、颗粒和/或其聚集体:纤维形以及准平面的。
[0177]在图27的SEM中指出500nm的比例尺,该比例尺可提供膜中的纳米颗粒、纳米突起物或空隙的尺寸的指示。此图表明:大量颗粒或空隙的X、y和/或ζ尺寸可在约5nm至约5μπι的范围内。
[0178]图28也示出多孔膜的实施方案的表面的SEM图像。虽然并非详尽的描述，但以下描述可适用于当在xy平面观察时该图中的至少一突起物或颗粒:大致线形的。虽然并非详尽的描述，以下描述可适用于该图中的至少一突起物或颗粒:针状以及纤维形的。
[0179]在图28的SEM中指出5 μ m的比例尺,该比例尺可提供膜中的纳米颗粒、纳米突起物或空隙的尺寸的指示。此图表明:大量颗粒或空隙的x、y和/或ζ尺寸可在约0.1 μ m至约100 μ m的范围内。
[0180]图29也示出多孔膜的实施方案的表面的SEM图像。虽然并非详尽的描述，但以下描述可适用于当在xy平面观察时该图中的至少一突起物或颗粒:大致矩形的，大致平行四边形的，至少一为大致直角的角以及大致线形的。虽然并非详尽的描述，但以下描述可适用于当在yz平面观察时该图中的至少一突起物或颗粒:大致平行四边形的。虽然并非详尽的描述，但以下其他描述也可适用于该图中的至少一突起物或颗粒:针状以及纤维形的。
[0181]在图29的SEM中指出50 μ m的比例尺，该比例尺可提供膜中的纳米颗粒、纳米突起物或空隙的尺寸的指示。此图表明:大量颗粒或空隙的x、y和/或Z尺寸可在约Ιμπι至约500 μ m的范围内。
[0182]图30也示出多孔膜的实施方案的表面的SEM图像。虽然并非详尽的描述，但以下描述可适用于当在xy平面观察时该图中的至少一突起物或颗粒:准平行四边形的，大致平行四边形的以及大致线形的。虽然并非详尽的描述，但以下描述可适用于当在yz平面观察时该图中的至少一突起物或颗粒:大致平行四边形的。虽然并非详尽的描述，但以下其他描述也可适用于该图中的至少一突起物或颗粒:针状以及纤维形的。
[0183]在图30的SEM中指出20 μ m的比例尺，该比例尺可提供膜中的纳米颗粒、纳米突起物或空隙的尺寸的指示。此图表明:大量颗粒或空隙的x、y和/或ζ尺寸可在约0.1 μ m至约150 μ m的范围内。
[0184]图31也示出多孔膜的实施方案的表面的SEM图像。虽然并非详尽的描述，但以下描述可适用于该图中的至少一突起物或颗粒:纤维形的。
[0185]在图31的SEM中指出500nm的比例尺,该比例尺可提供膜中的纳米颗粒、纳米突起物或空隙的尺寸的指示。此图表明:大量颗粒或空隙的x、y和/或ζ尺寸可在约IOnm至约5μπι的范围内。
[0186]图32也示出多孔膜的实施方案的表面的SEM图像。虽然并非详尽的描述，但当在xy平面、Xz平面或yz平面观察时，以下描述可适用于此图中的至少一突起物或颗粒:大致矩形的，至少一个为大致直角的角，基本全部为大致直角的角以及大致线形的。虽然并非详尽的描述，但以下描述可适用于当在yz平面观察时该图中的至少一突起物或颗粒:大致线形的，大致平行四边形的以及准平行四边形的。虽然并非详尽的描述，但以下其他描述也可适用于该图中的至少一突起物或颗粒:粒状的。
[0187]在图32的SEM中指出I μ m的比例尺，该比例尺可提供膜中的纳米颗粒、纳米突起物或空隙的尺寸的指示。此图表明:大量颗粒或空隙的X、y和/或ζ尺寸可在约0.01 μ m至约5 μ m的范围内。
[0188]图33也示出多孔膜的实施方案的表面的SEM图像。虽然并非详尽的描述，但以下描述可适用于该图中的至少一突起物或颗粒:纳米片以及准平面的。
[0189]在图33的SEM中指出I μ m的比例尺，该比例尺可提供膜中的纳米颗粒、纳米突起物或空隙的尺寸的指示。此图表明:大量颗粒或空隙的x、y和/或ζ尺寸可在约0.1 μ m至约20 μ m的范围内。
[0190]图34也示出多孔膜的实施方案的表面的SEM图像。虽然并非详尽的描述，但以下描述可适用于当在xy平面观察时该图中的至少一突起物或颗粒:大致矩形的，至少一个为大致直角的角以及基本全部为大致直角的角。虽然并非详尽的描述，但以下描述可适用于当在yz平面观察时该图中的至少一突起物或颗粒:大致线形的以及大致矩形的。虽然并非详尽的描述，但以下其他描述也可适用于该图中的至少一突起物或颗粒:纤维形以及带形的。
[0191]在图34的SEM中指出2 μ m的比例尺，该比例尺可提供膜中的纳米颗粒、纳米突起物或空隙的尺寸的指示。此图表明:大量颗粒或空隙的x、y和/或ζ尺寸可在约0.1 μ m至约10 μ m的范围内。
[0192]图35也示出多孔膜的实施方案的表面的SEM图像。虽然并非详尽的描述，但以下描述可适用于当在xy平面观察时该图中的至少一突起物或颗粒:大致矩形的，至少一个为大致直角的角以及基本全部为大致直角的角。虽然并非详尽的描述，但以下描述可适用于当在yz平面观察时该图中的至少一突起物或颗粒:大致线形的，大致矩形的，至少一个为大致直角的角以及基本全部为大致直角的角。虽然并非详尽的描述，但以下描述也可适用于该图中的至少一突起物或颗粒:纤维形以及粒状的。
[0193]在图35的SEM中指出I μ m的比例尺,该比例尺可提供膜中的纳米颗粒、纳米突起物或空隙的尺寸的指示。此图表明:大量颗粒或空隙的X、y和/或ζ尺寸可在约0.01 μ m至约10 μ m的范围内。
[0194]图36也示出多孔膜的实施方案的表面的SEM图像。虽然并非详尽的描述，但以下描述可适用于当在xy平面观察时该图中的至少一突起物或颗粒:大致矩形的，至少一个为大致直角的角以及基本全部为大致直角的角。虽然并非详尽的描述，但以下描述可适用于当在yz平面观察时该图中的至少一突起物或颗粒:大致矩形的。虽然并非详尽的描述，但以下其他描述也可适用于该图中的至少一突起物或颗粒:纤维形以及准平面的。
[0195]在图36的SEM中指出I μ m的比例尺,该比例尺可提供膜中的纳米颗粒、纳米突起物或空隙的尺寸的指示。此图表明:大量颗粒或空隙的X、y和/或Z尺寸可在约0.01 μ m至约10 μ m的范围内。
[0196]图37也示出多孔膜的实施方案的表面的SEM图像。虽然并非详尽的描述，但以下描述可适用于当在xy平面观察时该图中的至少一突起物或颗粒:大致线形的。虽然并非详尽的描述，但以下其他描述可适用于该图中的至少一突起物或颗粒:棒形以及纤维形的。
[0197]在图37的SEM中指出4 μ m的比例尺,该比例尺可提供膜中的纳米颗粒、纳米突起物或空隙的尺寸的指示。此图表明:大量颗粒或空隙的X、y和/或ζ尺寸可在约0.05μηι至约10 μ m的范围内。
[0198]图38也示出多孔膜的实施方案的表面的SEM图像。虽然并非详尽的描述，但以下描述可适用于当在xy平面观察时该图中的至少一突起物或颗粒:大致线形的。虽然并非详尽的描述，但以下其他描述也可适用于该图中的至少一突起物或颗粒:棒形以及纤维形的。
[0199]在图38的SEM中指出4μ m的比例尺，该比例尺可提供膜中的纳米颗粒、纳米突起物或空隙的尺寸的指示。此图表明:大量颗粒或空隙的X、y和/或ζ尺寸可在约0.05μηι至约10 μ m的范围内。
[0200]图39也示出多孔膜的实施方案的表面的SEM图像。虽然并非详尽的描述，但以下描述可适用于当在xy平面观察时该图中的至少一突起物或颗粒:大致矩形的，至少一个为大致直角的角以及基本全部为大致直角的角。虽然并非详尽的描述，但以下描述可适用于当在yz平面观察时该图中的至少一突起物或颗粒:大致线形的，大致矩形的，至少一个为大致直角的角以及基本全部为大致直角的角。虽然并非详尽的描述，但以下描述也可适用于该图中的至少一突起物或颗粒:带形、纳米片以准平面的。
[0201]在图39的SEM中指出I μ m比例尺，该比例尺可提供膜中的纳米颗粒、纳米突起物或空隙的尺寸的指示。此图表明:大量`颗粒或空隙的x、y和/或ζ尺寸可在约0.1 μ m至约20 μ m的范围内。
[0202]图40也示出多孔膜的实施方案的表面的SEM图像。虽然并非详尽的描述，但以下描述可适用于当在xy平面观察时该图中的至少一突起物或颗粒:大致矩形的，准平行四边形的，大致平行四边形的，至少一个为大致直角的角以及基本全部为大致直角的角。虽然并非详尽的描述，但以下描述可适用于当在yz平面观察时该图中的至少一突起物或颗粒--大致线形的，大致平行四边形的以及准平行四边形的。虽然并非详尽的描述，但以下其他描述也可适用于该图中的至少一突起物或颗粒:带形、纤维形以及准平面的。
[0203]在图40的SEM中指出I μ m的比例尺，该比例尺可提供膜中的纳米颗粒、纳米突起物或空隙的尺寸的指示。此图表明:大量颗粒或空隙的X、y和/或ζ尺寸可在约0.01 μ m至约10 μ m的范围内。
[0204]图41也示出多孔膜的实施方案的表面的SEM图像。虽然并非详尽的描述，但以下描述可适用于该图中的至少一突起物或颗粒:带形以及纤维形的。
[0205]在图41的SEM中指出10 μ m的比例尺，该比例尺可提供膜中的纳米颗粒、纳米突起物或空隙的尺寸的指示。此图表明:大量颗粒或空隙的x、y和/或ζ尺寸可在约0.1 μ m至约10 μ m的范围内。
[0206]图42也示出多孔膜的实施方案的表面的SEM图像。虽然并非详尽的描述，但以下描述可适用于当在xy平面观察时该图中的至少一突起物或颗粒:大致矩形的，大致线形的，至少一个为大致直角的角以及基本全部为大致直角的角。虽然并非详尽的描述，但以下描述也可适用于该图中的至少一突起物或颗粒:纤维形以及带形的。
[0207]在图42的SEM中指出I μ m的比例尺，该比例尺可提供膜中的纳米颗粒、纳米突起物或空隙的尺寸的指示。此图表明:大量颗粒或空隙的x、y和/或ζ尺寸可在约0.1 μ m至约5μπι的范围内。
[0208]图43也示出多孔膜的实施方案的表面的SEM图像。虽然并非详尽的描述，但以下描述可适用于当在xy平面观察时该图中的至少一突起物或颗粒:大致矩形的，至少一个为大致直角的角以及基本全部为大致直角的角。虽然并非详尽的描述，但以下描述可适用于当在yz平面观察时该图中的至少一突起物或颗粒:大致线形的，大致矩形的，至少一个为大致直角的角以及基本全部为大致直角的角。虽然并非详尽的描述，但以下描述也可适用于该图中的至少一突起物或颗粒:纳米片、带形以及准平面的。
[0209]在图43的SEM中指出500nm的比例尺，该比例尺可提供膜中的纳米颗粒、纳米突起物或空隙的尺寸的指示。此图表明:大量颗粒或空隙的x、y和/或ζ尺寸可在约50nm至约2μπι的范围内。
[0210]图44也示出多孔膜的实施方案的表面的SEM图像。虽然并非详尽的描述，但以下描述可适用于当在xy平面观察时该图中的至少一突起物或颗粒:大致矩形的，大致线形的，至少一个为大致直角的角以及基本全部为大致直角的角。虽然并非详尽的描述，但以下描述可适用于当在yz平面观察时该图中的至少一突起物或颗粒:大致矩形的，大致线形的，至少一个为大致直角的角以及基本全部为大致直角的角。虽然并非详尽的描述，但以下其他描述也可适用于该图中的至少一突起物或颗粒:带形、纳米片以及准平面的。
[0211]在图44的SEM中指出I μ m的比例尺，该比例尺可提供膜中的纳米颗粒、纳米突起物或空隙的尺寸的指示。此图表明:大量颗粒或空隙的X、y和/或ζ尺寸可在约0.01 μ m至约Ιμπι的范围内。
[0212]图45也示出多孔膜的实施方案的表面的SEM图像。虽然并非详尽的描述，但以下描述可适用于当在xy平面观察时该图中的至少一突起物或颗粒:大致矩形的，大致线形的，至少一个为大致直角的角以及基本全部为大致直角的角。虽然并非详尽的描述，但以下描述可适用于当在yz平面观察时该图中的至少一突起物或颗粒:大致矩形的，大致线形的，至少一个为大致直角的角以及基本全部为大致直角的角。虽然并非详尽的描述，但以下其他描述也可适用于该图中的至少一突起物或颗粒:带形、纳米片以及准平面的。
[0213]在图45的SEM中指出I μ m的比例尺,该比例尺可提供膜中的纳米颗粒、纳米突起物或空隙的尺寸的指示。此图表明:大量颗粒或空隙的x、y和/或ζ尺寸可在约0.1 μ m至约20 μ m的范围内。
[0214]图46也示出多孔膜的实施方案的表面的SEM图像。虽然并非详尽的描述，但以下描述可适用于当在xy平面观察时该图中的至少一突起物或颗粒:大致矩形的，大致线形的以及基本全部为大致直角的角。虽然并非详尽的描述，但以下其他描述也可适用于该图中的至少一突起物或颗粒:带形、纤维形以及准平面的。
[0215]在图46的SEM中指出4μ m的比例尺,该比例尺可提供膜中的纳米颗粒、纳米突起物或空隙的尺寸的指示。此图表明:大量颗粒或空隙的X、y和/或ζ尺寸可在约0.05μηι至约10 μ m的范围内。[0216]图47也示出多孔膜的实施方案的表面的SEM图像。虽然并非详尽的描述，但以下描述可适用于该图中的至少一突起物或颗粒:纤维形的。
[0217]在图47的SEM中指出5 μ m的比例尺,该比例尺可提供膜中的纳米颗粒、纳米突起物或空隙的尺寸的指示。此图表明:大量颗粒或空隙的X、y和/或ζ尺寸可在约0.05μηι至约10 μ m的范围内。
[0218]图48也示出多孔膜的实施方案的表面的SEM图像。虽然并非详尽的描述，但以下描述可适用于当在xy平面观察时该图中的至少一突起物或颗粒:大致矩形的，以及至少一个为大致直角的角。虽然并非详尽的描述，但以下描述可适用于当在yz平面观察时该图中的至少一突起物或颗粒:大致线形的以及大致矩形的。虽然并非详尽的描述，但以下其他描述也可适用于该图中的至少一突起物或颗粒:纳米片、带形以及准平面的。
[0219]在图48的SEM中指出I μ m的比例尺，该比例尺可提供膜中的纳米颗粒、纳米突起物或空隙的尺寸的指示。此图表明:大量颗粒或空隙的X、y和/或ζ尺寸可在约0.01 μ m至约5 μ m的范围内。
[0220]图49也示出多孔膜的实施方案的表面的SEM图像。虽然并非详尽的描述，但以下描述可适用于当在xy平面观察时该图中的至少一突起物或颗粒:大致矩形的，以及至少一个为大致直角的角。虽然并非详尽的描述，但以下描述可适用于当在yz平面观察时该图中的至少一突起物或颗粒:大致线形的以及大致矩形的。虽然并非详尽的描述，但以下其他描述也可适用于该图中的至少一突起物或颗粒:纳米片、带形以及准平面的。
[0221]在图49的SEM中指出I μ m的比例尺，该比例尺可提供膜中的纳米颗粒、纳米突起物或空隙的尺寸的指示。此图表明:大量颗粒或空隙的X、y和/或ζ尺寸可在约0.02μηι至约10 μ m的范围内。
[0222]图50也示出多孔膜的实施方案的表面的SEM图像。虽然并非详尽的描述，但以下描述可适用于该图中的至少一突起物或颗粒:纤维形以及带形的。
[0223]在图50的SEM中指出5 μ m的比例尺,该比例尺可提供膜中的纳米颗粒、纳米突起物或空隙的尺寸的指示。此图表明:大量颗粒或空隙的X、y和/或ζ尺寸可在约0.01 μ m至约20 μ m的范围内。
[0224]图51也示出多孔膜的实施方案的表面的SEM图像。虽然并非详尽的描述，但以下描述可适用于该图中的至少一突起物或颗粒:矩形、胶囊形、纤维形、带形以及棒形的。
[0225]在图51的SEM中指出3 μ m的比例尺,该比例尺可提供膜中的纳米颗粒、纳米突起物或空隙的尺寸的指示。此图表明:大量颗粒或空隙的X、y和/或ζ尺寸可在约0.01 μ m至约5 μ m的范围内。
[0226]图52也示出多孔膜的实施方案的表面的SEM图像。虽然并非详尽的描述，但以下描述可适用于该图中的至少一突起物或颗粒:纳米片、准平面、带形以及粒状的。
[0227]在图52的SEM中指出4μ m的比例尺,该比例尺可提供膜中的纳米颗粒、纳米突起物或空隙的尺寸的指示。此图表明:大量颗粒或空隙的X、y和/或ζ尺寸可在约0.05μηι至约10 μ m的范围内。
[0228]图53也示出多孔膜的实施方案的表面的SEM图像。虽然并非详尽的描述，但以下描述可适用于该图中的至少一突起物或颗粒:纳米片、准平面、带形以及粒状的。
[0229]在图53的SEM中指出3 μ m的比例尺,该比例尺可提供膜中的纳米颗粒、纳米突起物或空隙的尺寸的指示。此图表明:大量颗粒或空隙的X、y和/或Z尺寸可在约0.05μηι至约10 μ m的范围内。
[0230]图54也示出多孔膜的实施方案的表面的SEM图像。虽然并非详尽的描述，但以下描述可适用于当在xy平面观察时该图中的至少一突起物或颗粒:大致矩形的，至少一个为大致直角的角以及基本全部为大致直角的角。虽然并非详尽的描述，但以下描述可适用于当在yz平面观察时该图中的至少一突起物或颗粒:大致线形的，大致矩形的，至少一个为大致直角的角以及基本全部为大致直角的角。虽然并非详尽的描述，但以下其他描述也可适用于该图中的至少一突起物或颗粒:纳米片、带形以及准平面的。
[0231]在图54的SEM中指出400nm的比例尺，该比例尺可提供膜中的纳米颗粒、纳米突起物或空隙的尺寸的指示。此图表明:大量颗粒或空隙的x、y和/或ζ尺寸可在约50nm至约 2000nm。
[0232]本文陈述了与多孔膜的各种实例相关的图像以及附图的多个实例的各种形状以及尺寸。提供这些形状以及尺寸仅是为了帮助理解所使用的术语，并非意欲用成为任何特定实例或附图的全面描述。因此，针对任何特定实例或附图未使用任何特定术语，这并不意味着特定术语不适用于特定实例或附图。
[0233]在一些实施方案中，各纳米结构的平面与膜之间的角度可以是在O度到90度之间的任何值且具有相同的概率，和/或有可能没有优选的特定角度。换言之，此膜的纳米结构有可能没有特定的大体排列或大致取向。
[0234]多孔膜的厚度可改变。在一些实施方案中，多孔膜的厚度可在纳米至微米的范围。举例而言，膜的厚度可以是约500nm、约0.1 μ m、约I μ m、约1.3 μ m、约3 μ m、或约4 μ m、约5 μ m、约7 μ m、约ΙΟμπκ约20μπκ约100 μ m或以任何这些值为界的或任何这些值之间的范围内的厚度。在一些实施方案中，膜的厚度可以是约500nm至约100 μ m、约0.1 μ m至约
10μ m> I μ m 5 μ m。
[0235]多孔膜可包括多个孔洞或空隙。举例而言，多孔膜可包括多个空隙，其总体积可为包括空隙的膜的体积的约50%、约70%、约80%、约85%、约90%、约95%或约99%，或以任何这些值为界的或在任何这些值之间的范围内的百分比。因此，若空隙的总体积为膜体积的50%，则膜体积的50%为膜材料且膜体积的50%为多个空隙。在一些实施方案中，多孔膜可包括多个空隙，其总体积可以是膜体积的约50%至约99%、约70%至约99%、约80%至约99%、或约90% 至约 99%。
[0236]在一些实施方案中，膜可包括多个空隙，其的数量及尺寸使得膜的厚度与不具有空隙的相同材料的膜的厚度相比可为约2倍、约10倍、高达50倍或约100倍，或以任何这些值为界的或任何这些值之间的范围内的厚度比。举例而言，当相同材料的膜在不具有空隙的情况下具有800nm的厚度时，膜可具有约5 μ m的厚度。在一些实施方案中，膜的厚度可为没有空隙的相同材料的膜的厚度的约2倍至约100倍或约2倍至约10倍。
[0237]空隙的尺寸可改变。对于颗粒或突起物，空隙的尺寸可如上所述的那样来量化。在一些实施方案中，至少约10%的空隙的最大尺寸或X尺寸为约0.5 μ m、约I μ m、约2 μ m、约3 μ m、约4 μ m、约5 μ m或以任何这些值为界的或任何这些值之间的范围内的任何长度。在一些实施方案中，膜中至少一个空隙可以具有的，或膜中的空隙可以平均具有的X尺寸、y 尺寸或 ζ 尺寸为:约 5nm、约 0.01 μ m、约 0.02 μ m、约 0.05 μ m、约 0.1 μ m、约 0.5 μ m、约I U m、约 2 μ m、约 5 μ m、约 10 μ m、约 20 μ m、约 50 μ m、约 100 μ m、约 150 μ m、约 200 μ m、约500μπι、约ΙΟΟΟμπι或以任何这些值为界的或任何这些值之间的范围内的任何长度。在一些实施方案中，膜中至少一个空隙可以具有的，或膜中的空隙可以平均具有的X尺寸、y尺寸或ζ尺寸为:约0.Ο?μπι至约5 μ m、约0.01 μ m至约I μ m、约0.01 μ m至约10 μ m、约0.01 μ m 至约 20 μ m、约 0.01 μ m 至约 5 μ m、约 0.02 μ m 至约 10 μ m、约 0.05 μ m 至约 10 μ m、约 0.1 μ m 至约 10 μ m、约 0.1 μ m 至约 100 μ m、约 0.1 μ m 至约 150 μ m、约 0.1 μ m 至约 20 μ m、约0.1 μ m至约5 μ m、约0.5 μ m至约50 μ m、约I μ m至约100 μ m、约I μ m至约20 μ m、约
Iμ m至约200 μ m、约I μ m至约50 μ m、约I μ m至约500 μ m、约10 μ m至约50 μ m、约IOnm至约5 μ m、约2 μ m至约100 μ m、约20 μ m至约1000 μ m、约5nm至约5 μ m、约50nm至约2 μ m或约50mn至约5μπι。多孔膜的密度可以改变，且可受到空隙、材料以及其他因素的影响。在一些实施方案中，包括空隙的膜的密度可以是约0.005皮克/ μ m3、约0.05皮克/ μ m3、约
0.1皮克/ μ m3、约0.3皮克/ μ m3、约0.5皮克/ μ m3、约0.7皮克/ μ m3、约0.9皮克/ μ m3或以任何这些值为界的或任何这些值之间的范围内的任何密度。在一些实施方案中，所包括的空隙可约在如下的范围内:约0.005皮克/ μ m3至约0.9皮克/ μ m3、约0.05皮克/ μ m3至约0.7皮克/ μ m3、或约0.1皮克/ μ m3至约0.5皮克/ μ m3。
[0238]多孔膜材料的折射率可改变。在一些实施方案中，多孔膜材料的折射率可大于或等于衬底的折射率。在一些实施方案中，阳极的折射率、阴极的折射率、在阳极与多孔层之间的透明层的折射率和/或在阴极与多孔层之间的透明层的折射率可大于多孔层的折射率。举例而言，折射率可以是约1.1、约1.5、约1.7、约1.8或以任何这些值为界的或任何这些值之间的范围内的任何折射率。在一些实施方案中，折射率可以是在约1.1至约1.8、约
1.1至约1.7或约1.1至约1.5的范围内。
[0239]在一些实施方案中，膜中至少100%、至少50%或至少90%的颗粒、突起物或空隙可具有如下范围内的x、y或ζ尺寸:约0.01 μ m至约5 μ m、约0.01 μ m至约I μ m、约0.01 μ m至约 10 μ m、约 0.01 μ m 至约 20 μ m、约 0.01 μ m 至约 5 μ m、约 0.02 μ m 至约 10 μ m、约 0.05 μ m至约 10 μ m、约 0.1 μ m 至约 10 μ m、约 0.1 μ m 至约 100 μ m、约 0.1 μ m 至约 150 μ m、约 0.1 μ m至约20 μ m、约0.1 μ m至约5 μ m、约0.5 μ m至约50 μ m、约Iym至约100 μ m、约Iym至约
20μ m、约 I μ m 至约 200 μ m、约 I μ m 至约 50 μ m、约 I μ m 至约 500 μ m、约 10 μ m 至约 50 μ m、约IOnm至约5 μ m、约2 μ m至约100 μ m、约20 μ m至约1000 μ m、约5nm至约5 μ m、约50nm至约2 μ m或约50nm至约5 μ m。
[0240]可通过在表面(例如衬底)上沉积有机膜来制备多孔膜。举例而言，沉积可以是气相沉积，其可在高温和/或高真空条件下实施；或可通过滴铸法(drop casting)或旋铸法(spin casting)来沉积多孔膜。在一些实施方案中,可将材料沉积在基本透明的衬底上。沉积和/或退火条件可影响膜的特性。
[0241]表面上的材料的沉积速率可改变。举例而言，可以以如下速率沉积有机膜:约
0.1A /秒、约0.2 A /秒、约IA /秒、约IOA秒、约20A /秒、约60A /秒、约100A /秒、约
500A /秒、约1000人/秒或以任何这些沉积速率为界的或在任何这些沉积速率之间的范围内的任何值。在一些实施方案中，可以以如下速率沉积有机膜:约0.1A/秒至约1000A/秒、约IA /秒至约IOOA /秒或约2A /秒至约60A /秒。
[0242]可在各种表面上沉积材料以形成多孔膜或有机膜。对于一些装置，可将材料沉积在阳极、阴极或透明层上。
[0243]可进一步通过加热或退火来处理已沉积在表面上的有机膜。加热温度可改变。举例而言，可以在如下温度加热有机膜:约80°C、约100°C、约110°C、约120°C、约130°C、约150°C、约180°C、约200°C、约240°C、约260°C、约290°C或以任何这些值为界的或在任何这些值之间的范围内的任何温度。在一些实施方案中，可以在如下范围中的温度加热有机膜:约 100°C至约 290°C、约 100°C至约 260°C、约 80°C至约 240°C、约 80°C至约 200°C、约 200°C至约260°C或约200°C至约240°C。
[0244]加热时间也可以改变。举例而言，可加热有机膜约5分钟、约15分钟、约30分钟、约60分钟、约2小时、约5小时、约10小时、约20小时或以任何这些值为界的或在任何这些值之间的范围内的任何量。在一些实施方案中，可加热有机膜约5分钟至约20小时、约4分钟至约2小时或约5分钟至约30分钟。在一些实施方案中，可以以约100°C至约260°C加热材料5分钟至约30分钟。
[0245]多孔膜或有机膜可包括含非聚合性有机化合物的材料，且可包括任选地取代的芳香环。在一些实施方案中，多孔膜或有机膜可包括以下化合物中的至少之一:
[0246]
【权利要求】
1.发光装置，包括： 多孔膜，布置于阳极或阴极的上方；并且 其中所述多孔膜的折射率低于所述阳极的折射率以及所述阴极的折射率。
2.如权利要求1所述的发光装置，其中所述多孔膜布置于所述阳极或所述阴极上。
3.如权利要求2所述的发光装置，其中所述阳极的折射率以及所述阴极的折射率高于所述多孔层的折射率。
4.如权利要求1所述的发光装置，还包括透明层，其位于所述多孔膜与所述阳极之间，或者位于所述多孔膜与所述阴极之间。
5.如权利要求4所述的发光装置，其中所述透明层的折射率高于所述多孔层的折射率。
6.如权利要求1-5中任一项所述的发光装置，其中所述多孔膜包括选自以下的至少一种化合物：
7.如权利要求1-6中任一项所述的发光装置，其中所述多孔膜包括：
8.如权利要求1-6中任一项所述的发光装置，其中所述多孔膜包括：
9.发光装置，包括： 多孔膜，其包括： 与所述发光装置中的部分内折射层的第一界面，其中所述部分内折射层的折射率高于所述多孔膜的折射率； 与折射率低于所述多孔膜的折射率的物质的第二界面；并且 其中所述第二界面包括多个不规则排列的纳米突起物或纳米颗粒。
10.如权利要求9所述的发光装置，其中所述纳米突起物或所述纳米颗粒具有在约400nm至约3000nm的范围内的平均x尺寸。
11.如权利要求9或10所述的发光装置，其中所述纳米突起物或所述纳米颗粒具有在约IOnm至约IOOnm的范围内的平均z尺寸。
12.如权利要求11所述的发光装置，其中所述纳米突起物或所述纳米颗粒具有在约IOOnm至约2000nm的范围内的平均y尺寸。
13.如权利要求9所述的发光装置，其中所述纳米突起物或所述纳米颗粒包括纳米片。
14.如权利要求9所述的发光装置，其中所述多孔膜的厚度在约0.1μπι至约ΙΟμπι的范围内。
15.如权利要求9所述的发光装置，其中所述多孔膜的厚度在约Iμ m至约5 μ m的范围内。
16.如权利要求9-15中任一项所述的发光装置，其中所述多孔固体包括多个孔洞，所述孔洞的总体积为所述多孔固体的体积的约50%至约99%。
17.发光装置，包括： 发光二极管，其包括： 阳极；阴极；以及 布置于所述阳极与所述阴极之间的发射层；以及 多孔膜； 其中所述多孔膜布置于所述阳极或所述阴极上；或者 所述发光装置还包括透明层，所述透明层布置于所述阳极与所述多孔膜之间，或所述阴极与所述多孔膜之间； 其中所述多孔膜由包括以下的方法而制备： 沉积有机膜；并且 在约10(TC至约290°C的温度加热所述有机膜。
18.如权利要求17所述的发光装置，其中在约200°C至约260°C的温度加热所述有机膜。
19.如权利要求17所述的发光装置，其中以约O.IA /秒至1000人/秒的速率沉积所述有机膜。
20.多孔膜，包括： 非聚合性有机化合物，其具有在约I. I至约I. 8的范围内的折射率； 其中所述多孔膜包括： 多个不规则排列的纳米突起物、纳米颗粒或其聚集体； 多个空隙，所述空隙的总体积为所述膜的体积的至少约50%，且至少约10%的所述多个空隙具有在约O. 5 μ m至约5 μ m的范围内的最长尺寸； 其中所述多孔膜具有在约500nm至约20 μ m的范围内的厚度；并且 其中包括所述空隙的所述多孔膜的密度为约O. 5皮克/ μ m3或更小。
21.如权利要求20所述的多孔膜，其中所述非聚合性有机化合物包含芳香环。
22.如权利要求20所述的多孔膜，其中当在xy平面观察时，所述纳米突起物、纳米颗粒或其聚集体的至少一部分为大致矩形的、大致正方形的、大致平行四边形的、准平行四边形的，或具有至少一个为大致直角的角。
23.如权利要求20所述的多孔膜,其中当在xy平面、xy平面或yz平面观察时,所述纳米突起物、纳米颗粒或其聚集体的至少一部分为大致椭圆形的、大致圆形的或大致卵形的。
24.如权利要求20所述的多孔膜，其中当在yz平面观察时，所述纳米突起物、纳米颗粒或其聚集体的至少一部分为大致线形的。
25.如权利要求20所述的多孔膜，其中所述纳米突起物、纳米颗粒或其聚集体的至少一部分为纳米片、准平面或带形的。
26.如权利要求20所述的多孔膜，其中所述纳米突起物、纳米颗粒或其聚集体的至少一部分为针状或纤维形的。
27.如权利要求20所述的多孔膜，其中所述纳米突起物、纳米颗粒或其聚集体的至少一部分为棒形或胶囊形的。
28.如权利要求20所述的多孔膜，其中所述纳米突起物、所述纳米颗粒或其聚集体的至少一部分为粒状的。
【文档编号】H01L51/52GK103503570SQ201280019193
【公开日】2014年1月8日 申请日期:2012年3月2日 优先权日:2011年3月3日
【发明者】望月周, 马立平, 郑世俊, 萨扎杜尔·拉曼·卡恩, 李胜, 赖倩茜, 大卫·T·希斯克, 布雷特·哈丁 申请人:日东电工株式会社