技术特征：
技术总结
本发明提供半导体装置及其制造方法，在缩小尺寸的同时不会损失有效沟道区域。半导体装置具备：衬底；漏极区，其被设置在衬底的背面侧；基极层，其设置于漏极区与衬底正面之间；沟槽，其从衬底正面到达漏极区；栅绝缘膜，其覆盖从沟槽的底面至第一高度的沟槽内侧；栅电极，其隔着栅绝缘膜而在沟槽内被埋至与该沟槽相同的高度；绝缘膜，其在沟槽内被埋至高于第一高度的第二高度；源电极，其被埋入沟槽内的剩余部分中；基极接触区，其被设置为距衬底的正面比第二高度浅；源极区，其一个侧面与源电极相接触，上表面与基极接触区的底面的一部分相接触，一个侧面与沟槽的侧面相接触并且一部分与源电极相接触；以及衬底的背面上的漏电极。
技术研发人员：大须贺祐喜;原田博文
受保护的技术使用者：艾普凌科有限公司
技术研发日：2017.11.27
技术公布日：2018.07.27