电连接件及电性测试装置的制作方法

本发明涉及一种电性测试用的连接件以及测试装置，特别是涉及一种电连接件及电性测试装置。

背景技术：

参阅图1，为一现有的电性测试装置9，适用于测试一例如集成电路、晶圆等等的待测元件900，并包含一以金属制成的座体91，及多个设置于该座体91内的弹簧探针92。通过所述弹簧探针92与该待测元件900形成电连接，以进行各项测试。然而，该电性测试装置9必须配合该待测元件900而设计，无论是该座体91或者所述弹簧探针92的配置位置，都必须依据该待测元件900而设计特殊规格。

以目前现有的技术进行电性测试时，是通过实体的电连接件直接接触欲测试的电子元件的各个接点，以电信号导通的状态，确认该电子元件是否为良品。所使用的电连接件(例如图1的弹簧探针92)接触欲测试的电子元件时，除了单纯接触而观察电信号导通以外，为了因应该电子元件运作的实际情况，可能还需要使该电连接件以移动刮擦，或者特定力道压接的方式接触该电子元件。因此，所述电连接件需要具备一定的弹性，以利于配合各种接触形式的需求，并通过适当的形变而缓冲接触时所受的外力，而同时又要具备相当的刚性，以维持整体的结构强度，并产生支撑的效果。

另外，因为电子元件的形状、接点分布相当多元，在对各种电子元件进行测试时，通常都需要针对特定电子元件而设计专用的测试装置，而针对特定电子元件所设计的测试装置，又难以适用于其他的电子元件，不但耗费制造成本，也相当浪费物力资源。

技术实现要素：

本发明的目的在于提供一种能配合多种测试动作，且能灵活堆叠组装而对多种规格的电子元件进行测试的电连接件。本发明电连接件，包含沿辅助线延伸且以绝缘材料所制成的基板，及多个定位于所述基板且沿所述辅助线间隔排列，且以导电材料所制成的接触体。所述基板具有两个与所述辅助线平行且彼此间隔的侧边，每一个接触体具有基部，及至少一个自所述基部朝远离所述辅助线的方向延伸至对应的侧边外的臂部。

本发明的目的及解决其技术问题还可采用以下技术措施进一步实现。

较佳地，前述的电连接件，其中，所述电连接件还包含一个固定于所述基板中央的基准接点，其中，每一个接触体的所述臂部，以朝向所述基准接点的方向倾斜延伸，并能以朝向所述基板的方向产生形变。

较佳地，前述的电连接件，其中，所述电连接件还包含两个分别形成于所述基板相反两端，且以导电材料所制成的端接体。

较佳地，前述的电连接件，其中，所述电连接件还包含多个分别介于所述接触体与所述基板间，且以导电材料所制成的中介体，每一个中介体使每一个接触体与所述基板间隔一段距离。本发明的另一个目的在于提供一种使用所述电连接件的电性测试装置。

本发明电性测试装置，包含底座、定位于所述底座上的基底单元、多个电导单元，及盖设于所述基底单元及所述电导单元上的封盖单元。

所述基底单元包括具有多个呈贯穿状的孔洞的底板、环绕于所述底板外且与所述底板共同界定出凹陷空间的边框，及叠置于所述边框上的框板，所述框板具有两个彼此平行间隔的端边条，及两个分别衔接于所述端边条的相反两端的侧边条，每一个端边条具有多个彼此间隔且朝向另一个端边条凸伸的凸伸部，每一个端边条的每两个相邻的凸伸部与另一个端边条对应的两个凸伸部共同界定出与所述凹陷空间连通的容置槽。

所述电导单元分别定位于所述容置槽中，每一个电导单元包括多个彼此叠合的本发明电连接件，所述电连接件的朝向同一侧的所述臂部，分别伸置于所述基底单元的基板的所述孔洞中。

所述封盖单元盖设于所述基底单元的框板及所述电导单元上，并包括盖板，所述盖板具有多个呈贯穿状且分别供所述电连接件朝向另一侧的所述臂部穿设的穿孔。

本发明的目的及解决其技术问题还可采用以下技术措施进一步实现。

较佳地，前述的电性测试装置，其中，所述基底单元还包括多个凸设于所述底板且彼此间隔平行而衔接于所述边框的相反两侧的肋条，每一个肋条对应各别的容置槽，所述电导单元分别定位于所述容置槽时，对应的肋条与所述电连接件同向延伸，且介于其中两个相邻的电连接件间。

较佳地，前述的电性测试装置，其中，所述封盖单元还包括环绕于所述盖板外且与所述盖板共同界定出一个容纳空间的环框，及多个凸设于所述盖板且彼此间隔平行而衔接于所述环框的相反两侧的凸肋，每一个凸肋对应各别的容置槽，且介于其中两个相邻的电连接件间。

较佳地，前述的电性测试装置，其中，所述电连接件的所述端接体支撑于所述基底单元的所述边框上，且顶抵于所述基底单元的所述框板。

较佳地，前述的电性测试装置，其中，所述基底单元的所述底板，及所述封盖单元的所述盖板的表面涂布有介电材料。

较佳地，前述的电性测试装置，其中，所述基底单元的所述底板，及所述封盖单元的所述盖板是采用介电材料所制成。本发明的有益效果在于：将多个所述电连接件相互叠合，可构成所需型态的电导单元，通过所述连接件的所述臂部对应特定接点，以配合多种型态的电子元件测试。而使用所述电连接件的所述电性测试装置，能确实支撑所述电导单元，避免所述电连接件在进行多种测试动作时损毁，有利于发挥所述电连接件的特性而执行多元化的测试动作。

附图说明

图1是是一剖视图，说明一现有的电性测试装置；

图2是一前视图，说明本发明电连接件的一实施例；

图3是一不完整的放大前视图，说明该电连接件的多个接触体；

图4是一侧视图，说明该电连接件的一中介体；

图5是一立体图，说明多个本发明电连接件的实施例彼此组合而构成一个电导单元的情况；

图6是一立体分解图，说明本发明电性测试装置的一第一实施例；

图7是一立体分解图，辅助图6说明该第一实施例的多个电导单元分别定位于多个容置槽的情况；

图8是一不完整的剖视图，说明本发明电性测试装置的第一实施例组装完成的情况；

图9是一示意图，说明利用本发明电性测试装置的第一实施例对一待测元件进行测试的情况；及

图10是一不完整的剖视图，说明本发明电性测试装置的一第二实施例。

具体实施方式

下面结合附图及实施例对本发明进行详细说明：

参阅图2至图4，本发明电连接件3的一实施例，包含一沿一辅助线l延伸且以绝缘材料所制成的基板31、一固定于该基板31中央的基准接点32、多个定位于该基板31且沿该辅助线l间隔排列并以导电材料所制成的接触体33、多个分别介于这些接触体33与该基板31间的中介体34，及两个分别形成于该基板31相反两端，且以导电材料所制成的端接体35。该基板31具有两个与该辅助线l平行且彼此间隔的侧边311，而每一接触体33具有一固定于该基板31上的基部331，及两个自该基部331分别朝远离该辅助线l的方向延伸至这些侧边311外的臂部332。其中，每一接触体33的这些臂部332，是以朝向该基准接点32的方向倾斜延伸，并能以朝向该基板31的方向产生形变。通过这些中介体34，使得这些接触体33与该基板31得以存在间隔，这些臂部332因而不会直接接触这些基板31，故这些臂部332得以在不被摩擦力影响的情况下，在受力时顺利产生形变，借此提高形变的灵敏度。也就是说，利用每一个臂部332所具有的弹性，在接触特定接点而传递电信号的同时，还能在承受外力时产生良好的缓冲效果。

参阅图5，为了配合多种不同规格的待测电子元件，必须建构出对应所述待测电子元件的各个接点的连接结构。本发明电连接件3主要是通过这些接触体33的这些臂部332与对应的接点连接，多个电连接件3能以这些基板31彼此叠合的方式，配合待测电子元件而构成所需的电导单元30。如图5所示即是将多个该电连接件3彼此叠合而构成的一个电导单元30，以配合后续的说明，但实际实施时能配合需求而改变叠合的数量，更能通过彼此错位的不完全重合的叠合方式，构成更多元的连接结构。

参阅图6，为本发明电性测试装置的一第一实施例，该第一实施例包含一底座1、一定位于该底座1上的基底单元2、多个如图5所示由多个本发明电连接件3相互叠合所构成的电导单元30，及一盖设于该基底单元2及这些电导单元30上的封盖单元4。

参阅图6与图7，该基底单元2包括一具有数个呈贯穿状的孔洞210的底板21、一环绕于该底板21外且与该底板21共同界定出一凹陷空间220的边框22、一叠置于该边框22上的框板23，及多个凸设于该底板21且彼此间隔平行而衔接于该边框22的相反两侧间的肋条24。其中，该框板23具有两个彼此平行间隔的端边条231，及两个分别衔接于这些端边条231的相反两端的侧边条232，每一端边条231具有多个彼此间隔且朝向另一端边条231凸伸的凸伸部239，每一端边条231的每两个相邻的凸伸部239与另一端边条231对应的两个凸伸部239共同界定出一个与该凹陷空间220连通的容置槽230。每一个肋条24是对应各别的容置槽230，这些电导单元30分别定位于这些容置槽230时，对应的肋条24与这些电连接件3同向延伸，且如图8所示地介于其中两个相邻电连接件3间。同时参阅图7与图8，由于每一个电连接件3是呈一个细长条状，在受到朝向该基板31的外力时容易在力臂较长处产生扭转力矩，而所述的肋条24得以对每一个电导单元30产生朝向该基板31的支撑效果，避免这些电连接件3在进行测试时因受所述扭转力矩而损毁。

重新参阅图6至图8，这些电导单元30分别定位于这些容置槽230中，这些电连接件3的朝向同一侧的这些臂部332，是分别伸置于该基底单元2的基板31的这些孔洞210中，以形成特定型态的电路。这些电连接件3的这些端接体35是支撑于该基底单元2的该边框22上，且顶抵于该基底单元2的该框板23，借此使得这些电连接件3与该基底单元2电性连接。

该封盖单元4包括一盖设于该框板23上的盖板41、一环绕于该盖板41外且与该盖板41共同界定出一容纳空间420的环框42，及多个凸设于该盖板41且彼此间隔平行而衔接于该环框42的相反两侧间的凸肋43，每一个凸肋43是对应各别的容置槽230，且介于其中两个相邻电连接件3间，同样可产生支撑这些电连接件3的效果。该盖板41具有多个呈贯穿状且分别供这些电连接件3朝向另一侧的这些臂部332穿设的穿孔410，这些电连接件3的这些臂部332穿伸于这些穿孔410后，可共同形成特定型态的电路，以配合所需的电性测试。其中，该基底单元2的底板21，及该封盖单元4的盖板41的表面涂布有介电膜7，以避免这些电连接件3的这些臂部332接触到该底板21或该盖板41时，产生预期以外的电性导通，以确保检测的精准度。

参阅图9并配合图8，使用本第一实施例的电性测试装置对一待测元件81进行测试时，还配合一供该待测元件81设置的插接座82。该底座1得以与该插接座82相互组接，并围绕出一自相反于该基底单元2的一侧向内凹设且形状配合该待测元件81的插接槽100，当该插接座82组接于该底座1，并使得该待测元件81插接于该底座1的插接槽100中，即可通过所述电连接件3的这些臂部332产生电性导通，通过该插接座82与该底座1相互配合而传出的电信号，确认该待测元件81的功能正常与否。

要特别说明的是，如图9所呈现的检测方法，属于层叠封装式(packageonpackage,pop)的检测，只是本发明电性测试装置的其中一种较佳的使用方法，实际应用时也能通过这些电连接件3得以自由组装的特性，构成得以直接测试待测元件81的测试电路，或者利用这些臂部332的弹性来进行刮擦测试，并不以如图8与图9所示的检测为限。

参阅图10，为本发明电性测试装置的一第二实施例，该第二实施例与该第一实施例的差别在于：该基底单元2的底板21，及该封盖单元4的盖板41是采用介电材料所制成，因此底板21与盖板41本身就具有电绝缘效果。本发明电性测试装置的第二实施例，仅有形成介电材质的方式不同，除此以外得以与该第一实施例达成相同的功效，使用者得以依据既有设备或者制程技术，甚至是检测上的特殊需求而选择适当的实施例。