专利名称：用于振荡器自我修调校准的方法及装置的制作方法
技术领域：
这里的说明涉及振荡器校准的方法及装置。
背景技术：
使用半导体加工技术制造的已知振荡器可以具有频率输出，该频率输出是阻容(RC)网络中的电阻器和电容器的功能。半导体加工变化可能导致振荡器的频率输出会有相对大的差异。因为振荡器的频率可能改变，所以振荡器可包括可用于将振荡器的频率校准到参考频率的电路。该处理可以被称为修调(trim)振荡器。在某些情况下，可以通过用于将不同电阻器和/或电容器网络耦接到振荡器以改变振荡器频率的数字位来实现修调振荡器。校准或修调振荡器的频率可以利用各种已知的方法进行，该等方法包括直接反复测量目标振荡器输出的频率并将该测量换算成校正因子，对分别与目标振荡器的频率和参考振荡器的频率相关的计数值进行比较等。使用已知振荡器校准技术效率较低，例如在晶圆测试或最终测试中可花费相对多的测试时间，当以硬件实现时可能占据器件管芯区域的很大一部分，和/或其他问题。因此，需要系统、方法及装置来解决现有技术的不足并提供其他新的和创新的特点。
发明内容
在一个总体方面，一种装置可包括配置用于基于参考振荡器信号产生参考振荡器计数值的参考振荡器计数器电路，以及配置用于基于目标振荡器信号产生目标振荡器计数值的目标振荡器计数器电路，其中目标振荡器信号的频率是对照参考振荡器信号的频率进行校准的对象。所述装置可包括配置用于计算参考振荡器计数器值和目标振荡器计数器值之间的差的差分电路，以及配置用于仅基于来自所述差的位元值的一部分限定修调代码的累积电路。在附图和下列描述中陈述了一种或多种实施方案(implementation)的细节。根据这些描述和附图以及权利要求，其他特点将变得显而易见。
图1为示出了根据一个实施方式的振荡器校准电路的框图。图2为示出了根据一个实施方式的振荡器校准电路的实施方案的框图。图3为示出了根据一个实施方式的振荡器校准电路的操作的状态图。图4为示出了根据一个实施方式的校准目标振荡器信号的方法的示图。图5为曲线示出了根据一个实施方式的目标振荡器信号的校准的示图。
具体实施例方式图1为示出了根据一个实施方式的振荡器校准电路100的框图。如图1所示，振荡器校准电路100包括配置用于对照(against)在测试设备180中包括的参考振荡器115进行校准的目标振荡器110。具体地说，目标振荡器110产生的目标振荡器信号10的频率配置用于对照由参考振荡器115产生的参考振荡器信号12的频率进行校准(例如，增加的校准、降低的校准)。目标振荡器110可以被称为目标振荡器，原因是振荡器是校准的目标(对象)。在某些实施方式中，目标振荡器信号可以被称为目标时钟信号，参考振荡器信号可以被称为参考时钟信号。在某些实施方式中，目标振荡器信号的振幅和参考振荡器信号的振幅可以相同或可以不同。在某些实施方式中，目标振荡器信号的频率的校准可以被称为基于校准过程(calibration procedure)(例如校准算法、自动校准过程、自我修调校准过程)执行。在某些实施方式中，目标振荡器110 (及振荡器校准电路100)可以与诸如以下器件相关联(例如包括在器件中):微处理器(例如中央处理器)、一组晶体管(例如触发器)、专用集成电路(ASIC)、数字信号处理(DSP)单元、离散组件、计算设备(例如便携式计算设备)、电信设备和/或电路板等。在某些实施方式中，校准过程例如可以在包括振荡器校准电路100的设备的测试(例如晶圆分类或最终测试和/或模块测试等)和/或操作期间执行。在某些实施方式中，包括在测试设备180中的参考振荡器115在测试序列中(或之前)可以在校准目标振荡器110时与振荡器校准电路100耦接。在某些实施方式中，振荡器校准电路100可以是数字电路(例如包括金属氧化物半导体场效应晶体管(MOSFET)的电路)和模拟电路(例如包括双极结型晶体管(BJT)的电路)的任意组合。在该实施方式中，振荡器校准电路100包括输入端子(input terminal)104 (也可称为输入接脚(input pin))及输出端子106 (也可称为输出接脚)。在某些实施方式中，振荡器校准电路100可以被配置为仅有两个端子，即输入端子104和输出端子106。因为振荡器校准电路100包括单个输入端子104和信号输出端子106，所以可以多次使用端子中的一个或多个来执行(例如，触发或促进)各种功能。虽然图1中示出两个端子，但在某些实施方式中，振荡器校准电路100可包括单个端子，该端子可用于执行(例如，触发或促进)与振荡器校准电路100的目标振荡器110的校准相关的各种功能。在某些实施方式中，振荡器校准电路100可具有两个以上的端子。例如，与目标振荡器电路110相关的校准过程可以由测试设备180利用校准开始信号(例如校准启动信号、校准使能信号)经由输入端子104触发。稍后可以通过输入端子104将参考振荡器115产生的参考振荡器信号发送给振荡器校准电路100。在完成对目标振荡器110产生的目标振荡器信号进行校准之后，可以经由输出端子106将校准过程的状态发送给测试设备180。在某些实施方式中，该状态可以表示为对目标振荡器信号进行的至少一部分校准成功完成(例如通过状态(pass status))或对目标振荡器信号进行的至少一部分校准失败(例如失败状态)。振荡器校准电路100可包括相对较少数量的端子(例如少于三个端子)，以便封装件190的其他端子可以用于其他处理。因为对目标振荡器110进行校准的次数相对较少(例如一次、两次)，所以与封装件190中包括的其他电路的操作相关的封装件190的端子可以为目标振荡器110的校准以外的功能保留下来(例如，用于这些功能)。某些振荡器校准电路可以具有许多端子，通过这些端子，校准电路的模式可以由外部测试设备修改，和/或可以在振荡器校准电路和外部测试设备之间传递信息等等。为了最小化(或减少)振荡器校准电路100的端子数量，要不然可包括在测试设备180中的功能可以包括在振荡器校准电路100中。在该实施方式中，振荡器校准电路100可以配置用于在测试设备180触发的单个校准模式下操作。具体地说，振荡器校准电路100可以配置用于在处于单个校准模式下的同时以自主(例如，自我修调)方式完成校准，而无需通过测试设备180进行控制(或需要相对较少的控制)。执行校准(例如，校准过程)时，可以在振荡器校准电路100中对与目标振荡器110的校准相关的信息进行处理(例如进行操作，维护)，且在发起校准(通过校准开始信号)之后，校准完成(通过或失败)可以是传递给测试设备180的下一个信息。如图1所示，振荡器校准电路100可以包括在封装件190中。在某些实施方式中，封装件190可包括两个以上的端子(例如与振荡器校准电路100的输入端子104和输出端子106耦接的两个端子)。在某些实施方式中，封装件190可以是芯片级封装件(CSP)。即使封装件190可包括超过两个的端子，也只有两个端子(或更少)可以专用于振荡器校准电路100的两个端子。在某些实施方式中，封装件190可以是芯片级封装件(CSP)。在这样的实施方式中，振荡器校准电路100可以包括在CSP器件中，或可以实现为CSP器件。在某些实施方式中，芯片规模封装器件可以被称为芯片尺寸封装器件。在某些实施方式中，如果是CSP器件，封装件190可以小于或等于包括振荡器校准电路100的半导体管芯的尺寸的1.5倍。在某些实施方式中，如果是CSP器件，封装件190可以大于包括振荡器校准电路100的半导体管芯的尺寸的1.5倍。在某些实施方式中，封装件190可包括垫(pad)或球(例如球栅阵列(BGA))，这些垫或球可以用于将振荡器校准电路100耦接至例如测试设备180的至少一部分。在某些实施方式中，振荡器校准电路100可以包括在晶圆级芯片级封装件(WL-CSP)中，或可以实现为WL-CSP。在某些实施方式中，目标振荡器110可以是数控振荡器(DC0)。换句话说，目标振荡器110可以配置用于接收修调代码(例如，修调代码值)，该修调代码可以是数字位元值(例如，二进制位元值)，数字位元值可用于修改(例如，增加或降低)目标振荡器110产生的目标振荡器信号10的频率。在某些实施方式中，修调代码可以被称为修调位元值(trimbitvalue)或频率位元值。在某些实施方式中，目标振荡器110可包括能用于(例如经由熔断器激活和/或停用，经由连接激活和/或停用等)基于修调代码来限定目标振荡器信号的频率的电阻器和/或电容器的网络。具体地说，电阻器和/或电容器的网络可以具有基于修调代码进行修改使得目标振荡器110产生的目标振荡器信号的频率可以在第一方向上改变(例如增加)或在第二方向上改变(例如降低)的配置(例如特征)。在某些实施方式中，振荡器校准电路100的一个或多个组件可以集成在单个集成组件(具有由目标振荡器Iio提供时钟脉冲(clock)的其他组件)中。在某些实施方式中，振荡器校准电路100的一个或多个组件可以封装成独立的离散组件(具有由目标振荡器110提供时钟脉冲的其他组件)。在某些实施方式中，振荡器校准电路100的组件不可以集成在单个组件中。在某些实施方式中，振荡器校准电路100的所有或几乎所有组件都可以是基于数字的组件(而不是基于模拟的组件)。图2为示出了根据一个实施方式的振荡器校准电路200的实施方案的框图。振荡器校准电路200的组件(例如计数器电路230、差分电路240、累积电路250及控制器电路260)限定校准回路，该校准回路配置用于在校准过程中基于计数值将目标振荡器220产生的目标振荡器信号20的频率校准为参考振荡器215产生的参考振荡器信号22的频率。换句话说，振荡器校准电路200的组件可以限定反馈回路，该反馈回路可以用于(例如，在校准过程中用于)基于计数值将目标振荡器信号20的频率校准为参考振荡器信号22的频率。如图2所示，经由振荡器校准电路200的输入端子204接收参考振荡器信号22。具体地说，在校准过程中，分别与参考振荡器信号22和目标振荡器信号20相关联的计数值可以用于通过校准回路迭代地(iteratively)(例如递归地)产生修调代码以及更新的修调代码。修调代码及其更新可以用于限定(例如，修改、迭代限定、增加、降低)目标振荡器信号20的频率直至将目标振荡器信号20的频率校准(例如在指定阈值内校准)为参考振荡器信号22的频率。一旦修调代码为将目标振荡器信号20校准为参考振荡器信号22的频率的值，该修调代码就可以用于设定(例如，永久性地设定，通过熔断器烧断永久性地设定)目标振荡器信号20的频率。在某些实施方式中，当振荡器校准电路200已经限定修调代码后，频率校准可以被称为已经收敛，该修调代码将目标振荡器信号20的频率设定在参考振荡器信号22的频率的频率增量内(例如，修调代码增量内、修调代码的I个最低有效位(LSB)内)或阈频内。在某些实施方式中，当振荡器校准电路200已经限定修调代码之后，频率校准可以被称为已经收敛，该修调代码将目标振荡器信号20的频率设定为最接近参考振荡器信号22的频率的频率增量。在某些实施方式中，用于(收敛时)设定目标振荡器信号20的频率的修调代码可以被称为最终修调代码。在某些实施方式中，当修调代码在两个不同的修调代码之间切换时(使目标振荡器信号20的频率在参考振荡器信号22的频率的频率增量内的频率之间切换)，频率校准可以被视为已经收敛。换句话说，目标振荡器信号20的频率可以响应于在修调代码之间切换在比参考振荡器信号22的频率略低(和/或接近)的频率和在比参考振荡器信号22的频率略高(和/或接近)的频率之间进行切换。在这样的情况下，将目标振荡器信号20的频率校准为参考振荡器信号22的频率可以被称为已经收敛。在某些实施方式中，使目标振荡器信号20的频率最接近参考振荡器信号22的频率的修调代码可以选择作为用于设定目标振荡器信号20的频率的最终修调代码。在某些实施方式中，振荡器校准电路100可以配置用于在若干微秒(例如10微秒、50微秒、200微秒)内收敛。在某些实施方式中，收敛时间可以短于几微秒(例如，10纳秒)或大于几微秒(例如，10毫秒、100毫秒)。在某些实施方式中，可以在校准过程的第一次迭代(iteration，重复)期间限定(并模拟(例如，在反馈回路中模拟))修调代码，然后在校准过程的随后的迭代期间修改(并在校准过程的随后迭代期间模拟(例如，在反馈回路中模拟))，直至(基于修调代码)校准目标振荡器信号20的频率。在某些实施方式中，振荡器校准电路200(例如，振荡器校准电路200的校准回路)可以配置用于在校准过程的几次迭代内(例如，在校准过程的3次迭代内、在校准过程的少于3次迭代、在校准过程的多于3次迭代)在修调代码上收敛。在某些实施方式中，振荡器校准电路200可以配置用于精确执行指定次数的迭代、少于指定次数的迭代或至少指定次数的迭代。在该实施方式中，通过比较与计数器电路230确定的这些信号中的每一个分别相关的计数值，将目标振荡器信号20校准为参考振荡器信号22。计数值可以表示一个或多个信号的相对频率。具体地说，计数器电路230的目标振荡器计数器电路222配置用于在由计数器电路230的参考振荡器计数器电路217计数的指定周期数内对目标振荡器信号20的周期数计数。由目标振荡器计数器电路222计数的周期数可以被称为目标振荡器计数值，由参考振荡器计数器电路217计数的周期数可以被称为参考振荡器计数值。例如，参考振荡器计数器电路217可以配置用于对表示为参考振荡器计数值的参考振荡器信号22的预定(例如预限定)周期数(也可称为预定计数值)计数。在由参考振荡器计数器电路217执行计数的过程中，目标振荡器计数器电路222可以配置用于对表示为目标振荡器计数值的目标振荡器信号20的周期数计数(直至完成由参考振荡器计数器电路217执行的计数)。与参考振荡器信号22和目标振荡器信号20相关联的相对周期数可以表不参考振荡器信号22和目标振荡器信号20之间的相对频率(例如，以参考振荡器信号22为参考的目标振荡器信号20的相对频率)。作为一个具体实例，参考振荡器计数器电路217可以配置用于计数2000个周期的参考振荡器信号22。在由参考振荡器计数器电路217执行计数的过程中，目标振荡器计数器电路222可以计数1500个周期的目标振荡器信号20。因此，参考振荡器信号22在该实例中大致比目标振荡器信号20快25%。在某些实施方式中，参考振荡器计数器电路217和/或目标振荡器计数器电路222可以配置用于对与指定时间段的信号有关的周期计数(而不基于预定周期数)。在某些实施方式中，目标振荡器计数器电路222可以配置用于将目标振荡器信号20的周期计数至预定周期数(也可称为预定计数值)，且参考振荡器计数器电路217可以配置用于对参考振荡器信号22的周期计数，直至由目标振荡器计数器电路222执行的计数完成。差分电路240配置用于基于目标振荡器计数值和参考振荡器计数值产生被存储到差分寄存器25中的差值。在某些实施方式中，差分电路240可以配置用于执行逐位减法。在某些实施方式中，差值可以表示参考振荡器计数值和目标振荡器计数值之间的差。例如，如果参考振荡器计数值为2500 (例如，2500个周期)且目标振荡器计数值为2000 (例如，2000个周期)，那么差分电路240可以配置用于将差值计算为500(例如，2500个周期-2000个周期=500个周期)。如图2所示，由差分电路240计算出并存储在差分寄存器25的部分26中的差值部分可以用作存储在修调代码寄存器23中的修调代码(或修调代码的更新版本)。在某些实施方式中，差分寄存器25的部分26可以被称为修调代码部分。因此，在某些实施方式中不可以使用部分27和/或部分28中计算并存储的差值部分来限定存储在修调代码寄存器23中的修调代码。在某些实施方式中，部分27可以被称为截断部分或修调代码乘法器，部分28可以被称为溢出部分。在某些实施方式中，溢出部分28可以配置用于存储与符号扩展差值(sign extended difference value)相关联的一个或多个位元值(bit value,位值)。在某些实施方式中，修调代码部分26可以与存储在差分寄存器25中的差值的位元值的中间部分相对应。作为一个具体实例，在校准过程的第一次迭代期间，可以基于第一目标振荡器计数值和第一参考振荡器计数值计算第一差值。差值可以存储在差分寄存器25中。在校准过程的第一次迭代期间，第一差值的一部分(例如，差分寄存器25的修调代码部分26中包括的一部分第一差值)可以存储在修调代码寄存器23中作为修调代码。在校准过程的随后迭代期间，可以基于第二目标振荡器计数值和第二参考振荡器计数值计算第二差值。第二差值可以存储在差分寄存器25中。在第一次迭代期间限定的修调代码在第二次迭代期间可以存储在先前修调代码寄存器29中作为先前修调代码。第二差值的一部分(例如，差分寄存器25的修调代码部分26中包括的第二差值的一部分)可以利用累积电路250与存储在先前修调代码寄存器29中的先前修调代码组合在一起以限定存储在修调代码寄存器23中的更新的修调代码。在校准过程的随后迭代期间可以进一步更新存储在修调代码寄存器23中的更新的修调代码，直至将目标振荡器信号20校准为参考振荡器信号22 (或直至计算出(例如达到)最大或最小修调代码)。在某些实施方式中，在上述的校准过程的第一次迭代期间，可以利用累积电路250基于存储在先前修调代码寄存器29中的值组合存储在差分寄存器25的修调代码部分26中的一部分第一差值来限定存储在修调代码寄存器23中的修调代码。在某些实施方式中，累积电路250可以配置用于执行逐位加法。因为存储在先前修调代码寄存器29中的值可以初始化为零(因为尚未限定先前修调代码)，所以利用累积电路250存储在修调代码寄存器23中的修调代码可能与差分寄存器25的修调代码部分26中存储的一部分第一差值相对应(例如可以相同)。虽然图2中未示出，但在某些实施方式中，在校准过程的第一次迭代期间，差分寄存器25的修调代码部分26中存储的一部分第一差值可以绕过累积电路250且可以用于限定存储在修调代码寄存器23中的修调代码。在某些实施方式中，修调代码可以逐步修改为饱和点(例如，上达最大值(不发生翻转(rolling over)),下至最小值(不发生翻转))。例如，如果修调代码是限定字(word)的三个位元值，那么修调代码可以表示数值O至7 (其可以与目标振荡器信号20的8种不同的频率设定值对应)，其中O与目标振荡器信号20的最小频率设定值(或变化)相关联，7可以与目标振荡器信号20的最大频率设定值(或变化)相关联。如图2所示，控制器电路260包括模拟电路262。该模拟电路262配置用于触发目标振荡器220基于存储在修调代码寄存器23中的修调代码(例如，更新的修调代码)进行操作(而无需烧断熔断器来永久地设定目标振荡器信号20的频率)。例如，在校准过程的第一次迭代期间，基于差分电路240产生的第一差值计算的第一修调代码可以存储在修调代码寄存器23中。可以基于目标振荡器信号20的第一频率(例如，初始频率、默认频率)和参考振荡器信号22的频率计算第一差值。第一修调代码可以用于触发由目标振荡器220产生的目标振荡器信号20的频率从第一频率变为第二频率(例如，触发增加或降低)。在校准过程的随后的迭代期间，可以将第一修调代码存储在现有修调代码寄存器29中作为现有修调代码。可以利用累积电路250基于差分电路240产生的第二差值和存储在先前修调代码寄存器29中的先前修调代码的组合来将第一修调代码更新为第二修调代码。第二差值可以由差分电路240基于参考振荡器信号22的频率以及基于第一修调代码触发的目标振荡器信号20的第二频率进行计算。第二修调代码可以由模拟电路262应用到目标振荡器220以便将目标振荡器信号20的第二频率变为目标振荡器信号20的第三频率。在某些实施方式中，可以执行校准过程的额外迭代，直至将目标振荡器信号20校准为参考振荡器信号22 (例如，校准在阈值内)。在完成对目标振荡器信号20进行校准之后，控制器电路260的熔断器模块264可以配置用于永久地将目标振荡器信号20的频率设定为校准频率(例如，通过熔断器烧断或另一个电路网络永久地设定)。利用上述实例，如果将目标振荡器信号20的第三频率(其基于第二修调代码)校准为参考振荡器信号22的频率，那么熔断器模块264可以基于第二修调代码将与目标振荡器220相关联的熔断器烧断(或触发其烧断)以便将目标振荡器信号20的频率设定为第三频率。在某些实施方式中，目标振荡器信号20的频率可以设定在响应于计算出的(例如达到的)或超过的最大或最小修调代码的频率。如上所述，在该实施方式中，仅差分寄存器25的修调代码部分26中包括的一部分差值用于限定修调代码。在某些实施方式中，用于限定修调代码的一部分差值可以基于修调代码精度(例如，目标修调代码精度、指定修调代码精度、预定义修调代码精度)。具体地说，可以对在校准过程迭代期间由参考振荡器计数器电路217计数的参考振荡器信号22的预定周期数进行限定，使得可以截断(truncate)差分电路240计算的差值。可以对在校准过程迭代期间由参考振荡器计数器电路217计数的参考振荡器信号22的预定周期数进行限定，使得可以截断差分电路240计算的差值，而不导致精度意外降低(或产生指定精度)。例如，可以基于公式(I)确定在迭代期间由参考振荡器计数器电路217计数的预定周期数:
权利要求
1.一种装置，包括: 参考振荡器计数器电路，被配置为基于参考振荡器信号产生参考振荡器计数值； 目标振荡器计数器电路，被配置为基于目标振荡器信号产生目标振荡器计数值，所述目标振荡器信号的频率是对照所述参考振荡器信号的频率进行校准的目标； 差分电路，被配置为计算所述参考振荡器计数值和所述目标振荡器计数值之间的差；以及 累积电路，被配置为仅基于来自所述差的位元值的一部分来限定修调代码。
2.根据权利要求1所述的装置，还包括: 累积电路，被配置为基于先前修调代码和所述差的所述一部分的组合来限定所述修调代码。
3.根据权利要求1所述的装置，其中，基于来自所述差的中间部分的位元值限定所述修调代码。
4.根据权利要求1所述的装置，其中，所述参考振荡器计数器电路被配置为基于计数所述参考振荡器信号的周期至预定计数值而产生所述参考振荡器计数值， 所述装置还包括: 控制器电路，被配置为在所述参考振荡器计数器电路达到所述预定计数值之前，计算所述参考振荡器信号的周期数与所述目标振荡器信号的周期数的比。
5.根据权利要求1所述的装置，还包括: 控制器电路，被配置为计算参考振荡器信号的周期数与目标振荡器信号的周期数的t匕，所述控制器电路被配置为当所述比大于表示由修调代码能实现的最大调整的阈值时触发校准终止。
6.根据权利要求1所述的装置，其中，所述参考振荡器计数值是基于大于或等于被除以2的修调代码精度的平方根的2的幂所限定的预定计数值。
7.根据权利要求1所述的装置，还包括: 电路，被配置为基于所述差的最高有效位和来自所述差的位元值的中间部分的至少一部分的异或组合触发控制器电路来终止对照参考振荡器信号对目标振荡器信号的频率进行校准。
8.根据权利要求1所述的装置，还包括: 控制器电路，被配置为触发迭代地更新所述修调代码，直到所述修调代码不变化或所述修调代码在两个不同值之间切换。
9.一种方法，包括: 计数参考振荡器信号的周期数直至预定计数值，所述预定计数值基于大于或等于被除以2的修调代码精度的平方根的2的幂； 在与所述参考振荡器信号相关联的计数期间对目标振荡器信号的周期数计数；以及 基于所述目标振荡器信号的周期数和所述参考振荡器信号的周期数之间的差的一部分计算用于校准所述目标振荡器信号的修调代码。
10.根据权利要求9所述的方法，其中，所述预定计数值基于上取整到最接近的2的幂的值。
11.根据权利要求9所述的方法，其中，在第一次校准迭代期间执行与所述参考振荡器相关联的计数、与所述目标振荡器相关联的计数、以及所述计算，其中，所述修调代码是第一修调代码，所述差是第一差； 基于所述第一修调代码修改所述目标振荡器信号的频率； 在第二次校准迭代期间基于所述目标振荡器信号的修改后频率计算第二差； 在第二次校准迭代期间将所述第一修调代码指定为先前修调代码；以及 基于所述第二差的一部分和所述先前修调代码的组合计算第二修调代码。
12.根据权利要求9所述的方法，还包括: 当所述修调代码不变化或在两个不同值之间切换时，发送通过修调代码状态。
13.根据权利要求9所述的方法，其中，计算所述修调代码包括在除去至少三个位元值之后将所述差与先前修调代码值相加。
14.根据权利要求9所述的方法，其中，在校准过程期间迭代地执行与所述参考振荡器信号相关联的计数、与所述目标振荡器信号相关联的计数、以及计算修调代码， 所述方法还包括: 在指定次数的迭代之后终止所述校准过程。
15.根据权利要求9所述的方法，其中，基于线性修调代码关系计算所述修调代码，且所述修调对所述目标振荡器信号具有非线性影响。
16.一种装置,包括: 目标振荡器校准电路，包括被配置为产生目标振荡器信号的目标振荡器； 输入端子，与所述目标振荡器校准电路耦接，所述输入端子被配置为在第一时间接收使能信号，所述使能信号被配置为触发所述目标振荡器校准电路的操作，并且所述输入端子被配置为，在所述第一时间之后的第二时间，接收用于校准所述目标振荡器信号的参考振荡器信号；以及 输出端子，与所述目标振荡器校准电路耦接并被配置为在完成所述目标振荡器信号的校准之后的第三时间接收修调状态的指示。
17.根据权利要求16所述的装置，其中，所述输入端子是与所述目标振荡器校准电路耦接的唯一输入端子。
18.根据权利要求16所述的装置，其中，所述输出端子是与所述目标振荡器校准电路耦接的唯一输出端子。
19.根据权利要求16所述的装置，其中，所述输入端子、所述输出端子以及所述目标振荡器校准电路集成到芯片级封装件中。
20.根据权利要求16所述的装置，其中，在单一校准模式期间基于迭代校准过程执行所述目标振荡器信号的校准。
全文摘要
本发明涉及用于振荡器自我修调校准的方法及装置。在一个总体方面，一种装置可包括配置用于基于参考振荡器信号产生参考振荡器计数值的参考振荡器计数器电路，以及配置用于基于目标振荡器信号产生目标振荡器计数值的目标振荡器计数器电路，其中目标振荡器信号具有作为对照参考振荡器信号的频率进行校准的对象的频率。所述装置可包括配置用于计算参考振荡器计数器值和目标振荡器计数器值之间的差的差分电路，以及配置用于仅基于来自差的位元值的一部分限定修调代码的累积电路。
文档编号H03L7/00GK103187969SQ20121058756
公开日2013年7月3日 申请日期2012年12月28日 优先权日2011年12月30日
发明者约翰·R·特纳, 泰勒·戴格勒 申请人:飞兆半导体公司