半导体集成电路装置和数据处理系统的制造方法

文档序号:11170583阅读:来源:国知局
半导体集成电路装置和数据处理系统的制造方法

技术特征:
1.一种半导体集成电路装置,包含:多个模拟端口;A/D变换部,能够对每个预先设定的假想通道执行A/D变换处理,该A/D变换处理用于将经上述模拟端口取入的模拟信号变换成数字信号;以及A/D变换控制部,控制上述A/D变换部的动作,上述A/D变换控制部包含:假想通道寄存器,能够保存上述假想通道与上述模拟端口的对应关系信息以及每个上述假想通道的等待信息;以及扫描组形成用寄存器,能够设定表示扫描组的开始位置的开始指针、和表示上述扫描组的结束位置的结束指针,按照从与上述开始指针对应的假想通道到与上述结束指针对应的假想通道的顺序依次选择假想通道,在上述A/D变换部中连续地执行关于该选择出的假想通道的A/D变换处理,根据与该假想通道对应的上述等待信息,从该假想通道的选择起延迟上述A/D变换处理。2.如权利要求1中所述的半导体集成电路装置,该半导体集成电路装置被设成:通过在上述扫描组形成用寄存器中设定多组上述开始指针和与该开始指针对应的上述结束指针,能够形成多个扫描组。3.如权利要求2中所述的半导体集成电路装置,上述扫描组形成用寄存器对每个上述扫描组包含能设定A/D变换处理的重复次数的多循环寄存器。4.如权利要求3中所述的半导体集成电路装置,上述扫描组形成用寄存器包含能够设定每个扫描组的A/D变换的优先度的控制寄存器。5....
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