液晶显示驱动电路及其使用的检验装置与容错方法

文档序号:2595370阅读:128来源:国知局
专利名称:液晶显示驱动电路及其使用的检验装置与容错方法
技术领域
本发明涉及一种电学领域的液晶显示器中的液晶显示驱动电路,特别是涉及一种能容错的液晶显示驱动电路,及其使用的检验装置与容错方法。
背景技术
在最近的技术中,当制造液晶显示器(Liquid Crystal display,LCD)面板的时候,经常会使用低温多晶硅(Low Temperature PolycrystallineSilicon,LTPS)的技术来制造位于玻璃基板上的薄膜晶体管(Thin FilmTransistor,TFT)。然而,在这种制程下,用来做为驱动各像素的驱动电路,不管是扫瞄驱动电路或数据驱动电路,其制程的良品率都还无法十分稳定。换句话说,在以目前常使用的方法制造LCD面板的时候,相伴随的就是驱动电路良品率不稳定的严重问题。
请参阅图1所示,是现有习知技术所使用的现有的液晶显示驱动电路的电路方块图。如图1所示,在LCD面板的驱动电路中,通常都是以串行方式连接的多个移位缓存器所组成。其中,移位缓存器102、104与106等,分别都是驱动电路10的组成组件之一。在驱动LCD面板上各像素的时候,启始信号ST会先被传送到移位缓存器102。在一个预定时间(通常是一个时脉信号)之后,该一启始信号就会从移位缓存器102传送到移位缓存器104。类似的,启始信号会以相同的方式依序由移位缓存器104向后传递给移位缓存器106与其它后续的移位缓存器。而LCD面板上的各像素则借着分别与各移位缓存器102、104与106的输出端相电性耦接的驱动线112、114与116来驱动。
由于驱动电路10的实际电路架构是以多个移位缓存器串接而成,因此只要其中一个移位缓存器的电路出现问题,就会连带影响到后续移位缓存器的表现。在这种状况下,由于LTPS制程所造成的驱动电路良品率不稳定的问题,就成了一个亟待解决的问题。
为了减少驱动电路因为制程良品率的变动而产生电路问题,有人则提出了非常繁杂的侦错电路,如美国第6467057号专利的技术即为一例。然而,根据美国第6467057号专利的技术内容,必须在每一级的驱动级中加入复杂且尺寸不容忽视的电路,这不但增加了电路制作上的成本,而且在电子组件集积密度越来越高的今天,若要将越多的电路组件集积在同样尺寸的芯片中,不是造成越大的漏电机率,就是需要进行新制程技术的研发。凡此种种,皆使此种技术具有其天生的缺陷。
此外,对于移位缓存器102-106而言,其可能出现的问题还包括输出固定为0(stuck-at-zero)与输出固定为1(stuck-at-one)这两种情况。因此,若单纯想利用平行并联多个移位缓存器,并将这些移位缓存器的输出以或门(OR Gate)做运算后再输出到下一级,那么虽然可以消除移位缓存器中输出固定为0的问题,但却无法解决移位缓存器中输出固定为1的问题。
由此可见,上述现有的液晶显示驱动电路仍存在有诸多的缺陷,而亟待加以进一步改进。为了解决现有的液晶显示驱动电路的缺陷,相关厂商莫不费尽心思来谋求解决的道,但长久以来一直未见适用的设计被发展完成,此显然是相关业者急欲解决的问题。
因此,如何在不过份增加集积密度的条件下,同时解决移位缓存器中所可能出现的输出固定为0与输出固定为1这两种情况,从而使制造厂商能达到最大效益,就是本发明所要努力研发的方向。
有鉴于上述现有的液晶显示驱动电路存在的缺陷,本发明人基于从事此类产品设计制造多年丰富的实务经验及专业知识,积极加以研究创新,以期创设一种新型的液晶显示驱动电路及其使用的检验装置与容错方法,能够改进一般市面上现有常规的液晶显示驱动电路,使其更具有实用性。经过不断的研究、设计,并经反复试作样品及改进后,终于创设出确具实用价值的本发明。

发明内容
本发明的主要目的在于,克服上述现有的液晶显示驱动电路存在的缺陷,而提供一种新的液晶显示驱动电路及其使用的检验装置与容错方法,所要解决的主要技术问题是使其藉由本发明,厂商就能以较简易的电路来同时避免移位缓存器中所可能出现的输出固定为0与输出固定为1这两种情况,从而非常适于实用。
本发明的目的及解决其主要技术问题是采用以下的技术方案来实现的。依据本发明提出的一种液晶显示驱动电路的检验装置,适用于具有复数个驱动级的驱动电路中,其包括一储存单元,依序在一第一时间区段中接收并储存一第一触发脉冲,在一第二时间区段中接收并储存一第二触发脉冲,并依序输出该第一与第二触发脉冲在该储存单元储存后所得的相对应的一第一移位后信号与一第二移位后信号;一第一数据切换开关,电性耦接至该储存单元的输出,并在该第一时间区段中,将该第一资料切换开关的输出切换成电性耦接至一第一输出路径,在该第二时间区段中,将该第一资料切换开关的输出切换成电性耦接至一第二输出路径;以及一边缘探测器,该边缘探测器的输入端电性耦接至该第一输出路径,且该边缘探测器的输出端电性耦接至该第二输出路径,其中,若在该第一时间区段中没有侦测到边缘产生,则在该第二时间区段中保持该第二输出路径于一预定逻辑电位。
本发明的目的及解决其技术问题还可以采用以下的技术措施来进一步实现。
前述的液晶显示驱动电路的检验装置,其中其更包括具有两输入端的一第二资料切换开关,该第二数据切换开关的输出做为该储存单元的输入,且该第二数据切换开关的一个输入端是电性耦接至该驱动级的前两级驱动级的输出以接收该第一触发脉冲,另一个输入端则电性耦接至该驱动级的前一级驱动级的输出以接收该第二触发脉冲。
前述的液晶显示驱动电路的检验装置,其中所述的储存单元为移位缓存器。
本发明的目的及解决其主要技术问题还采用以下技术方案来实现。依据本发明提出的一种液晶显示驱动电路,适用于具有复数个驱动级的驱动电路中,其中该些驱动级中的任一个包括复数个检验装置,该些检验装置中的每一个分别包括一储存单元,依序在一第一时间区段中接收并储存一第一触发脉冲,在一第二时间区段中接收并储存一第二触发脉冲,并依序输出该第一与第二触发脉冲在该储存单元储存后所得的相对应的一第一移位后信号与一第二移位后信号;一第一数据切换开关,电性耦接至该储存单元的输出,并在该第一时间区段中,将该第一资料切换开关的输出切换成电性耦接至一第一输出路径,再在该第二时间区段中,将该第一资料切换开关的输出切换成电性耦接至一第二输出路径;以及一边缘探测器,该边缘探测器的输入端电性耦接至该第一输出路径,且该边缘探测器的输出端电性耦接至该第二输出路径,其中,若在该第一时间区段中没有侦测到边缘产生,则在该第二时间区段中保持该第二输出路径于一预定逻辑电位;一逻辑运算单元,该逻辑运算单元的接收端分别电性耦接至该些检验装置中的该些第二输出路径,根据该预定逻辑电位执行相对应的一逻辑运算,以使该逻辑运算单元的输出不受该预定逻辑电位的影响;以及一驱动切换开关,在该第一时间区段中切换不电性耦接至由该驱动级所驱动的一像素电路,并在该第二时间区段中切换成电性耦接至该像素电路。
本发明的目的及解决其技术问题还可以采用以下的技术措施来进一步实现。
前述的液晶显示驱动电路,其中当该预定逻辑电位为逻辑1时,该逻辑运算单元所执行的该逻辑运算为及运算。
前述的液晶显示驱动电路,其中当该预定逻辑电位为逻辑0时,该逻辑运算单元所执行的该逻辑运算为或运算。
前述的液晶显示驱动电路,其中所述的每一该些检验装置更包括具有两输入端的一第二资料切换开关,该第二资料切换开关的输出做为相对应的该检验装置中的该储存单元的输入,而且该第二数据切换开关的一个输入端是电性耦接至该驱动级的前两级驱动级的输出以接收该第一触发脉冲,另一个输入端则电性耦接至该驱动级的前一级驱动级的输出以接收该第二触发脉冲。
前述的液晶显示驱动电路,其中所述的该些检验装置的数量为2。
前述的液晶显示驱动电路,其中所述的检验装置的储存单元为移位缓存器。
本发明的目的及解决其主要技术问题还采用以下技术方案来实现。依据本发明提出的一种液晶显示驱动电路,其包括一前端驱动级,在测试时接收连续的一第一触发脉冲与一第二触发脉冲;以及复数个后续驱动级,串行电性耦接于该前端驱动级之后,且该些后续驱动级中的每一个的输出是电性耦接至该后续驱动级的后一级与后两级的该些后续驱动级的输入端;其中,该前端驱动级的输出是电性耦接至该前端驱动级的后一级与后两级的该些后续驱动级的输入端。
本发明的目的及解决其主要技术问题还采用以下技术方案来实现。依据本发明提出的一种液晶显示驱动电路的容错方法,适用于具有复数个检验装置的一驱动级的驱动电路中,其中该些检验装置的每一个各自具有一储存单元以储存驱动信号,该液晶显示驱动电路的容错方法包括接收预设的一触发脉冲;检测该触发脉冲经该储存单元的传递是否正常;若该触发脉冲经该储存单元的传递不正常,则维持该检验装置的输出为一预定逻辑电位;以及根据该预定逻辑电位执行相对应之一逻辑运算,以使该逻辑运算之结果不受该预定逻辑电位的影响。
本发明的目的及解决其技术问题还可以采用以下的技术措施来进一步实现。
前述的液晶显示驱动电路的容错方法,其中所述的其中检测该触发脉冲经该储存单元的传递是否正常的步骤,更包括将该触发脉冲存入该储存单元中;取得该储存单元中,储存该触发脉冲处的一数据;判断该资料是否与该触发脉冲具相同逻辑变化;以及当该数据与该触发脉冲具相同逻辑变化,则判定该触发脉冲的传递为正常,否则即判定该触发脉冲的传递为不正常。
前述的液晶显示驱动电路的容错方法,所述的液晶显示驱动电路其中当该预定逻辑电位为逻辑1时,该逻辑运算为及运算。
前述的液晶显示驱动电路的容错方法,其中所述的所述的液晶显示驱动电路其中当该预定逻辑电位为逻辑0时,该逻辑运算为或运算。
本发明与现有技术相比具有明显的优点和有益效果。由以上技术方案可知,本发明液晶显示驱动电路及其使用的检验装置与容错方法,其主要是提出以下的技术内容本发明提出一种液晶显示驱动电路的检验装置,其适用于具有多个驱动级的驱动电路中。该检验装置具有一个储存单元,一个资料切换开关与一个边缘探测器。其中,储存单元依序在第一与第二时间区段中接收并储存第一与第二触发脉冲,并依序输出这些第一与第二触发脉冲在储存单元储存后所得的相对应的第一与第二移位后信号。资料切换开关电性耦接至储存单元的输出,并在第一时间区段中,将资料切换开关的输出切换成电性耦接至第一输出路径,再在第二时间区段中,将资料切换开关的输出切换成电性耦接至第二输出路径。边缘探测器的输入端电性耦接至第一输出路径,且边缘探测器的输出端电性耦接至第二输出路径。其中,若在第一时间区段中没有侦测到边缘产生,则边缘探测器就会在第二时间区段中保持第二输出路径于某一预定逻辑电位。
本发明还提出一种液晶显示驱动电路,其适用于具有多个驱动级的驱动电路中。其中,任一个驱动级中包括有多个上述的检验装置、一个逻辑运算单元与一个驱动切换开关。其中,逻辑运算单元的接收端分别电性耦接至检验装置所提供的多个第二输出路径,并根据在第一时间区段中没有侦测到边缘产生时由边缘探测器所持续保持的第二输出路径的预定逻辑电位来执行相对应的逻辑运算,以藉此使逻辑运算单元的输出不受该一预定逻辑电位的影响。驱动切换开关系在第一时间区段中切换不电性耦接至由该驱动级所驱动的像素电路,并在第二时间区段中切换成电性耦接至该像素电路。
本发明还提出一种液晶显示驱动电路,该液晶显示驱动电路包括一个前端驱动级与多个后续驱动级。其中,前端驱动级在测试时接收连续的第一与第二触发脉冲。后续驱动级则以串行方式电性耦接于前端驱动级之后,且每一个后续驱动级的输出是电性耦接至该后续驱动级的后一级与后两级的后续驱动级的输入端。此外,前端驱动级的输出则是电性耦接至该前端驱动级的后一级与后两级的后续驱动级的输入端。
本发明更提出一种液晶显示驱动电路的容错方法,其适用于包含有至少一个具有多检验装置的驱动级的驱动电路中。这些检验装置中的每一个都各自具有一个储存单元以储存驱动信号。该液晶显示驱动电路的容错方法是接收预设的触发脉冲,并检测该触发脉冲经储存单元的传递是否正常。而若检测结果发现触发脉冲经储存单元的传递不正常,则将该检验装置的输出固定在某一预定逻辑电位。最后,该容错方法再根据该预定逻辑电位来执行相对应的逻辑运算,以使该逻辑运算的结果不受预定逻辑电位的影响。
在本发明的一个实施例中,前述检测该触发脉冲经储存单元的传递是否正常的步骤,是将触发脉冲存入储存单元中,再接着取得储存单元中用以储存触发脉冲处的数据。之后再判断该资料是否与触发脉冲具相同逻辑变化。若判断的结果发现该资料与触发脉冲具相同逻辑变化,则判定触发脉冲经储存单元的传递为正常,否则即判定触发脉冲经储存单元的传递为不正常。
综由上述,本发明提出的液晶显示驱动电路及其使用的检验装置与容错方法,该液晶显示驱动电路的驱动级具有多个检验装置、逻辑运算单元与驱动切换开关。检验装置包括储存单元、资料切换开关与边缘探测器。其中,储存单元分别在第一与第二时间区段中接收第一与第二触发脉冲,并依序输出第一与第二触发脉冲在储存单元储存后所得的相对应的第一与第二移位后信号。第一与第二移位后信号分别在第一与第二时间区段中经由资料切换开关而传送到第一与第二输出路径上。边缘探测器接收第一移位后信号,并在第一时间区段中没有侦测到边缘产生的时候,在第二时间区段中保持第二输出路径于某一预定逻辑电位上。逻辑运算单元接收第二输出路径上的资料,并根据预定逻辑电位来执行相对应的逻辑运算,藉此使逻辑运算单元的输出不受预定逻辑电位的影响。驱动切换开关则在第一时间区段中切换不电性耦接至由该驱动级所驱动的像素电路,并在第二时间区段中切换成电性耦接至该像素电路。
综上所述,本发明是以边缘变化是否正确来检验储存单元的运作是否正常,并将出现问题的储存单元的输出设定在一个固定的逻辑电位上,再对不同的逻辑电位设定值使用不同的逻辑运算。藉此,只要简单的电路架构就能侦测每一个驱动级中最容易产生问题的储存单元的正确性,并且在储存单元出现问题时,不会受到该储存单元的问题是输出固定为0或输出固定为1的影响,而能保持其该有的输出值。
本发明能够以较简易的电路来同时避免移位缓存器中所可能出现的输出固定为0与输出固定为1的这两种情况,从而非常适于实用。其具有上述诸多优点及实用价值,不论在产品及方法上确属创新,且在技术上有较大的进步,并产生了好用及实用的效果,而确实具有增进的功效,从而更加适于实用,而具有产业的广泛利用价值,诚为一新颖、进步、实用的新设计。
上述说明仅是本发明技术方案的概述,为了能够更清楚了解本发明的技术手段,并可依照说明书的内容予以实施,以下以本发明的较佳实施例并配合附图详细说明如后。


图1是现有习知技术所使用的现有的液晶显示驱动电路的电路方块图。
图2是本发明一较佳实施例的液晶显示驱动电路的电路方块图。
图3是本发明液晶显示驱动电路的驱动级的一较佳实施例的电路方块图。
图4是本发明一较佳实施例的检验装置的电路图。
图5是本发明一较佳实施例的液晶显示驱动电路容错方法的流程图。
图6是本发明一较佳实施例的液晶显示驱动电路容错方法在判断传递是否正常时的流程图。
10,20 驱动电路102~106移位缓存器112~116驱动线 212~218驱动线202~208驱动级 222~236数据传输电路302~308检验装置400检验装置320逻辑运算单元 330驱动切换开关402,406资料切换开关404储存单元408边缘侦测器S500~S506本发明一较佳实施例的施行步骤S600~S608本发明另一较佳实施例的施行步骤具体实施方式

以下结合附图及较佳的实施例,对依据本发明提出的液晶显示驱动电路及其使用的检验装置与容错方法其具体结构、方法、步骤、特征及其功效,详细说明如后。
请参阅图2所示,是本发明液晶显示驱动电路一较佳实施例的一种液晶显示驱动电路的电路方块图。其中,本发明液晶显示驱动电路20,其包括有多个驱动级202-208。其中,由于驱动级202是位于液晶显示驱动电路20的开端,因此为了容易定义其位置所在,在本申请的某些部分中会将驱动级202称为前端驱动级,而将其它串接于驱动级202之后的驱动级204-208称为后续驱动级。
在本实施例中,上述的前端驱动级202接收外界来的信号,并将该信号向后传递给其它的驱动级204、206及208等。此外,该前端驱动级202的输出同时电性耦接到其后一级的驱动级204与后两级的驱动级206的输入端,而其它的驱动级204、206及208等也同样以该种架构将信号向后传输。藉由上述该种架构,假若驱动级202在时间t的时候收到第一个触发脉冲,则驱动级204可以在时间t+1的时候经由驱动级202与数据传输电路222而收到该触发脉冲,且驱动级206在此同时也可以经由驱动级202与数据传输电路232而收到该触发脉冲。接下来,该驱动级206还可以在时间t+1的时候经由驱动级204与数据传输电路224而接收到此一触发脉冲。
因此,就上述架构来看,对驱动级202输入一个触发脉冲,将导致驱动级206以后的所有驱动级在连续时间内收到两次触发脉冲。虽然看起来这样的架构将会导致资料重复而造成显示的问题,然而此种架构仅是运用在实际资料前的测试信号之用,而在开始传递实际资料的时候,多余的电路(包含数据传输电路232、234与236等将数据传递到下两级驱动级的电路)将不会进行运作。换句话说,在实际资料传递的时候,各驱动级只会从前一级的驱动级中接收到资料。
而在测试的时候,为了不增加系统的复杂度,因此将采用一般技术中所使用的激活脉冲(start pulse)来作为测试时所用的触发脉冲,而在一般数据传输的时候,该触发脉冲就会是代表影像资料的信号。但熟悉此项技艺的技术人员当知可以任何适合的信号来作为测试时所用的触发脉冲,而并非仅能限制于使用激活脉冲。
一般而言,在要开始传输显示资料之前,会先有一个激活脉冲出现。因此,在本实施例中,假设该激活脉冲在时间t的时候进入驱动级202,则该激活脉冲会在时间t+1的时候被传送给驱动级204与206。接下来,在时间t+2的时候,该激活脉冲会被进一步传送给驱动级206与208。因此,藉由此种方式,在驱动级206之后的所有激活级都可以有两个激活脉冲来作为测试之用。换句话说,以驱动级206为例,其在时间t+1的时候会接收到第一次激活脉冲,并在时间t+2的时候接收到第二次激活脉冲。而在驱动级202与204,若为了得到两次激活脉冲来做测试,则可以在信号输入的时候多输入一次激活脉冲,并在驱动级206之后选择放弃或继续传递该激活脉冲。
此外,由于各驱动级202-208都会以相对应的驱动线212-218来驱动像素,因此在测试的时候各驱动级202-208会先将该电路关闭,以藉此避免错误的像素驱动结果。
请接着参照图3所示,是本发明液晶显示驱动电路的驱动级的一较佳实施例的电路方块图。其中,为了说明上的方便,将该驱动级假设为图2中的驱动级206。根据此一假设,驱动级206将在时间t+1的时候从驱动级202接收到第一次激活脉冲,并在时间t+2的时候从驱动级204接收到第二次激活脉冲。
在本实施例中,该驱动级206包括了多个检验装置302-308、一个逻辑运算单元320以及一个驱动切换开关330。检验装置302-308在同一个时间点接收由同一个来源(如驱动级202或驱动级204)所传来的信号,并使测试结果不正常的检验装置的输出维持在某一个预定逻辑电位上。根据本发明的需求,该预定逻辑电位与逻辑运算单元320所要进行的逻辑运算有关,也就是,预定逻辑电位必须是不影响逻辑运算单元320的运算结果的逻辑电位。举例来说,如果逻辑运算单元320所进行的是“或”运算,则测试结果不正常的检验装置的输出就必须是逻辑0;反过来说,如果逻辑运算单元320所进行的是“及”运算,则测试结果不正常的检验装置的输出就必须是逻辑1。
有了上述检验装置302-308的输出与逻辑运算单元320之间的相互关系,只要检验装置302-308中有一个是正常的电路,那么逻辑运算单元320就可以经过运算而得到正确的结果,而此结果也将被向后输出至下一级驱动级208与再下一级的驱动级(图中未示)。
此外,驱动切换开关330可以选择切换是否要将逻辑运算单元320的输出传送给驱动线216。有了这种设计,驱动线216就不会在电路进行测试的时候还持续根据逻辑运算单元320的输出而驱动相对应的像素,因此可以避免因为电路测试所引起的错误影像显示结果。举例来说,驱动切换开关330可以借着时间点的限制,或是借着某一控制信号线的控制,使得驱动级206在时间t+1接收第一次激活脉冲,甚至在时间t+2接收第二次激活脉冲的时候,可以将逻辑运算单元的输出端与驱动线216电性隔离。如此一来,驱动级206在这些时段中就无法经由驱动线216来驱动相对应的像素,因此也就不会有意料之外的影像出现在显示器上。
下面将进一步说明检验装置中的详细电路设计。请参照图4所示,是本发明一较佳实施例的检验装置的电路图。在本实施例中,检验装置400包括有一个资料切换开关402、一个储存单元404、一个数据切换开关406以及一个边缘侦测器408。其中,数据切换开关402的输出是用做储存单元404的输入,而且该一数据切换开关402具有两个输入端,其中一个输入端电性耦接至包含该测试装置400的驱动级(假设为第N级驱动级)的前两级驱动级的输出(即图中所示的(N-2)th),而另一个输入端则电性耦接至前一级驱动级的输出(即图中所示的(N-1)th)。资料切换开关402则切换选择接收这两个输入端其中一个所输入的触发脉冲,并将所接收到的触发脉冲传输给储存单元404。
上述的储存单元404一般是以移位缓存器为其构成组件,但熟悉此项技艺的技术人员当知并非仅能以此为限。在本实施例中,该储存单元可以在不同的时间区段中接收不同的触发脉冲,储存该触发脉冲,并输出经该储存单元404储存后所得的触发脉冲。之所以要强调输出的是经过储存单元404储存后所得的触发脉冲,是因为储存单元404可能会因为电路问题而使得储存于其中的触发脉冲与原先所输入的触发脉冲不同。为了方便区别,在之后的叙述中将把经过储存单元404储存后所得的触发脉冲改称为移位后信号。
假设该储存单元404依序分别在第一时间区段与第二时间区段输出第一与第二移位后信号,则资料切换开关406将会同样依序在第一时间区段中,把第一移位后信号输出给边缘侦测器408(该传递路径在这之后将统称为第一输出路径),并在第二时间区段中把第二移位后信号输出至与边缘侦测器408的输出端相电性耦接的线路上(该传递路径在这之后将统称为第二输出路径)。而边缘探测器408除了在前述的第一时间区段中接收第一移位后信号之外,更侦测该第一移位后信号是否与之前输入该测试装置400的触发脉冲有相同的逻辑变化。为了达成这样的功能,本实施例在测试时是以激活脉冲为触发脉冲。由于激活脉冲是一个由逻辑0到逻辑1的脉冲,因此在正常的情况下,边缘探测器408在第一时间区段中所接收到的信号中就应该包含有一个由逻辑0到逻辑1的转换边缘(transition edge)才对。
藉由此种概念,边缘探测器408就能够很轻易的由所接收到的信号内容来判别储存单元404的功能是否正常。而当判别出储存单元404的功能不正常的时候,边缘探测器408就会把与第二输出路径相电性耦接的输出端固定在某一个预设的逻辑电位上。如前所述,该预设逻辑电位将与后续的逻辑运算单元所采用的逻辑运算种类有关,故熟悉此项技艺的技术人员当可视当时状况而自行选择其运用方式。
必须注意的是,虽然在本实施例中使用了资料切换开关402来切换接收由不同输入源所输入的信号,但本发明所提供的检验装置并非仅能限定使用于此种架构之下。举例来说,当检验装置400的资料来源只有一个((N-1)th)的时候,检验装置400仍然能够在第一时间区段接收一个触发信号,并藉由进行上述的电路操作而得知其内含的储存单元404是否能够正常运作,以便接下来在第二时间区段接收到实际影像资料的时候做出相对应的应对。在此种架构之下,由于资料来源只有一个,因此就可以省去资料切换开关402。
再者,前述的实施例都是在假设其它电路没有问题的情况下进行,因此在出问题的时候可以直接推测出储存单元404有问题。但在考量其它电路也有可能出问题的情况下,并非只有储存单元404才可能导致资料错误的状况。然而,无论是何种状况,总之在检验装置400检查出有问题的时候,该检验装置400的输出就必须被忽略不计。因此,本发明所提供的检验装置400在一般的情况下可以排除大部分可能引起显示错误的电路问题,而非仅能针对储存单元来做检验。
请继续参照图5所示,是本发明一较佳实施例的液晶显示驱动电路容错方法的流程图,其适用液晶显示驱动电路中,且该驱动电路包含有多个驱动电路,而每一个驱动电路中则有多个检验装置。其中,每一个检验装置各自具有一个储存单元以储存驱动信号。而在本实施例中,该检验装置首先必须在测试的时候接收一个预设的触发脉冲(S500),之后再判断该触发脉冲的传递是否正常(S502)。如果经判断发现触发脉冲的传递不正常,则将正在测试的这一个检验装置的输出固定在某一个预先设定好的逻辑电位上(S504)。而一个驱动级所输出的结果,就是该驱动级包含的全部检验装置所输出的逻辑电位经过逻辑运算后的结果(S506)。
同样的,在本实施例中,被判定不正常的检验装置的输出也不可以影响到正常的信号传输。由于相关叙述已在前面先行述明,所以在此不再重复。
更进一步的,请参照图6所示,是本发明一较佳实施例的液晶显示驱动电路容错方法在判断传递是否正常时所使用的流程图。首先,要进行检验操作的检验装置必须把触发信号储存起来(S600),并接着读取储存触发脉冲之处的资料(S602)。之后,判断后来读出的资料的逻辑变化是否与先前所要储存的触发脉冲的逻辑变化相同(S604)。如果两者的逻辑变化相同,则判定该检验装置的资料传递功能正常(S606),否则就判定该检验装置的资料传递功能不正常(S608)。
综上所述,本发明只要简单的电路架构,就能侦测并维护每一个驱动级的正确性。而且无论状况是输出固定为0或输出固定为1,本发明都能尽量使驱动级能够输出正确的输出值。
以上所述,仅是本发明的较佳实施例而已,并非对本发明作任何形式上的限制,虽然本发明已以较佳实施例揭露如上,然而并非用以限定本发明,任何熟悉本专业的技术人员,在不脱离本发明技术方案范围内,当可利用上述揭示的方法及技术内容作出些许的更动或修饰为等同变化的等效实施例,但是凡是未脱离本发明技术方案的内容,依据本发明的技术实质对以上实施例所作的任何简单修改、等同变化与修饰,均仍属于本发明技术方案的范围内。
权利要求
1.一种液晶显示驱动电路的检验装置,适用于具有复数个驱动级的驱动电路中,其特征在于其包括一储存单元,依序在一第一时间区段中接收并储存一第一触发脉冲,在一第二时间区段中接收并储存一第二触发脉冲,并依序输出该第一与第二触发脉冲在该储存单元储存后所得的相对应的一第一移位后信号与一第二移位后信号;一第一数据切换开关,电性耦接至该储存单元的输出,并在该第一时间区段中,将该第一资料切换开关的输出切换成电性耦接至一第一输出路径,在该第二时间区段中,将该第一资料切换开关的输出切换成电性耦接至一第二输出路径;以及一边缘探测器,该边缘探测器的输入端电性耦接至该第一输出路径,且该边缘探测器的输出端电性耦接至该第二输出路径,其中,若在该第一时间区段中没有侦测到边缘产生,则在该第二时间区段中保持该第二输出路径于一预定逻辑电位。
2.根据权利要求1所述的液晶显示驱动电路的检验装置,其特征在于其更包括具有两输入端的一第二资料切换开关,该第二数据切换开关的输出做为该储存单元的输入,且该第二数据切换开关的一个输入端是电性耦接至该驱动级的前两级驱动级的输出以接收该第一触发脉冲,另一个输入端则电性耦接至该驱动级的前一级驱动级的输出以接收该第二触发脉冲。
3.根据权利要求1或2所述的液晶显示驱动电路的检验装置,其特征在于其中所述的储存单元为移位缓存器。
4.一种液晶显示驱动电路,适用于具有复数个驱动级的驱动电路中,其特征在于其中该些驱动级中的任一个包括复数个检验装置,该些检验装置中的每一个分别包括一储存单元,依序在一第一时间区段中接收并储存一第一触发脉冲,在一第二时间区段中接收并储存一第二触发脉冲,并依序输出该第一与第二触发脉冲在该储存单元储存后所得的相对应的一第一移位后信号与一第二移位后信号;一第一数据切换开关,电性耦接至该储存单元的输出,并在该第一时间区段中,将该第一资料切换开关的输出切换成电性耦接至一第一输出路径,再在该第二时间区段中,将该第一资料切换开关的输出切换成电性耦接至一第二输出路径;以及一边缘探测器,该边缘探测器的输入端电性耦接至该第一输出路径,且该边缘探测器的输出端电性耦接至该第二输出路径,其中,若在该第一时间区段中没有侦测到边缘产生,则在该第二时间区段中保持该第二输出路径于一预定逻辑电位;一逻辑运算单元,该逻辑运算单元的接收端分别电性耦接至该些检验装置中的该些第二输出路径,根据该预定逻辑电位执行相对应的一逻辑运算,以使该逻辑运算单元的输出不受该预定逻辑电位的影响;以及一驱动切换开关,在该第一时间区段中切换不电性耦接至由该驱动级所驱动的一像素电路,并在该第二时间区段中切换成电性耦接至该像素电路。
5.根据权利要求4所述的液晶显示驱动电路,其特征在于其中当该预定逻辑电位为逻辑1时,该逻辑运算单元所执行的该逻辑运算为及运算。
6.根据权利要求4所述的液晶显示驱动电路,其特征在于其中当该预定逻辑电位为逻辑0时,该逻辑运算单元所执行的该逻辑运算为或运算。
7.根据权利要求4所述的液晶显示驱动电路,其特征在于其中所述的每一该些检验装置更包括具有两输入端的一第二资料切换开关,该第二资料切换开关的输出做为相对应的该检验装置中的该储存单元的输入,且该第二数据切换开关的一个输入端是电性耦接至该驱动级的前两级驱动级的输出以接收该第一触发脉冲,另一个输入端则电性耦接至该驱动级的前一级驱动级的输出以接收该第二触发脉冲。
8.根据权利要求4所述的液晶显示驱动电路,其特征在于其中所述的该些检验装置的数量为2。
9.根据权利要求4所述的液晶显示驱动电路,其特征在于其中所述的检验装置的储存单元为移位缓存器。
10.一种液晶显示驱动电路,其特征在于其包括一前端驱动级,在测试时接收连续的一第一触发脉冲与一第二触发脉冲;以及复数个后续驱动级,串行电性耦接于该前端驱动级之后,且该些后续驱动级中的每一个的输出是电性耦接至该后续驱动级的后一级与后两级的该些后续驱动级的输入端;其中,该前端驱动级的输出是电性耦接至该前端驱动级的后一级与后两级的该些后续驱动级的输入端。
11.一种液晶显示驱动电路的容错方法,适用于具有复数个检验装置的一驱动级的驱动电路中,其特征在于其中该些检验装置的每一个各自具有一储存单元以储存驱动信号,该液晶显示驱动电路的容错方法包括接收预设的一触发脉冲;检测该触发脉冲经该储存单元的传递是否正常;若该触发脉冲经该储存单元的传递不正常,则维持该检验装置的输出为一预定逻辑电位;以及根据该预定逻辑电位执行相对应之一逻辑运算,以使该逻辑运算之结果不受该预定逻辑电位的影响。
12.根据权利要求11所述的液晶显示驱动电路的容错方法,其特征在于其中检测该触发脉冲经该储存单元的传递是否正常的步骤,更包括将该触发脉冲存入该储存单元中;取得该储存单元中,储存该触发脉冲处的一数据;判断该资料是否与该触发脉冲具相同逻辑变化;以及当该数据与该触发脉冲具相同逻辑变化,则判定该触发脉冲的传递为正常,否则即判定该触发脉冲的传递为不正常。
13.根据权利要求11所述的液晶显示驱动电路的容错方法,其特征在于所述的液晶显示驱动电路其中当该预定逻辑电位为逻辑1时,该逻辑运算为及运算。
14.根据权利要求11所述的液晶显示驱动电路的容错方法,其特征在于所述的液晶显示驱动电路其中当该预定逻辑电位为逻辑0时,该逻辑运算为或运算。
全文摘要
本发明是关于一种液晶显示驱动电路及其使用的检验装置与容错方法,该液晶显示驱动电路的驱动级具有多个检验装置、逻辑运算单元与驱动切换开关。检验装置包括储存单元、资料切换开关与边缘探测器。其是以边缘变化是否正确来检验储存单元的运作是否正常,并将出现问题的储存单元的输出设定在一固定的逻辑电位上,再对不同逻辑电位设定值使用不同的逻辑运算。藉此只要简单电路架构就能侦测每一驱动级中最容易产生问题的储存单元的正确性,并在储存单元出现问题时,不会受到储存单元的问题是输出固定为0或输出固定为1的影响,而能保持其该有的输出值,因此能以较简易电路来同时避免移位缓存器中可能出现的输出固定为0与输出固定为1的两种情况,从而非常适于实用。
文档编号G09G5/00GK1549238SQ031238
公开日2004年11月24日 申请日期2003年5月16日 优先权日2003年5月16日
发明者吕世香 申请人:友达光电股份有限公司
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