画质检测电路、画质检测方法及液晶面板的制作方法

文档序号:2567347阅读:136来源:国知局
专利名称:画质检测电路、画质检测方法及液晶面板的制作方法
技术领域
本发明涉及半导体制造技术领域,特别涉及一种画质检测电路、画质检测方法及 液晶面板。
背景技术
薄膜晶体管液晶显示器(TFTIXD)包含阵列排列的薄膜晶体管、匹配电容、驱动单 元和其他用以驱动像素以获得丰富图像的电学元件。由于TFTLCD具有体积小、低功耗、无 辐射的优点,使得其具有逐步取代传统的CRT、而利用于笔记本电脑、个人数字助理等数码 产品上的趋势。图1为液晶面板的结构示意图;图2为数据驱动电路的结构示意图。如图1所示, 液晶显示器10包含下基板12和置于所述下基板12之上的上基板14,液晶层(未示出)填 充于所述上基板14和下基板12之间,液晶显示器包含多条扫描线16和数据线18,通常,各 所述扫描线16和数据线18被置于下基板12上,每条扫描线16垂直于每条数据线18。下基板12包含至少一个扫描线驱动单元装备区20,用以装备扫描线驱动单元(未 示出);和,多个数据线驱动单元装备区22,用以装备数据线驱动单元(未示出)。其中, 扫描线驱动单元向每条扫描线16输出时钟信号,数据线驱动单元向每条数据线18输出图 像数据。如图1和图2所示,每个数据线驱动单元装备区22包括短路棒24和多个绑定区 26 (bounding pads),在各数据线驱动单元装备区22内,每条数据线18与所述短路棒24相 连,每个绑定区用以绑定所述数据线驱动单元的每个触脚(bump),扫描线驱动单元装备区 20的内部结构与上述数据线驱动单元装备区的内部结构类似,不再赘述。其中,所述短路 棒24通常为金属层,在具体制造过程中,所述短路棒通常与液晶显示面板的栅极金属层或 者源/漏极金属层一并形成,且通常与栅极金属层或者源/漏极金属层为同种材料。通常,在将每个数据线驱动单元和扫描线驱动单元绑定在数据线驱动单元装备区 和扫描线驱动单元装备区之前,需要进行画质检测(visual test),以检测是否存在不正常 的色彩显示。在画质检测完成后,需保证各个信号线的独立性,以便在绑定数据线驱动单元 和扫描线驱动单元后,产品能正常工作。目前,为在画质检测完成后能获得独立的各个信号线,有两种可选方案,第一种方 案是短路_激光烧断法,第二种方案是TFT开关法。第一种方案是在进行画质检测时,用一根短路棒24把分在一组的所有信号线连 接在一起(如图3所示,以所述信号线为扫描线16为例,作为示例,假设扫描线有4根,按 照奇偶分为两组),画质检测完成后,将信号线(如扫描线16)与短路棒24之间的连接用激 光烧断(如图4所示)。第二种方案是在导电引线和信号线之间做一个TFT开关器件,这个器件的特点是 在开关上加高电压时,开关打开;加低电压时,开关关闭。因此,在开关上加高电压,开关打 开,信号线和短路棒之间电导通,可进行画质检测;画质检测结束后,在开关上加低电压,开 关关闭,信号线与短路棒之间断开,从而可进入下一工序。
然而,实际生产发现,采用上述两种方案时,各有其缺点采用第一种方案时,要在画质检测完成后,增加一道工序,以将信号线和短路棒之间的连接烧断,延长了产品的加工 时间,增加了生产成本;采用第二种方案时,主要考虑以下两个方面,一是由于TFT本身的 限制,在开关关闭时,不可能关闭得很严,会有少量的漏电流;二是TFT需要占用一定的空 间,在采用某些驱动单元时,无法实现。此外,采用上述两种方案时,在画质检测之后,已失 去作用的短路棒仍残留在液晶面板上,而在液晶面板上存在多余的走线,易于增加产生静 电的几率,此外所述的多余的走线会占用一定空间,也不利于液晶显示器窄边框的发展趋 势。

发明内容
本发明提供了一种画质检测电路,在画质检测完成后,在基板上不会残留多余的走线。本发明提供了一种画质检测方法,在画质检测完成后,在基板上不会残留多余的走线。本发明提供了一种液晶面板,在画质检测完成后,在基板上不会残留多余的走线。本发明提供的一种画质检测电路,用以对信号线组进行画质检测,所述信号线组 包含至少两条信号线,各所述信号线具有接触区;所述画质检测电路包括活动导电引线, 用以与各所述信号线的接触区进行活动连接。可选地,所述信号线组的数目大于或等于2 ;可选地,在所述接触区上形成有导电 氧化物层,所述活动导电引线经由所述导电氧化物层与各所述信号线进行连接;可选地,各 所述信号线组内的接触区位于同一直线上;可选地,所述导电氧化物为氧化铟锡或氧化铟 锌;可选地,所述活动导电引线为导电橡胶;可选地,所述活动导电引线具有导电接触区, 所述活动导电引线经由所述导电接触区接于各所述信号线;可选地,所述导电接触区为导 电橡胶;可选地,所述信号线为扫描线或数据线。本发明提供的一种画质检测方法,包括以活动导电引线连接各信号线;向所述信号线提供驱动信号,所述驱动信号经由所述活动导电引线传输至画质检 测单元以进行画质检测;画质检测完成后,移除所述活动导电引线。可选地,所述活动导电引线经由导电氧化物层与所述信号线连接,所述导电氧化 物层形成于所述信号线的接触区上;可选地,所述导电氧化物为氧化铟锡或氧化铟锌;可 选地,所述活动导电引线为导电橡胶;可选地,所述活动导电引线经由其内的导电接触区与 各所述信号线连接;可选地,所述导电接触区为导电橡胶;可选地,所述信号线为扫描线或 数据线。本发明提供的一种液晶面板,包括第一基板,第二基板,所述第二基板与所述第一基板相对;及液晶层,置于所述第一基板和第二基板之间,其中,所述第一基板包含至少两个信号线组,各所述信号线组包含至少两条信号线;各所述信号线上均具有接触区,所述接触区用以与导电引线电连接以进行画质检测,各 所述接触区之间电绝缘。可选地,各所述信号线组内的接触区位于同一直线上;可选地,各所述接触区上形 成有导电氧化物层;可选地,所述导电氧化物为氧化铟锡或氧化铟锌;可选地,所述信号线 为扫描线或数据线;可选地,所述液晶面板具有显示区与非显示区,所述接触区位于所述非 显示区。与现有技术相比,上述技术方案具有以下优点上述技术方案提供的画质检测电路,通过引入活动导电引线,可在进行画质检测 时,利用所述活动导电引线向画质检测单元传递用以检测的信号;而在画质检测完成后,所 述活动导电引线被移除,可在画质检测完成后,在基板上不会残留多余的走线。上述技术方案提供的画质检测方法,通过在进行画质检测时,利用所述活动导电引线向画质检测单元传递用以检测的信号;而在画质检测完成后,移除所述活动导电引线, 可在画质检测完成后,在基板上不会残留多余的走线。上述技术方案提供的液晶面板,通过在进行画质检测时,引入活动导电引线,;而 在画质检测完成后,移除所述活动导电引线,可在画质检测完成后,在基板上不会残留多余 的走线。此外,本发明的技术方案不需要设置如背景技术的短路棒,有利于液晶显示器的 边框减窄。进一步地,本发明由于不需要设置短路棒,因而简化了制造工艺,节省了生产成 本。


图1为现有技术中液晶面板的结构示意图;图2为现有技术中数据驱动电路的结构示意图;图3为现有技术中采用短路_激光烧断法进行画质检测时的结构示意图;图4为现有技术中采用短路_激光烧断法进行画质检测后的结构示意图;图5为本发明画质检测方法实施例中其上形成有导电氧化物的信号线接触区的 剖视图;图6为应用本发明画质检测方法实施例提供的画质检测方法进行画质检测时的 剖视图。
具体实施例方式尽管下面将参照附图对本发明进行更详细的描述,其中表示了本发明的优选实施 例,应当理解本领域技术人员可以修改在此描述的本发明而仍然实现本发明的有利效果。 因此,下列的描述应当被理解为对于本领域技术人员的广泛教导,而并不作为对本发明的 限制。为了清楚,不描述实际实施例的全部特征。在下列描述中,不详细描述公知的功能 和结构,因为它们会使本发明由于不必要的细节而混乱。应当认为在任何实际实施例的开 发中,必须做出大量实施细节以实现开发者的特定目标,例如按照有关系统或有关商业的 限制,由一个实施例改变为另一个实施例。另外,应当认为这种开发工作可能是复杂和耗费时间的,但是对于本领域技术人员来说仅仅是常规工作。在下列段落中参照附图以举例方式更具体地描述本发明。根据下列说明和权利要 求书本发明的优点和特征将更清楚。需说明的是,附图均采用非常简化的形式且均使用非 精准的比率,仅用以方便、明晰地辅助说明本发明实施例的目的。通常,在将每个数据线驱动单元和扫描线驱动单元绑定在数据线驱动单元装备区 和扫描线驱动单元装备区之前,需要进行画质检测(visual test),以检测是否存在不正常 的色彩显示。在画质检测完成后,需保证各个信号线的独立性,以便在绑定数据线驱动单元 和扫描线驱动单元后,产品能正常工作。
在实际生产中,为在画质检测完成后获得独立的各个信号线,无论采用短路_激 光烧断法,还是TFT开关法,都将用到短路棒,用以与各所述信号线进行同步连接,以进行 画质检测,且在完成画质检测之后,已失去作用的短路棒将残留在液晶面板上,而在液晶面 板上存在多余的走线,易于增加产生静电的几率。此外所述的多余的走线会占用一定空间, 也不利于液晶显示器窄边框的发展趋势。为此,本发明的发明人提出了一种画质检测方法,通过在进行画质检测时,利用易 于去除的活动导电引线向画质检测单元传输用以进行画质检测的信号;而在画质检测完成 后,移除所述活动导电引线,可在画质检测完成后,在基板上不会残留多余的走线,进而,降 低产生静电的几率。进一步地,由于本发明的画质检测方法中的液晶面板可以省去短路棒, 因此有利于液晶显示器窄边框的发展趋势。此外,本发明的画质检测方法中的液晶面板由 于省去短路棒,因此可以极大地降低制造成本,简化制造工艺。作为本发明提供的画质检测方法的第一实施例,进行画质检测的具体步骤包括首先,以活动导电引线连接各信号线;用以将分在一组的所有信号线短路在一起, 进行同步检测。本实施例中,所述信号线为扫描线;所述活动导电引线为导电橡胶。只需将所述导 电橡胶压合于各所述扫描线上,即可实现所述活动导电引线与各所述扫描线的同步连接。随后,向所述信号线提供驱动信号,所述驱动信号经由所述活动导电引线传输至 画质检测单元以进行画质检测。所述驱动信号为扫描信号;所述扫描信号经由扫描线传输至所述导电橡胶处,再 经由所述导电橡胶传输至画质检测单元以进行画质检测。所述画质检测单元意指实际生产 中借以进行画质检测的模块或设备。本领域技术人员可应用任何传统方法对传输至所述画 质检测单元的信号进行画质检测,不再赘述。本发明提供的画质检测方法引入活动导电引线,如导电橡胶,使所述活动导电引 线既可在进行画质检测时,传输检测信号;又可在画质检测完成后,易于被移除,而在基板 上不会残留多余的走线。最后,画质检测完成后,移除所述活动导电引线。第一实施例中,在画质检测完成后,为移除所述活动导电引线,只需将作为所述活 动导电引线的导电橡胶撕除即可。在本发明画质检测方法的第二实施例中,所述信号线还可为数据线。此实施例中, 所述活动导电引线仍可为导电橡胶。只需将所述导电橡胶压合于各所述数据线上,即可实 现所述活动导电引线与各所述信号线的同步连接。因此第二实施例与第一实施例的区别仅在于进行画质检测的信号线的选取有所不同,第一实施例中信号线选取的是扫描线,而第 二实施例中信号线选取的是信号线。在本发明画质检测方法的第三实施例中,所述活动导电引线中可包括导电接触 区,所述导电接触区为导电橡胶,所述活动导电引线经由导电橡胶与各所述信号线连接;第 三实施例与第一及第二实施例的区别在于所述活动导电引线的结构不同。换言之,所述活 动导电引线中只有与所述信号线连接的部分为导电橡胶,其他部分可为任何导电材料,只 需保证利用所述活动导电引线可将检测信号由信号线传输至所述画质检测单元即可。优选 地,在本发明的具体实施方式
中各所述信号线组内的接触区位于同一直线上。当然在本发 明的某些其他实施方式中,各所述信号线组内的接触区也可以不位于同一直线上,此种情 形下,可以通过改变所述活动导电引线的构型,例如折线形来与之相适应。在第一至第三实施例中,可在所述信号线上定义接触区,所述活动导电引线经由 所述接触区与各所述信号线进行连接;所述接触区为所述信号线上的确定区域,所述接触 区用以与导电引线电连接以进行画质检测。
在本发明画质检测方法的第四实施例中,在所述接触区上可形成有导电氧化物 层,具体地,所述导电氧化物材料可为氧化铟锡或氧化铟锌,此时,所述活动导电引线经由 所述导电氧化物层与各所述信号线进行连接。这是因为,无论所述信号线为扫描线还是数 据线,在实际生产中,所述信号线的材料均通常为金属,将其暴露于工艺环境中,易于在制 程涉及的各步骤中或各步骤之间的间隔中被氧化。而在所述信号线上形成所述导电氧化物 层后,所述导电氧化物层既可作为防止金属被氧化的保护层,又由于其自身具有的导电性 质,而不会影响检测信号的传输。实际生产中,形成所述导电氧化物层无需增加整个液晶面板的制造工艺步骤。首 先,所述接触区的图形可以与液晶面板的像素电极或共用电极的刻蚀图形在同一步蚀刻工 艺中形成。具体地,如图5所示,在刻蚀覆盖所述信号线120的绝缘层140时,通过改变刻 蚀图形,一并蚀刻出接触区的图形与液晶面板的像素电极或共用电极的图形。其次,所述导 电氧化物层160可与液晶显示器中像素电极或共用电极同步形成。具体地,第四实施例中 所述导电氧化物层与所述像素电极或共用电极的材料均为氧化铟锡,因此可在形成所述像 素电极或共用电极时一并形成所述导电氧化物层。应用第四实施例进行画质检测时,如图6所示,所述活动导电引线180(如导电橡 胶)经由所述导电氧化物层160与所述信号线120进行连接。本发明还提供了一种画质检测电路,用以对信号线组进行画质检测,所述信号线 组包含至少两条信号线,各所述信号线具有接触区;所述画质检测电路包括活动导电引线,用以与各所述信号线的接触区进行活动连接。在所述画质检测电路的第一实施例中,所述信号线为扫描线。所述活动导电引线 为导电橡胶。利用所述画质检测电路进行画质检测时,只需将所述导电橡胶压合于各所述 扫描线上,即可实现所述活动导电引线与各所述扫描线的连接。所述画质检测单元意指实 际生产中借以进行画质检测的模块或设备。本领域技术人员可应用任何传统方法对传输至 所述画质检测单元的信号进行画质检测,不再赘述。在画质检测完成后,只需将作为所述活 动导电引线的导电橡胶撕除即可。画质检测电路第一实施例与传统的画质检测电路的区别即在于引入活动导电引线,如导电橡胶,替代传统工艺中形成于基板上的导电引线,使所述活动导电引线既可在进 行画质检测时,传输检测信号;又可在画质检测完成后,易于被移除,而在基板上不会残留 多余的走线。在本发明画质检测电路的第二实施例中,所述信号线还可为数据线。此实施例中, 所述活动导电引线仍可为导电橡胶。只需将所述导电橡胶压合于各所述数据线上,即可实 现所述活动导电引线与各所述信号线的同步连接。画质检测电路第二实施例与第一实施例 的区别仅在于进行画质检测的信号线的选取有所不同,第一实施例中信号线选取的是扫 描线,而第二实施例中信号线选取的是信号线。
在本发明画质检测电路的第三实施例中,所述活动导电引线中可包括导电接触 区,所述导电接触区为导电橡胶,所述活动导电引线经由导电橡胶与各所述信号线连接;画 质检测电路第三实施例与第一及第二实施例的区别在于所述活动导电引线的结构不同。 换言之,所述活动导电引线中只有与所述信号线连接的部分为导电橡胶,其他部分可为任 何导电材料,只需保证利用所述活动导电引线可将检测信号由信号线传输至所述画质检测 单元即可。在上述画质检测电路第一至第三实施例中,可在所述信号线上定义接触区,所述 活动导电引线经由所述接触区与各所述信号线进行连接;所述接触区为所述信号线上的确 定区域,所述接触区用以与导电引线电连接以进行画质检测。在本发明画质检测电路的第四实施例中,在所述接触区上可形成有导电氧化物 层,具体地,所述导电氧化物材料可为氧化铟锡或氧化铟锌,此时,所述活动导电引线经由 所述导电氧化物层与各所述信号线进行连接。这是因为,无论所述信号线为扫描线还是数 据线,在实际生产中,所述信号线的材料均通常为金属,将其暴露于工艺环境中,易于在制 程涉及的各步骤中或各步骤之间的间隔中被氧化。而在所述信号线上形成所述导电氧化物 层后,所述导电氧化物层既可作为防止金属被氧化的保护层,又由于其自身具有的导电性 质,而不会影响检测信号的传输。通过引入活动导电引线,可在进行画质检测时,利用所述活动导电引线向画质检 测单元传递用以检测的信号;而在画质检测完成后,所述活动导电引线被移除,可在画质检 测完成后,在基板上不会残留多余的走线。本发明还提供了一种液晶面板,包括第一基板,第二基板,所述第二基板与所述 第一基板相对;及液晶层,置于所述第一基板和第二基板之间,其中,所述第一基板包含 至少两个信号线组,各所述信号线组包含至少两条信号线;各所述信号线上均具有接触区, 所述接触区用以与导电引线电连接以进行画质检测,各所述接触区之间电绝缘。在所述液晶面板的各实施例中,所述信号线可为扫描线或数据线;在各所述接触 区上可形成有导电氧化物层;活动导电引线可经由所述导电氧化物层与各所述信号线进行 连接。所述导电氧化物层既可作为防止金属被氧化的保护层,又由于其自身具有的导电性 质,而不会影响检测信号的传输。所述导电氧化物为氧化铟锡或氧化铟锌。所述液晶面板 具有显示区与非显示区,所述接触区位于所述非显示区。通过在进行画质检测时,引入活动导电引线;而在画质检测完成后,移除所述活动 导电引线,可在画质检测完成后,在基板上不会残留多余的走线。本发明的技术方案不需要设置如背景技术的短路棒,有利于液晶显示器的边框减窄。进一步地,本发明由于不需要设置短路棒,因而简化了制造工艺步骤,节省了生产成本。需强调的是,未加说明的步骤均可采用传统的方法获得,且具体 的工艺参数根据 产品要求及工艺条件确定。尽管通过在此的实施例描述说明了本发明,和尽管已经足够详细地描述了实施 例,申请人不希望以任何方式将权利要求书的范围限制在这种细节上。对于本领域技术人 员来说另外的优势和改进是显而易见的。因此,在较宽范围的本发明不限于表示和描述的 特定细节、表达的设备和方法和说明性例子。因此,可以偏离这些细节而不脱离申请人总的 发明概念的精神和范围。
权利要求
一种画质检测电路,用以对信号线组进行画质检测,其特征在于,所述信号线组包含至少两条信号线,各所述信号线具有接触区;所述画质检测电路包括活动导电引线,用以与各所述信号线的接触区进行活动连接。
2.根据权利要求1所述的画质检测电路,其特征在于所述信号线组的数目大于或等 于2。
3.根据权利要求1所述的画质检测电路,其特征在于在所述接触区上形成有导电氧 化物层,所述活动导电引线经由所述导电氧化物层与各所述信号线进行连接。
4.根据权利要求3所述的画质检测电路,其特征在于各所述信号线组内的接触区位于同一直线上。
5.根据权利要求3所述的画质检测电路,其特征在于所述导电氧化物为氧化铟锡或氧化铟锌。
6.根据权利要求1所述的画质检测电路,其特征在于所述活动导电引线为导电橡胶。
7.根据权利要求1所述的画质检测电路,其特征在于所述活动导电引线具有导电接 触区,所述活动导电引线经由所述导电接触区接于各所述信号线。
8.根据权利要求7所述的画质检测电路,其特征在于所述导电接触区为导电橡胶。
9.根据权利要求1所述的画质检测电路,其特征在于所述信号线为扫描线或数据线。
10.一种画质检测方法,其特征在于,包括 以活动导电引线连接各信号线;向所述信号线提供驱动信号,所述驱动信号经由所述活动导电引线传输至画质检测单 元以进行画质检测;画质检测完成后,移除所述活动导电引线。
11.根据权利要求10所述的画质检测方法,其特征在于所述活动导电引线经由导电 氧化物层与所述信号线连接,所述导电氧化物层形成于所述信号线的接触区上。
12.根据权利要求11所述的画质检测方法,其特征在于所述导电氧化物为氧化铟锡 或氧化铟锌。
13.根据权利要求10所述的画质检测方法,其特征在于所述活动导电引线为导电橡胶。
14.根据权利要求10所述的画质检测方法,其特征在于所述活动导电引线经由其内 的导电接触区与各所述信号线连接。
15.根据权利要求14所述的画质检测方法,其特征在于所述导电接触区为导电橡胶。
16.根据权利要求10所述的画质检测方法,其特征在于所述信号线为扫描线或数据线。
17.一种液晶面板,包括第一基板,第二基板,所述第二基板与所述第一基板相对;及 液晶层,置于所述第一基板和第二基板之间,其中,所述第一基板包含至少两个信号线组,各所述信号线组包含至少两条信号线; 各所述信号线上均具有接触区,所述接触区用以与导电引线电连接以进行画质检测,各所 述接触区之间电绝缘。
18.根据权利要求17所述的液晶面板,其特征在于各所述信号线组内的接触区位于 同一直线上。
19.根据权利要求17所述的液晶面板,其特征在于各所述接触区上形成有导电氧化物层。
20.根据权利要求19所述的液晶面板,其特征在于所述导电氧化物为氧化铟锡或氧 化铟锌。
21.根据权利要求17所述的液晶面板,其特征在于所述信号线为扫描线或数据线。
22.根据权利要求17所述的液晶面板,其特征在于所述液晶面板具有显示区与非显 示区,所述接触区位于所述非显示区。
全文摘要
一种画质检测电路,用以对信号线组进行画质检测,所述信号线组包含至少两条信号线;所述画质检测电路包括活动导电引线,用以与各所述信号线的接触区进行活动连接。本发明还提供了一种画质检测方法和一种液晶面板,均可在画质检测完成后,在基板上不会残留多余的走线。
文档编号G09G3/00GK101833909SQ20091004759
公开日2010年9月15日 申请日期2009年3月10日 优先权日2009年3月10日
发明者赵剑 申请人:上海天马微电子有限公司
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