边16左右两端的刻度9以及刻度13进行类似刻度6以及刻度10的设置，在此不做赘述。竖边15的刻度8的起始位置位于竖边15的下端，即图2中刻度8为O的位置，并平行竖边15向上延伸。同样，竖边17上下两端的刻度11以及刻度12进行类似刻度7以及刻度8的设置，在此不做赘述。可见通过在ID层四条边均设置刻度，以便于分别判定对字母码3的字母A以及数字码4的数字5位置的偏移量是否在正常范围内。并可以同时通过刻度7、刻度8、刻度11或刻度12对二维码5相对横边14以及横边16位置的偏移量是否在正常范围内进行判定，以便更准确的对ID码I的位置的偏移量是否在正常范围内进行判定。
[0040]对本发明一实施例，图2以及图3中的ID层2可以为涂覆在基板上的膜，而ID码I以及各刻度也可均由经刻蚀后的膜形成，即ID层2、ID码I以及各刻度均为涂覆在基板上的膜。
[0041 ] 其中，上述的实施例的横向长度标志以及纵向长度标志均使用刻度的形式实现。实际上，亦可以采用其他的形式，如在ID层外围特定设置对应的标记。另外，上述的刻度形式实际上也不限于从ID层横边或竖边的一特定位置进行延伸，如上述实施例是在ID层的角部作为刻度的起始位置，实际上亦可以ID层横边或竖边其他位置作为刻度的起始。而具体设置方式本领域技术人员可以根据上述实施例进行灵活选择，而只需使得检测人员易于根据横向长度标志以及纵向长度标志判定ID码I的位置的偏移量是否在正常范围内即可。
[0042]本发明还公开了一种形成用于监测基板的ID位置的结构的方法，包括:
[0043]将基板的标识设置在该基板上，该标识用于识别该基板；
[0044]在该标识的横向侧，设置横向长度标志，以用于判断该标识的横向位置是否偏移；
[0045]在该标识的竖向侧，设置竖向长度标志，以用于判断该标识的竖向位置是否偏移。
[0046]该横向长度标志以及该竖向长度标志均为刻度。其中该横向长度标志以及该竖向长度标志均为刻度，该横向长度标志为该横边的该刻度，该竖向长度标志为该竖边的该刻度。
[0047]本发明还公开了一种形成用于监测基板的ID位置的结构的方法的另一实施例，包括:
[0048]该标识为ID码，将该ID码置于一矩形的ID层上，该ID层置于该基板上；
[0049]将该横向长度标志以及该竖向长度标志设置于该ID层的边缘。
[0050]该横边的该刻度的起始位置位于ID层的横边的一端，并平行横边方向延伸；该竖边的该刻度的起始位置位于ID层的竖边的一端，并平行竖边方向延伸；该横边的该刻度用于判断该ID码相对该ID层竖边是否偏移；该竖边的该刻度用于判断该ID码相对该ID层横边是否偏移。
[0051]该横边的该刻度以及该竖边的该刻度的长度为600-800um。
[0052]该横边的刻度为四条，每条横边的两端各为一平行横边方向延伸的该刻度的起点；该竖边的刻度为四条，每一条竖边的两端各为一一平行竖边方向延伸的该刻度的起点。
[0053]对于一种实施例，该ID码包括字母码、数字码及/或二维码；该ID层的一侧横向排列有字母码、该ID层的另一侧横向排列刻蚀有数字码，该字母码与该数字码之间刻蚀二维码。当然，字母码、数字码及/或二维码的实际排列方式可依使用者实际需求进行调整。ID排列方式在二维码的两侧可全为数字码或字母码，或是数字码与字母码同时使用。
[0054]位于该ID层的该一侧的横边的该刻度用于判断该字母码相对该ID层的该一侧的竖边是否偏移；位于该ID层的横边的该另一侧的横边的该刻度用于判断该数字码相对该ID层的该另一侧的竖边是否偏移；
[0055]该ID层的该一侧的竖边的的该刻度用于判断该字母码相对该ID层的该一侧的横边的是否偏移；该ID层的该另一侧的横边的该刻度用于判断该数字码相对该ID层右侧的竖边的是否偏移；
[0056]该竖边的该刻度还用于判断该二维码相对该ID层的横边是否偏移。
[0057]图4a、4b、4c为根据本发明示例实施方式的基板的标识结构的制作流程图。参考图4a，在基板24上涂敷有膜23，在黄光部的工艺的曝光步骤，光线通过光罩21将横向长度标志以及该纵向长度标志的图形曝光于光刻胶22上；参考图4b，在显影步骤将横向长度标志以及该纵向长度标志形成于光刻胶22上；参考图4c，在刻蚀步骤将膜23上刻蚀出横向长度标志以及该纵向长度标志，即横向长度标志以及该纵向长度标志为图4c中的经刻蚀后的膜23形成在玻璃基板24上。
[0058]同时，上述的ID码也可以采用相似的方式，形成在玻璃基板上，即ID码以及横向长度标志以及该纵向长度标志采用相同的工艺，通过刻蚀后的膜形成在玻璃基板上。
[0059]综上所述，本发明通过在基板上的标识的周围设置横向长度标志以及纵向长度标志，对标识的横向偏移量以及纵向偏移量提供标准，以便于检测人员对标识的位置是否符合标准进行判断。解决了检测人员以人眼辨识来判断标识的位置是否正常，在无任何标准基础依据下，皆只能以感觉去评判，无法在第一时间立即判断是否正常的问题。
[0060]虽然已参照几个典型实施例描述了本发明，但应当理解，所用的术语是说明和示例性、而非限制性的术语。由于本发明能够以多种形式具体实施而不脱离本发明的精神或实质，所以应当理解，上述实施例不限于任何前述的细节，而应在所附权利要求所限定的精神和范围内广泛地解释，因此落入权利要求或其等效范围内的全部变化和改型都应为所附权利要求所涵盖。
【主权项】
1.一种用于基板的标识结构，包括设置在该基板上的标识，该标识用于识别该基板，其特征在于，所述标识结构包括: 横向长度标志，设置在该标识的横向侧，以用于判断该标识的横向位置是否偏移； 竖向长度标志，设置在该标识的竖向侧，以用于判断该标识的竖向位置是否偏移。
2.如权利要求1所述的标识结构，其中该横向长度标志以及该竖向长度标志均为刻度，该横向长度标志为该横边的该刻度，该竖向长度标志为该竖边的该刻度。
3.如权利要求2所述的标识结构，其中， 该标识为ID码，该ID码形成于一矩形的ID层上，该ID层置于该基板上； 将该横边的该刻度以及该竖边的该刻度设置于该ID层的边缘。
4.如权利要求3所述的标识结构，其中，该横边的该刻度的起始位置位于ID层的横边的一端，并平行横边方向延伸；该竖边的该刻度的起始位置位于ID层的竖边的一端，并平行竖边方向延伸；该横边的该刻度用于判断该ID码相对该ID层竖边是否偏移；该竖边的该刻度用于判断该ID码相对该ID层横边是否偏移。
5.如权利要求4所述的基板，其中， 该横边的该刻度以及该竖边的该刻度的长度为600-800um。
6.如权利要求4所述的基板，其中，该横边的刻度为四条，每条横边的两端各为一平行横边方向延伸的该刻度的起点；该竖边的刻度为四条，每一条竖边的两端各为一一平行竖边方向延伸的该刻度的起点。
7.如权利要求3所述的标识结构，其中，ID层为涂覆在该基板上的膜，ID码以及该刻度均由经刻蚀后的该膜形成。
8.如权利要求3所述的基板，其中， 该ID码包括字母码、数字码及/或二维码； 该字母码、数字码及/或二维码在该ID层的成一排横向排列。
9.一种形成基板的标识结构的方法，包括: 将基板的标识设置在该基板上，该标识用于识别该基板； 在该标识的横向侧，设置横向长度标志，以用于判断该标识的横向位置是否偏移； 在该标识的竖向侧，设置竖向长度标志，以用于判断该标识的竖向位置是否偏移。
10.如权利要求9所述的方法，其中，其中该横向长度标志以及该竖向长度标志均为刻度，该横向长度标志为该横边的该刻度，该竖向长度标志为该竖边的该刻度。
11.如权利要求10所述的方法，其中， 该标识为ID码，将该ID码置于一矩形的ID层上，该ID层置于该基板上； 将该横边的该刻度以及该竖边的该刻度设置于该ID层的边缘。
12.如权利要求11所述的方法，其中，该横边的该刻度的起始位置位于ID层的横边的一端，并平行横边方向延伸；该竖边的该刻度的起始位置位于ID层的竖边的一端，并平行竖边方向延伸；该横边的该刻度用于判断该ID码相对该ID层竖边是否偏移；该竖边的该刻度用于判断该ID码相对该ID层横边是否偏移。
13.如权利要求12所述的方法，其中，该横边的该刻度以及该竖边的该刻度的长度为600_800umo
14.如权利要求12所述的方法，其中，该横边的刻度为四条，每条横边的两端各为一平行横边方向延伸的该刻度的起点；该竖边的刻度为四条，每一条竖边的两端各为一一平行竖边方向延伸的该刻度的起点。
15.如权利要求11所述的方法，其中， 该ID码包括字母码、数字码及/或二维码； 该字母码、数字码及/或二维码在该ID层的成一排横向排列。
16.如权利要求9-15任一权利要求所述的方法，其中，形成基板的标识结构的方法包括:在基板上涂敷有膜，在黄光部的工艺中， 在曝光步骤将该横向长度标志以及该纵向长度标志的图形曝光于光刻胶上； 在显影步骤将该横向长度标志以及该纵向长度标志形成于光刻胶上； 在刻蚀步骤将该膜上刻蚀出该横向长度标志以及该纵向长度标志，该横向长度标志以及该纵向长度标志为由经刻蚀后的该膜形成在玻璃基板上。
17.一种基板，其特征在于，包括基板以及如权利要求1-8任一权利要求所述的标识结构。
【专利摘要】本发明公开了一种用于基板上的标识结构、基板以及形成基板的标识结构的方法，标识结构包括设置在该基板上的标识，标识用于识别该基板，所述标识结构包括：横向长度标志，设置在标识的横向侧，以用于判断标识的横向位置是否偏移；竖向长度标志，设置在标识的竖向侧，以用于判断标识的竖向位置是否偏移。本发明通过在基板上的标识的周围设置横向长度标志以及纵向长度标志，对标识的横向偏移量以及纵向偏移量提供标准，以便于检测人员对标识的位置是否符合标准进行判断。解决了检测人员以人眼辨识来判断标识的位置是否正常，在无任何标准基础依据下，皆只能以感觉去评判，无法在第一时间立即判断是否正常的问题。其中，上述的标识可以是ID码。
【IPC分类】G09F3-02, G06K19-06, G03F7-00
【公开号】CN104637395
【申请号】CN201310565541
【发明人】吴韦良, 刘健行, 黄正义
【申请人】上海和辉光电有限公司
【公开日】2015年5月20日
【申请日】2013年11月13日