专利名称：显示板的检查方法及装置的制作方法
技术领域：
本发明是有关于液晶显示面板及玻璃基板等的显示板的检查方法及装置。
背景技术：
如液晶显示面板的显示板，将会被进行闪光检查其含有液晶组件的画素是否正确。就此种自动闪光检查方法及装置之一而言，已知有专利文献1所揭示的技术。
专利文献1日本特开平10-160628号公报。
在此现有技术中，是在将可变更偏光方向的偏光滤镜予以配置于CCD照相机与显示板之间，使透过显示板的光通过偏光滤镜并以CCD照相机进行检测之际，通过将偏光滤镜所导致的偏光方向予以依序变更，而检测出易于看出的突起及异物等的偏光依存性部。
发明内容
在此现有技术中，由于经常须使透过显示板的光通过偏光滤镜，故在以CCD照相机获得画像信息之际必须变更因偏光滤镜造成的偏光角度，同时检测出显示板本身的缺陷。因此，使得偏光滤镜本身或该驱动机构的构造复杂并且价格高昂。
本发明的目的，是在于毋须使用复杂的构造的偏光滤镜或驱动机构即可检测出显示板的缺陷。
有关本发明的检查方法，是包含采用由显示板朝向光检测手段的第1光所形成的第1画像信号；以及相对于前述显示板所形成的偏光角度，将前述第1光予以通过具有90°不同的偏光角度的偏光滤镜的第2光所形成的第2画像信号，而获得前述显示板的真实的缺陷信息。
有关本发明的检查装置，是包含接受应检查的显示板的夹座顶部(chuck top)；备有通电至前述显示板的数个探针的探测单元；将来自前述显示板的光检测出作为电气信号的光检测手段；相对于前述显示板所形成的偏光角度具有90°不同偏光角度，并配置成可在从前述显示板朝向前述光检测手段的光的通路中进出的偏光滤镜；以及使用来自前述显示板的光中不透过前述偏光滤镜的第1光所形成的第1画像信号与透过前述偏光滤镜的第2光所形成的第2画像信号，而获得前述显示板的真实的缺陷信息的画像处理装置。
第1光，是可通过使偏光滤镜置换至第1光的通路外的位置获得。相对于此，第2光，则是可通过使偏光滤镜置换至此将第1光的通路遮断的位置获得。第1及第2画像信号，是可分别通过如CCD照相机般的光检测手段以检测第1及第2光的方式获得。
以未经偏光滤镜的第1光所形成的第1画像信号，是含有显现显示板本身的状态的基板信号(包含真实的缺陷信号)；以及显现导致光的乱反射的尘埃及伤痕等异物存在的异物信号。但是，经由偏光滤镜的第2光所形成的第2画像信号，虽含有异物信号，但不含基板信号。
因此，显示板的真实的缺陷信息，是可通过采用第2画像信号中的异物信号并去除第1画像信号中的异物信号而获得。
根据本发明，仅须使偏光滤镜选择性地在形成第1光的通路外的位置与遮断第1光的位置间置换即可，故不须采用复杂结构的偏光滤镜及驱动机构即可检测出显示板的真实的缺陷。
前述真实的缺陷信息，是可通过以前述第1画像信号与第2画像信号的减除处理而获得。前述显示板，可为含有液晶组件，也可以是不含液晶组件的玻璃基板，以及含有相对向于该玻璃基板的偏光板。
检查装置，又在前述第1光的通路上，包含使前述偏光滤镜选择性地在不位于该通路上的第1位置、以及位于该通路上的第2位置间置换的置换机构。此外，夹座顶部，也可具有对所接受的显示板予以照射光的背光装置。
图1是显示本发明的检查装置的一实施例图；图2是光的偏光状态的说明图；图3是光的偏光状态的另一说明图；图4是光的偏光状态的又一说明图。
具体实施例方式
参照图1以进行说明，检查装置10，是以封入液晶组件的液晶显示面板作为显示板12。显示板12，在以下说明中虽为具有矩形的平面形状，但也可以是具有其它平面形状。显示板12，在与矩形的至少2边对应所在位置具有实施驱动用的通电的数个电极。
检查装置10，是包含接受应检查的显示板12的夹座顶部14；使夹座顶部14置换的检查台16；与所接受的显示板12通电的探测单元18；将通过显示板12的光予以检测出作为电气信号的光检测器20；配置成可在显示板12与光检测器20之间的光路进出的偏光滤镜22；使偏光滤镜22可在显示板12与光检测器20之间的光路进出的驱动机构24；采用光检测器20的输出信号而获得显示板12的真实的缺陷信息的画像处理装置26；以及收容此等机械装置的遮蔽箱体(shield case)28。
夹座顶部14，是已知的具备有真空吸附所接受的显示板12的数个吸附沟，且是在所接受的显示板12收容从下方照射白色光的背光装置。
检查台16，除使基座顶部14向X、Y、Z的方向三次元移动外，并同时形成使其在向上下方向(Z方向)延伸的轴线θ的周围依角度旋转的X、Y、Z、θ的平台(stage)。
探测单元18，是将具有个别被按压至显示板12的电极的数个接触子30的数个探测块(probe block)32，配置在中央区域具有与显示板12的平面形状相对应的矩形的开口34的基板36。
接触子30，在图式例中，虽是为探针型的探测器，但也可以是刀片型、弹性触针(pogopin)型、凸块(bump)型等任何其它形态。各探测块(probe block)32，是在接触子30的前端(针尖)贯通基板36的开口34而突出至基板36的下方的状态下，安装于基板36的上面。
光检测器20，是如CCD照相机及线性感应器(line sensor)等已知的照相机，它是检测透过显示板12的光，而产生显现显示板12的画像的电气信号，以输出至画像处理装置26。
偏光滤镜22，是相对于通过显示板12的光的偏光角度具有90°不同偏光角度(阻止与显示板12所形成的光的偏光角度相同方向振动的光的通过)，它是从显示板12入射至光检测器20的光之中，使相对于显示板12通过的光的振动方向，向90°不同方向振动的光通过。
偏光滤镜22，是通过驱动机构24，在不会遮断偏光滤镜22从显示板12朝向光检测器20的第1光的第1位置，以及会遮断其的第2位置间选择性地移动。
检查时，显示板12，是载置于夹座顶部14，在来自背光装置单元的光通过显示板12状态并使各电极在维持背光装置单元的状态下按压至接触子30。在此状态下，偏光滤镜22即通过驱动机构24选择性地在第1以及第2位置间置换。
画像处理装置26，是以偏光滤镜22移动于第1位置时的光检测器20的输出信号；以及移动于第2位置时的光检测器20的输出信号为基础，产生第1以及第2画像信号，并采用两画像信号而求出显示板12的真实的缺陷信息。
在当偏光滤镜22移动于第1位置时，从显示板12朝向光检测器20的第1光不用经过偏光滤镜22，即入射至光检测器20。因此，光检测器20的输出信号将成为不经由偏光滤镜22的第1光所形成的第1信号，而画像处理装置26将产生与第1信号对应的第1画像信号。
在当偏光滤镜22移动于第2位置时，由于从显示板12朝向光检测器20的第1光入射至偏光滤镜22，故通过光偏光滤镜22的第2光即入射至检测器20。因此，光检测器20的输出信号将成为由第2光所形成的第2信号，而画像处理装置26将产生与第2信号对应的第2画像信号。
不经过偏光滤镜22的第1光所形成的第1画像信号，是含有显现显示板12本身状态的基板信号(包含真实的缺陷信号)；以及显现导致光的散射或乱反射的尘埃及伤痕等、异物的存在的异物信号。
但是，经过偏光滤镜22的第2光所形成的第2画像信号，虽允许偏光滤镜22相对于第1光的振动方向向90°不同方向振动的光的通过，但由于阻止与第1光振动方向相同方向振动的光的通过，故含有因光的散射或乱反射所导致的异物信号，但不含包括真实的缺陷信号的基板信号。
具体而言，如图2所示，就将许可光的通过的偏光角度相互为90°不同的2个偏光薄膜40以及42分别配置于液晶组件层44的下面以及上面的显示用面板12的情况进行以下说明。
首先，来自夹座顶部14内的背光装置单元的光46，为白色光之外，同时以光轴为中心包含向360°方向振动的光成分。
当此光46在通向使水平方向振动的光成分通过的偏光薄膜40时，通过偏光薄膜40的光即成为向水平方向振动的成分的光。
其次，通过偏光薄膜40的光，是通过液晶组件层44而偏光为向垂直方向振动的光。
其次，通过液晶组件层44的光，是穿过使垂直方向振动的光成分通过的偏光薄膜42。借此，通过显示板12的光48，即成垂直方向振动的光。
通过显示板12的光48，是因偏光滤镜22置换于第1以及第2位置的其中之一，而直接入射至光检测器20，或隔着阻止垂直方向振动的光(通过显示板12的光)通过的偏光滤镜22而入射至光检测器20。
当偏光滤镜22置换至第1位置时，则由于光48不经过偏光滤镜22，故入射至光检测器20的光包含显现显示板12本身的状态的光。
此外，当导致光的乱反射的尘埃及伤痕等的异物50存在于显示板12时，将使通过显示板12的光或所通过的光由于异物50而散射或乱反射。因此，由异物50造成的散射或乱反射光52也入射至光检测器20。
相对于此，当偏光滤镜22置换至第2位置时，朝向光检测器20的所有的光将会入射至偏光滤镜22，而且由于偏光滤镜22具有显示板12所形成的偏光角度与90°不同的偏光角度，故光48虽将因偏光滤镜22而被阻止通过，但散射或乱反射光52中水平方向振动的成分的光54将通过偏光滤镜22。因此，对于光检测器20，水平方向振动的光虽会入射，但通过显示板12而于垂直方向振动的光则不会入射。
综上所述，画像处理装置26，是当偏光滤镜22置换于第1位置时，将产生包含显现显示板12本身状态的基板信号(包含真实的缺陷信号)；以及显现导致光的乱反射的异物存在的异物信号的第1画像信号。相对于此，当偏光滤镜22置换于第2位置时，则画像处理装置26，虽会包含异物信号，但将会产生不包含基板信号的第2画像信号。
画像处理装置26，是采用第2画像信号中的异物信号，去除第1画像信号中的异物信号，借此求出显示板12的真实的缺陷信息。具体而言，画像处理装置26，是通过从第1画像信号扣除第2画像信号方式，而求出显示板12的真实的缺陷信息，并将所求出的缺陷信息储存于内存。
换言之，从异物50直接入射至光检测器20的光52，与通过光52中的偏光滤镜22的光54，是存在于检查装置10以及两画像信号内的相同坐标位置。因此，如果从第1画像信号减除第2画像信号，则可去除异物信号而求出显现显示板12的真实的缺陷位置的缺陷信息。
所获得的缺陷信息，在未图标的区隔装置中，将用以区分成为未具有缺陷处的正常的显示板；以及具有缺陷处的缺陷显示板。
如上述所示根据检查装置10，通过使偏光滤镜22在形成从显示板12朝向光检测器20的光的通路外的第1位置；以及遮断该光的通路的第2位置间选择性地置换，而得以求出显示板12的真实的缺陷信息，故不须采用复杂构造的偏光滤镜及其驱动机构即可检测出显示板12的真实的缺陷。
如图3所示，当仅于液晶组件层44的其中一方(在图中是为下面)具有偏光薄膜40的显示板时，纵横振动的光46，首先将通过偏光薄膜40去除垂直方向振动的光成分，并使水平方向振动的光成分的光通过偏光薄膜40。
其次，通过偏光薄膜40的光将在液晶组件层44偏光成垂直方向振动的光成分，而从显示板12指向至光检测器20。因此，画像处理装置26，如当偏光滤镜22移动于第1位置时，则将产生第1画像信号，如移动于第2位置时，则将产生第2画像信号。
本发明，不仅不会受到存在于显示板12的表面的异物影响，也如图4所示，不会受到存在于显示板12的内部的异物，及光检测器20的光检测组件的缺陷等的影响而可获得真实的缺陷信息。
本发明，不仅可适用在采用将光照射在显示板12的背光装置单元的检查技术，也可适用在将反射镜配置在显示板12的背后而采用反射光的检查技术。
本发明，并不以上述实施例为限，只要不悖离本发明的主旨均可作各种变更。
组件符号说明10检查装置 12显示板14夹座顶部 16检查台18探测单元 20光检测器22偏光滤镜 24驱动机构26画像处理装置 28遮蔽箱体30接触子32探测块34开口 36基板40、42偏光薄膜 44液晶组件层46、48、54光50异物52乱反射光
权利要求
1.一种显示板的检查方法，其特征在于，其中包含采用由显示板朝向光检测手段的第1光所形成的第1画像信号；以及相对于前述显示板所形成的偏光角度，将前述第1光予以通过具有90°不同的偏光角度的偏光滤镜的第2光所形成的第2画像信号，而获得前述显示板的真实的缺陷信息。
2.如权利要求1所述的检查方法，其特征在于，其中，是实施上述第1及第2画像信号的减除处理而获得前述真实的缺陷信息。
3.如权利要求1或2所述的检查方法，其特征在于，其中，前述显示板是包含液晶组件层。
4.如权利要求1至3项中任一项所述的检查方法，其特征在于，其中，前述显示板，是包括不含液晶组件的玻璃基板；以及相对向于该玻璃基板的偏光板。
5.如权利要求1至4项中任一项所述的检查方法，其特征在于，其中，更包括当获得前述第1画像信号时使前述偏光滤镜置换成前述第1透过光的光路外的位置，当获得前述第2画像信号时使前述偏光滤镜置换成遮断前述第1透过光的光路的位置。
6.一种显示板的检查装置，其特征在于，是包含采用应检查的显示板的夹座顶部；备有通电至前述显示板的数个探针的探测单元；将来自前述显示板的光检测出作为电气信号的光检测手段；相对于前述显示板所形成的偏光角度具有90°不同偏光角度，并配置成可在从前述显示板朝向前述光检测手段的光的通路中进出的偏光滤镜；使用来自前述显示板的光中不透过前述偏光滤镜的第1光所形成的第1画像信号，与透过前述偏光滤镜的第2光所形成的第2画像信号，而获得前述显示板的真实的缺陷信息的画像处理装置。
7.如权利要求6所述的检查装置，其特征在于，其中，更包括使前述偏光滤镜选择性地在不位于前述第1光的通路上的第1位置；以及位于该通路上的第2位置间置换的置换机构。
8.如权利要求6或7项所述的检查装置，其特征在于，其中，前述夹座顶部，具备有对所接受的显示板予以照射光的背光装置。
全文摘要
一种显示板的检查方法及装置，其目的在于不须使用复杂构造的偏光滤镜或驱动机构即可检测出显示板的缺陷。该检查方法是包含采用从显示板朝向光检测手段的第1光所形成的第1画像信号；以及相对于显示板所导致的偏光角度使第1光通过具有90°不同的偏光角度的偏光滤镜的第2光所形成的第2画像信号而获得显示板的真实的缺陷信息。
文档编号G02F1/13GK1501073SQ0312051
公开日2004年6月2日 申请日期2003年3月7日 优先权日2002年11月18日
发明者安斋正行 申请人:日本麦可罗尼克斯股份有限公司