用于检测面板的检测装置的制作方法

文档序号:2729900阅读:205来源:国知局
专利名称:用于检测面板的检测装置的制作方法
技术领域
本发明涉及一种检测面板的装置,更具体来说,涉及一种检测面板低温液晶气泡的装置。
背景技术
由于液晶显示器具有外形轻巧、耗电量低及无辐射污染等优势,因而广泛地应用于各种电子消费产品中,例如笔记本电脑、个人数字助理、移动电话等,并且已广为使用者所喜爱。近年来,液晶显示器甚至已取代传统台式电脑的阴极射线管显示器。
然而因为液晶量与单元空间的搭配因素,或当液晶的热胀冷缩系数较大时,一旦遇到温度较低的情况,就容易产生低温液晶气泡,尤其是当液晶面板被销售到高纬度或较寒冷地区时更为明显。因此在一般工厂生产的过程中,会利用一些检测方式,希望能筛检出有问题的液晶面板。公知的低温液晶气泡检测方式有拍合测试法、落下测试法、棒击测试法、激光测试法等。
拍合测试法首先将液晶面板在低温下储存一段时间后,例如在摄氏零下二十度储存16小时,再放置于拍合测试装置上。拍合测试装置的开盖以大约45度的角度向下拍击液晶面板约数百次,再以目测检查液晶面板是否有气泡产生。待液晶面板放置2小时恢复常温后,再次检查是否有气泡产生。第二种方式是在液晶面板上放置一平板,再使用落下的铁球敲击平面液晶面板数次,再检测是否有气泡现象发生。第三种方式是以棒槌敲击面板,例如在液晶面板的角落与中心各敲击数下,再检测是否发生气泡。第四种方式则是在常温下以激光打在液晶面板的黑色矩阵区域,再观察其是否会发生气泡现象。
然而上述的各种检测方式,其筛检的效果与效率都不好。由于敲击力道不易控制,不但容易使液晶面板受力不均,更严重的情况甚至会破坏液晶面板。因此,有必要提供一种快速而有效的方式来检测液晶面板的低温液晶气泡现象,以能精准地筛检出有问题的液晶面板。

发明内容
有鉴于此,本发明提供一种用于检测面板的检测装置,其通过多点且均匀地敲击面板可以实现更好的筛检效果与效率,并能有效避免被敲击面板的破损。
本发明公开一种检测装置,该检测装置适用于检测一面板。此检测装置包括一载板、一测试单元及一光源模块。载板用于承载面板。测试单元包括一腔体、一敲击元件及一驱动元件。腔体具有一第一腔室及一第二腔室,且第一腔室邻近载板。光源模块设置于邻近第二腔室,并用于发射光线,该光线通过面板。敲击元件位于第一腔室中,且驱动元件设置于第二腔室中。驱动元件驱动敲击元件,使敲击元件在第一腔室中随机运动,以对面板进行多点敲击。
具体地,该检测装置适用于检测一面板,包括一载板,用于承载该面板,且该载板具有一开口;以及一测试单元,设置于该载板下方,该测试单元包括一腔体,具有一第一腔室及一第二腔室,该第一腔室位于该第二腔室之上并对应该开口;一敲击元件,位于该第一腔室中;及一驱动元件,设置于该第二腔室中;其中,该驱动元件驱动该敲击元件在该第一腔室中进行随机运动,以通过该开口敲击该面板。
本发明另外还公开一种检测装置,该检测装置适用于检测一面板。此装置包括一载板、多个测试单元、一光源模块及一壳体。载板用于承载面板,且此载板具有多个开口。每一测试单元包括一腔体、一敲击元件、及一驱动元件。腔体具有一第一腔室及一第二腔室,且第一腔室对应载板开口的其中之一。光源模块设置于邻近第二腔室,并用于发射光线,该光线通过面板。敲击元件位于第一腔室中,且驱动元件设置于第二腔室中。壳体用于容纳载板、光源模块及测试单元。每一测试单元的敲击元件受驱动元件驱动,使敲击元件在第一腔室中随机运动,以通过开口敲击面板。
具体地,该检测装置包括一壳体;一光源模块,设置于该壳体的底部;多个测试单元,阵列设置于该壳体内,且位于该光源模块上方,各所述测试单元包括一腔体,具有一第一腔室及一第二腔室,且该第一腔室位于该第二腔室上方;一敲击元件,位于该第一腔室中;及一驱动元件,设置于该第二腔室中;以及一载板,设置于所述测试单元上方,该载板上具有多个开口,且各所述开口对应于各所述第一腔室。
相比于公知技术中所使用的各种测试方式,本发明提供一种用于检测面板的装置,该装置可以多点且均匀的方式敲击面板,不仅可以有效地检测出有缺陷的面板,并且可避免在检测过程中由于不慎而造成的面板的损坏。


图1A所示为一种根据本发明具体实施例的检测装置;图1B所示为图1A的检测装置的立体图;图2A所示为另一种根据本发明具体实施例的检测装置;图2B所示为一种根据本发明具体实例的面板检测方法;图2C所示为另一种根据本发明具体实例的面板检测方法;图3所示为又一种根据本发明具体实施例的检测装置;图4所示为再一种根据本发明具体实施例的检测装置;图5所示为再一种根据本发明具体实施例的检测装置;以及图6所示为再一种根据本发明具体实施例的检测装置。
其中,附图标记说明如下100检测装置 102面板 110载板 112开口114缓冲件 120测试单元 122腔体 1222第一腔室1224第二腔室1226曲面隔板124敲击元件 126驱动元件1262转轴1264构件130光源模块 140盖板200检测装置 202面板 210载板 212开口220测试单元 224敲击元件 226驱动元件 2262转轴2264构件230光源模块 240盖板 250定位板252开口 260壳体 262进气孔 264排气孔266风扇 300检测装置 302面板 310载板320测试单元 322腔体 3222第一腔室3224第二腔室3226曲面隔板324敲击元件 326驱动元件 330光源模块340盖板 400检测装置 402面板 410载板
420测试单元 422腔体 4222第一腔室4224第二腔室4226曲面隔板424敲击元件 426驱动元件 4262磁石430光源模块 440盖板 500检测装置 502面板510载板 520测试单元 522腔体 5222第一腔室5224第二腔室5226曲面隔板524敲击元件 526驱动元件530光源模块 540盖板 600检测装置 602面板610载板 620测试单元 622腔体 6222第一腔室6224第二腔室6226隔板624敲击元件 626驱动元件630光源模块 640盖板具体实施方式
本发明的上述及其它方案、特征及优势将在下文以各种更特定的示例性实施例及附图中进行详细描述,以使其更易理解。其中相同的参考标记通常表示本发明的示例性实施例中的相同构件。另外还需理解的是,本发明并不限于特定实施例的细节描述。
相较于现有技术中使用的各种测试方式,本发明提供一种用于检测面板的装置,其可以多点且均匀的方式敲击面板,不仅可以有效地检测出有缺陷的面板,并且可避免在检测的过程中不慎造成面板的损坏。
图1A及图1B所示为一种根据本发明实施例的检测装置100,其适用于检测一面板102。此检测装置100包括一载板110、一测试单元120、一光源模块130以及一盖板140。载板110用于承载待检测的面板102,测试单元120配置于载板110下方且包括一腔体122、一敲击元件124及一驱动元件126。腔体122具有一第一腔室1222及一第二腔室1224,第一腔室和第二腔室之间以一隔板1226隔开。其中,该隔板1226可以包含于第一腔室1222,也可以包含于第二腔室1224,或者独立于该第一腔室1222和该第二腔室1224而包含于腔体122中。隔板1226形成一中间低外围高的形状,在本实施例中是一曲面的隔板,然而在其它实施例中也可以实施为其它类似的形状,例如斜板。载板110具有一开口112,以及覆盖开口112的一缓冲件114。此开口112对应于第一腔室1222设置。开口112的外沿形状与第一腔室1222的形状相吻合,从而使开口112得以容纳第一腔室1222的上缘,以便将测试装置120定位于对准待测试的面板102。
敲击元件124位于第一腔室1222中,且驱动元件126设置于第二腔室1224中。在本实施例中,驱动元件126为一马达,其上还设置有一转轴1262,且转轴1262自隔板1226延伸进入第一腔室1222,且优选地,转轴1262自隔板1226中间最低处延伸进入第一腔室1222。驱动元件126运转时,转轴1262与敲击元件124碰撞从而驱动敲击元件124开始运动,使敲击元件124受驱动元件126的驱动而在第一腔室1222中随机移动。在本实施例中,敲击元件124例如为一柱状体,而转轴1262上还设置有一构件1264,例如在转轴1262上装设一螺丝,以便增加转轴1262与敲击元件124之间的碰撞面积以及敲击元件124在第一腔室1222中运动的不规则性,并使撞击力道平均,从而对面板进行多点敲击。更具体来说,在本实施例中在驱动元件126的转轴1262开始旋转后,通过转轴1262或其上设置的构件1264与敲击元件124的相互撞击,使敲击元件124直接弹起进而敲击面板102,或是经由曲面隔板1226再反弹后敲击面板。这样一来当敲击元件124在第一腔室1222内进行多次不规则跳动时,就同时会对面板进行多点平均敲击,从而达到对面板实施敲击的目的。然而,也不特别限制构件1264设置的数量,在本实施例中虽仅示出一个,但本领域技术人员应当知道构件1264的数量可以为其它任何数量,例如构件1264为多个时,其可采用环绕转轴1262的方式设置,或沿转轴1262的中心轴线设置于转轴1262上不同的高低位置(请参照图2A中所示的不同构件2264的设置方式)。此外,敲击元件124及转轴1262(或构件1264)之间可设计成具有磁吸引力,以利于驱动敲击元件124。举例而言,敲击元件124的部分或全部可以由磁性物质制成,例如磁铁,而转轴1262及/或构件1264可为对应的产生磁吸引力的金属,例如铁。在另一示例性实施例中,敲击元件124可为对应产生磁吸引力的金属,例如铁,而转轴1262及/或构件1264(优选地为构件1264)可为磁性物质,例如磁铁。这样一来,当构件1264自曲面隔板1226上滑落至最低处时,可使构件1264确实向转轴1262及/或构件1264靠近,来增加转轴1262及/或构件1264撞击敲击元件124的机会。另外,通过设计缓冲件114,在敲击元件124受到驱动元件126的撞击驱动之后进而敲击面板102时,会先通过缓冲件114再以多点方式敲击面板102,这样的方式可以缓冲敲击元件124的敲击强度,从而达到保护面板102的目的。光源模块130设置于邻近第二腔室1224(例如设置于第二腔室之下,但本发明并不以此为限,也可视情况设置于第二腔室的左侧或右侧),光源模块130还用于发射光线,该光线通过面板102,以便检测人员可以在敲击元件124敲击面板102后进行目测检查,以确认面板102是否具有低温气泡的缺陷。此外,在本实施例中,光源模块130例如包括荧光灯管、发光二极管、场发射发光源(FEL)、等离子发光光源、有机电激发光光源等等,其中荧光灯管可为例如冷阴极荧光灯管(CCFL)、外部电极冷阴极管(EEFL)、热阴极荧光灯管(HCFL),而荧光灯管的形状包括直线形、L形、U形、弯曲形或其它形状;有机电激发光光源包括有机电激发光光源(OELD)和高分子有机电激发光光源(PLED)。盖板140则覆盖于面板102上,使面板102夹置在盖板140与载板110之间,以避免敲击元件124在敲击面板102时,因震动而使面板102产生位移。盖板140可以放置在面板102上,或是使用固定元件(图中未示)将盖板140与载板110卡合,例如可以使用螺丝、夹具等。此外,依不同设计需求,盖板140可为透明盖板、不透明盖板、部分透明盖板、或具有开口以露出面板102的框架形盖板,但不以此为限。
通过本发明实施例的检测装置100,检测人员可以在任何阶段,例如在设计阶段、测试阶段或生产阶段中,迅速地在大量的待测面板中发现不合格的产品,提高生产的效率。表一中所示为测试人员用四片面板(两片正常面板、两片有缺陷面板)所做的检测结果表一

表二中所示为测试人员进一步测试多片面板的检测结果表二

由上述结果可知,本发明实施例中所公开的方式确实可以有效且快速地检测出有缺陷的面板。
在此必需注意的是,本发明并不限于上述特定的实施例,而是仍可以有许多其它不同的修改与变化。图2A所示为另一种根据本发明实施例的检测装置200。如图2A所示,载板210用于承载面板202,且载板210具有多个开口212。在本实施例中,载板210具有四个开口212,以对应四个测试单元220(为使图中简洁,图2A中仅标示出其中一组)。然而本领域技术人员应当可以知道,本发明并不限于此特定的实施方式,测试单元220的数目可视实际实施的情况而定。例如在检测较大尺寸的面板时,可以使用较多的测试单元220,而检测较小尺寸的面板时,可以使用较少的测试单元220。此外,在本实施例中还包括有一定位板250,其套设于测试单元220上,用来固定所述测试单元220。举例来说,定位板250可具有多个对应所述测试单元220的开口252,以供所述测试单元220通过并将测试单元220固定。在本实施例中,测试单元220与光源模块230与前述实施例相同的其它部分在此不再赘述,例如驱动单元226的转轴2262及/或构件2264与敲击元件224的运动,或光源模块230的位置、作用等。盖板240覆盖于面板202之上,以避免面板202在检测过程中发生位移。而检测装置200还包括一壳体260,用于将载板210、光源模块230、所述测试单元220及定位板250等容纳于壳体260所形成的空间中,并可避免面板202或测试单元220受到湿气的影响,且壳体260上具有一进气孔262、一排气孔264以及一风扇266,其中进气孔262用以通入干净的干燥气体,或在其它实施例中,也可以用于通入低温气体以降低壳体内的温度,或视其它实施的情况而通入其它气体,而排气孔264用以排出气体。
在检测时必需将整体装置保持在一定的低温下,例如-20℃的状态下,因此,本实施例通过从进气孔262通入低温空气,可以保持壳体260内的温度,并通过风扇266来促进壳体260内空气的对流,以确保壳体260的所述测试单元220都处于适当的低温。需要注意的是,进气孔262、排气孔264、以及风扇266设置的位置并不限于图2A所示的情况,而可视实际状况进行调整。另外也可在壳体260内设置若干导流板(图中未示)以加强空气的对流。通过这样的设置,本发明不但可以一次大量地使用多个测试单元220来检测多个面板或面积较大的面板,同时也可大幅降低检测时降低装置温度所需的时间,并确保壳体260内处于适当的低温状态。
图2B所示为一种根据本发明具体实例的面板检测方法2000。在步骤2002中,首先将检测装置200及待测面板202放置于降温室中,例如开放式试验室(open chamber)或步入式试验室(walk-in chamber)。在步骤2004中,降低检测装置200内部的温度至一适当温度,例如低于0℃,而在本实施例中以-20℃为优选。另外,也可在降温过程中将壳体260的上盖开启,以便更快速地降低温度,在此同时,也对待测面板202进行降温至适当温度,同样例如为低于0℃,而在本实施例中以-20℃为优选。在步骤2006中,将待测的面板202放置于载板210上并固定好位置,并将壳体260的上盖盖回。在步骤2008中,启动驱动元件226,在一预定时间内例如最少5秒,本实施例中以30秒为优选,驱动敲击元件224使敲击元件224随机运动,以敲击待测面板202。在步骤2010中,启动光源模块130,以便使检测人员确认该待测面板202是否具有缺陷。
图2C所示为另一种根据本发明具体实例的面板检测方法2100。在步骤2102中,首先将待测面板202放置于载板210上并固定,并将检测装置200的壳体260封好。在步骤2104中,将低温气体通入检测装置200以降低检测装置200的温度。选择性地,在步骤2106中,开启风扇266,以加速降低检测装置200内部的温度至一适当温度,例如-20℃。在其它的实施例中,也可省略开启风扇226的动作,而可直接通入低温气体直至适当温度为止。在步骤2108中,启动驱动元件226,在一预定时间内(例如30秒)驱动敲击元件224使敲击元件224随机运动,以敲击待测面板202。在步骤2110中,启动光源模块130,以便使检测人员确认该待测面板202是否具有缺陷。在步骤2112中,在检测完毕后,在等待待测面板202恢复至常温时,因外界温度较高而使待测面板上会发生起雾现象,除可以无尘布或其它类似物沾酒精擦拭,也可采取经由进气孔262通入干燥气体,由排气孔264排出废气的方式,避免待测面板自-20℃的回温过程发生变化,例如水气侵害。
图3所示为又一种根据本发明具体实施例的检测装置300,检测装置300适用于检测一面板302。此检测装置300包括一载板310、一测试单元320、一光源模块330以及一盖板340。测试单元320包括一腔体322、一敲击元件324及一驱动元件326。腔体322具有一第一腔室3222及一第二腔室3224,第一腔室3222及第二腔室3224之间以一曲面隔板3226隔开。与前述实施例不同的是,本实施例中的驱动单元326是一气动装置,用于通入冷冻加压空气,以取代前述实施例中的马达。当敲击元件324被冷冻加压空气冲击时,敲击元件324向上弹进而撞击面板302,因此达到多点平均敲击的目的,且冷冻加压空气还可同时起到降低面板302的温度的效果。其它与前述实施例相似的部分在此便不再赘述。
图4所示为再一种根据本发明实施例的检测装置400,检测装置400适用于检测一面板402。此检测装置400包括载板410、测试单元420、光源模块430以及盖板440。测试单元420包括一腔体422、一敲击元件424及一驱动元件426。腔体422具有一第一腔室4222及一第二腔室4224,第一腔室4222及第二腔室4224之间以一曲面隔板4226隔开。在本实施例中,敲击元件424为一磁性搅拌子,且驱动元件426为一磁性搅拌器,其包括有一磁石4262。当磁石4262旋转时,通过磁石4262与磁性搅拌子424二者之间极性相斥的设计,可使磁性搅拌器426带动磁性搅拌子424旋转,磁性搅拌子424在第一腔室4222内弹跳进而撞击面板402。因为驱动元件426并未与敲击元件424实际接触,因此可以减少敲击元件424的损耗,延长检测装置400的耐用度。此外,本实例中的光源模块430为发光二极管,其设置于第二腔室4224边缘的曲面隔板4226上,以进一步节省检测装置400的空间。其它与前述实施例相似的部分在此便不再赘述。
图5所示为再一种根据本发明实施例的检测装置500,检测装置500适用于检测一面板502。此检测装置500包括载板510、测试单元520、光源模块530以及盖板540。测试单元520包括一腔体522、一敲击元件524及一驱动元件526。腔体522具有一第一腔室5222及一第二腔室5224,第一腔室5222及第二腔室5224之间以一曲面隔板5226隔开。在本实施例中,驱动元件526为一冲击器,其可提供较稳定的力道,使敲击元件524向上弹起进而撞击面板502。其它与前述实施例相似的部分在此便不再赘述。
从上述说明可知,本发明仍可以有许多不同的方案和许多不同的实施方式。举例来说,图6所示为另外一种根据本发明实施例的检测装置600,检测装置600适用于检测一面板602。此检测装置600包括载板610、测试单元620、光源模块630以及盖板640。测试单元620包括一腔体622、一敲击元件624及一驱动元件626。腔体622具有一第一腔室6222及一第二腔室6224,第一腔室6222及第二腔室6224之间以一隔板6226隔开。在本实施例中,隔板6226为一斜板,而本领域技术人员应当可以知道,隔板6226在其它实施例中也可为其它不同的形状。与图3所示的实施例相似,本实施例中的驱动元件626为一气动装置,该气动装置用于通入冷冻加压空气。其它不同的地方在于,本实施例中使用多个球状的敲击元件624,而本领域技术人员应当可以知道,敲击元件624在其它实施例中也可为其它不同的形状,例如椭圆形或不规则形状。其它与前述实施例相似的部分在此便不再赘述。
在此需注意,本发明优选实施例虽以缓冲件覆盖载板的开口为例进行说明,然而本领域技术人员应当知道载板及缓冲件可整合为具有承载及缓冲作用的一体成型缓冲载板,或者分别由两个单独元件组合而成。举例而言,本发明的载板可由一弹性材料(例如橡胶或塑料)制成,其对应于测试单元的第一腔室的开口部分具有较薄的厚度,以作为缓冲件,而环绕开口的周边部分可具有较厚的厚度,以利承载面板。在另一示例中,载板可为一硬度较高的主体板,用于承载面板,而利用缓冲件提供缓冲作用。举例而言,硬度较高的主体板可设计成具有贯穿的开口以对应测试单元的第一腔室,而缓冲件则相对于第一腔室在主体板的另一侧覆盖该贯穿的开口。此外,当敲击元件包覆有缓冲材料,或敲击元件运动所产生的敲击力受到适当控制时,缓冲件可以选择性地设置,以覆盖主体板的贯穿开口,或不设置缓冲件。
综上所述,本领域技术人员应当可以知道,上述的实施例仅用以描述本发明,然本发明并不限于以上特定实施例的描述,本发明的保护范围应包括所有此类修改与变化,以能够真正地符合本发明的构思与范围。
权利要求
1.一种检测装置,适用于检测一面板,包括一载板,用于承载该面板,且该载板具有一开口;以及一测试单元,设置于该载板下方,该测试单元包括一腔体,具有一第一腔室及一第二腔室,该第一腔室位于该第二腔室之上并对应该开口;一敲击元件,位于该第一腔室中;及一驱动元件,设置于该第二腔室中;其中,该驱动元件驱动该敲击元件在该第一腔室中进行随机运动,以通过该开口敲击该面板。
2.如权利要求1所述的检测装置,其中该检测装置还包括一上盖,该上盖配置于该载板上方,由此可将该面板夹置于该上盖与该载板之间,以固定该面板。
3.如权利要求1所述的检测装置,其中该第一腔室包括一隔板,该隔板用以将该第一腔室与该第二腔室隔开。
4.如权利要求3所述的检测装置,其中该隔板为一曲面隔板、一斜板、或一中间低外围高的隔板。
5.如权利要求1所述的检测装置,其中该检测装置还包括一缓冲件,以覆盖该开口,且该敲击元件通过该缓冲件敲击该面板。
6.如权利要求1所述的检测装置,其中该驱动元件包括一马达,该马达具有一延伸进入该第一腔室的转轴,且该马达运转时,该转轴与该敲击元件碰撞。
7.如权利要求6所述的检测装置,其中该转轴包括一构件,该构件设置于该转轴一侧并向垂直于该转轴的方向延伸。
8.如权利要求6所述的检测装置,其中该转轴包括多个构件,所述多个构件环绕该转轴设置,并向垂直于该转轴的方向延伸。
9.如权利要求8所述的检测装置,其中所述多个构件沿该转轴的中心轴线方向设置。
10.如权利要求1所述的检测装置,其中该敲击元件包括一磁性部。
11.如权利要求1所述的检测装置,其中该驱动元件包括一气动装置,通过该气动装置将气体通入到该第一腔室,并利用该气体驱动该敲击元件。
12.如权利要求1所述的检测装置,其中该敲击元件为一磁性搅拌子,且该驱动元件为一磁性搅拌器。
13.如权利要求1所述的检测装置,其中该敲击元件为一柱状体、球状体、椭圆状体、或不规则状体。
14.如权利要求1所述的检测装置,其中该检测装置还包括一光源模块,该光源模块设置于该测试单元下方并邻近该第二腔室,以发射光线,该光线通过该面板。
15.如权利要求1所述的检测装置,其中该光源模块包括一荧光灯管、一发光二极管、一场发射发光源、一等离子发光光源或一有机电激发光光源。
16.一种检测装置,包括一壳体;一光源模块,设置于该壳体的底部;多个测试单元,阵列设置于该壳体内,且位于该光源模块上方,各所述测试单元包括一腔体,具有一第一腔室及一第二腔室,且该第一腔室位于该第二腔室上方;一敲击元件,位于该第一腔室中;及一驱动元件,设置于该第二腔室中;以及一载板,设置于所述测试单元上方,该载板上具有多个开口,且各所述开口对应于各所述第一腔室。
17.如权利要求16所述的检测装置,其中该检测装置还包括一上盖,以将一面板夹在该上盖与该载板之间且固定该面板。
18.如权利要求16所述的检测装置,其中该测试单元的第一腔室还包括一隔板,该隔板位于该第一腔室及该第二腔室之间。
19.如权利要求18所述的检测装置,其中该隔板为一曲面隔板、一斜板、或一中间低外围高的隔板。
20.如权利要求17所述的检测装置,其中该检测装置还包括一缓冲件,以覆盖所述开口,且各所述测试单元的敲击元件通过该缓冲件敲击该面板。
21.如权利要求16所述的检测装置,其中各所述测试单元的驱动元件为一马达,该马达具有一延伸进入该第一腔室的转轴,且该马达运转时,该转轴与该敲击元件碰撞。
22.如权利要求21所述的检测装置,其中各所述测试单元的转轴还包括一构件,该构件设置于该转轴一侧并向垂直于该转轴的方向延伸。
23.如权利要求21所述的检测装置,其中该转轴还包括多个构件,所述多个构件环绕该转轴设置。
24.如权利要求22所述的检测装置,其中该转轴还包括多个构件,所述多个构件沿该转轴的中心轴线设置。
25.如权利要求16所述的检测装置,其中该敲击元件包括一磁性部。
26.如权利要求16所述的检测装置,其中该驱动元件为一气动装置,通过该气动装置将气体通入到该第一腔室,并利用该气体驱动该敲击元件。
27.如权利要求16所述的检测装置,其中该敲击元件为一磁性搅拌子,且该驱动元件为一磁性搅拌器。
28.如权利要求16所述的检测装置,其中该敲击元件为一柱状体、球状体、椭圆状体、或不规则状体。
29.如权利要求16所述的检测装置,其中该光源模块包括一荧光灯管、一发光二极管、一场发射发光源、一等离子发光光源或一有机电激发光光源。
30.如权利要求16所述的检测装置,其中该壳体还包括一进气孔,该进气孔用以通入气体。
31.如权利要求16所述的检测装置,其中该壳体还包括一排气孔,该排气孔用以排出气体。
32.如权利要求16所述的检测装置,其中该壳体还包括一风扇,该风扇用以促进该壳体内气体的对流。
33.如权利要求16所述的检测装置,其中该检测装置还包括有一定位板,该定位板设置于该壳体内,且该定位板具有多个定位口,各所述定位口分别对应套置于各所述测试单元,以将所述测试单元固定于该壳体内。
全文摘要
本发明公开一种检测装置,其适用于检测一面板。此检测装置包括一载板、一测试单元及一光源模块。载板用于承载面板。测试单元包括一腔体、一敲击元件及一驱动元件。腔体具有一第一腔室及一第二腔室,且第一腔室邻近载板。光源模块设置于邻近第二腔室,并用于发射光线,该光线通过面板。敲击元件位于第一腔室中,且驱动元件设置于第二腔室中。敲击元件受驱动元件所连动,使敲击元件在第一腔室中随机移动并可对面板进行多点的敲击。该装置不仅可以有效地检测出有缺陷的面板,并且可避免在检测过程中由于不慎而造成的面板的损坏。
文档编号G02F1/13GK101067689SQ20071010953
公开日2007年11月7日 申请日期2007年6月25日 优先权日2007年6月25日
发明者潘自强, 陈冠廷, 黄教忠 申请人:友达光电股份有限公司
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