专利名称：玻璃基板的检测装置的制作方法
玻璃基板的检测装置
技术领域：
本发明属于液晶显示技术领域，特别是涉及一种玻璃基板的检测装置。背景技术：
液晶显示器的生产过程中，需要对玻璃基板进行检测。请参阅图1A-1B，图1A-1B为现有技术中对玻璃基板进行检测的设备示意图。所述设备包括针座101和测试针102，在对玻璃基板进行检测时，测试针102插入到玻璃基板的衬垫内(图未示)，通过针座101输入电压，针座101上的测试针102将电压传输至玻璃基板进行检测。但是由于现有技术中测试针102是固定在针座101上，一旦出现测试针102的数量与待测玻璃基板上衬垫的数量不同的情况，则需要停机进行相应的测试针102的设置， 譬如将多余的测试针102拔掉，或者将不足的测试针102插入针座101。请参阅图1B，假设玻璃基板上衬垫的数量为7，而针座101上测试针102的数量为14，则需要停机将图IA中多余的7个探针拔掉，形成图IB的结构。综上，在玻璃基板进行检测时，由于需要停机对测试针进行设置，需要花费较多的时间，降低了对玻璃基板的检测效率，浪费产能。
发明内容本发明的一个目的在于提供一种玻璃基板的检测装置，以解决现有技术中在玻璃基板进行检测时，由于需要停机对测试针进行设置，需要花费较多的时间，降低了对玻璃基板的检测效率，浪费产能的技术问题。为解决上述问题，本发明构造了一种玻璃基板的检测装置，包括测试针和针座，所述装置还包括伸缩控制器，所述测试针设置在所述伸缩控制器上，所述伸缩控制器，用于在接收到电信号时，控制所述测试针相对于所述针座伸出； 以及在所述电信号中止时，控制所述测试针相对于所述针座缩回。在本发明的玻璃基板的检测装置中，所述伸缩控制器包括移动控制板，伸出控制件以及缩回控制件，所述移动控制板固定连接所述测试针；所述伸出控制件，用于在接收到电信号时，控制所述移动控制板移动以使所述测试针相对于所述针座伸出；所述缩回控制件，用于控制所述移动控制板移动以使所述测试针相对于所述针座缩回。在本发明的玻璃基板的检测装置中，所述伸出控制件包括第一电磁件与第二电磁件，所述第一电磁件设置在所述移动控制板上，所述第二电磁件设置在所述针座上；在接收到所述电信号时，所述第一电磁件与所述第二电磁件相互吸引，以控制所述移动控制板使所述测试针相对于所述针座伸出。在本发明的玻璃基板的检测装置中，所述缩回控制件为一弹簧结构。在本发明的玻璃基板的检测装置中，在所述伸出控制件接收到电信号时，所述第一电磁件和第二电磁件之间产生的吸引力大于所述弹簧结构的弹力最大值。在本发明的玻璃基板的检测装置中，所述玻璃基板的检测装置还包括导线，所述导线与所述电磁阀电性连接。在本发明的玻璃基板的检测装置中，所述玻璃基板的检测装置还包括上盖，该上盖用于设置所述导线。在本发明的玻璃基板的检测装置中，所述玻璃基板的检测装置还包括一控制电路，该控制电路控制向导线输入或者不输入电信号。在本发明的玻璃基板的检测装置中，所述玻璃基板的检测装置还包括上盖，该上盖为一印刷电路板。在本发明的玻璃基板的检测装置中，所述印刷电路板具有控制电路控制向导线输入或者不输入电信号。本发明相对于现有技术，解决了现有技术中在玻璃基板进行检测时，由于需要停机对测试针进行设置，需要花费较多的时间，降低了对玻璃基板的检测效率的技术问题，提高了产能。为让本发明的上述内容能更明显易懂，下文特举优选实施例，并配合所附图式，作详细说明如下
图1A-1B为一种现有技术玻璃基板的检测设备示意图；图2为本发明玻璃基板的检测装置的较佳实施例的结构示意图；图3为图2中伸缩控制器的结构示意图；图4为图2所示的玻璃基板的检测装置的操作效果示意图。
具体实施方式
以下各实施例的说明是参考附图，用以例示本发明可用以实施的优选实施例。请参阅图2及图3，图2为本发明玻璃基板的检测装置的较佳实施例的结构示意图。所述玻璃基板的检测装置包括针座21、多个测试针22、多个伸缩控制器23 (图幻、上盖 M及多条导线25。每个伸缩控制器23对应一个测试针22。所述伸缩控制器23控制所述测试针22沿预定方向Bl延伸运动，使得所述测试针22相对于所述针座21伸出，所述伸缩控制器23还控制所述测试针22沿与预定方向Bl相反的方向运动，使得所述测试针22相对于针座21收回。所述预定方向Bl为所述测试针22插入待检测玻璃基板(图未示)的方向。请参阅图3，图3为图2中伸缩控制器23的结构示意图。所述伸缩控制器23包括移动控制板231，还包括伸出控制件233和缩回控制件232。所述移动控制板231固定连接所述测试针22。请参阅图3，所述伸出控制件233包括第一电磁件234和第二电磁件235，所述第一电磁件234设置在所述移动控制板231上，所述第二电磁件235设置在所述针座21上。 在具体实施过程中，所述伸出控制件233也可以是其它的结构，只要能够在接收到电信号时，控制所述测试针22沿预定方向Bl移动预设距离D即可。其中，所述测试针22沿预定方向Bl移动预设距离D时，可以插入到待检测玻璃基板上。在图2所示的实施例中，所述缩回控制件232为弹性元件，优选为弹簧结构，当然也可以是其它的结构，只要能够在所述电信号中止时，控制所述测试针22沿与所述预定方向B 1相反的方向B2移动预设距离D即可。所述上盖M用于设置导线25，一控制电路(图未示)控制向各条导线25输入或者不输入电信号。所述导线25电性连接第一电磁件234。当所述控制电路向所述导线25 输入电信号后，所述第一电磁件234和所述第二电磁件235之间产生的吸引力大于所述缩回控制件232的弹力最大值，使所述伸出控制件233能够控制所述测试针22沿预定方向Bl 移动预设距离D。所述上盖M也可以是一印刷电路板，该印刷电路板设置有控制电路(图未示)，该控制电路与各条导线25电性连接，并控制向各条导线25输入或者不输入电信号，从而控制第一电磁件234及第二电磁件235。图2所示的较佳实施例的工作原理为请一并参阅图3和图4，在对玻璃基板进行检测时，假设玻璃基板上衬垫的数量为 7，而本发明玻璃基板的检测装置的测试针22的数量为14。此时，根据玻璃基板上衬垫的位置，由控制电路控制对图4中的右侧的7个测试针22对应的导线25通电(请一并参阅图 2)，导线25通电后，第一电磁件234接收到电信号，与第二电磁件235相互吸引，由于第一电磁件234和第二电磁件235之间产生的吸引力大于所述缩回控制件232的弹力最大值， 因此，移动控制板231将沿预定方向Bl移动一预设距离D，进而使固定在所述移动控制板 231的测试针22沿预定方向Bl移动一预设距离D而相对所述针座21伸出，插入到待检测玻璃基板进行检测。同时，外部电路控制图4中左侧的7个测试针22对应的导线25 (请一并参阅图2) 处于不通电状态，由于对应的1至7号测试针22第一电磁件234没有接收到电信号(即电信号中止)，与第二电磁件235之间不会产生吸引力，此时，缩回控制件232控制所述移动控制板231沿与预定方向Bl相反的方向B2移动预设距离D，使固定在所述移动控制板231 的测试针22相对所述针座21缩回。本发明无须停机对测试针22进行设置，而是灵活的根据待检测玻璃基板的衬垫数量控制相应的测试针22的伸出或者缩回，极大地提高了检测效率。综上所述，虽然本发明已以优选实施例揭露如上，但上述优选实施例并非用以限制本发明，本领域的普通技术人员，在不脱离本发明的精神和范围内，均可作各种更动与润饰，因此本发明的保护范围以权利要求界定的范围为准。
权利要求
1.一种玻璃基板的检测装置，包括测试针和针座，其特征在于，所述装置还包括伸缩控制器，所述测试针设置在所述伸缩控制器上，所述伸缩控制器，用于在接收到电信号时，控制所述测试针相对于所述针座伸出；以及在所述电信号中止时，控制所述测试针相对于所述针座缩回。
2.根据权利要求1所述的玻璃基板的检测装置，其特征在于，所述伸缩控制器包括移动控制板，伸出控制件以及缩回控制件，所述移动控制板固定连接所述测试针；所述伸出控制件，用于在接收到电信号时，控制所述移动控制板移动以使所述测试针相对于所述针座伸出；所述缩回控制件，用于控制所述移动控制板移动以使所述测试针相对于所述针座缩回。
3.根据权利要求2所述的玻璃基板的检测装置，其特征在于，所述伸出控制件包括第一电磁件与第二电磁件，所述第一电磁件设置在所述移动控制板上，所述第二电磁件设置在所述针座上；在接收到所述电信号时，所述第一电磁件与所述第二电磁件相互吸引，以控制所述移动控制板移动使所述测试针相对于所述针座伸出。
4.根据权利要求3所述的玻璃基板的检测装置，其特征在于，所述缩回控制件为一弹簧结构。
5.根据权利要求4所述的玻璃基板的检测装置，其特征在于，在所述伸出控制件接收到电信号时，所述第一电磁件和第二电磁件之间产生的吸引力大于所述弹簧结构的弹力最大值。
6.根据权利要求3至5任一项所述的玻璃基板的检测装置，其特征在于，所述玻璃基板的检测装置还包括导线，所述导线与所述第一电磁阀电性连接。
7.根据权利要求6所述的玻璃基板的检测装置，其特征在于，所述玻璃基板的检测装置还包括上盖，该上盖用于设置所述导线。
8.根据权利要求6所述的玻璃基板的检测装置，其特征在于，所述玻璃基板的检测装置还包括一控制电路，该控制电路控制向所述导线输入或者不输入电信号。
9.根据权利要求6所述的玻璃基板的检测装置，其特征在于，所述玻璃基板的检测装置还包括上盖，该上盖为一印刷电路板。
10.根据权利要求9所述的玻璃基板的检测装置，其特征在于，所述印刷电路板具有控制电路控制向所述导线输入或者不输入电信号。
全文摘要
本发明公开了一种玻璃基板的检测装置，包括测试针和针座，所述装置还包括伸缩控制器，所述测试针设置在所述伸缩控制器上，所述伸缩控制器，用于在接收到电信号时，控制所述测试针相对于所述针座伸出；以及在所述电信号中止时，控制所述测试针相对于所述针座缩回。本发明提高了对玻璃基板的检测效率。
文档编号G02F1/13GK102289090SQ20111024826
公开日2011年12月21日 申请日期2011年8月24日 优先权日2011年8月24日
发明者郑文达 申请人:深圳市华星光电技术有限公司