对像素电路的TFT进行电性调整的过程中，需要对像素电路进行加热处理，使像素电路的TFT加热到指定温度，一般为80°C。
[0028]进一步的，简化GOA单元不包括安全保护电路。例如，简化GOA单元对于现有的GOA单元而言不包括ESD保护电路、过压保护电路、过流保护电路等，以降低GOA单元的硬件成本。
[0029]进一步的，每组简化GOA单元和GOA单元的正向时钟信号输入端和反向时钟信号输入端相连的信号线是分离的。
[0030]具体的，为了防止信号线之间的短路和干扰，对于每组简化GOA单元和GOA单元而言，简化GOA单元的正向时钟信号输入端和反向时钟信号输入端相连的信号线是专用的，不与GOA单元共用信号线。
[0031]进一步的，GOA单元为移位寄存器。
[0032]相应的，本发明实施例还提供了一种阵列基板，包括上述的电性调节电路。
[0033]相应的，本发明实施例还提供了一种TFT电性调节系统，包括阵列基板、测试装置和加热装置，阵列基板包括电性调节电路，电性调节电路包括若个组GOA单元和简化GOA单元，以及若干个像素电路，电性调节电路的具体结构参照图1的实施例的说明。
[0034]测试装置用于测试像素电路的阈值电压，若阈值电压不满足预设条件，向像素电路关联的简化GOA单元的正向时钟信号输入端输入第一时钟信号，以及向简化GOA单元的反向时钟信号输入端输入第二时钟信号，该简化GOA单元接收到第一时钟信号和第二时钟信号，该简化GOA单元根据第一时钟信号和第二时钟信号在输出端输出调节电压，使像素电路的阈值电压恢复正常。
[0035]切割装置用于当像素电路中TFT的阈值电压恢复预设条件时，将该简化GOA单元的正向时钟信号输入端和反向时钟信号输入端进行悬空，废弃该简化GOA单元。
[0036]加热装置用于在对像素电路的阈值电压进行调节的过程中，将阵列基板加热并保持到指定温度。
[0037]具体的，在阵列基板的制程全部完成后，测试装置对阵列基板的各个像素电路的阈值电压进行测量，当某个像素电路的阈值电压不满足预设条件，需要进行调节时，在该像素电路的正向时钟信号输入端和反向时钟信号输入端输入时钟信号，同时加热装置对阵列基板加热到指定温度，简化GOA单元根据接收到的时钟信号在输出端输出调节电压对该像素电路的阈值电压进行调节，待阵列基板冷却后，废弃该简化GOA单元，然后阵列基板采用现有的GOA单元进行工作。
[0038]进一步的，切割装置用于采用激光切割的方法切断简化GOA单元的正向时钟信号输入端和反向时钟信号输入端的信号线，废弃该简化GOA单元。需要说明的是，切割装置也可以切断简化GOA单元的输出端的信号线，以达到废弃该简化GOA单元的目的。
[0039]进一步的，测试装置用于测试像素电路的阈值电压，若阈值电压大于预设值，指示简化GOA单元输出正电压;若阈值电压小于预设值，指示简化GOA单元输出负电压。
[0040]具体的，测试装置测量到像素电路的阈值电压大于预设值，指示相应的简化GOA单元输出正电压，像素电路的TFT的界面沟道会出现大量被吸引的电子，在热运动后，部分空穴型缺陷被修复，冷却后部分空穴型缺陷不存在，在正常加电压时，该TFT会较快开启，则该TFT的阈值电压变小；反之，测试装置测量到像素电路的阈值电压小于预设值，指示相应的简化GOA单元输出负电压，使该像素电路的TFT的阈值电压变大。
[0041 ]以上所揭露的仅为本发明一种较佳实施例而已，当然不能以此来限定本发明之权利范围，本领域普通技术人员可以理解实现上述实施例的全部或部分流程，并依本发明权利要求所作的等同变化，仍属于发明所涵盖的范围。
【主权项】
1.一种阵列基板，其特征在于，包括: 若干组阵列基板行驱动GOA单元和简化GOA单元，以及若干个像素电路;其中，每组GOA单元和简化GOA单元并联连接，且简化GOA单元的输出端与对应的像素电路中薄膜晶体管薄膜晶体管TFT的栅极电连接； 简化GOA单元用于从正向时钟信号输入端接收第一时钟信号，以及从反向时钟信号输入端接收第二时钟信号，根据所述第一时钟信号和所述第二时钟信号在所述输出端输出调节电压。2.如权利要求1所述的阵列基板，其特征在于，简化GOA单元不包括安全保护电路。3.如权利要求1所述的阵列基板，其特征在于，每组简化GOA单元和GOA单元的正向时钟信号输入端和反向时钟信号输入端相连的信号线是分离的。4.如权利要求1-3任意一项所述的阵列基板，其特征在于，GOA单元为移位寄存器。5.—种显示器，其特征在于，包括如权利要求1-4任意一项所述的阵列基板。6.一种测试系统，其特征在于，包括:如权利要求1-4任意一项所述的阵列基板、测试装置和加热装置； 所述测试装置，用于测量像素电路的阈值电压，若所述阈值电压不满足预设条件，向对应的简化GOA单元的正向时钟信号输入端输入第一时钟信号，以及向所述简化GOA单元的反向时钟信号输入端输入第二时钟信号； 所述切割装置，用于当所述像素电路中TFT的阈值电压恢复所述预设条件时，废弃所述简化GOA单元； 所述加热装置，用于将所述阵列基板加热并保持到指定温度。7.如权利要求6所述的测试系统，其特征在于，所述切割装置具体用于采用激光切割的方法切断与所述简化GOA单元的正向时钟信号输入端和反向时钟信号输入端的信号线。8.如权利要求6或7所述的测试系统，其特征在于，所述测试装置具体用于测量所述像素电路的阈值电压，若所述阈值电压大于预设值，指示所述简化GOA单元输出正电压;若所述阈值电压小于预设值，指示所述简化GOA单元输出负电压。
【专利摘要】本发明实施例公开了一种阵列基板，包括：若干组GOA单元和简化GOA单元，以及若干个像素电路；其中，每组GOA单元和简化GOA单元并联连接，且简化GOA单元的输出端与对应的像素电路中薄膜晶体管TFT的栅极电连接；简化GOA单元用于从正向时钟信号输入端接收第一时钟信号，以及从反向时钟信号输入端接收第二时钟信号，根据所述第一时钟信号和所述第二时钟信号在所述输出端输出调节电压。本发明实施例还公开了一种显示器和测试系统。采用本发明，能校正TFT的阈值电压，提升显示效果。
【IPC分类】G02F1/1362, G09G3/00, G02F1/1345
【公开号】CN105549289
【申请号】CN201610132454
【发明人】李安石
【申请人】武汉华星光电技术有限公司
【公开日】2016年5月4日
【申请日】2016年3月9日