阵列基板及其制作方法、测试方法、显示面板、显示装置的制造方法
【技术领域】
[0001]本发明涉及显示技术领域，尤其涉及一种阵列基板及其制作方法、测试方法、显示面板、显示装置。
【背景技术】
[0002]TFT-LCD面板在生产过程中需要对内部线路进行检测，及时发现问题并修复，该过程称为面板测试过程(cell test)。比如需要对各条栅线进行测试以确定各条栅线是否存在断路或者短路现象，目前比较广泛应用的对栅线进行测试的方式是，在栅级焊接区(Gatebonding pad)下方引入测试短棒(shorting bar)的设计，在面板测试结束后，将该测试短棒的走线采用激光切割(laser cut)的方式切断，测试过程相对比较复杂。
【发明内容】
[0003]本发明的一个目的在于克服上述技术问题。
[0004]第一方面，本发明提供了一种阵列基板，包括:基底以及形成在所述基底上的多条栅线，并具有多个栅极扫描信号输入端，各个栅极扫描信号输入端一对一连接各条栅线的第一端；还包括至少一条栅线测试线和至少一个测试信号检测端，以及形成在所述栅线测试线与所述栅线之间的绝缘层；各条栅线测试线连接至所述至少一个测试信号检测端，且每一条栅线在第二端位置处与至少一条栅线测试线存在垂直交叠区域。
[0005]进一步的，奇数行的栅线的第一端以及所连接的栅极扫描信号输入端均位于所述阵列基板的第一侧边缘区域；偶数行的栅线的第一端以及所连接的栅极扫描信号输入端均位于所述阵列基板的第二侧边缘区域，所述第一侧和所述第二侧为相对的两侧；
[0006]所述栅线测试线和测试信号检测端的数目均为两个；第一栅线测试线位于阵列基板的第一侧边缘区域，连接第一测试信号检测端，与偶数行的各条栅线在第二端处存在交叠区域；
[0007]第二栅线测试线位于阵列基板的第二侧边缘你区域，连接第二测试信号检测端，与奇数行的各条栅线在第二端处存在交叠区域。
[0008]进一步的，所述阵列基板还包括通过图案化工艺形成在基底上的栅极驱动电路，栅极扫描信号输入端位于所述栅极驱动电路上；所述栅极驱动电路分为两组，第一组位于所述阵列基板的第一侧边缘区域，连接奇数行的栅线的第一端；第二组位于所述阵列基板的第二侧边缘区域，连接偶数行的栅线的第一端。
[0009]进一步的，第一栅线测试线位于第一组栅极驱动电路与显示区域之间，第二栅极测试线位于第二组栅极驱动电路与显示区域之间。
[0010]进一步的，与一条栅线在该栅线的第二端位置处存在垂直交叠区域的栅线测试线在该栅线的第二端位置处包括一个环形，该环形与该栅线存在两个垂直交叠区域。
[0011]进一步的，还包括通过图案化工艺形成在基底上的栅极驱动电路，栅极扫描信号输入端位于所述栅极驱动电路上。
[0012]进一步的，所述阵列基板还包括:形成在所述基底的上的源漏电极图形，各条栅线测试线与所述源漏电极图形同层形成。
[0013]第二方面，本发明提供了一种阵列基板的测试方法，用于上述任一项所述的阵列基板进行测试，该方法包括:
[0014]在需要对一条栅线进行测试时，将该栅线和与该栅线第二端存在垂直交叠区域的栅线测试线在该垂直交叠区域处短接；
[0015]在该栅线上施加测试信号，并在该栅线测试线所连接的测试信号检测端读取信号。
[0016]进一步的，所述阵列基板中需要测试的栅线在第二端位置处与相应的栅线测试线存在两个垂直交叠区域时，当需要测试的栅线在第二端位置处与相应的栅线测试线存在两个垂直交叠区域时，所述将该栅线和与该栅线第二端存在垂直交叠区域的栅线测试线在该垂直交叠区域处短接包括:在所述两个垂直交叠区域中的一个垂直交叠区域处将该栅线与相应的栅线测试线短接；
[0017]在该栅线测试线所连接的测试信号检测端读取信号之后，所述方法还包括:
[0018]在该栅线与相应的栅线测试线的短接处的外围将相应的栅线测试线的环形断开，使该栅线不与相应的栅线测试线相连。
[0019]进一步的，所述在该栅线与相应的栅线测试线的短接处的外围将相应的栅线测试线的环形断开包括:
[0020]采用激光切割的方式在该栅线与相应的栅线测试线的短接处的外围将相应的栅线测试线的环形断开。
[0021]进一步的，所述将该栅线和与该栅线第二端存在垂直交叠区域的栅线测试线在该垂直交叠区域处短接包括:
[0022]采用激光对该垂直交叠区域进行照射，使该栅线和该栅线测试线在该垂直交叠区域处短接。
[0023]第三方面，本发明提供了一种制作阵列基板的方法，包括:
[0024]在基底上形成多条栅线和多个和栅极扫描信号输入端，各个栅极扫描信号输入端一对一连接各条栅线的第一端；
[0025]在基底上形成至少一条栅线测试线和一个测试信号检测端，以及在所述栅线测试线与所述栅线之间的绝缘层；其中，各条栅线测试线连接至所述至少一个测试信号检测端，且每一条栅线在第二端位置处与至少一条栅线测试线存在垂直交叠区域。
[0026]第四方面，本发明提供了一种显示面板，包括上述任一项所述的阵列基板。
[0027]第五方面，本发明提供了一种显示装置，包括如上述的显示面板。
[0028]本发明提供的阵列基板中，设置有与各条栅线存在垂直交叠区与的栅线测试线，并设置有测试信号检测端，这样通过将栅线与栅线测试线短接，并在测试信号检测端处读取信号即可实现对相应的栅线的测试，测试过程简单易实现。
【附图说明】
[0029]图1和图2为本发明实施例一提供的阵列基板的结构示意图；
[0030]图3、图4和图5为本发明实施例二提供的阵列基板的结构示意图；
[0031]图6为本发明实施例三提供的阵列基板的结构示意图。
【具体实施方式】
[0032]为使本发明实施例的目的、技术方案和优点更加清楚，下面将结合本发明实施例中的附图，对本发明实施例中的技术方案进行清楚、完整的描述，显然，所描述的实施例仅仅是本发明一部分实施例，而不是全部的实施例。基于本发明的实施例，本领域普通技术人员在没有做出创造性劳动前提下所获得的所有其他的实施例，都属于本发明保护的范围。
[0033]第一方面，本发明提供了一种阵列基板，包括:基底以及形成在所述基底上的多条栅线，并具有多个栅极扫描信号输入端，各个栅极扫描信号输入端一对一连接各条栅线的第一端；另外，该阵列基板还包括至少一条栅线测试线和至少一个测试信号检测端，以及形成在所述栅线测试线与所述栅线之间的绝缘层；各条栅线测试线连接至所述至少一个测试信号检测端，且每一条栅线在第二端位置处与至少一条栅线测试线存在垂直交叠区域。
[0034]本发明提供的阵列基板中，设置有与各条栅线存在垂直交叠区与的栅线测试线，并设置有测试信号检测端，这样通过将栅线与栅线测试线短接，并在测试信号检测端处读取信号即可实现对相应的栅线的测试，测试过程简单易实现。
[0035]第二方面，本发明还提供了一种可用于对上述的阵列基板进行测试的方法，该方法包括:
[0036]在需要对一条栅