一种钨掺杂类金刚石薄膜的制备方法与流程

文档序号:12415712阅读:来源:国知局

技术特征:

1.一种钨掺杂类金刚石薄膜的制备方法,其特征在于包括以下步骤:

(1)选用玻璃为衬底,分别用丙酮、酒精、去离子水对衬底进行超声波清洗,以去除衬底表面杂质和油污,然后并用热风吹干;

(2)溅射腔室中采用钨W、石墨C为单独靶材;

(3)用Ar+离子轰击靶材3-5分钟,以清洗和活化靶材;

(4)把经过清洗的衬底放入溅射腔室,对衬底进行加温,温度在200C°-400C°;

(5)在溅射腔室真空度抽至10-5Pa时,通入氩气,使钨W、石墨C两靶同时起辉,进行3-5分钟的预溅射,除去两靶材表面的杂质、污物;

(6)进行溅射镀膜时,将衬底在两靶材溅射位置上分别进行分层磁控溅射镀膜,即C靶-W靶-C靶-W靶-C靶的位置上如此反复磁控溅射镀膜,进行溅射镀膜时两靶材的工艺参数分别为:W靶:功率50~300W,工作气压0.2~1.5Pa,溅射时间5~20min,偏压-50~-200W;石墨靶:功率50~300W,工作气压0.5~2.0Pa,溅射时间10~60min,偏压-50~-200W。

2.根据权利要求1所述的一种钨掺杂类金刚石薄膜的制备方法,其特征在于所用衬底为玻璃、Si片,不锈钢中的任一种基材。

3.根据权利要求1所述的一种钨掺杂类金刚石薄膜的制备方法,其特征在于:根据薄膜性能要求,最终确定每个靶材工艺参数和反复磁控溅射镀膜次数,镀膜后直接获得不同性能的W掺杂DLC薄膜。

4.根据权利要求1所述的一种钨掺杂类金刚石薄膜的制备方法,其特征在于W和C靶可单独进行工艺参数的控制,以制成不同用途及性能特征的钨掺杂类金刚石薄膜。

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