玻璃基板生产管理系统及玻璃基板生产管理方法_2

文档序号:9601968阅读:来源:国知局
用玻璃基板 实施产品关联处理来分割成多个单面玻璃板的情况下因所述缺陷的存在而产生了次品所 引起的下游侧工序的处理者受到的损失,并基于这些估算结果,计算出所述利益超过所述 损失时的1片所述大量小玻璃板获取用玻璃基板中存在的所述缺陷的适当个数、即缺陷容 许个数;和合格与否判定单元,将1片大量小玻璃板获取用玻璃基板中存在的所述缺陷的 实际个数处于由所述估算单元计算出的缺陷容许个数的范围内的大量小玻璃板获取用玻 璃基板和完全不存在缺陷的大量小玻璃板获取用玻璃基板一起作为送往下游侧工序的合 格品,将其他的大量小玻璃板获取用玻璃基板作为在上游侧工序中废弃的次品。
[0019] 该第2本发明和上述第1本发明的不同之处在于,利用单个检查单元在同一时期 进行:批次平均缺陷密度的计算;和针对一批大量小玻璃板获取用玻璃基板的全部数量中 存在缺陷的1片大量小玻璃板获取用玻璃基板中所存在的缺陷的实际个数的计数。其他的 构成相同,因此在此省略其动作或作用效果的说明。
[0020] 在上述第1及第2本发明中,将在下游侧工序中实施产品关联处理的大量小玻璃 板获取用玻璃基板的面区分为缺陷对产品关联处理有害的有害区域、和缺陷对产品关联处 理无害的无害区域,并将无害区域的面积除以大量小玻璃板获取用玻璃基板的面积而得到 的值设为无害区域救济率,将该无害区域救济率能够用于由所述估算单元执行的计算中。
[0021] 如此一来,即便缺陷存在于虚拟单面,只要该缺陷位于无害区域,则在下游侧工序 中就不会成为次品,因此符合实情,估算单元中的计算精度得以升高。
[0022] 在以上的构成中,所述上游侧工序的处理者可以是作为平板显示器用的大量小玻 璃板获取用玻璃基板的母板玻璃的制造者,所述下游侧工序的处理者可以是平板显示器的 面板的中间或最终的制造者。
[0023] 如此一来,只要上游侧工序的处理者能通过下拉法(downdraw)或浮标法 (float)等依次制作矩形的母板玻璃并进行前述的动作,就能推断最终作为合格品来处理 的母板玻璃的缺陷的个数。而且,面板的制造者通过进行通常的检查来排除次品,从而对于 母板玻璃的制造者与面板的制造者而言,在将两者的盈亏进行总和的情况下就能够得到增 益。
[0024] 再有,所述上游侧工序的处理者可以是作为平板显示器用的大量小玻璃板获取用 玻璃基板的母板玻璃的制造者,所述下游侧工序的处理者是对平板显示器的母板玻璃进行 切断后将其加工成单面玻璃板的制造者。
[0025] 即便在这种情况下,也能获得与上述情况同样的优点。
[0026] 而且,优选由计算机来进行所述估算单元中的计算和所述合格与否判定单元中的 判定。
[0027] 如此一来,可实现复杂且必需的计算等的自动化,可实现能够进行迅速的处理的 系统。
[0028] 为了解决上述课题而首创的第3本发明,是一种玻璃基板生产管理方法,包含在 下游侧工序中对在上游侧工序中制作出的大量小玻璃板获取用玻璃基板实施产品关联处 理而分割为多个单面玻璃板的流程,所述玻璃基板生产管理方法的特征在于,包括:第1检 查工序,基于在上游侧工序中从10片以上的一批大量小玻璃板获取用玻璃基板中抽取了 10片以上的缺陷检查的缺陷数据,检测抽取的大量小玻璃板获取用玻璃基板中存在的缺 陷的总个数,计算出该缺陷的总个数除以设为检查对象的总面积而得到的批次平均缺陷密 度;估算工序,针对上游侧工序中的所述一批大量小玻璃板获取用玻璃基板,使用所述批次 平均缺陷密度,使1片所述大量小玻璃板获取用玻璃基板中存在的所述缺陷的个数不同来 多次估算将存在缺陷的大量小玻璃板获取用玻璃基板预备地视为合格品而送往下游侧工 序所带来的上游侧工序的处理者受到的利益、和在对这些预备地视为合格品的大量小玻璃 板获取用玻璃基板实施产品关联处理来分割成多个单面玻璃板的情况下因所述缺陷的存 在而产生了次品所引起的下游侧工序的处理者受到的损失,并基于这些估算结果来计算出 所述利益超过所述损失时的1片所述大量小玻璃板获取用玻璃基板中存在的所述缺陷的 适当个数、即缺陷容许个数;第2检查工序,对上游侧工序中的所述一批大量小玻璃板获取 用玻璃基板的全部进行缺陷检查,并对存在所述缺陷的1片所述大量小玻璃板获取用玻璃 基板中存在的所述缺陷的实际个数进行计数;和合格与否判定工序,将1片所述大量小玻 璃板获取用玻璃基板中存在的所述缺陷的实际个数处于通过所述估算工序计算出的缺陷 容许个数的范围内的大量小玻璃板获取用玻璃基板、和完全不存在缺陷的大量小玻璃板获 取用玻璃基板一起作为送往下游侧工序的合格品,将其他的大量小玻璃板获取用玻璃基板 作为在上游侧工序中废弃的次品。
[0029] 该第3本发明虽然涉及玻璃基板生产管理方法,但实质性的动作或作用效果和上 述的第1本发明涉及的玻璃基板生产管理系统相同,因此在此省略其说明。
[0030] 为了解决上述课题而首创的第4本发明是一种玻璃基板生产管理方法,包含在下 游侧工序中对在上游侧工序中制作出的大量小玻璃板获取用玻璃基板实施产品关联处理 而分割为多个单面玻璃板的流程,所述玻璃基板生产管理方法的特征在于,包括:检查工 序,基于在上游侧工序中从10片以上的一批大量小玻璃板获取用玻璃基板中抽取了 10片 以上的缺陷检查的缺陷数据,检测抽取的大量小玻璃板获取用玻璃基板中存在的缺陷的总 个数,计算出该缺陷的总个数除以设为检查对象的总面积而得到的批次平均缺陷密度,并 且对所述一批大量小玻璃板获取用玻璃基板的全部进行缺陷检查,从而对1片所述大量小 玻璃板获取用玻璃基板中存在的所述缺陷的实际个数进行计数;估算工序,针对上游侧工 序中的所述一批大量小玻璃板获取用玻璃基板,使用所述批次平均缺陷密度,使1片所述 大量小玻璃板获取用玻璃基板中存在的所述缺陷的个数不同来多次估算将存在缺陷的大 量小玻璃板获取用玻璃基板预备地视为合格品而送往下游侧工序所带来的上游侧工序的 处理者受到的利益、和在对这些预备地视为合格品的大量小玻璃板获取用玻璃基板实施产 品关联处理来分割成多个单面玻璃板的情况下因所述缺陷的存在而产生了次品所引起的 下游侧工序的处理者受到的损失,并基于这些估算结果,计算出所述利益超过所述损失时 的1片所述大量小玻璃板获取用玻璃基板中存在的所述缺陷的适当个数、即缺陷容许个 数;和合格与否判定工序,将1片所述大量小玻璃板获取用玻璃基板中存在的所述缺陷的 实际个数处于通过所述估算工序计算出的缺陷容许个数的范围内的大量小玻璃板获取用 玻璃基板、和完全不存在缺陷的大量小玻璃板获取用玻璃基板一起作为送往下游侧工序的 合格品,将其他的大量小玻璃板获取用玻璃基板作为在上游侧工序中废弃的次品。
[0031] 该第4本发明虽然涉及玻璃基板生产管理方法,但实质性的动作或作用效果和上 述的第2本发明涉及的玻璃基板生产管理系统相同,因此在此省略其说明。
[0032] 该情况下,在上述的第3及第4本发明中,也可将在下游侧工序中实施产品关联处 理的大量小玻璃板获取用玻璃基板的面区分为缺陷对产品关联处理有害的有害区域、和缺 陷对产品关联处理无害的无害区域,并将无害区域的面积除以大量小玻璃板获取用玻璃基 板的面积而得到的值设为无害区域救济率,将该无害区域救济率用于在所述估算工序中进 行的计算当中,再有,可以是,所述上游侧工序的处理者为作为平板显示器用的大量小玻璃 板获取用玻璃基板的母板玻璃的制造者,所述下游侧工序的处理者为平板显示器的面板的 中间或最终的制造者,或者也可以是,所述上游侧工序的处理者为作为平板显示器用的大 量小玻璃板获取用玻璃基板的母板玻璃的制造者,所述下游侧工序的处理者为从平板显示 器的母板玻璃切断并加工成单面玻璃板的制造者,进而也可以通过计算机来执行所述估算 工序和合格与否判定工序。
[0033] 发明效果
[0034] 如上所述,根据本发明,无需将大量小玻璃板获取用玻璃基板的缺陷信息从上游 侧工序传递到下游侧工序,且缺陷的检查被简化,可实现作业效率的提高,同时还可实现考 虑了上游侧工序的处理者与下游侧工序的处理者的总体盈亏的玻璃基板生产管理系统及 玻璃基板生产管理方法。
【附图说明】
[0035] 图1是表示本发明的实施方式涉及的玻璃基板生产管理系统的主要构成的示意 构成图。
[0036] 图2是表示本发明的实施方式涉及的玻璃基板生产管理系统的流程的流程图。
[0037] 图3a是表示使用本发明的实施方式涉及的玻璃基板生产管理系统在现实中制作 单面玻璃板的过程的示意图。
[0038] 图3b是表示使用本发明的实施方式涉及的玻璃基板生产管理系统在现实中制作 单面玻璃板的过程的示意图。
[0039] 图3c是表示使用本发明的实施方式涉及的玻璃基板生产管理系统在现实中制作 单面玻璃板的过程的示意图。
[0040] 图4a是表示使用本发明的实施方式涉及的玻璃基板生产管理系统在现实中制作 单面玻璃板的过程的示意图。
[0041] 图4b是表示使用本发明的实施方式涉及的玻璃基板生产管理系统在现实中制作 单面玻璃板的过程的示意图。
[0042] 图4c是表示使用本发明的实施方式涉及的玻璃基板生产管理系统在现实中制作 单面玻璃板的过程的示意图。
[0043] 图5a是表示使用本发明的实施方式涉及的玻璃基板生产管理系统在现实中制作 单面玻璃板的过程的示意图。
[0044] 图5b是表示使用本发明的实施方式涉及的玻璃基板生产管理系统在现实中制作 单面玻璃板的过程的示意图。
[0045] 图5c是表示使用本发明的实施方式涉及的玻璃基板生产管理系统在现实中制作 单面玻璃板的过程的示意图。
[0046] 图6a是表示使用本发明的实施方式涉及的玻璃基板生产管理系统在现实中制作 单面玻璃板的过程的示意图。
[0047]图6b是表示使用本发明的实施方
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