应用于CMOS图像传感器测试的新型吸嘴装置的制作方法

本实用新型涉及芯片吸嘴领域，尤其涉及一种应用于CMOS图像传感器测试的新型吸嘴装置。

背景技术：

CMOS是Complementary Metal Oxide Semiconductor(互补金属氧化物半导体)的缩写。它是指制造大规模集成电路芯片用的一种技术或用这种技术制造出来的芯片，是电脑主板上的一块可读写的RAM芯片。因为可读写的特性，所以在电脑主板上用来保存BIOS设置完电脑硬件参数后的数据，这个芯片仅仅是用来存放数据的。

在对COMS进行测试的时候，测试机中机械手臂带着吸嘴装置来吸住CMOS图像传感器，并将CMOS图像传感器放置到测试区，在测试完成后，采用吸嘴装置吸住CMOS图像传感器并将CMOS图像传感器放置到测试完成区，现有的吸嘴装置采用的是一个真空泵来产生真空进而使得吸嘴部吸住CMOS图像传感器，放的时候靠CMOS图像传感器的自重放下来。然而，CMOS图像传感器表面的玻璃会有静电或者粘有一些胶或者有一些粘结物，使得光靠CMOS图像传感器的自重就没法放下来。

技术实现要素：

针对上述问题，本实用新型提供了一种应用于CMOS图像传感器测试的新型吸嘴装置，以解决现有技术中存在的因CMOS图像传感器表面的玻璃有静电或有粘结物导致CMOS图像传感器光靠自重无法掉落的问题。

为实现上述目的，本实用新型采取的技术方案为：

一种应用于CMOS图像传感器测试的新型吸嘴装置，包括吸嘴部和真空泵；所述吸嘴部包括用于吸住CMOS图像传感器的吸嘴孔；所述真空泵与所述吸嘴孔相连通；还包括用于将CMOS图像传感器从所述吸嘴部上吹落的充气装置；所述充气装置与一个充气孔相连通；

其中，所述充气孔可以与所述吸嘴孔为同一孔。

本实用新型提供的应用于CMOS图像传感器测试的新型吸嘴装置，优选地，所述充气装置通过第一吸管与所述充气孔相连通。

本实用新型提供的应用于CMOS图像传感器测试的新型吸嘴装置，优选地，所述充气孔与所述吸嘴孔为同一孔；所述真空泵通过吸管与所述吸嘴孔相连通；所述第一吸管为所述吸管的支管；所述支管的一端与所述吸管相连通，所述支管的另一端与所述充气装置相连通。

本实用新型提供的应用于CMOS图像传感器测试的新型吸嘴装置，优选地，所述支管与所述吸管的连接处为结合部；所述真空泵与所述结合部之间的管路上设置有控制管路开闭的第一电磁阀；所述支管上设置有控制所述支管开闭的第二电磁阀。

本实用新型提供的应用于CMOS图像传感器测试的新型吸嘴装置，优选地，所述吸嘴部还包括吸头；所述吸嘴孔设置于所述吸头与CMOS图像传感器接触的一面上；所述真空泵通过所述吸头与所述吸嘴孔相连通；所述吸头与CMOS图像传感器接触的一面向内凹陷形成凹陷部。

本实用新型提供的应用于CMOS图像传感器测试的新型吸嘴装置，优选地，所述吸头具有弹性。

本实用新型提供的应用于CMOS图像传感器测试的新型吸嘴装置，优选地，所述充气装置为充气泵。

上述技术方案，具有如下优点或有益效果：

1.结构简单，生产、安装和使用方便，适用于多种规格的CMOS图像传感器。

2.在现有的吸嘴装置上增设了充气装置，使得CMOS图像传感器能更好的脱落，有效解决了现有技术中因CMOS图像传感器表面的玻璃有静电或有粘接物导致CMOS图像传感器光靠自重无法掉落的问题。

3.利用现有吸嘴装置已有的管路，增设支管，节省材料，节约成本。

附图说明

在结合以下附图对非限制性实施例所作的详细描述，能够更好的理解本实用新型的上述特征和优点。在全部附图中相同的标记指示相同的部分。并未刻意按照比例绘制附图，重点在于示出本实用新型的主旨。

图1是本实用新型实施例1提供的应用于CMOS图像传感器测试的新型吸嘴装置的结构示意图。

具体实施方式

下面结合附图和具体实施例对本实用新型作进一步的说明，但是不作为本实用新型的限定。

实施例1：

如图1所示，本实用新型实施例1提供的一种应用于CMOS图像传感器测试的新型吸嘴装置，包括真空泵2和圆柱体形的吸嘴部1；吸嘴部1的一个底面上设置有用于吸住CMOS图像传感器的吸嘴孔11；真空泵2与吸嘴孔11相连通；真空泵2通过抽真空的方式使CMOS图像传感器吸附于吸嘴孔11所在的吸嘴部1的底面上；还包括用于将CMOS图像传感器从吸嘴部1上吹落的充气装置3；充气装置3与一个充气孔(图中未示出)相连通；充气孔可以与吸嘴孔11为同一孔；充气装置3通过充气的方式使吸附于吸嘴部1上的CMOS图像传感器脱落；真空泵2工作时，抽真空，产生负压，从而使CMOS图像传感器吸附于吸嘴孔11所在的吸嘴部1的底面上；随后CMOS图像传感器被运输至测试区域，此时真空泵2停止工作，充气装置3开始充气，气流从充气孔喷出，从而将CMOS图像传感器吹落至测试区域，有效解决了现有技术中因CMOS图像传感器表面的玻璃有静电或有粘结物导致CMOS图像传感器光靠自重无法掉落的问题。

更优选地，充气装置3通过第一吸管(图中未示出)与充气孔相连通；结构简单，易于生产，方便操作。

更优选地，充气孔与吸嘴孔11为同一孔；真空泵2通过一根吸管4与吸嘴部1相连通；吸管4通过吸嘴部1与吸嘴孔11相连通；吸管4的一端与吸嘴部1的另一个底面相连；吸管4的另一端与真空泵2相连通；第一吸管为吸管4的支管41；支管41的一端与吸管4相连通，支管41的另一端与充气装置3相连通；充分利用现有的真空泵2的管路，在原有吸管4上增设支管41，节省材料，节约生产成本。

更优选地，支管41与吸管4的连接处为结合部42；真空泵2与结合部42之间的管路上设置有控制管路开闭的第一电磁阀51；支管41上设置有控制支管41开闭的第二电磁阀52；当应用于CMOS图像传感器测试的新型吸嘴装置工作时，第二电磁阀52关闭支管41的管路，第一电磁阀51打开真空泵2与结合部42之间的管路，真空泵2工作，抽真空形成负压，使CMOS图像传感器吸附于吸嘴部1上；随后CMOS图像传感器被运至测试区域，此时第一电磁阀51关闭真空泵2与结合部42之间的管路，第二电磁阀52打开支管41的管路，充气装置3工作开始充气，气体从吸嘴孔11喷出从而将吸附于吸嘴部1上的CMOS图像传感器吹落至测试区域；避免了真空泵2和充气装置3相互影响，有效解决了现有技术中因CMOS图像传感器表面的玻璃有静电或有粘结物导致CMOS图像传感器光靠自重无法掉落的问题。

更优选地，吸嘴部1还包括吸头12；吸头12设置于吸嘴孔11所在的吸嘴部1的底面上；吸嘴孔11设置于吸头12与CMOS图像传感器接触的一面上；真空泵2通过吸头12与吸嘴孔11相连通；吸头12与CMOS图像传感器接触的一面向内凹陷形成凹陷部121；使得吸头12吸附CMOS图像传感器时只有部分与CMOS图像传感器接触，大大减小了吸头12与CMOS图像传感器的接触面积，一方面减小吸头12对CMOS图像传感器的磨损，另一方面减小因与吸头12接触对CMOS图像传感器带来的污染，减小对CMOS图像传感器测试的影响。

更优选地，吸头12可以是具有弹性的橡胶吸头12；橡胶吸头12使用寿命长，质地柔软，对CMOS图像传感器磨损小。

更优选地，充气装置3可以是充气泵3或其他可实现充气的装置。

应用于CMOS图像传感器测试的新型吸嘴装置工作时，吸头12与CMOS图像传感器表面接触，第一电磁阀51打开真空泵2与结合部42之间的管路，第二电磁阀52关闭支管41的管路，真空泵2工作抽真空产生负压从而使CMOS图像传感器吸附于吸头12上；随后CMOS图像传感器跟随应用于CMOS图像传感器测试的新型吸嘴装置运至测试区域，此时第一电磁阀51关闭真空泵2与结合部42之间的管路，第二电磁阀52打开支管41的管路，充气泵3工作向管道内充气最终从吸嘴孔11喷出，从而将吸附于吸头12上的CMOS图像传感器吹落至测试区域。

真空泵2和充气泵3的工作原理以及控制真空泵2和充气泵3工作的方法对本领域人员而言是清楚、明确的；第一电磁阀51和第二电磁阀52控制管路开闭的原理以及控制第一电磁阀51和第二电磁阀52工作的方法同样属于公知常识，在此不予赘述。

综上所述，本实用新型提供的应用于CMOS图像传感器测试的新型吸嘴装置，结构简单，生产、安装和使用方便，适用于多种规格的CMOS图像传感器；本实用新型提供的应用于CMOS图像传感器测试的新型吸嘴装置，在现有的吸嘴装置上增设了充气装置，使得CMOS图像传感器能更好的脱落，有效解决了现有技术中因CMOS图像传感器表面的玻璃有静电或有粘接物导致CMOS图像传感器光靠自重无法掉落的问题；利用现有的管路，增设支管，节省材料，节约成本。

本领域技术人员应该理解，本领域技术人员结合现有技术以及上述实施例可以实现所述变化例，在此不予赘述。这样的变化例并不影响本实用新型的实质内容，在此不予赘述。

以上对本实用新型的较佳实施例进行了描述。需要理解的是，本实用新型并不局限于上述特定实施方式，其中未尽详细描述的设备和结构应该理解为用本领域中的普通方式予以实施；任何熟悉本领域的技术人员，在不脱离本实用新型技术方案作出许多可能的变动和修饰，或修改为等同变化的等效实施例，这并不影响本实用新型的实质内容。因此，凡是未脱离本实用新型技术方案的内容，依据本实用新型的技术实质对以上实施例所做的任何简单修改、等同变化及修饰，均仍属于本实用新型技术方案保护的范围内。