托板401下表面右端，所述的第二伺服电机402与第二托板401螺纹相连，所述的第二丝杠403位于第二伺服电机402下端，所述的第二丝杠403与第二伺服电机402紧配相连且与第二托板401转动相连，所述的第二丝杠螺母404贯穿第二丝杠403，所述第二丝杠螺母404与第二丝杠403螺纹相连且与第一托板301螺纹相连，所述的底座I上表面还设有第一按钮101、第二按钮102、第三按钮103、第四按钮104，所述的第一按钮101与底座I螺纹相连，所述的第二按钮102与底座I螺纹相连，所述的第三按钮103与底座I螺纹相连，所述的第四按钮104与底座I螺纹相连，所述的第一按钮101控制第一伺服电机302正转，所述的第二按钮102控制第一伺服电机302反正，所述的第三按钮103控制第二伺服电机402正转，所述的第四按钮104控制第二伺服电机402反转，所述的底座I上表面左右两侧还设有第一导槽105，所述第一导槽105与底座I螺纹相连，所述的第一托板301还设有第一导轨305，所述的第一导轨305位于第一托板301下表面左右两侧，所述的第一导轨305与第一托板301螺纹相连，所述的第一托板301还设有第二导槽306，所述的第二导槽306位于第一托板301上表面上下两侧，所述的第二导槽306与第一托板301螺纹相连，所述的第二托板401还设有第二导轨405，所述的第二导轨405位于第二托板401下表面上下两侧，所述的第二导轨405与第二托板401螺纹相连，所述的第二托板401上表面设有凹槽406，所述凹槽406不贯穿第二托板401主体，该半导体自动进给检验平台，工作时，将半导体放置于设置在第二托板401表面的凹槽406内，使用显微镜2开始检验，当第一个半导体检验完成后，按下第一按钮101，第一伺服电机302正转，设定第一伺服电机302转动角度，使得每按下一次第一按钮101，第一伺服电机302带动第一托板301运动的距离等于两个半导体之间的间距，依次按下第一按钮101，完成第一纵列的半导体检验，按下第三按钮103，第二伺服电机402正转，设定第二伺服电机402转动角度，使得每按下一次第三按钮103，第二伺服电机402带动第二托板401运动的距离等于两个半导体之间的间距，当第二托板401移动完成后，按下第二按钮102，第一伺服电机302反转，设定第一伺服电机302转动角度，使得每按下一次第二按钮102，第一伺服电机302带动第一托板301运动的距离等于两个半导体之间的间距，依次按下第二按钮102，完成第二纵列检验，以此方式进行操作直到半导体检验完成。该平台结构简单，操作人员按特定的操作方式进行检验，可以保证每个半导体都被检验，不会发生漏检和重复检验，降低操作人员劳动强度，提高生产效率。
[0029]本实用新型不局限于上述具体的实施方式，本领域的普通技术人员从上述构思出发，不经过创造性的劳动，所做出的种种变换，均落在本实用新型的保护范围之内。
【主权项】
1.一种半导体自动进给检验平台，包括底座、显微镜，其特征在于还包括: 纵向进给组件，所述的纵向进给组件还包括第一托板、第一伺服电机、第一丝杠、第一丝杠螺母，所述的第一托板位于底座上端，所述的第一托板与底座滑动相连，所述第一伺服电机位于第一托板下表面上端，所述的第一伺服电机与第一托板螺纹相连，所述的第一丝杠位于第一伺服电机下端，所述的第一丝杠与第一伺服电机紧配相连且与第一托板转动相连，所述的第一丝杠螺母贯穿第一丝杠，所述的第一丝杠螺母与第一丝杠螺纹相连且与底座螺纹相连；以及 横向进给组件，所述的横向进给组件还包括第二托板、第二伺服电机、第二丝杠、第二丝杠螺母，所述的第二托板位于第一托板上端，所述的第二托板与第一托板滑动相连，所述第二伺服电机位于第二托板下表面右端，所述的第二伺服电机与第二托板螺纹相连，所述的第二丝杠位于第二伺服电机下端，所述的第二丝杠与第二伺服电机紧配相连且与第二托板转动相连，所述的第二丝杠螺母贯穿第二丝杠，所述第二丝杠螺母与第二丝杠螺纹相连且与第一托板螺纹相连。2.如权利要求1所述的半导体自动进给检验平台，其特征在于所述的底座上表面还设有第一按钮、第二按钮、第三按钮、第四按钮，所述的第一按钮与底座螺纹相连，所述的第二按钮与底座螺纹相连，所述的第三按钮与底座螺纹相连，所述的第四按钮与底座螺纹相连。3.如权利要求2所述的半导体自动进给检验平台，其特征在于所述的底座上表面左右两侧还设有第一导槽，所述第一导槽与底座螺纹相连。4.如权利要求3所述的半导体自动进给检验平台，其特征在于所述的第一托板还设有第一导轨，所述的第一导轨位于第一托板下表面左右两侧，所述的第一导轨与第一托板螺纹相连。5.如权利要求4所述的半导体自动进给检验平台，其特征在于所述的第一托板还设有第二导槽，所述的第二导槽位于第一托板上表面上下两侧，所述的第二导槽与第一托板螺纹相连。6.如权利要求5所述的半导体自动进给检验平台，其特征在于所述的第二托板还设有第二导轨，所述的第二导轨位于第二托板下表面上下两侧，所述的第二导轨与第二托板螺纹相连。7.如权利要求6所述的半导体自动进给检验平台，其特征在于所述的第二托板上表面设有凹槽，所述凹槽不贯穿第二托板主体。
【专利摘要】本实用新型公开了一种半导体自动进给检验平台，包括底座、显微镜、纵向进给组件、横向进给组件，进一步的，所述的底座上表面还设有第一按钮、第二按钮、第三按钮、第四按钮，所述的第一按钮控制第一伺服电机正转，所述的第二按钮控制第一伺服电机反正，所述的第三按钮控制第二伺服电机正转，所述的第四按钮控制第二伺服电机反转，通过设定按下第一按钮、第二按钮、第三按钮、第四按钮的顺序进行检验可保证每个半导体都被检验，不会发生漏检和重复检验，降低操作人员劳动强度，提高生产效率。
【IPC分类】B65G25/02, G01N21/95
【公开号】CN204727088
【申请号】CN201520300206
【发明人】彭勇, 李宏图, 赵从寿, 陶佩, 周根强, 石永洪, 其他发明人请求不公开姓名
【申请人】池州华钛半导体有限公司
【公开日】2015年10月28日
【申请日】2015年5月11日