蓝宝石晶片厚度检测装置制造方法
【专利摘要】本实用新型涉及蓝宝石加工检测设备领域，尤其是一种蓝宝石晶片厚度检测装置，它包括检测输送带，检测输送带的数量为两条，在两条检测输送带之间设有检测平台，检测平台与检测输送带首尾连接，且检测平台的高度与检测输送带的上表面一致，在检测平台上相对于检测输送带输送方向的后方的一端设有高度检测器；在高度检测器的前方的检测平台上设有分离装置。该蓝宝石晶片厚度检测装置，实现了对蓝宝石晶片的厚度的自动检测，检测效率高，而且可实现自动分离，使用性能优越。同时检测精度高、漏检率为零。
【专利说明】蓝宝石晶片厚度检测装置
【技术领域】
[0001]本实用新型涉及蓝宝石加工检测设备领域，尤其是一种蓝宝石晶片厚度检测装置。
【背景技术】
[0002]目前对蓝宝石加工企业内，对蓝宝石晶片的厚度的检测都是逐一进行的，检测速度较慢，而且检测过程中需要投入较多的人力物力，同时检测的精度会因为操作者的不同而产生差异，影响产品的一致性。另外在逐一进行取用过程中，容易造成蓝宝石晶片的损坏，影响质量。
实用新型内容
[0003]本实用新型的目的是为了解决上述技术的不足而提供一种结构简单，能实现蓝宝石晶片的自动检测，且检测速度快、精度高的蓝宝石晶片厚度检测装置。
[0004]为了达到上述目的，本实用新型所设计的蓝宝石晶片厚度检测装置，它包括检测输送带，检测输送带的数量为两条，在两条检测输送带之间设有检测平台，检测平台与检测输送带首尾连接，且检测平台的高度与检测输送带的上表面一致，在检测平台上相对于检测输送带输送方向的后方的一端设有高度检测器；在高度检测器的前方的检测平台上设有分离装置。
[0005]上述技术方案，在两条检测输送带之间设有检测平台，将蓝宝石晶片间隔均匀的放置在检测输送带上，并间隔的输送至检测平台上；当蓝宝石晶片经过检测平台上的高度检测器时，蓝宝石晶片的厚度会传送至控制器。若厚度检测合格，则继续送入输送方向前方的检测输送带上，输送至合格品收集区；若厚度检测不合格，则控制器控制分离装置将不合格产品分离至不合格品收集区。而为了提高检测的精度，在检测平台上不设置任何输送装置，检测平台上的蓝宝石晶片则通过后方的蓝宝石晶片的推力促使其往前运动，而且由于后方的蓝宝石晶片间隔设置，则使得检测平台上的蓝宝石晶片间歇运动，方便检测和分离。
[0006]作为优化，在检测输送带和检测平台的两侧均设有挡边；且检测输送带和检测平台的宽度大于蓝宝石晶片的宽度，且小于其宽度的2倍。该结构可使蓝宝石晶片呈直线型输送，且可避免其在输送过程中发生偏斜而掉落检测平台或检测输送带而造成蓝宝石晶片的损坏，提尚安全性。
[0007]所述的高度检测器为一个竖直设置的条状红外发生器和一个竖直设置的条状红外接收器，红外发生器和红外接收器对应的设置在检测平台的两侧。该结构的设置，只需蓝宝石晶片经过高度检测器即可对蓝宝石的厚度进行检测，且可检测蓝宝石晶片在传送方向各个区域的厚度，使检测数据更加完整，检测更加全面。
[0008]所述的分离装置的结构为:在检测平台的上方设有滑轨，滑轨的方向与检测输送带的输送方向垂直，在滑轨上设有滑块，在滑块上设有往复运动机构，在往复运动机构上设有连接板，在连接板上设有抽气装置，在抽气装置上连接有气管，气管竖直向下。当厚度检测装置检测出不合格品并当其运动至分离装置下方时，控制其控制往复运动机构向下移动，促使气管的顶部与不合格的蓝宝石晶片接触，此时抽气装置向外抽气，从而使得不合格的蓝宝石晶片吸附在气管上，在利用滑块在滑轨上的运动将不合格的蓝宝石晶片输送至侧边的不合格品收集区，简单方便，反应动作快速，提高效率。
[0009]在连接板上沿滑轨方向设有两个抽气装置，每个抽气装置上均设置一个竖直向下的气管，且两个气管之间的间隔大于检测平台的宽度。该结构可在其中一个气管向侧边运动时，另一个气管位于检测平台的中间位置，时刻准备吸取不合格品，每个不合格品的捡取滑块只需单程运动即可，减少不合格品的处理时间，提高处理能力，进而提高了设备的检测速率和检测效率。
[0010]在气管的下端设有吸盘，在吸盘的中心的下表面设有内凹结构，所述气管穿过吸盘与内凹结构连通；吸盘的内凹结构的横截面尺寸小于蓝宝石晶片的外围尺寸。该结构可有效的增加气管与蓝宝石晶片之间的接触面积，提高其吸附能力，避免发生脱落的意外，提尚使用性能。
[0011]在吸盘的下表面为软性材料层。该结构进一步提高了吸附能力，而且在蓝宝石晶片表面存在细微不平整时，也能被吸附，吸附能力强。
[0012]所述的往复运动机构为气缸，气缸的伸缩杆与连接板连接。
[0013]本实用新型所得到的蓝宝石晶片厚度检测装置，实现了对蓝宝石晶片的厚度的自动检测，检测效率高，而且可实现自动分离，使用性能优越。同时检测精度高、漏检率为零。
【专利附图】
【附图说明】
[0014]图1为本实用新型的主视图；
[0015]图2为本实用新型的俯视图；
[0016]图3为本实用新型的气管与吸盘连接处的示意图。
【具体实施方式】
[0017]下面通过实施例结合附图对本实用新型作进一步的描述。
[0018]实施例1:
[0019]如图1、图2、图3所示，本实施例描述的蓝宝石晶片厚度检测装置，它包括检测输送带1，检测输送带I的数量为两条，在两条检测输送带I之间设有检测平台2，检测平台2与检测输送带I首尾连接，且检测平台2的高度与检测输送带I的上表面一致，在检测平台2上相对于检测输送带I输送方向的后方的一端设有高度检测器3 ;在高度检测器3的前方的检测平台2上设有分离装置4 ;在检测输送带I和检测平台2的两侧均设有挡边12 ;且检测输送带I和检测平台2的宽度大于蓝宝石晶片13的宽度，且小于其宽度的2倍。
[0020]所述的高度检测器3为一个竖直设置的条状红外发生器和一个竖直设置的条状红外接收器，红外发生器和红外接收器对应的设置在检测平台2的两侧。
[0021]所述的分离装置4的结构为:在检测平台2的上方设有滑轨5，滑轨5的方向与检测输送带I的输送方向垂直，在滑轨5上设有滑块6，在滑块6上设有往复运动机构，在往复运动机构上设有连接板8，所述的往复运动机构为气缸7，在连接板8上设有抽气装置9，在抽气装置9上连接有气管10，气管10竖直向下。在连接板8上沿滑轨5方向设有两个抽气装置9，每个抽气装置9上均设置一个竖直向下的气管10，且两个气管10之间的间隔大于检测平台2的宽度。在气管10的下端设有吸盘11，在吸盘11的中心的下表面设有内凹结构，所述气管10穿过吸盘11与内凹结构连通；吸盘11的内凹结构的横截面尺寸小于蓝宝石晶片13的外围尺寸，在吸盘11的下表面为软性材料层14。
【权利要求】
1.一种蓝宝石晶片厚度检测装置，它包括检测输送带，其特征是:检测输送带的数量为两条，在两条检测输送带之间设有检测平台，检测平台与检测输送带首尾连接，且检测平台的高度与检测输送带的上表面一致，在检测平台上相对于检测输送带输送方向的后方的一端设有高度检测器；在高度检测器的前方的检测平台上设有分离装置。
2.根据权利要求1所述的一种蓝宝石晶片厚度检测装置，其特征是:在检测输送带和检测平台的两侧均设有挡边；且检测输送带和检测平台的宽度大于蓝宝石晶片的宽度，且小于其宽度的2倍。
3.根据权利要求1或2所述的一种蓝宝石晶片厚度检测装置，其特征是:所述的高度检测器为一个竖直设置的条状红外发生器和一个竖直设置的条状红外接收器，红外发生器和红外接收器对应的设置在检测平台的两侧。
4.根据权利要求3所述的一种蓝宝石晶片厚度检测装置，其特征是:所述的分离装置的结构为:在检测平台的上方设有滑轨，滑轨的方向与检测输送带的输送方向垂直，在滑轨上设有滑块，在滑块上设有往复运动机构，在往复运动机构上设有连接板，在连接板上设有抽气装置，在抽气装置上连接有气管，气管竖直向下。
5.根据权利要求4所述的一种蓝宝石晶片厚度检测装置，其特征是:在连接板上沿滑轨方向设有两个抽气装置，每个抽气装置上均设置一个竖直向下的气管，且两个气管之间的间隔大于检测平台的宽度。
6.根据权利要求5所述的一种蓝宝石晶片厚度检测装置，其特征是:在气管的下端设有吸盘，在吸盘的中心的下表面设有内凹结构，所述气管穿过吸盘与内凹结构连通；吸盘的内凹结构的横截面尺寸小于蓝宝石晶片的外围尺寸。
7.根据权利要求6所述的一种蓝宝石晶片厚度检测装置，其特征是:在吸盘的下表面为软性材料层。
8.根据权利要求4所述的一种蓝宝石晶片厚度检测装置，其特征是:所述的往复运动机构为气缸，气缸的伸缩杆与连接板连接。
【文档编号】B07C5/10GK204194310SQ201420597566
【公开日】2015年3月11日 申请日期:2014年10月16日 优先权日:2014年10月16日
【发明者】杨国峰, 杨文娟 申请人:杭州世明光电有限公司