电子元件分选方法及装置的制造方法
【专利说明】
【技术领域】
[0001]本发明是有关于一种分选方法及装置，尤指一种对电子元件进行检测其物理特性后予以分选分类的电子元件分选方法及装置。
【【背景技术】】
[0002]按，一般电子元件由于具有不同的物理特性，故常需经由检测、分选的程序来进行包装或分类，由于电子元件的微细化及量大属性，用于作检测、分选的装置必须提供迅速而精确的搬送，该多个被检测、分选的电子元件例如被动元件或LED发光二极管。
[0003]先前技术在进行检测时，常采用可作间歇旋转的测盘，在测盘周缘环列布设等间距凹设的载槽，借以自震动送料机的输送槽道承载受检测元件以间歇性旋转流路搬送，历经多个检测站的程序后依其检测出的物理特性，予以排出至不同的管路，以输送至特定的收集盒进行收集；但由测盘进入各不同管路前，需经由一分选机构依受检测元件的检测结果进行分类，此种分选机构常采用一表面开有多数孔道的凹球形分配盘，并以一位于凹球形分配盘中央上方的分配头作对应各孔道的逐一分配。
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【发明内容】
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[0004]然而，分选机构采用表面开有多数孔道的凹球形分配盘，由于凹球形本身为一三度空间的立体位移空间，其凹球形的真圆度加工精度必须非常高，否则分配头与其表面各孔道间发生余隙，容易使体积极为微细的受检测元件漏出或卡料，同时用以操作分配头的驱动机构要使其在凹球形的三度空间立体表面作位移，其机构的复杂性与精度也相对较高，相对使成本增加；另一方面，由于一般进行检测分选的电子元件例如被动元件或LED发光二极管等，其通常具有相当程度的粉尘，该多个粉尘容易随着大量的检测输送过程而掉落于分选机构中，并嵌塞于分配头与分配盘的凹球形表面间造成卡料。
[0005]爰是，本发明的目的，在于提供一种使分选机构简单，成本降低的电子元件分选方法。
[0006]本发明的另一目的，在于提供一种使分选机构简单，成本降低的电子元件分选装置。
[0007]本发明的又一目的，在于提供一种使分选机构避免沾附粉尘线的电子元件分选装置。
本发明的再一目的，在于提供一种用以执行如权利要求1至5所述电子元件分选方法的装置。
[0008]依据本发明目的的电子元件分选方法，用以将完成检测的受测元件进行分类，包括:使一分配头与一受测元件的排出管路连结；使一向下凹陷的凹弧状平面的分配座上设置多个分配管；操作分配头作上、下的弧形摆移配合前、后的水平直线滑移，以令管路中的受测元件被卸放至预定的分配管中被排放收集。
[0009]依据本发明目的的另一电子元件分选方法，用以将完成检测的受测元件进行分类，包括:使一拨架上的分配头受一转轴驱动作间歇性旋摆运动；使该转轴同时作间歇性直线运动；使分配头与一受测元件的排出管路连结；借所述间歇性旋摆运动配合间歇性直线运动，以令管路中的受测元件被卸放至一分配座上预定的分配管中被排放收集。
[0010]依据本发明另一目的的电子元件分选装置，用以将完成检测的受测元件进行分类，包括:一检测机构，用以对受测元件进行检测，设有将完成检测的受测元件予以排出的管路；一分选机构，包括一移摆机构，其设有一水平设置的转轴，转轴一端设有一拨架并与其连动，拨架上设有一分配头，转轴受一第一驱动件驱动可作间歇性转动，及受一第二驱动件驱动可沿转轴轴向作间歇性直线位移；一分配座，设有多个分配管，各分配管分别接设收集容器；该分配头与受测元件的排出管路连结，以令管路中的受测元件被卸放至分配座上预定的分配管中被排放收集。
[0011]依据本发明又一目的的电子元件分选装置，用以将完成检测的受测元件进行分类，包括:一检测机构，用以对受测元件进行检测，设有将完成检测的受测元件予以排出的管路；一分选机构，包括一移摆机构以一分配头在一设有多个分配管分配座上移摆，该分配头与一检测机构受测元件排出的管路连结；一遮罩，设于检测机构与分选机构之间，其设有镂空区间，该镂空区间可供检测机构管路穿经。
[0012]依据本发明再一目的的电子元件分选装置，用以执行如权利要求1至5所述电子元件分选方法的装置。
[0013]本发明实施例的电子元件分选方法及装置，由于分选机构采用凹弧状平面的分配座，其凹弧状平面由两侧的第一侧座及第二侧座处往下弧凹，分配座上设有多个分配管，各分配管的配设呈由上往下的扇形放射状配置，各分配管上方端口呈凹弧状平面排列布设，故分配座的加工容易，无须考量真圆度问题；而分配管上方端口凸出于分配座上方凹弧状平面的上表面一段高度，并由一金属材质的嵌管及一挠性材质的套管所套接而成，可使分配座的加工成本节省；同时用以操作分配头的驱动机构仅须作上、下的弧形摆移配合前、后的水平直线滑移，其机构简单，精度需求也较低，相对使成本降低；另一方面，由于进行检测分选的电子元件粉尘可以被遮罩所阻挡，分选机构中的分配头与分配座的表面间造成卡料机会可以降低。
【【附图说明】】
[0014]图1是本发明实施例中检测机构、分选机构、固定罩件的配置示意图。
图2是本发明实施例中固定罩件及活动罩件的立体分解示意图。
图3是本发明实施例中遮罩的罩覆状况示意图。
图4是本发明实施例中分选机构之后侧立体示意图。
图5是本发明实施例中主轴的部分立体示意图。
图6是本发明实施例中分选机构之前侧立体示意图。
图7是本发明实施例中分配座之前侧示意图。
图8是本发明实施例中分配座的立体示意图。
图9是本发明实施例中分选机构的俯视示意图。
图10是本发明实施例中分选机构之前侧视示意图。
图11是本发明实施例中分配座上分配管构造剖面示意图。 【符号说明】
[0015]1检测机构11测盘
12管路2机台
3分选机构31模座 311操作区间312第一侧座 313第二侧座314第三侧座 32第一驱动件33第二驱动件 331输出轴332驱动臂 333连动臂34移摆机构 341第一固定座342嵌轮
343转轴344嵌沟
345第二固定座346拨架
347分配头35分配座
351上端缘352上表面
353嵌孔36分配管
361上方端口362嵌管
363套管364嵌抵段
365枢管段366锥孔部
4遮罩41固定罩件 411视窗412镂空区间 413遮件42活动罩件 421视窗422握扣部位
【【具体实施方式】】
请参阅图1，本发明实施例的电子元件分选方法可以图中所示分选装置为例作说明，包括:
一检测机构1，包括一可作间歇旋转的测盘11，其受架高于机台2台面上，测盘11周缘环列布设等间距凹设的载槽，可借自震动送料机(图中未示)的输送槽道承载受检测元件以间歇性旋转流路搬送受测元件；测盘11上方可设置各种物理特性检测仪器以进行对位于测盘11周缘载槽中的受测元件的检测；检测机构1同时设有二个排出管路12，可用以将完成检测的受测元件予以排出