专利名称：电子组件透视检测装置的制作方法
技术领域：
本新型涉及一种透视检测装置，尤其涉及一种电子组件透视检测装置。
背景技术：
目前， 一些高能量光源，例如，x光光源，伽玛射线源，常应用于计算
机断层影像系统中，用以检测待测物的生化及病理特性。 一般而言，计算机
断层扫瞄(CT)中，利用X光做为光源并照射一待测检测物，以得出该待测检 测物的结构性影像。而单光子发射计算机断层扫瞄(SPECT)则使用放射性同 位素伽玛射线造影，以得出该待测检测物的功能性影像，例如，中国台湾专 利公报的公告/公开号00， 565， 437《整合结构性及功能性造影之计算机断 层影像系统》中使用X光、伽玛射线做为光源、幅射源来检测待测物的生化 及病理特性。因此，高能量光源(例如，X光光源)的应用上常仅局限于计算 机断层影像系统，并常仅用于检测待测物的生化及病理特性，而并未应用于 电子组件透视检测上。
即便如中国台湾专利公报的公告/公开号0， 056， 023《使用光及X射线 的观察装置、曝光装置及曝光方法》中所述，然而，该专利仅适用于电路基 板/光罩基板上，而并非是针对电子组件而言，况且，于该专利中曝光装置必 须予以移动以进行曝光方法，因此，该专利仅是利用可见光、以及X光当成 曝光光源，而并非是用来检测透视电子组件的结构。
另外，如于中国台湾专利公报的公告/公开号1273275《控制幅射的传感 器装置、具此传感器装置之计算机断层扫瞄装置及其制造方法》中所述，该 专利仅为应用于计算机断层扫瞄装置中的传感器装置、及其制造方法，其适 用范围也仅局限于计算机断层扫瞄方面。
所以如何寻求一种电子组件透视检测装置，特别是应用于，例如，检测 发光二极管LED组件，利用X光源及/或可见光源来照射所须检测的LED电 子组件，在无须移动电子组件检测物的情况下，分析、判断所得的电子组件外形轮廓影像、以及该电子组件内部透视影像，用以检测该电子组件是否为 良品，乃是待解决的问题。
实用新型内容
本实用新型的主要目的便是在于提供一种电子组件透视检测装置，特别
是应用于检测发光二极管LED组件及/或其它电子组件，利用X光源及/或可 见光源来照射所须检测的LED电子组件及/或其它电子组件，在无须移动电 子组件检测物的情况下，分析、判断所得的电子组件外形轮廓影像、以及该 电子组件内部透视影像，以检测该电子组件是否为良品。
为了实现上述目的，本新型提供了一种电子组件透视检测装置，在无须 移动电子组件的情况下对电子组件进行检测，所述电子组件透视检测装置包 含
光源组件，该光源组件用以产生出照射电子组件所需的X光光源及/或 可见光光源；
承载组件，该承载组件用以承载该电子组件，并让该X光光源及/或该 可见光光源照射该电子组件;以及 成像组件，该成像组件包含
X光转换/影像增强部件，该X光转换/影像增强部件会将该X光转换为 微弱的荧光并将影像予以增强； 镜头；
CCD照相机;于该X光转换/影像增强部件下方的该镜头以及该CCD照 相机，将所照射出的该电子组件的影像传送到影像辨识组件； 以及；
影像辨识组件，该影像辨识组件分析、判断所得的电子组件的影像，而 以检测该电子组件是否为良品。 所述光源组件包含
X光产生器，该X光产生器产生出照射电子组件所需的X光光源;以及 可见光灯源，该可见光灯源为环形灯具用以产生出照射该电子组件所需 的可见光光源。
所述电子组件的影像为该电子组件的外形轮廓影像、以及内部透视影像予以迭合后的迭合影像。
所述电子组件的影像为该电子组件的外形轮廓影像。 所述电子组件的影像为该电子组件的内部透视影像。 所述电子组件的该外形轮廓影像的形成先于该内部透视影像。 所述电子组件的该内部透视影像的形成先于该外形轮廓影像。 所述电子组件为发光二极管LED。
本新型的有益效果是利用本新型的电子组件透视检测装置进行检测
LED电子组件及/或其它电子组件时，于LED电子组件及/或其它电子组件无 须移动的情况下，可用光源组件所产生的X光光源及/或可见光光源照射于 承载组件上的LED电子组件及/或其它电子组件;当X光光源穿透于承载组件 上的LED电子组件及/或其它电子组件后，于承载组件下方之X光转换/影像 增强部件会将X光转换为微弱的荧光，接着，并将影像予以增强;此时，于 该X光转换/影像增强部件下方的输出面，已呈现正常可观看的影像;最后， F该X光转换/影像增强部件下方的镜头以及CCD照相机，将所照射出的 LED电子组件及/或其它电子组件的外形轮廓影像、以及内部透视影像予以 迭合，并将迭合后的影像传送到影像辨识组件，利用影像辨识组件而检测该 电子组件是否为良品。
图1为一系统示意图，用以显示说明本新型实施例中电子组件透视检测 装置的结构；
图2为一示意图，用以显示说明图1中本新型实施例中电子组件透视检
测装置的一更详细结构；
图3为一示意图，用以显示说明图2中本新型实施例中电子组件透视检
测装置的X光光源取像情形；
图4为一示意图，用以显示说明图2中本新型实施例中电子组件透视检
测装置的可见光源取像情形；
图5为一示意图，用以显示说明LED电子组件的内部透视影像； 图6为一示意图，用以显示说明LED电子组件的外形轮廓影像； 图7为一示意图，用以显示说明由LED电子组件的外形轮廓影像以及内部透视影像所组成的迭合影像；
图8为一示意图，用以显示说明利用图3中的X光光源取像所得出的另 一LED电子组件的内部透视影像；
图9为一示意图，用以显示说明利用图4中的可见光源取像所得出的另 - LED电子组件的外形轮廓影像;以及
图IO为一示意图，用以显示说明由另一LED电子组件的外形轮廓影像 以及内部透视影像所组成的迭合影像。
具体实施方式
图1为一系统示意图，用以显示说明本新型的电子组件透视检测装置的 结构。如图1中所示，电子组件透视检测装置1包含光源组件2、承载组件 3、成像组件4、以及影像辨识组件5。
在此，以LED电子组件6为例，但并非用以限定电子组件的种类，而 仅是以LED电子组件6做为施行对象，用以说明本新型的电子组件透视检 测装置1确实可实施并用以检测电子组件，其它的电子组件也可以利用本新 型的电子组件透视检测装置1而予以检测。
光源组件2用以产生出照射LED电子组件6所需的X光光源及/或可见 光光源。
承载组件3用以承载LED电子组件6，并让X光光源及/或可见光光源 照射LED电子组件6。
成像组件4包含X光转换/影像增强部件41、镜头42、以及CCD照相 机43。当X光光源穿透于承载组件3上的LED电子组件6后，于承载组件 3下方的X光转换/影像增强部件41会将X光转换为微弱的荧光，接着，并 将影像予以增强。此时，于该X光转换/影像增强部件41下方的输出面，已 呈现正常可观看的影像。于该X光转换/影像增强部件41下方为镜头42以 及CCD照相机43。于该X光转换/影像增强部件41下方的镜头42以及CCD 照相机43，将所照射出的LED电子组件6的外形轮廓影像61、以及LED电 子组件6的内部透视影像62予以迭合，并将迭合后的影像63传送到影像辨 识组件5。
影像辨识组件5分析、判断所得的LED电子组件6外表与内层的清晰迭合影像63的电子组件外形轮廓影像61、以及该电子组件内部透视影像62， 而检测该LED电子组件6是否为良品。
图2为一示意图，用以显示说明如图1中本新型的电子组件透视检测装 置的一更详细结构。如图2中所示，电子组件透视检测装置1包含光源组件 2、承载组件3、成像组件4、以及影像辨识组件5。
在此，光源组件2包含一个X光产生器21、以及一个可见光灯源22， 该个可见光灯源22可为环形灯具，例如，环形日光灯，环形LED等等。光 源组件2用以产生出照射检测物所需的X光光源及/或可见光光源。
承载组件3为一工作台，用以承载LED电子组件6并让X光光源及/或 可见光光源照射LED电子组件6。
成像组件4包含X光转换/影像增强部件41、镜头42、以及CCD照相 机43。当X光光源穿透于承载组件3上的LED电子组件6后，于承载组件 3下方的X光转换/影像增强部件41会将X光转换为微弱的荧光，接着，并 将影像予以增强。此时，于该X光转换/影像增强部件41下方的输出面，已 呈现正常可观看的影像。于该X光转换/影像增强部件41下方的镜头42以 及CCD照相机43，将所照射出的LED电子组件6的外形轮廓影像61、以 及内部透视影像62予以迭合，并由CCD照相机43输出迭合影像63至影像 辨识组件5。
影像辨识组件5分析、判断所得的LED电子组件6外表与内层的清晰 迭合影像63的电子组件外形轮廓影像61、以及该电子组件内部透视影像62， 而检测该LED电子组件6是否为良品。
图3为一示意图，用以显示说明图2中的本新型的电子组件透视检测装 置的X光光源取像情形。在此，X光光源的取像动作可先于可见光源的取像 动作，或者，后于可见光源的取像动作，或者，与可见光源取像动作同时进 行。如图3中所示，光源组件2包含一个X光产生器21、以及一个可见光 灯源22，该个可见光灯源22可为环形灯具，例如，环形日光灯，环形LED 等等。光源组件2用以产生出照射检测物所需的X光光源及/或可见光光源。
成像组件4包含X光转换/影像增强部件41、镜头42、以及CCD照相 机43。当X光光源穿透于承载组件3上的LED电子组件6后，于承载组件 3下方的X光转换/影像增强部件41会将X光转换为微弱的荧光，接着，并将影像予以增强。此时，于该X光转换/影像增强部件41下方的输出面，已
呈现正常可观看的影像。于该X光转换/影像增强部件41下方的镜头42以 及CCD照相机43将内部透视影像62输出至影像辨识组件5，可得出如图5 中所示的内部透视影像62。
图4为一示意图，用以显示说明如图2中的本新型的电子组件透视检测 装置的可见光源取像情形。在此，可见光源的取像动作可先于X光光源的取 像动作，或者，后于X光光源的取像动作，或者，与X光光源取像动作同 时进行。如图4中所示，光源组件2的可见光灯源22可为环形灯具；例如， 环形日光灯，环形LED等等，用以产生出照射检测物所需的可见光光源。
承载组件3为一工作台，用以承载LED电子组件6并让可见光光源照 射LED电子组件6。
这里，由于光源为可见光，因此，于成像组件4中无须应用到X光转换 /影像增强部件41，可将X光转换/影像增强部件41置于镜头42、以及CCD 照相机43的左侧。当可见光光源穿透于承载组件3上的LED电子组件6后， —f该承载组件3下方的输出面，已呈现正常可观看的影像。于该承载组件3 下方的镜头42以及CCD照相机43将外形轮廓影像61输出至影像辨识组件 5，可得出如图6中所示的外形轮廓影像61。
图5为一示意图，用以显示说明LED电子组件的内部透视影像。如图5 中所示，于影像辨识组件5上，可清楚的得出来自于镜头42以及CCD照相 机43的LED电子组件6的内部透视影像62。
图6为一示意图，用以显示说明LED电子组件的外形轮廓影像。如图4 中所示，于影像辨识组件5上，可清楚的得出来自于镜头42以及CCD照相 机43的LED电子组件6的外形轮廓影像61 。
图7为一示意图，用以显示说明由LED电子组件的外形轮廓影像以及 内部透视影像所组成的迭合影像。在此，外形轮廓影像61可先于内部透视 影像62而产生出来，或者，后于内部透视影像62，或者，外形轮廓影像61 与内部透视影像62同时产生出来。迭合影像63由图5中的内部透视影像62 以及如图6中的外形轮廓影像61所组成。通过于影像辨识组件5上的迭合 影像63，可检测出LED电子组件6是否为良品。
图8为一示意图，用以显示说明利用于图3中的X光光源取像所得出的另一LED电子组件的内部透视影像。在此，由于其X光光源取像同理于图3， 是故在此不再赘述。如第8图中所示之，于影像辨识组件5上，可清楚的得 出来自于镜头42以及CCD照相机43的LED电子组件6的另一 LED电子组 件6的内部透视影像62。
图9为一示意图，用以显示说明利用于图4中的可见光源取像所得出的 另一LED电子组件的外形轮廓影像。在此，由于其可见光源取像同理于图4， 是故在此不再赘述如图9中所示，于影像辨识组件5上，可清楚的得出来自 于镜头42以及CCD照相机43的另一 LED电子组件6的外形轮廓影像61 。
图IO为一示意图，用以显示说明由另一LED电子组件的外形轮廓影像 以及内部透视影像所组成的迭合影像。在此，外形轮廓影像61可先于内部 透视影像62而产生出来，或者，后于内部透视影像62，或者，外形轮廓影 像61与内部透视影像62同时产生出来。迭合影像63由图8中的内部透视 影像62以及如图9中的外形轮廓影像61所组成。通过于影像辨识组件5上 的迭合影像63，可检测出LED电子组件6是否为良品。
以上所述实施例，本新型的电子组件透视检测装置用以检测发光二极管 LED电子组件，电子组件并非仅限于发光二极管LED电子组件，而是可为 任何的电子组件，而用于其它电子组件的透视检测装置将包含于本新型，其 原理相同、类似于本新型，因此，在此不再赘述。
综合以上的实施例，我们可以得到本新型的一种电子组件透视检测装 置，用于电子组件透视检测环境中，该电子组件透视检测装置利用X光源及 /或可见光源来照射所须检测的电子组件，在无须移动电子组件检测物的情况 下，分析、判断所得的电子组件外形轮廓影像、以及该电子组件内部透视影 像，以检测该电子组件是否为良品，在此，该电子组件可为，例如，发光二 极管LED组件。本新型的电子组件透视检测装置的优点为:利用X光源及/ 或可见光源来照射所须检测的LED电子组件及/或其它电子组件，在无须移 动电子组件检测物的情况下，分析、判断所得的电子组件外形轮廓影像、以 及该电子组件内部透视影像，以检测该电子组件是否为良品。
以上所述仅为本新型的较佳实施例而已，并非用以限定本新型的范 围;凡其它未脱离本新型所揭示的精神下所完成的等效改变或修饰，均应 包含在下述的新型范围内。
权利要求1. 一种电子组件透视检测装置，在无须移动电子组件的情况下对电子组件进行检测，其特征在于，所述电子组件透视检测装置包含光源组件，该光源组件用以产生出照射电子组件所需的X光光源及/或可见光光源；承载组件，该承载组件用以承载该电子组件，并让该X光光源及/或该可见光光源照射该电子组件；以及成像组件，该成像组件包含X光转换/影像增强部件，该X光转换/影像增强部件会将该X光转换为微弱的荧光并将影像予以增强；镜头；CCD照相机；于该X光转换/影像增强部件下方的该镜头以及该CCD照相机，将所照射出的该电子组件的影像传送到影像辨识组件；以及；影像辨识组件，该影像辨识组件分析、判断所得的电子组件的影像，而以检测该电子组件是否为良品。
2. 如权利要求1所述的电子组件透视检测装置，其特征在于，所述光源 组件包含X光产生器，该X光产生器产生出照射电子组件所需的X光光源;以及 可见光灯源，该可见光灯源为环形灯具用以产生出照射该电子组件所需 的可见光光源。
3. 如权利要求1或2所述的电子组件透视检测装置，其特征在于，所述 电子组件的影像为该电子组件的外形轮廓影像、以及内部透视影像予以迭合后的迭合影像。
4. 如权利要求1或2所述的电子组件透视检测装置，其特征在于，所述电子组件的影像为该电子组件的外形轮廓影像。
5. 如权利要求1或2所述的电子组件透视检测装置，其特征在于，所述 电子组件的影像为该电子组件的内部透视影像。
6. 如权利要求3所述的电子组件透视检测装置，其特征在于，所述电子组件的该外形轮廓影像的形成先于该内部透视影像。
7. 如权利要求3所述的电子组件透视检测装置，其特征在于，所述电子组件的该内部透视影像的形成先于该外形轮廓影像。
8. 如权利要求1或2所述的电子组件透视检测装置，其特征在于，所述电子组件为发光二极管LED。
9. 如权利要求3所述的电子组件透视检测装置，其特征在于，所述电子 组件为发光二极管LED。
10. 如权利要求4所述的电子组件透视检测装置，其特征在于，所述电 子组件为发光二极管LED。
11. 如权利要求5所述的电子组件透视检测装置，其特征在于，所述电 子组件为发光二极管LED。
专利摘要本实用新型公开了一种电子组件透视检测装置，包含光源组件，承载组件，以及成像组件；该成像组件包含X光转换/影像增强部件，镜头；CCD照相机，以及影像辨识组件。所述电子组件透视检测装置应用于电子组件透视检测环境中，该电子组件透视检测装置利用X光源及/或可见光源来照射所须检测的电子组件，在无须移动电子组件检测物的情况下，分析、判断所得的电子组件外形轮廓影像、以及该电子组件内部透视影像，用于检测该电子组件是否为良品。
文档编号G01B11/24GK201251431SQ20082011410
公开日2009年6月3日 申请日期2008年5月23日 优先权日2008年5月23日
发明者范炽格, 董文山 申请人:骏泽科技股份有限公司