专利名称：电子元件的检测装置的制作方法
技术领域：
本实用新型涉及一种电子元件的检测装置，尤其涉及一种利用两组转盘 的搭配所建构成的检测装置。
背景技术：
近年来，便携式信息电子产品与移动通讯产品朝着轻薄短小、多功能、 高可靠度与低价化的趋势发展，顺应这个趋势，在电子产品的电路设计之中， 各式各样的电子元件也正必须面对集成整合化的问题。电子元件小型化一直 是产业界的发展主流，例如随着传统的、仅具有纯语音通讯功能的移动电话 的陆续消失，消费者对移动电话的需求更趋向于多元化方向发展，其中包括 记事功能、短讯传输及多媒体影音传输等附加的应用直接带动了移动电话在 产品设计上的变革，也正因为产品设计趋于复杂，其所使用到的电子元件的 数目越来越多。
又例如汽车设计科技已从以往着重机械性能的时代，开始转变为汽车电 子化与信息化的时代，汽车智能通讯系统、行车计算机、卫星定位系统等电 子化配备目前已广泛应用在车辆的使用上。随着汽车电子化程度日益提高， 汽车所需使用的电子元件数量也随之增加。
因此，电子元件的可靠度以及产品的合格率影响到各种产品在使用时的 质量以及性能表现。 一般而言，电子元件在制造完成后均会进行目视检测的 流程以确保电子元件的质量。在已知技术中，电子元件会放置在一大型转盘 上以供多组摄影机撷取其表面的影像，但为了得到电子元件底面的影像，该 大型转盘必须为透光材质，以利于摄影机捕捉电子元件的底面影像。第一种 作法可利用高硬度的石英玻璃制作该大型转盘，但石英玻璃的单价高，造成 检测装置的成本相当高，因此不符合经济效益。另一作法则利用强化玻璃制 作该大型转盘，但强化玻璃的硬度不足，电子元件容易在该强化玻璃转盘表 面上留下刮痕，使得影像撷取时无法获得清楚的电子元件底面影像，造成分析结果的不正确。再者，由于转盘具有透光性，则摄影机在撷取影像时容易 受到其它外部机构的影响，也会造成影像判别时的误差。
因此，本实用新型提出一种设计合理且能有效改善上述缺点的电子元件
检测装置。
实用新型内容
本实用新型的主要目的，在于提供一种含有两个转盘的检测装置，该装 置可利用一较小的透明转盘，以达到检测电子元件底面的功能。
本实用新型的另一目的，在于提供一种较小的透明转盘，其具有高硬度 的性质，以避免转盘受到待检测的电子元件的碰撞而刮伤，进而减少影像撷 取的干涉现象以提高检测准确度。
为了达到上述目的，本实用新型提供一种电子元件的检测装置，其特 征在于，包括 一第一透明转盘，其中所述电子元件连续供应以放置于该第 一透明转盘上方； 一第一影像撷取单元，其设置于该第一透明转盘下方以检 测所述电子元件的底面； 一第二转盘，其邻接于该第一透明转盘； 一导引单 元，其设置于该第一透明转盘与该第二转盘的邻接位置，其中位于该第一透 明转盘上的所述电子元件通过该导引单元导引转送至该第二转盘；以及多个 第二影像撷取单元，其设置于该第二转盘上方以检测所述电子元件的其它外 表面。
本实用新型具有以下有益的效果本实用新型提出的检测装置，利用 高硬度的材质制作成较小的转盘并配合金属材质的较大转盘，因此可以大幅 度减少检测装置的成本；另一方面，上述检测装置可利用两组收料单元， 预先排除底面不合规格的电子元件，由此提高整体检测效率。
为使本领域技术人员能更进一步了解本实用新型的特征及技术内容，请 参阅以下有关本实用新型的详细说明与附图，然而附图仅提供参考与说明 用，并非用来对本实用新型加以限制。
图1是本实用新型的电子元件的检测装置的示意图。 图2是本实用新型的电子元件的检测装置的侧视图。图3是电子元件外观的示意图。
图4是本实用新型的分析与控制单元的撷取影像的示意图。
图5是本实用新型的电子元件的检测装置第二实施例的示意图。
其中，附图标记说明如下
IO第一透明转盘11第一影像撷取单元
lll第一摄影镜头112第一发光件
12第二转盘13导引单元
131导引面14第二影像撷取单元
141第二摄影镜头142第二发光件
15进料单元152进料转盘
151进料轨道16分析与控制单元
17第一收料单元18第二收料单元
200电子元件Wl最小邻接宽度
w宽度B底面
F前表面R后表面
T上表面LS左表面
RS右表面
具体实施方式
请参阅图1，本实用新型提供一种电子元件的检测装置，其用于检测
多个电子元件200的外表面，该检测装置包括 一第一透明转盘IO、 一第一 影像撷取单元11、 一第二转盘12、 一导引单元13以及多个第二影像撷取单 元14。其中该第一透明转盘10以及该第二转盘12是用以乘载所述电子元件 200以进行每一电子元件200的外表面检测作业。以下将针对每一单元进行 详细说明。
首先，请参考图2，该第一透明转盘10为一石英玻璃材质所制作的 圆形转盘且该第一透明转盘10下方设有一第一影像撷取单元11，所述电子 元件200连续供应以放置于该第一透明转盘10上方，通过该第一透明转盘 10的转动，每一电子元件200均会相对于该第一影像撷取单元11移动，当某一电子元件200移至该第一影像撷取单元11上方时，该第一影像撷取单 元11即可撷取该电子元件200的底面影像，该底面影像即可用以判别每一 电子元件200在制成后的底面B (请参考图3)的外观。如上所述，该第一 透明转盘10最佳为一石英玻璃材质，其具有高硬度的特性，以避免该第一 透明转盘10遭到电子元件200的撞击或刮伤；但该第一透明转盘IO并不限 定于石英玻璃，但其必须具有高硬度及高透明度的性质。而所述电子元件200 是利用一进料单元15而被依序地送至该第一透明转盘10。该进料单元15可 包括一进料转盘152以及一进料轨道151，所述电子元件200在该进料转盘 152上进行排列再通过该进料轨道151运送至该第一透明转盘10。
此外，该电子元件的检测装置包括一邻接于该第一透明转盘10的第 二转盘12，且在该第一透明转盘10与该第二转盘12的邻接位置上设有一导 引单元13。当每一电子元件200经过该第一影像撷取单元11的影像撷取之 后，所述电子元件200依然通过该第一透明转盘10的转动而持续前进，当 所述电子元件200接触该导引单元13时，每一电子元件200则沿着该导引 单元13而被转送至该第二转盘12以进行其它外表面的检测。再者，由于该 第一透明转盘10与该第二转盘12均为圆弧边缘，故本实用新型界定该第一 透明转盘10与该第二转盘12之间具有一最小邻接宽度Wl，而该导引单元 13则同时跨设在该第一透明转盘10与该第二转盘12上且该导引单元13的 导引面131则最佳地位于该最小邻接宽度Wl的位置上。请再参考图3，其 为该电子元件200的外观示意图，其中该电子元件200的宽度为W。在该最 小邻接宽度Wl不大于所述电子元件200的宽度W的条件下，当所述电子元 件200顺着该导引单元13的导引面131由该第一透明转盘IO转送至该第二 转盘12时，可避免所述电子元件200因上述两转盘之间的宽度而掉落；且 该第一透明转盘10与该第二转盘12之间的最小邻接宽度Wl也可为零(亦 即两转盘为相互接触)；另外，在最佳实施例中，该第二转盘的上表面不高 于该第-一透明转盘10的上表面，以使所述电子元件200可滑顺地沿着该导 引单元13由该第一透明转盘10转送至该第二转盘12。该第二转盘12为金 属材质，且该第二转盘12的尺寸大于该第一透明转盘10的尺寸。由于高硬 度的石英玻璃的单价高，因此通过这一较小的第一透明转盘10的设计，可 以大幅降低该检测装置1的制造成本。另外，该第二转盘12的上方设置有多个第二影像撷取单元14以分别撷 取每一电子元件200除了底面B以外的外表面的影像，包括前表面F、后表 面R、上表面T、左表面LS以及右表面RS的影像。在本实施例中，该第二 转盘12的侧边设有五个第二影像撷取单元14，但不以上述为限。所述五个 第二影像撷取单元14可分别撷取每一电子元件200的外表面影像，藉以分 析每一电子元件200的外观是否符合生产制造的标准。
以下针对第一影像撷取单元11以及第二影像撷取单元14进行详细说 明，该第一影像撷取单元11以及所述第二影像撷取单元14均包括一摄影镜 头以及多个与该摄影镜头配合的发光件。请参考图2，该第一影像撷取单元 11设置于该第一透明转盘10的下方，该第一影像撷取单元11包括一第一摄 影镜头111以及多个与该第一摄影镜头111搭配的第一发光件112;而所述 第二影像撷取单元14则设置于该第二转盘12的上方(图3仅示出一组第二 影像撷取单元14)，每一第二影像撷取单元14同样包括一第二摄影镜头141 以及多个与该第二摄影镜头111搭配的第二发光件142。该第一发光件112 以及该第二发光件142可为发光二极管(LED)，且所述发光二极管针对不 同的待测物发出不同颜色或是不同强度的光，还可随着所述电子元件200的 位置进行角度调整。
请参考图4，该电子元件的检测装置还进一步包括一分析与控制单元16， 其耦接于该第一影像撷取单元11以及该第二影像撷取单元14，用以接收并 分析该第一影像撷取单元11所撷取的所述电子元件200的底面影像以及该 第二影像撷取单元14所撷取的所述电子元件的其它外表面的影像；而该分 析与控制单元16还可以根据影像分析的结果控制第一收料单元17与第二收 料单元18进行坏料的回收以及相关分料的作业。也就是说，本实用新型提 出的电子元件的检测装置可进行两个阶段的收料动作，即在该第一透明转盘 10的侧边安装一第一收料单元17，其可用以收集经过检测分析后的底面影 像不合规格的电子元件200，此为第一阶段的收料动作，预将先底面影像不 合规格的电子元件200加以收回，以提高该检测装置1的整体检测分析速度。 同样地，该第二转盘12的侧边设置有一第二收料单元18，其可针对位于该 第二转盘12上的电子元件200进行收料动作；而该第二收料单元18可根据 第二影像撷取单元14撷取的影像所分析的结果进行合格品与不合格品的分料动作。故本实用新型的检测装置1可在该第一透明转盘10的影像撷取之 后进行第一阶段的收料，再配合该第二转盘12的影像撷取之后所进行第二 阶段收料、分料，进而提高该检测装置1的外观分析的检测速度。
请参考图5，其为本实用新型的第二实施例。在本实施例中，该进料单
元15包括一进料转盘152以及两组进料轨道151，使所述电子元件200可排 列成两列进行上述影像撷取和分析的作业，进而可以更加提高元件检测的速 度及产量。而在本实施例中，其它单元如影像撷取镜头等必须根据两列的所 述电子元件200进行相关调整，例如，该第二转盘12的旁侧设有10个第二 影像撷取单元14，以分别撷取该双轨排列的电子元件200的前表面F、后表 面R、上表面T、左表面LS及右表面RS的影像。需注意的是，该进料单元 15所包含进料轨道151的数量并不限定于本实施例，而可根据实际应用进行 调整。
另外，本实用新型的第一透明转盘10与第二转盘12还可以相互调整， 即先利用该进料单元15将所述电子元件200连续地送至该第二转盘12上以 进行每一电子元件200的前表面F、后表面R、上表面T、左表面LS以及右 表面RS的影像撷取分析作业，再通过该导引单元13将所述电子元件200转 送至该第一透明转盘10上以进行所述电子元件200的底面B的分析作业， 最后再进行收料与分料的动作。
另外，本实用新型所提出的电子元件的检测装置还可以有以下变化该 第二转盘12可具有多个高低落差的同心圆平面(如多层蛋糕状)，而每一 个平面均对应于一第一透明转盘10以及一导引单元13，故可组成多个检测 模块，由此同样可以提高元件的检测速率。
综上所述，本实用新型具有下列诸项优点
1. 具有较佳的成本控制，由于本实用新型利用一尺寸较小的石英玻璃构 造成可撷取该电子元件200底面的载板，由此可解决单价高的大尺寸石英玻 璃载板所造成的成本问题。
2. 另一方面，本实用新型可利用石英玻璃与金属的高硬度特性，避免转 盘与电子元件碰撞时所造成的表面刮伤或刻痕，进而减少撷取单元在撷取影 像时的干涉现象。
3. 本实用新型提出的检测装置，可利用两组收料单元先将位于第一透明转盘10上不合格的电子元件200预先回收，进而提高该检测装置的整体检
测速度。
以上所述仅为本实用新型的较佳实施例，并非意图局限本实用新型的专 利保护范围，因此凡是运用本实用新型的说明书及附图内容所作的等效变 化，均包含在本实用新型的权利要求书的范围内。
权利要求1、一种电子元件的检测装置，其用于检测多个电子元件的外表面，其特征在于，包括一第一透明转盘，其中所述电子元件连续供应以放置于该第一透明转盘上方；一第一影像撷取单元，其设置于该第一透明转盘下方以检测所述电子元件的底面；一第二转盘，其邻接于该第一透明转盘；一导引单元，其设置于该第一透明转盘与该第二转盘的邻接位置，其中位于该第一透明转盘上的所述电子元件通过该导引单元导引转送至该第二转盘；以及多个第二影像撷取单元，其设置于该第二转盘上方以检测所述电子元件的其它外表面。
2、 如权利要求1所述的电子元件的检测装置，其特征在于该导引单 元具有一跨设于该第一透明转盘与该第二转盘的导引面。
3、 如权利要求2所述的电子元件的检测装置，其特征在于该第一透 明转盘与该第二转盘之间的最小邻接宽度不大于所述电子元件的宽度。
4、 如权利要求3所述的电子元件的检测装置，其特征在于该第一透 明转盘的尺寸小于该第二转盘的尺寸。
5、 如权利要求4所述的电子元件的检测装置，其特征在于该第一透 明转盘为石英玻璃转盘，且该第二转盘为金属转盘。
6、 如权利要求5所述的电子元件的检测装置，其特征在于还包括一 进料单元，其用以将所述电子元件依序供应至该第一透明转盘。
7、 如权利要求6所述的电子元件的检测装置，其特征在于该进料单 元包括一进料转盘以及至少一进料轨道。
8、 如权利要求6所述的电子元件的检测装置，其特征在于还包括一 分析与控制单元，其连接于该第一影像撷取单元和该第二影像撷取单元。
9、 如权利要求8所述的电子元件的检测装置，其特征在于该第一影 像撷取单元以及所述第二影像撷取单元均包括一摄影镜头以及多个与该摄影镜头配合的发光件。
10、如权利要求8所述的电子元件的检测装置，其特征在于还包括一 设置于该第一透明转盘的侧端的第一收料单元，以及一设置于该第二转盘的 侧端的第二收料单元。
专利摘要一种电子元件的检测装置，其特征在于，包括一第一透明转盘，其中所述电子元件连续供应以放置于该第一透明转盘上方；一第一影像撷取单元，其设置于该第一透明转盘下方以检测所述电子元件的底面；一第二转盘，其邻接于该第一透明转盘；一导引单元，其设置于该第一透明转盘与该第二转盘的邻接位置，其中位于该第一透明转盘上的所述电子元件通过该导引单元导引转送至该第二转盘；以及多个第二影像撷取单元，其设置于该第二转盘上方以检测所述电子元件的其它外表面，由此利用第一透明转盘与第二转盘的搭配以提供较佳的检测装置。
文档编号G01R31/00GK201225982SQ20082011984
公开日2009年4月22日 申请日期2008年5月30日 优先权日2008年5月30日
发明者周明澔, 汪秉龙, 陈信呈, 陈桂标 申请人:久元电子股份有限公司