专利名称：Pcb板耐压测试装置的制作方法
技术领域：
本实用新型涉及PCB生产测试领域，尤其涉及一种PCB板耐压测试装置。
背景技术：
目前，整个PCB行业正在高速发展，产品的结构也越来越多样化。在生产的产品 中，类型覆盖比较广泛，其中电源版的数量是日趋增多。通常，对于这一类电源板，需要进行 耐压测试以确保板材性能的良好和线路之间的间距符合要求。传统的耐压测试，通常是走这样的流程上工序——外形加工(将整版铣开成为 一个个小拼版，这些小拼板使客户要求的出货单元)——电测试——耐压测试——下工序。 也就是说，传统的耐压测试是对一个个的小拼板进行测试。通常，一块大板上包含数十个这 样的小拼板，做完外形加工后再测耐压，这样，效率非常低。很多时候出现上百块整板铣开 后变成了数千个小拼板，仅是完成耐压测试就需要数天的时间。参见图1，现有的PCB耐压测试装置，包括耐压测试仪10、第一导线、第二导线、测 试针座13、输入测试针11和输出测试针12，输入测试针11和输出测试针12固定于测试针 座13上，耐压测试仪10的输出端通过第一导线连接输入测试针11，耐压测试仪10的接地 端通过第二导线连接输出测试针12。因此，PCB板耐压测试需要提出一种新型的耐压测试装置，不仅能够符合生产需 要，而且能够极大地提高测试效率。
实用新型内容本实用新型主要解决的技术问题是提供一种PCB板耐压测试装置，能够准确地在 整版中找出耐压测试不合格的小拼板，而且可以符合生产需要并提高测试效率。为解决上述技术问题，本实用新型采用的一个技术方案是提供一种PCB板耐压 测试装置，包括耐压测试仪、第一导线、第二导线、测试针座、输入测试针和输出测试针，输 入测试针和输出测试针固定于测试针座上，耐压测试仪的输出端通过第一导线连接输入测 试针，耐压测试仪的接地端通过第二导线连接输出测试针，还包括行测试开关和列测试开 关，所述行测试开关电连接于输入测试针和耐压测试仪的输出端之间，所述列测试开关电 连接于输出测试针和耐压测试仪的接地端之间。本实用新型的有益效果是区别于现有技术的在外形工序将整板分成多个小拼版 之后对小拼版进行耐压测试，由于小拼板的数量多，对每个小拼板进行测试效率低，本实用 新型提供一种能够在外形工序之前对整板进行耐压测试的测试装置，不仅能够准确地在整 版中找出耐压测试不合格的小拼板，而且可以符合生产需要并提高测试效率。
图1是背景技术中PCB耐压测试装置结构方框图；图2是本实用新型PCB耐压测试装置第一实施例的结构方框图；[0011]图3是本实用新型PCB耐压测试装置第二实施例的结构方框图；图4是本实用新型实施例的测试夹具示意图；图5是本实用新型实施例的开关连接示意图；图6是本实用新型实施例的控制面板示意图。其中，10 耐压测试仪，11 输入测试针，12 输出测试针，13 测试针座，14 =PCB小 拼板，15 行测试开关，16 列测试开关，17 控制面板，18 =PCB整版。
具体实施方式
为详细说明本实用新型的技术内容、构造特征、所实现目的及效果，以下结合实施 方式并配合附图详予说明。请参阅图2，本实用新型PCB板耐压测试装置第一实施例的结构示意图，图中示出 该装置包括耐压测试仪10、第一导线、第二导线、测试针座13、输入测试针11和输出测试针 12，输入测试针11和输出测试针12固定于测试针座13上，耐压测试仪10的输出端通过第 一导线连接输入测试针11，耐压测试仪10的接地端通过第二导线连接输出测试针12，还包 括行测试开关15和列测试开关16，行测试开关15电连接于输入测试针11和耐压测试仪 10的输出端之间，列测试开关16电连接于输出测试针12和耐压测试仪10的接地端之间。输入测试针11为并联设置的两根导电针，输出测试针12为并联设置的两根导电 针。进一步地，输入测试针11和输出测试针12为金属材质的导电针。更进一步地，输入测 试针11和输出测试针12为铜针或不锈钢针。请参阅图3，在本实用新型的第二实施例中，PCB板耐压测试装置除了包含第一实 施例的所有技术特征外，还包括控制面板17，行测试开关15和列测试开关16均固定于控制 面板上。在实际的测试环境下，首先制作整板耐压测试的夹具，并且组装成型，如图4所 示。输入测试针11和输出测试针12固定在测试针座13上，多块PCB小拼版14在外形加 工前组合成PCB整版18。每两个输入测试针和两个输出测试针对一块小拼板进行耐压测
试ο然后，将对应于耐压测试仪输出端和耐压测试仪接地端的测试针分别连接起来， 对于每一个小拼板，我们可以规定与耐压测试仪输出端连接的测试针属于正极，与耐压测 试仪接地端连接的测试针属于负极。然后，将属于同一行的正极分别连在一起，属于同一列 的负极分别连在一起，如图5所示。耐压测试仪输出端并联电连接行测试开关ΚΙ、K2、K3， 耐压测试仪接地端并联电连接列测试开关K4、K5、K6、K7，用行测试开关和列测试开关组成 测试开关矩阵，根据行开关和列开关的通断来测试每一个PCB小拼版的耐压情况。然后，在耐压测试工装的外部制作一个简易的控制面板，如图6所示，分别控制对 应的行线和对应的列线的开启和关闭。在正常测试的时候，控制面板上所有的行开关和列开关都闭合，这样，可以对整板 进行测试，如果出现小拼板耐压测试不良，就通过控制面板上的行开关和列开关进行判定。下面，针对具体的判定方法举例如下假设对一块含有12个小拼板(3行4列)的PCB进行整板耐压测试，且假设第1 行第3列和第3行第2列的两个小拼板存在耐压测试不良，我们需要通过拨动控制面板上的开关来确定不良品的位置。我们的做法是首先判断缺陷板所在的行。依次断开行开关(从第1行至第3 行)，每断开一个开关就重新启动一次耐压测试仪，当断开到第3行的开关后再测试，耐压 测试仪不报警。这说明，第3行中一定有缺陷板。下面，需要确认前面的行(这里是1行和 2行)是否有缺陷板，此时，将1行和2行的开关闭合，再次测试，仪器依然报警，说明在第1 行和第2行之中还有缺陷板。此时，依次断开第3行之前的行开关(这里先断开第2行，再 断开第1行)，当断开到第1行的开关后再测试，缺陷消失，说明第1行也有缺陷板，此时，需 要判定第1行和第3行之间是否有缺陷板。将第2行开关闭合后测试，耐压测试仪不报警， 说明第2行中没有缺陷板，缺陷板锁定在第3行和第1行。接下来，判断缺陷板对应的列。在这个例子中，已经锁定缺陷板所在的行为第1行 和第3行，下面，判定缺陷对应的列。首先闭合第1行的开关(其它行开关断开，列开关全部 闭合)，用上述同样的方法判定缺陷板对应第1行所在的列。然后，闭合第3行的开关(其 它行开关断开，列开关全部闭合)，用上述同样的方法判定缺陷板对应第3行所在的列。这样，很快就能准确判断缺陷板位于第1行第3列和第3行第2列。本说明中，只是简述了含有12个小拼板(3行4列)的整板耐压测试原理，需要用 到7个开关。如果是对含有49个小拼板(7行7列)的整板进行耐压测试，则需要14个开 关，在实际生产中，出现耐压测试不良的几率十分低，通常远低于1%。所以这种方法，虽然 需要人工判断，依然是极大提高了耐压测试效率。本说明只介绍了含有12个小拼板的整板耐压测试，如果含有的小拼板数越多，测
试效率越高。以上所述仅为本实用新型的实施例，并非因此限制本实用新型的专利范围，凡是 利用本实用新型说明书及附图内容所作的等效结构或等效流程变换，或直接或间接运用在 其他相关的技术领域，均同理包括在本实用新型的专利保护范围内。
权利要求1.一种PCB板耐压测试装置，包括耐压测试仪、第一导线、第二导线、测试针座、输入测 试针和输出测试针，输入测试针和输出测试针固定于测试针座上，耐压测试仪的输出端通 过第一导线连接输入测试针，耐压测试仪的接地端通过第二导线连接输出测试针，其特征 在于还包括行测试开关和列测试开关，所述行测试开关电连接于输入测试针和耐压测试 仪的输出端之间，所述列测试开关电连接于输出测试针和耐压测试仪的接地端之间。
2.根据权利要求1所述的PCB板耐压测试装置，其特征在于所述输入测试针为并联 设置的两根导电针，所述输出测试针为并联设置的两根导电针。
3.根据权利要求2所述的PCB板耐压测试装置，其特征在于所述输入测试针和输出 测试针为金属材质的导电针。
4.根据权利要求3所述的PCB板耐压测试装置，其特征在于所述输入测试针和输出 测试针为铜针或不锈钢针。
5.根据权利要求1 4任一项所述的PCB板耐压测试装置，其特征在于还包括控制 面板，所述行测试开关和列测试开关均固定于控制面板上。
专利摘要本实用新型公开一种PCB板耐压测试装置，包括耐压测试仪、第一导线、第二导线、测试针座、输入测试针和输出测试针，输入测试针和输出测试针固定于测试针座上，耐压测试仪的输出端通过第一导线连接输入测试针，耐压测试仪的接地端通过第二导线连接输出测试针，还包括行测试开关和列测试开关，所述行测试开关电连接于输入测试针和耐压测试仪的输出端之间，所述列测试开关电连接于输出测试针和耐压测试仪的接地端之间。有益效果是不仅能够准确地在整版中找出耐压测试不合格的小拼板，而且可以符合生产需要并提高测试效率。
文档编号G01R31/18GK201788254SQ20102027256
公开日2011年4月6日 申请日期2010年7月27日 优先权日2010年7月27日
发明者徐军, 朱海军, 黄卓 申请人:深南电路有限公司