一种检测触头参数的基座及其制造方法、检测方法
【专利摘要】一种检测触头参数的基座及其制造方法、检测方法，其中所述基座（1）用于断路器或接触器，所述基座（1）的内部设置有用于检测所述动触头（2）触头参数的标记，所述标记根据所述动触头（2）触头参数的理论值设置。本发明的检测触头参数的基座及其制造方法、检测方法，省时省力、误差小、检测精确度高且成本低。
【专利说明】一种检测触头参数的基座及其制造方法、检测方法
【技术领域】
[0001]本发明涉及低压电气【技术领域】，具体是一种检测触头参数的基座及其制造方法、检测方法。
【背景技术】
[0002]现有的断路器、接触器等低压电气产品在制造完成后需要进行开距、超程以及同步等触头参数的检测，以确保产品质量。
[0003]其中，开距的检测需要配备相应的检具；超程的检测不但要配备卡尺或高度尺及水平尺等，同时还要准备记录纸和笔来记录每相检测的数据，再计算，而且还要单拆单量各相；而同步的检测为人工装配时将中相动触头用工具下压目测看三相是否与静触头同时接触。以上的人工测量、计算的方式，工序繁锁，人工读数和测量误差累积大，特别是针对大壳架产品的检测，其静触头拆卸很不方便，触头参数的测量既费时费力又误差大，同时还不能每台产品都检测，只能采取抽检方式，不能有效保证每台产品的触头参数均符合产品设计标准。
[0004]为此，现有技术中出现了专门用于检测开距和超程的检测装置，如中国专利文献CN201909616U公开了一种塑壳断路器的开距超程测量装置，该装置包括机架、夹具、激光测量组件、辅助插片组件、辅助插片组件的升降机构、辅助插片组件的支架及控制器，所述夹具、激光测量组件、辅助插片组件、辅助插片组件的升降机构、辅助插片组件的支架及控制器设置在机架上。再如中国专利文献CN102590740A公开了一种交流接触器开距和超程自动测试装置及方法，主要解决了现有的交流接触器在检测触头开距和超程参数时采用人工测试，存在劳动强度大、工作效率低及误差大的问题，其机架上设有自动夹具，自动夹具的一侧设有与交流接触器的各接线端相对应的检测探针组，检测探针组固定在直线往复装置上并由直线往复装置驱动其与交流接触器接通和断开；直线往复装置的安装板与滚珠丝杠相连，滚珠丝杠由伺服电机驱动，其中还设有伸入交流接触器浮动指示件的中间探针。
[0005]虽然，上述检测装置的检测精度高、误差小，但是对于断路器和接触器的生产厂家来说需要单独购买，导致生产成本大幅提高。
【发明内容】
[0006]为了解决以上现有技术中断路器和接触器等产品的触头参数检测，要么步骤繁琐、误差大、精确度低，要么成本高的问题，从而提供一种检测精确度较高且成本低的检测触头参数的基座及其制造方法、检测方法。
[0007]为解决上述现有技术问题，本发明是通过以下技术方案实现的:
[0008]一种检测触头参数的基座，用于断路器或接触器，所述基座的内部设置有用于检测所述动触头触头参数的标记，所述标记根据所述动触头触头参数的理论值设置。
[0009]上述检测触头参数的基座中，所述标记还根据所述动触头上观测物的位置设置。
[0010]上述检测触头参数的基座中，所述标记以所述基座的底面为基准并设置于所述基座的内侧壁上。
[0011]上述检测触头参数的基座中，所述标记为标记台阶面或标记线，所述标记台阶面成型在所述基座的所述内侧壁上，所述标记线直接刻画或粘贴在所述基座的所述内侧壁上。
[0012]上述检测触头参数的基座中，所述标记包括开距参考系和/或超程参考系；所述开距参考系和所述超程参考系可设置于所述基座的相同或不同内侧壁。
[0013]上述检测触头参数的基座中，所述开距参考系包括开距理论标记；所述超程参考系包括超程理论标记。
[0014]上述检测触头参数的基座中，所述开距参考系还包括开距上标记和/或开距下标记；所述超程参考系还包括超程上标记和/或超程下标记。
[0015]上述检测触头参数的基座中，所述开距参考系包括开距上标记和开距下标记；所述超程参考系包括超程上标记和超程下标记。
[0016]上述检测触头参数的基座中，所述动触头的所述观测物为观测面、观测点或观测线。
[0017]一种上述检测触头参数的基座的制造方法，包括以下步骤，
[0018]①根据触头参数的理论值，计算出以所述基座的底面为基准时标记的设置位置；
[0019]②在所述基座的内侧壁上设置所述标记。
[0020]上述制造方法中，所述步骤①还包括，根据事先选取的动触头上观测物的位置计算出以所述基座的底面为基准时标记的设置位置。
[0021]上述制造方法中，在所述步骤②之后还包括根据所述基座上所述标记位置在动触头上相应选取观测物的步骤。
[0022]上述制造方法中，在所述步骤①之前还包括计算出触头参数的理论值的步骤。
[0023]一种采用上述检测触头参数的基座对动触头进行触头参数测量的检测方法，包括，
[0024]①当所述标记为开距理论标记和超程理论标记时，则在脱扣状态时，观察各相动触头上的观测物与所述开距理论标记的相对位置，若每相所述观测物向所述开距理论标记方向的投影均有部分落在所述开距理论标记上，则该产品开距合格，否则不合格；在合闸状态时，观查各相所述观测物与所述超程理论标记的相对位置，若每相所述观测物向所述超程理论标记方向的投影均有部分落在所述超程理论标记上，则该产品超程合格，否则不合格；如果开距和超程均合格且每相的超程值与所述超程理论标记相比均不超过0.5毫米，则产品同步合格，否则不合格；
[0025]②当所述标记为开距上标记、开距下标记、超程上标记和超程下标记时，或者所述标记为开距理论标记、开距上标记、开距下标记、超程理论标记、超程上标记和超程下标记时，则在脱扣状态时，观察各相所述观测物与所述标记的相对位置，若每相所述观测物均位于所述开距上标记和所述开距下标记之间，或者每相所述观测物向所述开距上标记或所述开距下标记方向的投影均有部分落在所述开距上标记或所述开距下标记上，则该产品开距合格，否则不合格；在合闸状态时，观察各相所述观测物与所述标记的相对位置，若每相所述观测物均位于所述超程上标记和所述超程下标记之间，或者每相所述观测物向所述超程上标记或所述超程下标记方向的投影均有部分落在所述超程上标记或所述超程下标记上，则该产品超程合格，否则不合格；如果开距和超程均合格且每相的超程值与所述超程理论标记相比均不超过0.5毫米，则产品同步合格，否则不合格；
[0026]③当所述标记为超程理论标记和超程上标记时，则在合闸状态时，观测各相所述观测物与所述标记的相对位置，若每相所述观测物均位于所述超程理论标记和所述超程上标记之间，或者每相所述观测物向所述超程理论标记或所述超程上标记方向的投影均有部分落在所述超程理论标记或所述超程上标记上，则该产品超程合格，否则不合格；
[0027]④当所述标记为开距理论标记、开距上标记、超程理论标记和超程上标记时，则在脱扣状态时，观测各相所述观测物与所述标记的相对位置，若每相所述观测物均位于所述开距理论标记和所述开距上标记之间，或者每相所述观测物向所述开距理论标记或所述开距上标记方向的投影均有部分落在所述开距理论标记或所述开距上标记上，则该产品开距合格，否则不合格；在合闸状态时，观测各相所述观测物与所述标记的相对位置，若每相所述观测物均位于所述超程理论标记和所述超程上标记之间，或者每相所述观测物向所述超程理论标记或所述超程上标记方向的投影均有部分落在所述超程理论标记或所述超程上标记上，则该产品超程合格，否则不合格；如果开距和超程均合格且每相的超程值与所述超程理论标记相比均不超过0.5毫米，则产品同步合格，否则不合格；
[0028]⑤当所述标记为开距理论标记、开距下标记、超程理论标记和超程下标记时，则在脱扣状态时，观测各相所述观测物与所述标记的相对位置，若每相所述观测物均位于所述开距理论标记和所述开距下标记之间，或者每相所述观测物向所述开距理论标记或所述开距下标记方向的投影均有部分落在所述开距理论标记或所述开距下标记上，则该产品开距合格，否则不合格；在合闸状态时，观测各相所述观测物与所述标记的相对位置，若每相所述观测物均位于所述超程理论标记和所述超程下标记之间，或者每相所述观测物向所述超程理论标记或所述超程下标记方向的投影均有部分落在所述超程理论标记或所述超程下标记上，则该产品超程合格，否则不合格；如果开距和超程均合格且每相的超程值与所述超程理论标记相比均不超过0.5毫米，则产品同步合格，否则不合格。
[0029]本发明的上述技术方案相比现有技术具有以下优点:
[0030](I)本发明提供的检测触头参数的基座，其内部设置有用于检测动触头触头参数的标记，标记根据动触头触头参数的理论值设置。上述设计使得断路器、接触器等低压电气设备，能够利用基座来观测产品的开距、超程和同步，误差较小、精确度也比较高，而且成本低。
[0031](2)本发明提供的检测触头参数的基座，其标记还可根据动触头上观测物的位置设置，即先选择好动触头上的观测物，然后再根据触头参数的理论值设置标记，实现方式灵活多变，但都能够简单、便利的实现对产品开距、超程和同步的检测，误差小、成本低。
[0032](3)本发明提供的检测触头参数的基座，其标记以基座的底面为基准并设置于基座的内侧壁上，利于设计和加工制造。
[0033](4)本发明提供的检测触头参数的基座，其标记可为标记台阶面或标记线，结构简单，而且实现方式灵活多变。
[0034](5)本发明提供的检测触头参数的基座，其标记包括开距参考系和超程参考系；开距参考系和超程参考系可设置于基座的相同或不同内侧壁，可适应不同产品需要。
[0035](6)本发明提供的检测触头参数的基座的制造方法，方法简便、易于实现，而且加工成本也很低。
[0036](7)本发明提供的检测触头参数的基座的制造方法，可先设置好标记再选择动触头上的观测物，也可以先选择好观测物再设计相应的标记，选择灵活，方法简便。
[0037](8)本发明提供的检测触头参数的基座的检测方法，简便、易于操作，省时省力，而
且误差较小。
【专利附图】
【附图说明】
[0038]为了使本发明的内容更容易被清楚的理解，下面结合附图，对本发明作进一步详细的说明，其中
[0039]图1是本发明实施例一检测触头参数的基座的俯视图；
[0040]图2是图1的A-A向剖视图；
[0041]图3是本发明实施例一检测触头参数的基座进行开距检测的示意图；
[0042]图4是图3的B-B向剖视图；
[0043]图5是图3的C-C向剖视图；
[0044]图6是本发明实施例一检测触头参数的基座进行超程检测的示意图；
[0045]图7是图6的D-D向剖视图；
[0046]图8是图6的E-E向剖视图；
[0047]图9是动触头示意图；
[0048]图10是本发明实施例二检测触头参数的基座进行超程检测的示意图。
[0049]图中附图标记表示为:1_基座，2-动触头，3-静触头，4-开距理论标记，5-开距上标记，6-开距下标记，7-超程理论标记，8-超程上标记、9-超程下标记，10-辅助平面，
11-交点。
【具体实施方式】
[0050]实施例一
[0051]如图1和图2所示，是本发明检测触头参数的基座及其制造方法、检测方法的优选实施方式。
[0052]所述检测触头参数的基座1，用于断路器或接触器，所述基座I的内部设置有用于检测所述动触头2触头参数的标记，所述标记根据所述动触头2触头参数的理论值设置。在本实施例中，所述基座I用于断路器，所述动触头2为转轴旋转式动触头。在本实施例中，选取所述动触头2的辅助平面10为观测物，这样更易于目测或用简单工具的测量，如图9所示。
[0053]如图3-8所示，所述标记以所述基座I的底面为基准并设置于所述基座I的内侧壁上。所述标记为标记台阶面，所述标记台阶面成型在所述基座I的所述内侧壁上。所述标记包括开距参考系和超程参考系；所述开距参考系和所述超程参考系可设置于所述基座I的相同或不同内侧壁。在本实施例中，所述开距参考系和所述超程参考系设置于所述基座I的相同内侧壁；所述开距参考系包括开距理论标记4、开距上标记5和开距下标记6 ;所述超程参考系包括超程理论标记7、超程上标记8和超程下标记9。
[0054]上述检测触头参数的基座的制造方法，包括以下步骤，[0055]①根据触头参数的理论值，计算出以所述基座I的底面为基准时所述标记的设置位置；在本实施例中触头参数的理论值已知。
[0056]②在所述基座I的内侧壁上设置所述标记。
[0057]③根据所述基座I上所述标记位置在所述动触头2上相应选取观测物。
[0058]采用上述所述检测触头参数的基座对动触头进行触头参数测量的检测方法，包括:
[0059]所述标记为开距理论标记4、开距上标记5、开距下标记6、超程理论标记7、超程上标记8和超程下标记9时，则在在脱扣状态时，观察各相所述观测物与所述标记的相对位置，若每相所述观测物均位于所述开距上标记5和所述开距下标记6之间，或者每相所述观测物向所述开距上标记5或所述开距下标记6方向的投影均有部分落在所述开距上标记5或所述开距下标记6上，即以图4的角度来看至少存在一个交点11，则该产品开距合格，否则不合格。
[0060]在合闸状态时，观察各相所述观测物与所述标记的相对位置，若每相所述观测物均位于所述超程上标记8和所述超程下标记9之间，或者每相所述观测物向所述超程上标记8或所述超程下标记9方向的投影均有部分落在所述超程上标记8或所述超程下标记9上，即存在至少一个交点，则该产品超程合格，否则不合格；如果开距和超程均合格且每相的超程值与所述超程理论标记7相比均不超过0.5毫米，则产品同步合格，否则不合格。
[0061]实施例二
[0062]如图10所示，在本实施例中，检测触头参数的基座I用于接触器，其动触头2相对基座为直动式动触头。
[0063]与实施例一的区别在于，在本实施例中，标记根据触头参数的理论值和所述动触头2上观测物的位置设置，即事先选好所述动触头2上的所述观测物。
[0064]所述标记仅包括超程参考系；所述超程参考系包括超程理论标记7和超程上标记8。
[0065]所述检测触头参数的基座的制造方法，包括以下步骤，
[0066]①根据触头参数的理论值和事先选取的所述动触头2所述观测物的位置，计算出以所述基座I的底面为基准时所述标记的设置位置；在本实施例中触头参数的理论值已知。
[0067]②在所述基座I的内侧壁上设置所述标记。
[0068]采用上述所述检测触头参数的基座对动触头进行触头参数测量的检测方法，包括:
[0069]所述标记为所述超程理论标记7和所述超程上标记8，在合闸状态时，观测各相所述观测物与所述标记的相对位置，若每相所述观测物均位于所述超程理论标记7和所述超程上标记8之间，或者每相所述观测物向所述超程理论标记7或所述超程上标记8方向的投影均有部分落在所述超程理论标记7或所述超程上标记8上，则该产品超程合格，否则不合格。
[0070]在其他实施例中，所述标记可根据实际产品需要仅为开距参考系，标记还可为标记线，所述标记线直接刻画或粘贴在所述基座I的所述内侧壁上；或者标记为标记点也可以实现本发明的目的。同样，动触头2的观测物还可为观测点或观测线。[0071]在其他实施例中，所述开距参考系和所述超程参考系可设置于所述基座I的不同内侧壁。
[0072]在其他实施例中，在所述制造方法的所述步骤①之前还包括计算出触头参数的理论值的步骤。
[0073]在其他实施例中，开距参考系可为开距理论标记，或者开距上标记和开距理论标记，或者为开距理论标记和开距下标记，或者开距上标记和开距下标记；同样，超程参考系可为超程理论标记，或者超程理论标记和超程下标记，或者超程上标记和超程下标记。
[0074]在其他实施例中，当所述标记为开距理论标记4和超程理论标记7时，则在脱扣状态时，观察各相动触头2上的观测物与所述开距理论标记4的相对位置，若每相所述观测物向所述开距理论标记4方向的投影均有部分落在所述开距理论标记4上，则该产品开距合格，否则不合格；在合闸状态时，观查各相所述观测物与所述超程理论标记7的相对位置，若每相所述观测物向所述超程理论标记7方向的投影均有部分落在所述超程理论标记7上，则该产品超程合格，否则不合格；如果开距和超程均合格且每相的超程值与所述超程理论标记7相比均不超过0.5毫米，则产品同步合格，否则不合格。
[0075]在其他实施例中，当所述标记为开距上标记5、开距下标记6、超程上标记8和超程下标记9时，则在脱扣状态时，观察各相所述观测物与所述标记的相对位置，若每相所述观测物均位于所述开距上标记5和所述开距下标记6之间，或者每相所述观测物向所述开距上标记5或所述开距下标记6方向的投影均有部分落在所述开距上标记5或所述开距下标记6上，则该产品开距合格，否则不合格；在合闸状态时，观察各相所述观测物与所述标记的相对位置，若每相所述观测物均位于所述超程上标记8和所述超程下标记9之间，或者每相所述观测物向所述超程上标记8或所述超程下标记9方向的投影均有部分落在所述超程上标记8或所述超程下标记9上，则该产品超程合格，否则不合格；如果开距和超程均合格且每相的超程值与所述超程理论标记7相比均不超过0.5毫米，则产品同步合格，否则不合格。
[0076]在其他实施例中，当所述标记为开距理论标记4、开距上标记5、超程理论标记7和超程上标记8时，则在脱扣状态时，观测各相所述观测物与所述标记的相对位置，若每相所述观测物均位于所述开距理论标记4和所述开距上标记5之间，或者每相所述观测物向所述开距理论标记4或所述开距上标记5方向的投影均有部分落在所述开距理论标记4或所述开距上标记5上，则该产品开距合格，否则不合格；在合闸状态时，观测各相所述观测物与所述标记的相对位置，若每相所述观测物均位于所述超程理论标记7和所述超程上标记8之间，或者每相所述观测物向所述超程理论标记7或所述超程上标记8方向的投影均有部分落在所述超程理论标记7或所述超程上标记8上，则该产品超程合格，否则不合格；如果开距和超程均合格且每相的超程值与所述超程理论标记7相比均不超过0.5毫米，则产品同步合格，否则不合格。
[0077]在其他实施例中，当所述标记为开距理论标记4、开距下标记6、超程理论标记7和超程下标记9时，则在脱扣状态时，观测各相所述观测物与所述标记的相对位置，若每相所述观测物均位于所述开距理论标记4和所述开距下标记6之间，或者每相所述观测物向所述开距理论标记4或所述开距下标记6方向的投影均有部分落在所述开距理论标记4或所述开距下标记6上，则该产品开距合格，否则不合格；在合闸状态时，观测各相所述观测物与所述标记的相对位置，若每相所述观测物均位于所述超程理论标记7和所述超程下标记9之间，或者每相所述观测物向所述超程理论标记7或所述超程下标记9方向的投影均有部分落在所述超程理论标记7或所述超程下标记9上，则该产品超程合格，否则不合格；如果开距和超程均合格且每相的超程值与所述超程理论标记7相比均不超过0.5毫米，则产品同步合格，否则不合格。
[0078]显然，上述实施例仅仅是为清楚地说明所作的举例，而并非对实施方式的限定。对于所属领域的普通技术人员来说，在上述说明的基础上还可以做出其它不同形式的变化或变动。这里无需也无法对所有的实施方式予以穷举。而由此所引伸出的显而易见的变化或变动仍处于本发明创造的保护范围之中。
【权利要求】
1.一种检测触头参数的基座，用于断路器或接触器，其特征在于:所述基座(1)的内部设置有用于检测所述动触头(2)触头参数的标记，所述标记根据所述动触头(2)触头参数的理论值设置。
2.根据权利要求1所述的检测触头参数的基座，其特征在于:所述标记还根据所述动触头(2)上观测物的位置设置。
3.根据权利要求1或2所述的检测触头参数的基座，其特征在于:所述标记以所述基座(1)的底面为基准并设置于所述基座(1)的内侧壁上。
4.根据权利要求1-3任一所述的检测触头参数的基座，其特征在于:所述标记为标记台阶面或标记线，所述标记台阶面成型在所述基座(1)的所述内侧壁上，所述标记线直接刻画或粘贴在所述基座(1)的所述内侧壁上。
5.根据权利要求1-4任一所述的检测触头参数的基座，其特征在于:所述标记包括开距参考系和/或超程参考系；所述开距参考系和所述超程参考系可设置于所述基座(1)的相同或不同内侧壁。
6.根据权利要求5所述的检测触头参数的基座，其特征在于:所述开距参考系包括开距理论标记(4);所述超程参考系包括超程理论标记(7)。
7.根据权利要求6所述的检测触头参数的基座，其特征在于:所述开距参考系还包括开距上标记(5)和/或开距下标记(6);所述超程参考系还包括超程上标记(8)和/或超程下标记(9)。
8.根据权利要求5所述的检测触头参数的基座，其特征在于:所述开距参考系包括开距上标记(5)和开距下标记(6);所述超程参考系包括超程上标记(8)和超程下标记(9)。
9.根据权利要求2-8任一所述的检测触头参数的基座，其特征在于:所述动触头(2)的所述观测物为观测面、观测点或观测线。
10.一种上述权利要求1-9任一所述检测触头参数的基座的制造方法，其特征在于:包括以下步骤， ①根据触头参数的理论值，计算出以所述基座(1)的底面为基准时标记的设置位置； ②在所述基座(1)的内侧壁上设置所述标记。
11.根据权利10所述的制造方法，其特征在于:所述步骤①还包括，根据事先选取的动触头(2)上观测物的位置计算出以所述基座(1)的底面为基准时标记的设置位置。
12.根据权利要求10所述的制造方法，其特征在于:在所述步骤②之后还包括根据所述基座(1)上所述标记位置在动触头(2)上相应选取观测物的步骤。
13.根据权利要求10-12任一所述的制造方法，其特征在于:在所述步骤①之前还包括计算出触头参数的理论值的步骤。
14.一种采用上述权利要求1-9任一所述检测触头参数的基座对动触头进行触头参数测量的检测方法，其特征在于:包括， ①当所述标记为开距理论标记(4)和超程理论标记(7)时，则在脱扣状态时，观察各相动触头(2)上的观测物与所述开距理论标记(4)的相对位置，若每相所述观测物向所述开距理论标记(4)方向的投影均有部分落在所述开距理论标记(4)上，则该产品开距合格，否则不合格；在合闸状态时，观查各相所述观测物与所述超程理论标记(7)的相对位置，若每相所述观测物向所述超程理论标记(7 )方向的投影均有部分落在所述超程理论标记(7 )上，则该产品超程合格，否则不合格；如果开距和超程均合格且每相的超程值与所述超程理论标记(7)相比均不超过0.5毫米，则产品同步合格，否则不合格； ②当所述标记为开距上标记(5)、开距下标记(6)、超程上标记(8)和超程下标记(9)时，或者所述标记为开距理论标记(4)、开距上标记(5)、开距下标记(6)、超程理论标记(7)、超程上标记(8)和超程下标记(9)时，则在脱扣状态时，观察各相所述观测物与所述标记的相对位置，若每相所述观测物均位于所述开距上标记(5)和所述开距下标记(6)之间，或者每相所述观测物向所述开距上标记(5)或所述开距下标记(6)方向的投影均有部分落在所述开距上标记(5)或所述开距下标记(6)上，则该产品开距合格，否则不合格；在合闸状态时，观察各相所述观测物与所述标记的相对位置，若每相所述观测物均位于所述超程上标记(8 )和所述超程下标记(9 )之间，或者每相所述观测物向所述超程上标记(8 )或所述超程下标记(9 )方向的投影均有部分落在所述超程上标记(8 )或所述超程下标记(9 )上，则该产品超程合格，否则不合格；如果开距和超程均合格且每相的超程值与所述超程理论标记(7)相比均不超过0.5毫米，则产品同步合格，否则不合格； ③当所述标记为超程理论标记(7)和超程上标记(8)时，则在合闸状态时，观测各相所述观测物与所述标记的相对位置，若每相所述观测物均位于所述超程理论标记(7)和所述超程上标记(8 )之间，或者每相所述观测物向所述超程理论标记(7 )或所述超程上标记(8 )方向的投影均有部分落在所述超程理论标记(7)或所述超程上标记(8)上，则该产品超程合格，否则不合格； ④当所述标记为开距理论标记(4)、开距上标记(5 )、超程理论标记(7 )和超程上标记(8)时，则在脱扣状态时，观测各相所述观测物与所述标记的相对位置，若每相所述观测物均位于所述开距理论标记(4)和所述开距上标记(5)之间，或者每相所述观测物向所述开距理论标记(4)或所述开距上标记(5)方向的投影均有部分落在所述开距理论标记(4)或所述开距上标记(5)上，则该产品开距合格，否则不合格；在合闸状态时，观测各相所述观测物与所述标记的相对位置，若每 相所述观测物均位于所述超程理论标记(7)和所述超程上标记(8 )之间，或者每相所述观测物向所述超程理论标记(7 )或所述超程上标记(8 )方向的投影均有部分落在所述超程理论标记(7)或所述超程上标记(8)上，则该产品超程合格，否则不合格；如果开距和超程均合格且每相的超程值与所述超程理论标记(7)相比均不超过0.5毫米，则产品同步合格，否则不合格； ⑤当所述标记为开距理论标记(4)、开距下标记(6)、超程理论标记(7)和超程下标记(9)时，则在脱扣状态时，观测各相所述观测物与所述标记的相对位置，若每相所述观测物均位于所述开距理论标记(4)和所述开距下标记(6)之间，或者每相所述观测物向所述开距理论标记(4)或所述开距下标记(6)方向的投影均有部分落在所述开距理论标记(4)或所述开距下标记(6)上，则该产品开距合格，否则不合格；在合闸状态时，观测各相所述观测物与所述标记的相对位置，若每相所述观测物均位于所述超程理论标记(7)和所述超程下标记(9 )之间，或者每相所述观测物向所述超程理论标记(7 )或所述超程下标记(9 )方向的投影均有部分落在所述超程理论标记(7)或所述超程下标记(9)上，则该产品超程合格，否则不合格；如果开距和超程均合格且每相的超程值与所述超程理论标记(7)相比均不超过0.5毫米，则产品同步合格，否则不合格。
【文档编号】G01B5/14GK103542794SQ201310539873
【公开日】2014年1月29日 申请日期:2013年11月4日 优先权日:2013年11月4日
【发明者】杜和艳, 叶青, 宋志文 申请人:德力西电气有限公司