一种多发电子部件自动测试设备的制作方法

本发明涉及电子部件检测技术领域，具体涉及一种多发电子部件

自动测试设备。

背景技术：

电子部件即工业生产的具有特定功能电路模块，为了保证这些电子部件的功能，需要对各器件进行测试。而且测试不止一次，需要采用不同的设备进行各项指标的测试。

传统的某型弹检测设备为单次测试且只能测试一发产品，此外测试结果不能自动判读，更不能自动生成产品测试卡片，因而在实际生产测试中，在单一特定测试环境下如高低温、振动、冲击等，只能逐个对待测产品进行测试；当遇到环境测试有时间要求情况时如振动测试，即产品需要在振动后一分钟之内完成测试，就必须对单个产品进行一次独立的实验，无法并行实验，因此产品测试效率大大降低，同时又增加了测试实验的成本；此外，原测试设备的测试结果需要人工判读，测试卡片需要人工测试结束后手动填写，既降低了测试效率，又增加了人为带入错误的风险。因此，如果能设计一种具有故障自动判读功能的多发电子部件测试设备，将会给电子部件测试带来很大便利。

技术实现要素：

本发明的目的是克服现有技术中存在的单次测试且仅能测试一发产品、测试结果不能自动判读的问题。

为此，本发明提供了一种多发电子部件自动测试设备，包括便携式计算机、测试主机、测试机柜，所述测试主机安装于所述测试机柜内，其中，所述便携式计算机包括处理器、主板、PCIE通道，所述便携式计算机与所述测试主机通过屏蔽通讯线缆连接；所述测试主机包括信号发生板、信号调理主板、信号调理从板、产品通道控制板，且所述信号发生板、所述信号调理主板、所述信号调理从板均通过总线控制模块与所述产品通道控制板连接。

上述一种多发电子部件自动测试设备，所述PCIE通道的数量为两个，且所述PCIE通道内分别安装有一张NI PCIE6323双路高速采集卡，所述NI PCIE6323双路高速采集卡包含64模拟量采集通道和96路高速数字DIO通道。

上述一种多发电子部件自动测试设备，所述处理器选用intelI3 2.4G 4核心处理器，全固态硬盘架构，所述主板选用华硕双路PCIE 16x高性能工业级主板。

上述一种多发电子部件自动测试设备，所述信号发生板选用Xilinx Sparten系列FPGA芯片，外引33路百兆高速可编程DIO，可实现任意通道任意信号类型的产生，而信号类型程序预烧写至所述FPGA的SDRAM，同时配置有可以与FPGA内核直接通讯的RS232端口，由测试计算机主机通过RS232直接向FPGA信号发生内核下达指令，信号发生卡根据指令，产生测试所需的相应的产品测试信号。

上述一种多发电子部件自动测试设备，所述信号调理主板和所述信号调理从板集成信号调理电路，根据产品不同通道的信号特征如-230V、﹢35V、﹢12V、﹢28V等，结合信号所需的测试精度，并设计嵌入不同的隔离保护电路，对原始信号进行精确的调理和比例缩小，再进行采集分析。

上述一种多发电子部件自动测试设备，所述产品通道控制卡的数量最多为六个，且所述产品通道控制卡根据产品DB37引脚定义，对产品各个通道进行通断控制，在测试产品相应通道功能时对其他无关通道做出切换隔离处理，在保证测试准确不受干扰，保护未测试通道的同时，亦可以在电流、电压异常时，及时断开产品连接，确保待测试产品的安全。

本发明的有益效果：本发明提供的这种多发电子部件自动测试设备，通过增加产品通道控制卡的设计，实现了同时最多对六通道产品功能进行同步检测的功能；通过增加便携式计算机及测试主机的设计，达到了对问题产品、故障可以自动识别、定位的目的，同时并弹窗提示警告，在测试人员无需注意测试结果的前提下，即可快速定位产品故障信息；因此，该多发电子部件自动测试设备，具有测试智能化、测试结果准确，测试效率高的优点，应用前景广泛。

以下将结合附图及实施例对本发明做进一步详细说明。

附图说明

图1是本发明一种多发电子部件自动测试设备的结构示意图。

图2是本发明一种多发电子部件自动测试设备的连接框图。

图3是本发明一种多发电子部件自动测试设备的上位机测控软件系统组成图。

附图标记说明：1、便携式计算机；2、测试主机；3、测试机柜；4、处理器；5、主板；6、PCIE通道；7、信号发生板；8、信号调理主板；9、信号调理从板；10、产品通道控制板。

具体实施方式

为进一步阐述本发明达成预定目的所采取的技术手段及功效，以下结合附图及实施例对本发明的具体实施方式、结构特征及其功效，详细说明如下。

如图1所示，一种多发电子部件自动测试设备的结构示意图，包括便携式计算机1、测试主机2、测试机柜3，测试主机2安装于测试机柜3内。

如图2所示，一种多发电子部件自动测试设备的连接框图，其中，便携式计算机1包括处理器4、主板5、PCIE通道6，便携式计算机1与测试主机2通过屏蔽通讯线缆连接；测试主机2包括信号发生板7、信号调理主板8、信号调理从板9、产品通道控制板10，且信号发生板7、信号调理主板8、信号调理从板9均通过总线控制模块与产品通道控制板10连接。

其中，PCIE通道6的数量为两个，且PCIE通道6内分别安装有一张NI PCIE6323双路高速采集卡，且NI PCIE6323双路高速采集卡包含64模拟量采集通道和96路高速数字DIO通道, 可同时完成对多路产品信号的采集和分析；NI PCIE6323嵌入式控制和采集设备在一块印刷电路板即PCB上集成了实时处理器、可重新配置的现场可编程门阵列即FPGA和I/O，它们具有400 MHz工业处理器，两百万门Xilinx Spartan FPGA，48条5V（标准TTL，兼容3.3V TTL）数字I/O线、32路单端/16路差分、16位分辨率的模拟输入通道；此外，它们还有3个连接器，适用于使用板卡级NI C系列I/O模块的扩展I/O；适应19V DC到30V DC范围的电源输入范围、用于嵌入式操作的128MB DRAM和用于程序存储与数据记录的256MB非易失性存储器，从而产品具备宽温稳定工作特性，确保测试环境变化时，不对测试产生任何影响。

其中，处理器4选用intelI3 2.4G 4核心处理器，主板5选用华硕双路PCIE 16x高性能工业级主板，搭载Windows EB7高可靠控制系统，通过PCIE总线快速与采集卡实现通讯，同时通过RS422通讯端口对测试主机的FPGA信号发生板直接控制，产生产品测试需要的各类信号；信号发生板7选用Xilinx Sparten系列FPGA芯片，且FPGA芯片配置有与其内核可以直接通讯的RS232端口；信号调理主板8和信号调理从板9集成信号调理电路，信号调理电路中嵌有隔离保护电路；产品通道控制卡10的数量最多可以为六个，且产品通道控制卡10根据产品的引脚进行定义，用于产品各通道的通断控制。

如图3所示，一种多发电子部件自动测试设备的上位机测控软件系统组成图，其工作流程是按要求连接好测试设备，并通过测试电缆与测试主机正确连接，设备开机通电后，首先进行系统初始化，然后进入设备后台自检，若自检正常，按照事先预定工作流程进行测试并记录工作状态参数直到测试结束；若自检异常，则按照异常提示信息排查故障，直到设备自检恢复正常后才能进入正常测试流程。

以上内容是结合具体的优选实施方式对本发明所作的进一步详细说明，不能认定本发明的具体实施只局限于这些说明。对于本发明所属技术领域的普通技术人员来说，在不脱离本发明构思的前提下，还可以做出若干简单推演或替换，都应当视为属于本发明的保护范围。