一种同轴射频连接器探针的制作方法

文档序号:12194761阅读:893来源:国知局
一种同轴射频连接器探针的制作方法与工艺

本实用新型属于同轴射频连接器技术领域,具体涉及一种同轴射频连接器探针。



背景技术:

同轴射频连接器是对用于同轴射频馈线系统的连接器的通称,通常被认为是装接在电缆上或安装在仪器上的一种元件,作为传输线电气连接或分离的元件,属于机电一体化产品,主要起桥梁作用。

传统的带天线通讯收发器都是直接通过同轴连接器相互连接,传统方式是硬连接,外壳对地线,内导体针对插孔,但是收发器主板在总装前需要测试天线功能,随着通讯产品体积变小,电路板上没有多余的空间安装传统的连接器,印制电路板的天线位置只留下小于2毫米的空间,且连接器的使用寿命短,而以“飞线”方式连接的连接器的测试速度慢,仅适合研发测试,而且随着测试频率越来越高,这种开放式飞线测试也不能满足适应通讯电子产品的小型化发展。



技术实现要素:

有鉴于此,本实用新型的目的在于克服现有技术的不足,提供一种同轴射频连接器探针,将传统的测试探针和同轴射频连接器结合在一起,以解决现有的射频信号测试数据准确率低的问题,同时,采用这种碰触连接的方式可以提高生产测试的测试效率,节约了大量时间成本。

为实现以上目的,本实用新型采用如下技术方案:一种同轴射频连接器探针,包括同轴射频连接器和探针;同轴射频连接器包括接触头、内导体、滑套、弹簧、法兰以及外壳导体;接触头呈空腔结构,探针设置于接触头内腔中,接触头设置于内导体一端,内导体另一端与滑套一端连接,滑套另一端与法兰连接,法兰设置于滑套与外壳导体之间,弹簧环绕于滑套外部,其两端分别与内导体、法兰连接;外壳导体内部包含中心导体,内导体与外壳导体呈圆筒状,接触头、探针、内导体、滑套、法兰以及外壳导体同轴连接。

进一步的,还包括第四绝缘体、第三外导体和第二外导体,中心导体外依次被第四绝缘体、第三外导体、第二外导体包围,第三外导体左侧设有第三绝缘体;所述探针外设有第一绝缘体、第二绝缘体和第一外导体。

进一步的,法兰为二孔法兰。

进一步的,二孔法兰与弹簧之间设有衬套,衬套固定于二孔法兰上。

进一步的,探针为单头弹性针。

本实用新型采用以上技术方案,通过把传统的测试探针和同轴连接器使用弹簧结合的方式,其优点是可以快速抓取射频信号,减少信号损失,提高了测试的射频信号数据的准确性,同时,采用这种碰触连接的方式可以提高生产测试的测试效率,节约了大量时间成本,提高了使用寿命,适应通讯电子产品的小型化发展。

附图说明

图1为本实用新型一种同轴射频连接器探针的剖面示意图;

图2为本实用新型一种同轴射频连接器探针的结构示意图;

图3为本实用新型一种同轴射频连接器探针的结构示意图。

图中:1、内导体;2、外壳导体;3、接触头;4、探针;5、弹簧;6、滑套;7、法兰;8、中心导体;9、第一绝缘体;10、第二绝缘体;11、第三绝缘体;12、第四绝缘体;13、第一外导体;14、第二外导体;15、第三外导体;16、衬套。

具体实施方式

下面通过附图和实施例,对本实用新型的技术方案做进一步的详细描述。

第一优选方案:

如图1和图2所示,本实用新型提供一种同轴射频连接器探针,一种同轴射频连接器探针,包括同轴射频连接器和探针4;同轴射频连接器包括接触头3、内导体1、滑套6、弹簧5、法兰7以及外壳导体2;接触头3呈空腔结构,探针4设置于接触头3内腔中,接触头3设置于内导体1一端,内导体1另一端与滑套6一端连接,滑套6另一端与法兰7连接,法兰7设置于滑套6与外壳导体2之间,弹簧5环绕于滑套6外部,其两端分别与内导体1、法兰7连接;外壳导体2内部包含中心导体8,内导体1与外壳导体2呈圆筒状,接触头3、探针4、内导体1、滑套6、法兰7以及外壳导体2同轴连接。

作为一种优选的实施方式,还包括第四绝缘体12、第三外导体15和第二外导体14,中心导体8外依次被第四绝缘体12、第三外导体15、第二外导体14包围,第三外导体15左侧设有第三绝缘体11;所述探针4外设有第一绝缘体9、第二绝缘体10和第一外导体13;绝缘体是定位内导体1中导体的,保证导体的位置稳定,在测试过程中不晃动并使连接器容易装配。

作为一种优选的实施方式,法兰7为二孔法兰,二孔法兰用于固定测试用的治具,当测试治具下压的时候,二孔法兰可以上下移动,压紧电路板。

作为一种优选的实施方式,二孔法兰与弹簧5之间设有衬套16,衬套16固定于二孔法兰上,衬套16用于减少弹簧5的缓存。

作为一种优选的实施方式,探针4为单头弹性针,弹性针能更好的与测试点接触,提高测试准确率。

本实施例中,接触头3碰触待测电路板的底线部分并可根据电路板接触点的不同做相应的形状调整,在内导体1与外壳导体2之间以弹簧5的方式连接,下压时,使内导体1与外壳导体2同时伸缩,外壳导体2碰触电路板,内导体1同时碰触测试点,根据测试情况,通过调节同轴射频连接器的下压行程,控制连接的紧密性和准确性。

第二优选方案:

如图3所示,在第一优选方案的基础上,进一步考虑将弹簧5及滑套6设置于法兰7内部,在接触头3一端安装第二弹簧,接触头3长度增加,方便测试环境的变化;本实施例操作过程中,法兰7不动,接触头3可进行压缩。

这种弹簧对接方式灵活,可使用在自动化测试中,使用寿命达10K次,同轴射频连接器内部结构的多个特殊绝缘体尺寸不同会使驻波比出现大数值偏差;对此,应用电磁模拟实验软件,结合实际生产实验得到一组适合待测产品的绝缘子尺寸。

综上所述,本实用新型通过把传统的测试探针和同轴连接器使用弹簧结合的方式,其优点是可以快速抓取射频信号,减少信号损失,提高了测试的射频信号数据的准确性和使用寿命,同时,采用这种碰触连接的方式可以提高生产测试的测试效率,节约了大量时间成本,适应通讯电子产品的小型化发展。

本实用新型不局限于上述最佳实施方式,任何人在本实用新型的启示下都可得出其他各种形式的产品,但不论在其形状或结构上作任何变化,凡是具有与本申请相同或相近似的技术方案,均落在本实用新型的保护范围之内。

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