用于功率半导体开关中的短路检测的方法和器件与流程

技术特征：

技术总结
本发明涉及用于功率半导体开关中的短路检测的方法和器件。提供了检测与半导体开关有关的短路情况的器件和方法。当开关的控制信号超出第一参考并且开关的负载电流的改变超出第二参考时，可以确定短路情况。

技术研发人员：M-M.巴克兰;S.海因;A.毛德
受保护的技术使用者：英飞凌科技股份有限公司
技术研发日：2017.02.28
技术公布日：2017.09.05