本发明涉及粉体杂质分析技术，具体为一种微纳颗粒状粉体杂质光学分析方法。
背景技术：
现代工业发展迅速，种类繁多，各种粉末的制备更是工业发展中必不可少的一项工作。但是很多粉末在制备过程中，都不可避免的混入各种杂质，尤其是那些与需要制备的粉末颜色不同的杂质。所以针对这种粉末中含有与粉末自身颜色不同杂质的情况，一般生产厂家都需要掌握一定量的粉末中含有杂质的比率是多少，以此来推算这一批粉末中整体杂质的含量，从而判断这批粉末是否达到要求。
为了知晓一定量粉末中所含杂质的比率，很多厂家通常的做法是：取一定量的粉末(含有与自身颜色不同的杂质)，然后由人工来对粉末进行一点点的翻找，通过肉眼识别出其中颜色不同的杂质颗粒。但是由于粉末颗粒小，通过肉眼识别来查找其中的杂质，存在主观性强、效率低，准确率不高的问题，而且人眼看久了会出现视觉疲劳，使得识别效率和准确度降低。
技术实现要素：
针对现有技术的不足，本发明所要解决的技术问题是提出了一种替代人工辨识的微纳颗粒状粉体杂质光学分析方法。
能够解决上述技术问题的微纳颗粒状粉体杂质光学分析方法，其技术方案包括以下工作步骤：
1、采用粉末处理装置将含有不同颜色杂质的微纳颗粒状粉体在平台铺平成具有适宜面积的规矩几何形状和适宜厚度的粉层，所述适宜厚度以粉末颗粒在竖直空间上不相互叠加为宜。
2、采用CCD相机或CMOS相机对粉层进行拍照，所述CCD相机或CMOS相机通过相机支架支撑固定在粉层上方，所述相机支架可在高度和水平上调节CCD相机或CMOS相机的位置。
3、所述CCD相机或CMOS相机通过数据传输线将拍摄的每张照片传输到显示处理终端，所述显示处理终端采用个人计算机、或采用平板电脑、或采用手机。
4、所述个人计算机、或平板电脑、或手机实时接收到CCD相机或CMOS相机传输的照片并利用个人计算机的PC端软件或平板电脑或手机上的APP第三方应用程序对含有杂质的粉末照片进行处理，识别出杂质、统计出杂质数量并将杂质的位置标注在相应图像中，最后将处理好的图像和统计结果输出到显示器上。
5、所述CCD相机或CMOS相机拍照完毕，所述粉末处理装置将粉层回收。
所述粉末处理装置的一种结构包括下料装置、铺平装置和粉末回收装置，所述下料装置将微纳颗粒状粉体下料于平台上呈条状粉堆或方形粉堆，所述铺平装置将条状粉堆或方形粉堆于平台上向前刮平成长方形状的粉层，所述粉末回收装置将长方形状的粉层于平台上向后刮回收集。
所述相机支架可采用三脚支架、或采用四脚支架、或采用多脚支架，支架的各脚可单独伸缩调节长度。
为获取最佳的亮度效果和更加清晰的拍摄图像，可为CCD相机或CMOS相机配置亮度可调的补光光源。
所述补光光源套装在CCD相机或CMOS相机的镜头上使用。
所述平台的台面颜色优选白色。
本发明的有益效果：
本发明微纳颗粒状粉体杂质光学分析方法自动化程度高，检测准确度高，检测速度快。
附图说明
图1是本发明一种实施方式的结构示意图。
图号标识：1、粉末处理装置；2、CCD相机；3、相机支架；4、数据传输线；5、显示处理终端；6、补光光源；7、平台。
具体实施方式
下面结合附图所示实施方式对本发明的技术方案作进一步说明。
本发明微纳颗粒状粉体杂质光学分析方法，采用了粉末处理装置1、CCD相机2或CMOS相机、相机支架3、数据传输线4和显示处理终端5等设施。其中，所述粉末处理装置1包括有下料装置、铺平装置和粉末回收装置；所述相机支架3采用三脚支架或为四脚支架，支架的各脚可单独伸缩调节长度；所述显示处理终端5采用个人计算机、或采用平板电脑、或采用手机，如图1所示。
本发明微纳颗粒状粉体杂质光学分析方法的工作步骤为：
1、首先将一定量的微纳颗粒状粉体(含有杂质)放置于粉末处理装置1的下料装置中，所述下料装置在平台7(台面颜色为白色)上下料(呈条状粉堆或方形粉堆)，然后由粉末处理装置1的铺平装置将条状粉堆或方形粉堆向前铺平成长方形状粉层，所述粉层的厚度以粉末颗粒在竖直空间上不相互叠加为宜。
2、通过相机支架3(三脚支架或四脚支架)架设的CCD相机2或CMOS相机于平台7上方向下对长方形状粉层进行拍照(多张照片)，各照片的图像数据通过数据传输线4实时传输到显示处理终端5。
可根据拍摄需要通过相机支架3调节CCD相机2或CMOS相机的高度和水平位置；可根据现场光线条件采用补光光源6调节CCD相机2或CMOS相机的拍摄亮度，所述补光光源6套装在固定在CCD相机2或CMOS相机的镜头上。
3、显示处理终端5接收到图像数据后进行图像处理，利用图像识别技术识别并标注出图像中杂质的位置，同时统计杂质颗粒的数量，并将处理好的图像和统计结果显示在显示处理终端5的显示器上。
①、如显示处理终端5采用个人计算机，则图像识别技术为PC端软件。
②、如显示处理终端5采用平板电脑或手机，则图像识别技术为APP第三方应用程序。
4、CCD相机2或CMOS相机拍完照后，粉末处理装置1的粉末回收装置将长方形状粉层回刮收集。
5、下料装置再次下料，重复上述1～4的工作步骤，如此循环，从而将粉末处理装置1的下料装置中的全部微纳颗粒状粉体检测完毕。