技术总结
本发明公开了一种微纳颗粒状粉体杂质光学分析方法，包括以下工作步骤：采用粉末处理装置将含有杂质的微纳颗粒状粉体在平台上铺平；采用CCD相机或CMOS相机对粉层进行拍照；照片通过数据传输线传送到个人计算机、或平板电脑、或手机；个人计算机、或平板电脑、或手机实时接收到CCD相机或CMOS相机传输的照片并利用个人计算机的PC端软件或平板电脑或手机上的APP第三方应用程序对照片进行处理，识别出粉层中的杂质、统计出杂质数量并将杂质的位置标注在相应图像中，最后将处理好的图像和统计结果输出到显示器上；CCD相机或CMOS相机拍照完毕，粉末处理装置将粉层回收。本发明分析方法准确度高、速度快。
技术研发人员：张姿;黄廷磊
受保护的技术使用者：张姿;黄廷磊
文档号码：201710150091
技术研发日：2017.03.14
技术公布日：2017.05.24