光学测量工装的制作方法

本实用新型涉及光学测量技术领域，更为具体地，涉及一种光学测量工装。

背景技术：

光学测量是一种光电技术与机械测量结合的技术，随着半导体行业的快速发展，为了使生产的产品达到设计精度和质量要求，通常会采用光学测量技术对产品的外观及尺寸进行精确测量。

当前，在对产品的外观尺寸进行光学测量时，多使用单一工装对产品进行固定，当产品被固定在工装上后，工作人员会将固定在工装上的产品放置到光学测量设备上进行外观尺寸的测量，以确定产品是否满足要求。然而，在利用上述光学测量方式对产品进行光学测量时，由于同一工装一次只能放置一个产品，因此，在产品被放置到工装上的过程中，光学测量设备是闲置的，如此，存在效率低下，不利于对大批量产品进行在线测量。

技术实现要素：

鉴于上述问题，本实用新型的目的是提供一种光学测量工装，以解决现有的工装存在测量效率低的问题。

本实用新型提供的光学测量工装，包括产品放置平台、与产品放置平台相连的电缸，电缸用于驱动产品放置平台进行旋转；其中，在产品放置平台上设置有第一凹槽和第二凹槽，在第一凹槽上设置有产品第一放置底座，在第二凹槽上设置有产品第二放置底座；在产品第一放置底座上设置有第一放置凹槽，在产品第二放置底座上设置有第二放置凹槽，第一放置凹槽和第二放置凹槽均用于放置待测量的产品，随着产品放置平台的旋转，光学测量设备对放置在第一放置凹槽和第二放置凹槽上的待测量的产品进行交替测量。

此外，优选的结构为：还包括与产品第一放置底座相适配的产品第一放置盖板，以及与产品第二放置底座相适配的产品第二放置盖板；产品第一放置盖板用于对放置在第一放置凹槽上的待测量的产品进行夹持固定；产品第二放置盖板用于对放置在第二放置凹槽上的待测量的产品进行夹持固定。

此外，优选的结构为：产品第一放置盖板的底部具有第一凸起，在第一凸起上设置有第一螺孔，在产品第一放置底座上设置有与第一螺孔相适配的第二螺孔，通过螺栓、第一螺孔和第二螺孔将放置在第一放置凹槽上的待测量的产品进行夹持固定。

此外，优选的结构为：产品第二放置盖板的底部具有第二凸起，在第二凸起上设置有第三螺孔，在产品第二放置底座上设置有与第三螺孔相适配的第四螺孔，通过螺栓、第三螺孔和第四螺孔将放置在所述第二放置凹槽上的待测量的产品进行夹持固定。

此外，优选的结构为：在产品放置平台上设置有第三凹槽和第四凹槽，第三凹槽和第四凹槽用于放置备用的待测量产品。

此外，优选的结构为：产品放置平台和电缸通过螺栓连接。

此外，优选的结构为：产品第一放置底座和产品第二放置底座在产品放置平台的同一轴线上，且放置在产品第一放置凹槽上的待测量的产品与放置在产品第二放置凹槽上的待测量的产品的方向相对。

此外，优选的结构为：产品第一放置底座和产品第二放置底座均分别通过螺栓固定在第一凹槽和第二凹槽上。

利用上述根据本实用新型的光学测量工装，通过在产品放置平台上设置两个凹槽，并分别在两个凹槽上各设置一个用于放置待测量的产品的产品放置底座，通过与产品放置平台相连的电缸驱动产品放置平台旋转，以使光学测量设备对放置在两个产品放置底座上的待测量的产品进行交替测量，从而达到提高产品光学测量效率的目的。

附图说明

通过参考以下结合附图的说明内容，并且随着对本实用新型的更全面理解，本实用新型的其它目的及结果将更加明白及易于理解。在附图中：

图1为根据本实用新型实施例的光学测量工装的爆炸结构示意图；

图2为根据本实用新型实施例的光学测量工装的整体结构示意图。

在所有附图中相同的标号指示相似或相应的特征或功能。

图中：产品放置平台1、第一凹槽11、第二凹槽12、第三凹槽13、第四凹槽14、电缸2、产品第一放置底座3、第一放置凹槽31、第二螺孔32、产品第二放置底座4、第二放置凹槽41、第四螺孔42、产品第一放置盖板5、第一凸起51、第一螺孔511、产品第二放置盖板6、第二凸起61、第三螺孔 611。

具体实施方式

以下将结合附图对本实用新型的具体实施例进行详细描述。

针对前述，现有的光学测量工装存在测量效率低的问题，本实用新型提供的光学测量工装通过在产品放置平台上设置两个凹槽，并分别在两个凹槽上各设置一个用于放置待测量的产品的产品放置底座，通过与产品放置平台相连的电缸驱动产品放置平台旋转，以使光学测量设备对放置在两个产品放置底座上的待测量的产品进行交替测量，从而达到提高产品光学测量效率的目的。

为说明本实用新型提供的光学测量工装，图1示出了根据本实用新型实施例的光学测量工装的爆炸结构，图2示出了根据本实用新型实施例的光学测量工装的整体结构。

如图1和图2所示，本实用新型提供的光学测量工装包括产品放置平台1、与产品放置平台1相连的电缸2，电缸2用于驱动产品放置平台进行旋转。其中，产品放置平台1与电缸2通过螺栓进行连接固定。

其中，在产品放置平台1上设置有第一凹槽11和第二凹槽12，在第一凹槽11上设置有产品第一放置底座3，在第二凹槽12上设置有产品第二放置底座4，在产品第一放置底座3上设置有第一放置凹槽31，在产品第二放置底座4上设置有第二放置凹槽41，第一放置凹槽31和第二放置凹槽41均用于放置待测量的产品(为表述方便，以下产品)，产品放置平台在电缸的驱动下旋转，随着产品放置平台的旋转，光学测量设备对放置在第一放置凹槽31和第二放置凹槽41上的产品进行交替测量。其中，产品第一放置底座通过螺栓固定在第一凹槽上，产品第二放置底座也通过螺栓固定在第二凹槽上。

此外，由于产品放置平台在电缸的驱动下会进行旋转，此时，若不对放置在第一放置凹槽31和第二放置凹槽41上的产品进行夹持固定，则产品放置平台在旋转的过程中势必会将旋转在第一放置凹槽31和第二放置凹槽41 上的产品甩出或使产品发生位移，从而致使光学测量设备无法对产品进行光学测量或测量不准确。

因此，在本实用新型提供的光学测量工装中，还包括与产品第一放置底座3相适配的产品第一放置盖板5，以及与产品第二放置底座4相适配的产品第二放置盖板6。其中，产品第一放置盖板5用于对放置在第一放置凹槽31 上的产品进行夹持固定；产品第二放置盖板6用于对放置在第二放置凹槽41 上的产品进行夹持固定。

具体地，产品第一放置盖板5的底部具有第一凸起51，在第一凸起51上设置有第一螺孔511，在产品第一放置底座3上设置有与第一螺孔511相适配的第二螺孔32，通过螺栓、第一螺孔511和第二螺孔32将放置在第一放置凹槽31上的产品进行夹持固定。

产品第二放置盖板6的底部具有第二凸起61，在第二凸起61上设置有第三螺孔611，在产品第二放置底座4上设置有与第三螺孔611相适配的第四螺孔42，通过螺栓、第三螺孔611和第四螺孔42将放置在第二放置凹槽41上的产品进行夹持固定。

进一步地，为了便于将产品快速的放置在第一放置凹槽和第二放置凹槽内，在产品放置平台1上还设置有第三凹槽13和第四凹槽14，第三凹槽13 和第四凹槽14均用于放置备用产品，在放置在第一放置凹槽或放置在第二放置凹槽上的产品被测量完毕之后，工作人员可以从第三凹槽或第四凹槽中快速的将备用产品取出放置在第一放置凹槽或第二放置凹槽上，以使光学测量设备对产品进行测量，从而进一步提高光学测量的效率。

此外，需要说明的是，电缸与产品放置平台的组装需保持水平，并且，产品第一放置底座和产品第二放置底座在产品放置平台的同一轴线上(即产品第一放置底座和产品第二放置底座需保持180度夹角)，且放置在产品第一放置凹槽上的产品与放置在产品第二放置凹槽上的产品的方向相对，如此，在产品放置平台被旋转后，才能够保证放置在第一放置凹槽或第二放置凹槽上的产品正对光学测量设备。

如上所述，相对于当前的光学测量工装，本实用新型提供的光学测量工装具有较高的测量效率，能够应用于产品产线的即时测量，能够大幅提高光学测量设备的使用率，从而为企业降低生产成本。

如上参照附图以示例的方式描述根据本实用新型的光学测量工装。但是，本领域技术人员应当理解，对于上述本实用新型所提出的光学测量工装，还可以在不脱离本实用新型内容的基础上做出各种改进。因此，本实用新型的保护范围应当由所附的权利要求书的内容确定。