本实用新型涉及一种检具，尤其涉及一种用于测量缺口深度的检具。
背景技术：
目前，对于带缺口的零件，通常需要对缺口的深度进行测量。现有技术中，对于一些缺口，通常使用现有的卡尺对缺口深度直接测量，然而，由于各种卡尺的卡脚具有一定宽度，因此，当一些缺口(如V型缺口)的宽度极为细小时候，卡尺的卡脚无法深入到缺口底部，从而无法测得真实值，导致检测结果不准确，误差大。
技术实现要素：
本实用新型的目的是提供一种结构简单、操作方便并且工作效率高的缺口深度检具，该检具能进一步提高检测精度，有效地解决了现有技术存在的问题。
本实用新型为实现上述目的采用的技术方案是：一种缺口深度检具，包括底座、立柱和测量表，所述立柱与底座的上端面连接，测量表通过锁紧螺母锁紧定位在立柱上；所述立柱的前端面还连接有用于支撑待测零件的定位座，且定位座位于测量表下方，所述定位座包括定位板和连接在定位板上端面的倒V型凸起；测量时，待测零件的缺口定位在倒V型凸起上。
本实用新型的进一步技术方案是：所述立柱靠上端的位置设有贯穿立柱前后表面的长条形滑槽，测量表后端的连接螺杆由立柱的前侧穿过滑槽并通过锁紧螺母锁紧定位在立柱上。
本实用新型的进一步技术方案是：所述倒V型凸起的夹角α小于待测零件的缺口夹角β，所述倒V型凸起的高度大于待测零件的缺口深度。
本实用新型的进一步技术方案是：所述测量表是千分表。
本实用新型一种缺口深度检具由于采用上述方案，具有如下有益效果：
1.使用本实用新型一种缺口深度检具对待测零件的缺口深度进行测量，放置标准件并将测量表调零后，只需将待测零件一个个的放置在定位座上后就可以直接由测量表读出缺口的深度数据，操作简单，大大地提高了测量的工作效率；
2.本实用新型的测量表的连接螺杆通过锁紧螺母锁紧定位在立柱的滑槽上，通过连接螺杆和滑槽可以灵活调整测量表在立柱的位置，以实现对不同尺寸的待测零件的测量；
3.本实用新型的立柱上设有用于支撑待测零件的定位座，并且定位座的倒V型凸起的夹角小于待测零件的缺口夹角，同时倒V型凸起的高度大于待测零件的缺口深度，当缺口定位在倒V型凸起上时，倒V型凸起的上端可以延伸至缺口的底部，使得测量结果更加精确。
下面结合附图和实施例对本实用新型一种缺口深度检具作进一步的说明。
附图说明
图1是本实用新型一种缺口深度检具的结构示意图；
图2是本实用新型使用状态的示意图；
图3是图2另一方向的结构示意图；
图4是图2的主视图；
图5是图4所示A处的局部放大图；
图6是待测零件的结构示意图；
图7是待测零件的主视图；
附图标号说明：1-底座，2-定位座，21-定位板，22-倒V型凸起，3-测量表，31-测量头，4-立柱，41-滑槽，5-锁紧螺母，6-待测零件，61-缺口。
具体实施方式
如图1至图7所示，本实用新型一种缺口深度检具，包括底座1、立柱4、测量表3和用于支撑待测零件6的定位座2，所述测量表3是千分表。
本实用新型的立柱4与底座1的上端面连接，所述立柱4靠上端的位置设有贯穿立柱4前后表面的长条形滑槽41，测量表3后端的连接螺杆32由立柱4的前侧穿过滑槽41并通过锁紧螺母5锁紧定位在立柱4上。通过连接螺杆32和滑槽41可以灵活调整测量表3在立柱4的位置，以实现对不同尺寸的待测零件的测量。
定位座2包括定位板21和连接在定位板21上端面的倒V型凸起22，定位座2与立柱4的前端面连接并位于测量表3下方，测量时，待测零件6的缺口61定位在倒V型凸起22上；另外，本实用新型的倒V型凸起22的夹角α小于待测零件6的缺口夹角β，所述倒V型凸起22的高度大于待测零件6的缺口深度，当缺口61定位在倒V型凸起22上时，倒V型凸起22的上端可以延伸至缺口61的底部，使得测量结果更加精确。
本实用新型的使用方法：先将预设的标准件放置在定位座2的倒V型凸起22上，标准件的高度A与待测零件6的高度一致，再通过连接螺杆32和锁紧螺母5调整测量表3的位置，使得测量表3的测量头31抵压在标准件上端面，然后将测量表3的读数进行调零；将标准件取下，把待测零件6放置在定位座2上，且待测零件6的缺口61定位在倒V型凸起22上，同时将测量表3的测量头31抵压在待测零件6的上端面，此时测量表3得到读数即为缺口61的深度。使用本实用新型的缺口深度检具对待测零件的缺口深度进行测量，放置标准件并将测量表3调零后，只需将待测零件一个个的放置在定位座2上后就可以直接由测量表3读出缺口的深度数据，大大地提高了测量的工作效率。
以上实施例仅为本实用新型的较佳实施例，本实用新型的结构并不限于上述实施例列举的形式，凡在本实用新型的精神和原则之内所作的任何修改、等同替换等，均应包含在本实用新型的保护范围之内。