专利名称：光学记录介质、记录/再现设备和记录/再现方法
技术领域：
本发明涉及一种用于缺陷管理的光学记录介质、记录/再现设备和记录/ 再现方法。
背景技术：
盘缺陷管理是这样一种处理，其通过将记录在盘的用户数据区中的缺陷， 即缺陷块中的用户数据写入用户数据区的新的部分来补偿由缺陷块引起的数 据损失。通常，使用线性替换方法或滑动替换方法来执行盘缺陷管理。在这 些方法中，用没有缺陷的备用区来替换有缺陷的区。在滑动替换方法中，滑 过有缺陷的区，而使用下一个无缺陷的区。在线性替换方法中，用户数据区 的出现缺陷的块被称为缺陷块。用于替换缺陷块的替换块被记录在盘的预定 部分中的备用区中。关于缺陷块和替换块的信息，即用于搜索缺陷块和替换 块的位置的信息被表示于缺陷列表中。
通常，当主机读取记录在盘上的数据时，主机确定数据的逻辑地址，并 命令硬盘驱动器读取数据。然后，硬盘驱动器搜索与该逻辑地址对应的物理 地址，并读取记录在盘上的与该物理地址对应的位置中的数据。如果缺陷块 出现在与该物理地址对应的数据中，则硬盘驱动器必须寻找替换缺陷块的替 换块。因此，缺陷列表包括缺陷列表条目，每一条目分别包含关于每一缺陷 块的信息。即，为每一缺陷块产生缺陷列表条目，因此需要用于缺陷列表的 相当大的i己录空间。
发明公开 技术问题因此，需要对用于缺陷列表的空间进行有效管理。为此，需要对关于缺 陷块，特别是用户数据区的连续位置中出现的缺陷块的信息进行有效管理。
-技术解决方案
本发明提供一种其上缺陷被管理的光盘、 一种有效地管理盘中用于管理 缺陷的缺陷列表所需的空间的缺陷管理设备和方法、以及存储用于控制设备 执行所述缺陷管理方法的计算机程序的计算机可读光盘。
有益效果
根据本发明，在缺陷管理被执行的光盘上，用于记录缺陷管理的缺陷列 表的空间可被有效地管理，从而整个盘空间可被有效地管理。
图1是根据本发明实施例的数据记录/再现装置的框图。 图2是根据本发明实施例的单记录层盘的结构图。 图3是根据本发明实施例的双记录层盘的结构图。
图4是根据本发明实施例的SA/DL区的数据结构图。 图5是图4中所示的DL射的详细的数据构图。 图6是图5中所示的DL条目射的详细的数据结构图。 图7是示出根据本发明实施例的连续缺陷块的参考图。 图8是示出根据本发明实施例的连续缺陷列表的参考图。 图9是示出图6中所示的替换状态信息和连续缺陷信息的示例的示图。 图IOA和图IOB是示出根据本发明实施例的具有替换的连续缺陷块和没 有替换的连续缺陷块的参考图。
图IIA是图IOB中所示的DL弁k的^:据结构图。
图IIB是图10B中所示的DL弁k的数据结构图，该DL弁k还包括关于连 续缺陷列表条目的数量的信息。
图IIC是图10B中所示的DL弁k的数据结构图，该DL弁k还包括关于具 有替换状态信息"0"的连续缺陷列表条目的数量的信息以及关于具有替换状 态信息"l'，的连续缺陷列表条目的数量的信息。
图12是根据本发明实施例的用于其上缺陷区被管理的光盘的缺陷管理方法的流程图。
最佳方式
根据本发明的一方面，其上缺陷被管理的光学记录介质包括替换用户数
据区中的缺陷块的替换块以及与缺陷有关的信息记录在其中的SA/DL区。所 述与缺陷有关的信息包括连续缺陷列表条目，所述连续缺陷列表条目包括与 位于用户数据区的连续位置中的缺陷有关的信息。
所述连续缺陷列表条目可包括开始条目，对应于与第一缺陷块有关的 信息；和结束条目，对应于与最后缺陷块有关的信息，其中，所述第一缺陷 块和最后缺陷块属于用户数据区的连续位置中的缺陷块。
所述开始条目可包括与第 一缺陷块有关的位置信息以及与替换第 一缺陷 块的替换块有关的位置信息。
所述结束条目可包括与最后缺陷块有关的位置信息以及与替换最后缺陷 块的替换块有关的位置信息。
所述与缺陷有关的信息可包括与连续缺陷列表条目的数量有关的信息。
所述与缺陷有关的信息还可包括与缺陷列表条目的数量有关的信息。
可通过将连续缺陷列表条目的数量乘以因数2,并从缺陷列表条目的数 量中减去所得的乘积，来计算单个缺陷列表条目的数量。
所述与缺陷有关的信息可包括缺陷列表条目，所述缺陷列表条目包括与 缺陷块有关的位置信息、与替换块有关的位置信息、以及与缺陷有关的状态 信息。
所述状态信息可包括表示缺陷块是否被替换的替换状态信息以及表示 缺陷块是否是连续缺陷块的连续缺陷信息。
所述与缺陷有关的信息还可包括与具有表示缺陷块被替换的替换状态 信息的连续缺陷列表条目的数量有关的信息。
所述与缺陷有关的信息还可包括与具有表示缺陷块没有被替换的替换 状态信息的连续缺陷列表条目的数量有关的信息。
根据本发明的另 一方面， 一种用于在光学记录介质上记录/再现数据的设
和控制单元，其中，所述控制单元为所述介质分配SA/DL区，替换用户数据 区中的具有缺陷的缺陷块的替换块以及与缺陷有关的信息被记录在所述SA/DL区中，并且所述控制单元控制写/读单元将所述与缺陷有关的信息记录 在SA/DL区中，所述与缺陷有关的信息包括连续缺陷列表条目，所述连续缺 陷列表条目对应于与位于用户数据区的连续位置中的缺陷有关的信息。
根据本发明的另 一方面， 一种在光学记录介质上记录/再现数据的方法包 括为介质分配SA/DL区，用于替换用户数据区中的缺陷块的替换块以及与 对应于所述缺陷块的缺陷有关的信息被记录在所述SA/DL区中；将与缺陷有 关的信息记录在SA/DL区中，所述与缺陷有关的信息包括连续缺陷列表条目， 所述连续缺陷列表条目对应于与位于用户数据区的连续位置中的缺陷有关的 信息。
根据本发明的另一方面，提供一种存储程序的计算机可读光盘，所述程 序用于控制将数据记录在其上缺陷被管理的光盘上/从该光盘再现数据的设 备执行缺陷管理方法，所述缺陷管理方法包括为介质分配SA/DL区，用于 替换用户数据区中的具有缺陷的缺陷块的替换块以及与缺陷有关的信息被记 录在所述SA/DL区中；将与缺陷有关的信息记录在SA/DL区中，所述与缺 陷有关的信息包括连续缺陷列表条目，所述连续缺陷列表条目对应于与位于 用户数据区的连续位置中的缺陷有关的信息。
具体实施例方式
现在，将对本发明实施例进行详细描述，其示例示出于附图中，在附图 中，相同的标号始终表示相同的部件。下面，将参照附图描述实施例以解释 本发明。
图1是根据本发明实施例的数据记录/再现装置的框图。 参照图1,该数据记录/再现装置包括写/读单元2和控制单元1 。 根据本发明，写/读单元2包括拾取器，并将数据记录在其上缺陷被管理 的盘4上/从盘4读取数据。控制单元1执行根据本发明的缺陷管理。在本发 明的实施例中，控制单元1使用写后校验方法，通过以预定的单位记录数据 并对记录的数据进行校验来寻找有缺陷的数据。控制单元1通过以记录操作 单位写入用户数据并对用户数据进行校验来检查何处出现了缺陷数据。控制 单元1在检查到缺陷数据之后，产生指示缺陷数据位于何处的缺陷信息，将 产生的信息作为临时缺陷信息存储在存储器中，并在汇集了预定量的所述产 生的信息之后，将产生的信息记录在盘上。在本发明的实施例中，作为由用户的意图确定的操作的记录操作或者期 望的记录操作等指的是包括加载盘、在盘上记录数据、以及卸载盘的操作。 在所述记录操作期间，写后校验操作至少被执行一次。然后，将通过使用写 后校验操作获得的所述临时缺陷信息临时存储在存储器中。
当用户为了卸载盘而按下弹出按钮(未示出)时，控制单元l确定记录 操作被终止，并读取存储在存储器中的临时缺陷信息，将该信息提供给写/读 单元2,使该信息被记录在盘上。
控制单元1包括系统控制器10、主机I/F20、数字信号处理器(DSP) 30、 RF AMP 40和伺服机构50。在记录操作期间，主机I/F 20从主机3 (在 本实施例中，为计算机)接收预定的写命令，并将该写命令发送到系统控制 器10。系统控制器10在从主机I/F 20接收的写命令下，控制DSP 30和伺服 机构50执行记录操作。DSP 30将诸如奇偶校验的附加数据添加到从主机I/F 20接收的将被记录的数据以纠正数据差错，并且DSP30执行ECC编码，产 生作为纠错块的ECC块，并以预定的方式对ECC块进行调制。RF AMP 40 将从DSP 30输出的数据改变为RF信号。写/读单元2将从RF AMP 40发送 来的RF信号记录在盘4上。伺服机构50存储从系统控制器10输入的记录 命令，并对写/读单元2的拾取器进行伺服控制。
系统控制器10包括缺陷管理单元11和存储器单元12，以管理缺陷。根 据本发明，缺陷管理单元11读取存储在存储器单元12中的临时缺陷信息， 汇集所述临时缺陷信息，然后产生缺陷列表。即，当缺陷管理单元ll在读取 的缺陷信息中找到关于连续的缺陷块的信息时，缺陷管理单元11产生连续缺 陷列表条目，所述连续缺陷列表条目包括开始条目，与关于所述连续缺陷 块的第一缺陷块的信息对应；和结束条目，与关于所述连续缺陷块的最后缺 陷块的信息对应。因此，即使连续出现例如8个缺陷块，也仅产生2个条目， 而不是8个条目，这是因为不是为8个块的每一个产生条目，而是为8个连 续缺陷块的第一块和最后块产生条目。因此，存储条目所需的空间可减小。 缺陷管理单元11还产生DL条目，所述DL条目包括连续缺陷信息，显示 缺陷是连续缺陷还是单个缺陷；替换状态信息，显示是否存在替换块。缺陷 管理单元11产生包括这样的DL条目的DL。
为了再现数据，主机I/F 20从主机3接收读命令。系统控制器10执行再 现所需的初始化。写/读单元2将激光束投射到盘4上，并输出通过接收从盘4反射的激光束而获得的光学信号。RF AMP 40将从写/读单元2输出的光学 信号改变为RF信号，将从该RF信号获得的调制的数据发送到DSP 30，并 将从该RF信号获得的伺服控制信号发送到伺服机构50。 DSP 30对调制的数 据进行解调，并对解调的数据执行ECC纠错。在接收到来自RF AMP 40的 伺服信号和来自系统控制器10的控制伺服所需的命令之后，伺服机构50对 拾取器进行伺服控制。主机I/F20将从DSP30接收的数据发送到主机3。为 了控制数据的再现，系统控制器10控制伺服机构50从数据被记录的位置读 取数据。根据本发明实施例的其上缺陷被管理的光盘的结构如下。记录在根据本发明实施例的光盘上的盘管理信息(DMI)包括盘定义 结构(DDS)、记录管理数据(RMD)和缺陷列表(DL)。 DMI记录于其上 的盘管理区(DMA)包括临时盘管理区(TDMA)，当盘被记录时，TDMA 用于记录临时DMI;和最终的盘管理区(FDMA),用于记录最终的DMI。用于记录临时DMI的TDMA包括DDS/RMD区，用于记录DDS和 RMD;和DL区，用于i己录DL。DDS包括关于SA/DL区的位置信息，在所述SA/DL区中记录有替换 块和DL，当记录在数据区中的数据块中出现缺陷时所述替换块替换缺陷块； 关于DDS/RMD区的位置信息；关于DL被记录于何处的位置信息；可用于 替换SA/DL区中的数据或用于更新DL的位置信息； 一致性标记，用于检查 盘是否在被使用时正常弹出；以及写保护信息，用于防止写入。RMD是与管理盘上记录的数据有关的信息，包括R区域条目，显示顺 序记录模式下每一R区域的状态；位图，显示为位值，所述位值表示对于随 机记录模式，与用户区的每一记录单位块有关的数据是否被记录。在单记录层盘中，用于记录DDS和RMD的DDS/RMD区被布置在导入 区或导出区中，而在双记录层盘中，DDS/RMD区^皮布置在导入区、中间区 或导出区中。在为了使用盘而对盘初始化时根据驱动器制造商或用户的意图， DDS/RMD区可被分配在数据区的一部分中以增加可能的更新的数量。当已不能在盘上记录更多数据，或者用户想要保持盘的当前状态而不再 记录另外的数据，仅将该盘用于再现时，执行封盘，并且最终的盘管理信息 被记录在FDMA中。PCA区被布置用于测试，所述测试是指根据写策略从各种记录功率中检测最佳记录功率并检测根据写策略的变量。图2是根据本发明实施例的单记录层盘的结构图。参照图2，导出区向着盘的外周形成，导入区向着盘的中心形成，数据区形成在导出区和导入区之间。导入区包括PCA #0、 FDMA #1、 FDMA #2和DDS/RMD区柳。数据 区包括用户区、SA/DL区#0和SA/DL区#1 。导出区包括PCA #1 、 FDMA #3、 FDMA弁4和DDS/RMD区#1。图3是根据本发明实施例的双记录层盘的结构图。参照图3，导入区、数据区柳和中间区糾布置在一个记录层L0中，而 中间区#1、数据区#1和导出区顺次布置在另一记录区Ll中。在层L0中，导入区包括PCA糾、FDMA弁2、DDS/RMD区柳和FDMA弁1。 数据区包括SA/DL区#0和用户区#0。中间区#0包括FDMA#3、 DDS/RMD 区#2、 FDMA#4和PCA#1。另一方面，在层Ll中，中间区#1包括FDMA弁3、 DDS/RMD区#3、 FDMA糾和PCA #3。数据区#1包括SA/DL区#1和用户 区#1。导出区包括PCA弁2、 FDMA#2、 DDS/RMD区#1和FDMA#1。如图2和图3中所示，当用户区中出现缺陷时，替换缺陷块的替换块与 关于缺陷的信息一起被记录在SA/DL区中。所述关于缺陷的信息包括关于缺 陷块的位置信息、关于替换块的位置信息以及关于连续缺陷的信息。图4是根据本发明实施例的SA/DL区的数据结构图。参照图4， SA/DL区新包括DL #0、替换块#1......替换块弁k、 DL#1、替换块弁k+l......DL #m。DL #0是包括关于缺陷的信息的缺陷列表，包括初始化信息。从替换块#1至弁k的替换块紧接着DL糾设置，这些替换块替换从缺陷块 #1至弁k的缺陷块。DL #1是包括与从缺陷块#1至弁k的缺陷块有关的信息以 及与从替换块#1至弁k的替换块有关的信息的缺陷列表，DL#1紧接着替换块 弁k被记录。从替换块弁k+l至弁m的替换块紧接着DL #1设置，关于用户区中 出现的缺陷，这些替换块替换从缺格块#1(+1至弁m的缺陷块。以这样的方式，才艮据本发明实施例的包括与缺陷有关的信息的缺陷列表 被记录在SA/DL区中，替换缺陷块的替换块也位于该SA/DL区中。即，缺 陷列表和替换块位于一个区中，而不是位于分开的区中。图5是图4中所示的DL射的详细的数据结构图。参照图5， DL射200包括DL标识符210、 DL更新计数器220、 DL条 目数量230、 DL条目弁1 240、以及DL条目弁2 250。DL标识符210是指示缺陷列表的标识符。即，由于根据本发明本实施 例，缺陷列表和替换块一同位于SA/DL区中，因此需要指示缺陷列表的标识付。DL更新计数器220是显示缺陷列表的更新次数的值。DL条目数量230是缺陷列表中包括的条目的总数。DL条目弁1 240或DL条目#2 250是具有关于缺陷的信息的条目。图6中 示出了这些DL条目中包括的内容的例子。图6是图5中所示的DL条目射的详细的数据结构图。参照图6， DL条目弁i 300包括状态信息310、缺陷块位置信息320和 替换块位置信息330。状态信息310是关于由相应的DL条目表示的缺陷的状态信息。缺陷块 位置信息320表示与用户区上记录的缺陷块有关的位置信息，例如缺陷块的 扇区号。替换块位置信息330表示与SA/DL区上记录的替换块有关的位置信 息，例如替换块的物理扇区号。状态信息310包括长度为1位的替换状态信息311、长度为2位的连 续缺陷信息312。替换状态信息311表示出现在用户区中的缺陷块是否被替换。即，该信 息表示是用户区中的缺陷块被替换并且替换块存在于SA/DL区中，还是缺陷 块没有被替换并且替换块不存在于SA/DL区中。连续缺陷信息312表示DL条目是否是表示连续缺陷块的连续DL条目， 以及如果DL条目是连续DL条目，则该DL条目是连续DL条目的开始还是 连续DL条目的结束。以下，将参照图7和图8描述连续缺陷块和连续缺陷列表条目。参照图7,①至⑦指的是其中写后校验操作被执行的单位。记录设备将 用户数据记录到区^:①上，然后返回区段①的最初部分，以检查是数据被正 确地记录还是出现缺陷。如果检测到有缺陷的部分，则该部分被指定为缺陷 区。因此，作为缺陷区的缺陷#1被指定。记录设备将缺陷#1中记录的数据再 次记录在SA/DL区中。缺陷#1中记录的数据被再次记录在其中的部分称为替 换#1。然后，记录设备将用户数据记录到区段②，然后返回区段②的最初部分，以检查是数据被正确地记录还是出现缺陷。如果检测到有缺陷的部分，则该部分被指定为缺陷#2。以相同的方式，产生与缺陷#2对应的替换#2。在 区段③中，产生缺陷#3和替换#3。由于在区段④中没有检测到有缺陷的部分， 因此在该区段中不存在缺陷区。当在记录并校验到区段④之后预知记录操作糾的终止时(当用户按下弹 出按钮或者该记录操作中分配的用户数据的记录完成时)，记录设备在SA/DL 区中记录DL弁l,所述DL弁1包括与区段①至④中出现的缺陷弁1、 #2和#3有 关的信息。在记录操作#1期间，记录装置将用户数据记录到区段⑤，然后返回区段 ⑤的最初部分，以检查是数据被正确地记录还是出现缺陷。如果检测到有缺 陷的部分，则该部分^皮指定为缺陷区。以这样的方式，由于作为缺陷区的缺 陷糾和缺陷#5已连续出现，因此连续块被指定为缺陷块。记录装置将缺陷弁4 和缺陷#5中记录的数据再次记录在SA/DL区中。然后，记录设备将用户数据 记录到区段⑥，然后返回区段⑥的最初部分，以检查是数据被正确地记录还 是出现缺陷。如果作为缺陷区的缺陷#6和缺陷#7连续地出现，则连续块被指 定为缺陷块。记录设备将缺陷#6和缺陷#7中记录的数据再次记录在SA/DL 区中。在区段⑦中，没有检测到有缺陷的部分，所以不存在缺陷区。当预知 记录操作#1的终止时，记录设备将DL#2记录在SA/DL区中，DL#2包括关 于缺陷糾至#7的信息。用户区的连续位置中出现的缺陷块，如记录操作#1中出现的缺陷是连续 缺陷块。该连续缺陷块的第一缺陷块是缺陷#4,最后缺陷块是缺陷#7。替换在用户区的预定位置中连续出现的连续缺陷块的替换块被记录在 SA/DL区的连续位置。如SA/DL区中所示，替换缺陷块#4的替换块糾被布 置。在下一位置，替换缺陷块#5的替换块#5被布置。在下一位置，替换缺陷 块#6的替换块#6被布置。然后，在下一位置，替换缺陷块#7的替换块#7被 布置。替换连续缺陷块的替换块中的第一替换块是替换块糾，替换这些连续 缺陷块的最后替换块是替换块#7 。当在连续位置出现连续缺陷块时，由于这样的特性，即连续缺陷块中包 括的缺陷块位于连续位置，因此只要知道了连续缺陷块的第一块的位置和最 后块的位置，就可从第一和最后块的位置知道连续缺陷块中包括的其余块的 位置。因此，通过仅包括关于缺陷的信息中的与连续缺陷块的第一缺陷块和最后缺陷块有关的信息，可减小记录关于缺陷的信息所需的空间。这也同样 适用于替换连续缺陷块的替换块。因此，如图8中所示，显示与连续缺陷块有关的信息的连续缺陷列表条 目可包括开始条目和结束条目。参照图8，连续缺陷列表条目包括开始条目和结束条目。开始条目和结 束条目都具有与图6中所示的DL条目相同的结构。开始条目包含与连续缺 陷中的第一缺陷有关的信息，结束条目包含与连续缺陷中的最后缺陷有关的信息。开始条目包括状态信息；第一缺陷块位置信息，表示连续缺陷块中的 第一缺陷块被记录在用户区中的位置；第一替换块位置信息，表示替换第一 缺陷块的第一替换块被记录在SA/DL区中的位置。结束条目包括状态信息； 最后缺陷块位置信息，表示连续缺陷块中的最后缺陷块被记录在用户区中的 位置；最后替换块位置信息，表示替换最后缺陷块的最后替换块被记录在 SA/DL区中的位置。图9是图6中所示的替换状态信息和连续缺陷信息的示例。参照图9,表示替换状态信息的位是"0"和"1"。如果替换状态信息311 是"l，，，则与缺陷块位置信息320对应的缺陷块没有被替换，仅缺陷位置被示 出。如果替换状态信息311是"0"，则与缺陷块位置信息320对应的缺陷块被 与替换块位置信息330对应的替换块替换。表示连续缺陷信息的位是"OO"、 "01"和"10"。如果连续缺陷信息312是 "00",则DL条目不是连续缺陷列表条目，而是单个缺陷列表条目。在这种 情况下，取决于作为替换状态信息设置的值，DL条目可表示具有替换的缺陷 块或者没有替换的缺陷块。在具有替换的缺陷块的情况下，DL条目具有缺陷 块位置信息和替换块位置信息。在没有替换的缺陷块的情况下，DL条目仅具 有缺陷块位置信息。如果连续缺陷信息312是"01",则DL条目表示连续缺陷列表条目的开 始条目。因此，如图8中所示，该DL条目具有与连续缺陷块有关的第一缺 陷块位置信息以及与连续替换块有关的第 一替换块位置信息。如果连续缺陷信息312是"10"，则DL条目表示连续缺陷列表条目的结 束条目。因此，如图8中所示，DL条目具有与连续缺陷块有关的最后缺陷块 位置信息以及与连续替换块有关的最后替换块位置信息。以下，将描述长度为1位的状态信息311和长度为2位的连续缺陷信息 312的3位组合的赋值。如果所述3位组合为"000"，则DL条目表示关于单个缺陷块的单个缺陷 列表条目以及该单个缺陷块具有替换块的状态。因此，DL条目具有缺陷块位 置信息和替换块位置信息。如果所述3位组合为"100"，则DL条目表示关于单个缺陷块的单个缺陷 列表条目以及该单个缺陷块没有替换块的状态。因此，DL条目具有缺陷块位 置信息，但是没有替换块位置信息。如果所述3位组合为"001"，则DL条目表示连续缺陷块的连续缺陷列表 条目的开始条目，并且与该开始条目对应的作为连续缺陷块中的第一缺陷块 的缺陷块具有替换块。因此，DL条目具有与连续缺陷块中的第一缺陷块有关 的位置信息以及与替换连续缺陷块的连续替换块中的第 一替换块有关的位置 信息。如果所述3位组合为"010",则DL条目表示连续缺陷块的连续缺陷列表 条目的结束条目，并且与该结束条目对应的作为连续缺陷块中的最后缺陷块 的缺陷块具有替换块。因此，DL条目具有与连续缺陷块中的最后缺陷块有关 的位置信息以及与替换连续缺陷块的连续替换块中的最后替换块有关的位置 信息。如果所述3位组合为"110",则DL条目表示连续缺陷块的连续缺陷列表 条目的结束条目，并且与该结束条目对应的作为连续缺陷块中的最后缺陷块 的缺陷块没有替换块。因此，DL条目具有与连续缺陷块中的最后缺陷块有关 的位置信息，但是没有与替换连续缺陷块的连续替换块中的最后替换块有关 的位置信息。图IOA和图IOB是示出根据本发明实施例的连续缺陷信息的参考图。图IOA表示用户数据被记录在其中的用户区，图IOB表示替换块和缺陷 列表被记录在其中的SA/DL区。参照图10A,作为第一缺陷的单个缺陷块a出现在用户区位置"5"。作为 第二缺陷块的连续缺陷块b、 c、 d和e出现在连续位置"9"至"12"。作为第三 缺陷块的连续缺陷块f、 g、 h和i出现在连续位置"17"至"20"。参照图10B, SA/DL区中示出了作为替换用户区中出现的缺陷块的替换 块以及缺陷列表。替换单个缺陷块a的单个替换块a，布置在SA/DL区的位置"55"。连续地 替换连续缺陷块b、 c、 d和e的连续替换块b，、 c，、 d，和e，布置在SA/DL区 的位置"56"至"59"。在第四个连续缺陷之后被更新的缺陷列表DL弁k被记录 在位置"60"。连续缺陷块f、 g、 h和i没有替换块。图IIA中示出缺陷列表 DL#k中包括的信息。图IIA是图IOB中示出的DL弁k的数据结构图。参照图IIA， DL弁k400包括DL标识符410、 DL更新计数器420、 DL 条目数量430、以及5个DL条目，即DL条目弁1 440、 DL条目弁2 450、 DL 条目#3 460、 DL条目#4 470和DL条目#5 480。DL标识符410是指示DL的标识符。在DL更新计数器420中，"K"被 记录为DL更新的次数。在DL条目数量430中，"5"被记录为DL #K中包括 的条目的总数。DL条目弁1 440是与图10A中所示的单个缺陷块a有关的条目。在DL 条目#1 440中，"O"被记录为替换状态信息,"OO"作为连续缺陷信息，"5，，作为 缺陷块位置信息，"55"作为替换块位置信息。DL条目弁2 450和DL条目弁3 460包括连续缺陷列表条目。DL条目弁2 450是连续缺陷列表条目的开始条目，DL条目#3 460是连 续缺陷列表条目的结束条目。即，DL条目弁2 450是与图10A中所示的连续 缺陷块中的第一缺陷块b有关的条目。在DL条目弁2 450中，因为缺陷块b 被替换，所以"O"被记录为替换状态信息。因为DL条目弁2450是连续缺陷列 表条目的开始条目，所以"01"被记录为连续缺陷信息。"9"被记录为缺陷块b 的位置信息，"56"被记录为替换块b，的位置信息。DL条目弁3 460是与图8中所示的连续缺陷块中的最后缺陷块e有关的条 目。在DL条目#3 460中，因为缺陷块e被替换，所以"O"被记录为替换状态 信息。DL条目弁3 460是连续缺陷列表条目的结束条目，所以"10"被记录为连 续缺陷信息。"12"被记录为缺陷块e的位置信息，"59"被记录为替换块e，的 位置信息。DL条目#4 470和DL条目#5 480包括连续缺陷列表条目。 DL条目弁4 470是连续缺陷列表条目的开始条目，DL条目#5 480是连 续缺陷列表条目的结束条目。即，DL条目弁4 470是与图10A中所示的连续 缺陷块中的第一缺陷块f有关的条目。在DL条目弁4470中，因为缺陷块f没有被替换，所以"l"被记录为替换状态信息。因为DL条目糾470是连续缺陷 列表条目的开始条目，所以"01"被记录为连续缺陷信息。"17"被记录为缺陷 块f的位置信息。因为替换缺陷块f的替换块不存在，所以"OO"被记录为替换位置信息。DL条目弁5 480是与图10A中所示的连续缺陷块中的最后缺陷块i有关 的条目。在DL条目弁5 480中，因为缺陷块i没有被替换，所以"l"被记录为 替换状态信息。因为DL条目弁5 480是连续缺陷列表条目的结束条目，所以 "10"被记录为连续缺陷信息。"20"被记录为缺陷块i的位置信息。因为替换缺 陷块i的替换块不存在，所以"OO，，被记录为替换块位置信息。图IIB是图10B中所示的DL弁k的结构图，该DL弁k还包括关于连续缺 陷列表条目数量的信息。图11B中所示的、DL弁k与图IIA中所示的DL弁k相似，不同之处在于图 11B中所示的DL弁k还包括连续缺陷列表条目数量490。参照图10,因为有 两个连续缺陷列表条目，所以"2"被记录为连续缺陷列表条目数量490。通过包括用于连续缺陷列表条目的数量的字段，不需搜索所有的DL条 目，就可知道缺陷列表中连续缺陷列表条目的数量和单个缺陷列表条目的数 量。如下面所示，可从DL条目的数量和连续缺陷列表条目的数量计算单个 缺陷列表条目的数量。单个缺陷列表条目数量=DL条目数量_ 2x连续缺陷列表条目数量。因为连续缺陷列表条目包括开始条目和结束条目，所以可形成上面的表达式。例如，在图11B中所示的DL#k中，单个缺陷列表条目的数量可被计算 为"单个缺陷列表条目数量=5 - 2x2 = 1"。图IIC是图11B中所示的DL弁k的数据结构图，该DL弁k还包括与具 有替换状态信息"O"的连续缺陷列表条目的数量有关的信息；以及与具有替换 状态信息'T，的连续缺陷列表条目的数量有关的信息。图11C中所示的DL弁k与图11B中所示的DL妝相似，不同之处在于图 11C中所示的DL弁k还包括与具有替换状态信息"O"的连续缺陷列表条目的 数量有关的信息500;以及与具有替换状态信息"l"的连续缺陷列表条目的数 量有关的信息510。参照图11A,具有替换状态信息"O"的连续缺陷列表条目 是包括DL条目#2 450和DL条目#3 460的连续缺陷列表条目。因为具有替换状态信息"O，，的连续缺陷列表条目的数量为1,所以"l"被记录为具有替换状态
信息"0"的连续缺陷列表条目的数量500。具有替换状态信息'T，的连续缺陷列 表条目是包括DL条目弁4 470和DL条目弁5 480的连续缺陷列表条目。因为具 有替换状态信息"l，，的连续缺陷列表条目的数量为1，所以'T'被记录为具有替 换状态信息'T，的连续缺陷列表条目的数量510。
图12是示出根据本发明实施例的缺陷管理方法的流程图。
参照图12，在操作1201，记录设备以其中执行写后校验操作的单位在数 据区中记录用户数据。接下来，在操作1202,操作1201中记录的数据被校 验以寻找出现缺陷的部分。在操作1203,控制单元1将出现缺陷的部分指定 为缺陷区，将记录在缺陷区中的数据再次记录在SA/DL区中以产生替换区， 产生与缺陷块和替换块有关的信息，并将该信息记录在存储器中。操作1201 至1203被重复，直到预知到记录操作的终止。
当根据用户输入记录了用户数据，或者完成了记录操作并且在操作1204 中预知到该记录^t喿作的终止时，在操作1205,记录装置的控制单元1读取存 储在存储器中的关于缺陷的信息。
如果在读取的关于缺陷的信息中存在关于连续缺陷的信息，则产生包括 开始条目和结束条目的连续缺陷列表条目，所述开始条目与关于连续缺陷的 第一缺陷的信息对应，所述结束条目与关于最后缺陷的信息对应，并且在操 作1206中，还通过包括连续缺陷信息和替换状态信息来产生DL，所述连续 缺陷信息显示缺陷是连续缺陷还是单个缺陷，所述替换状态信息显示在每一 DL条目中是否存在替换块。
在操作1207中，产生的DL被记录在SA/DL区中。
上面所描述的盘缺陷管理方法还可被实现为存储在计算机可读记录介质 上的计算机可读代码。所述计算机可读记录介质包括存储有计算机可读数据 的所有种类的记录介质。所述计算机可读记录介质的例子包括ROM、 RAM、 CD-ROM、立体声》兹带、软盘和光学数据记录装置。计算机可读记录介质还 可以是载波(例如，经互联网传输)。在分布到通过网络连接的计算机系统的 计算机可读记录介质中，可存储并执行可由计算机通过分布式方法读取的代 码。可由本发明所属技术领域的程序员容易地推出用于实现盘缺陷管理方法 的功能程序、代码、代码段。
尽管已显示并描述了本发明的几个实施例，但是本领域的技术人员应该理解，在不脱离权利要求及其等同物中限定其范围的本发明的原则和精神的 情况下，可对这些实施例进行改变。
产业上的可利用性 本发明适用于用于缺陷管理的光学记录介质、记录/再现设备和记录/再现 方法。
权利要求
1 、 一种在光学记录介质上记录数据和/或从光学记录介质再现数据的设备，所述设备包括写/读单元，将数据写到光学记录介质上和/或从光学记录介质读取数据；控制单元，从光学记录介质检测连续缺陷块，并产生连续缺陷列表条目， 所述连续缺陷列表条目包括分别与连续缺陷块中的第一缺陷块和最后缺陷块 相应的开始条目和结束条目。
2、 一种在光学记录介质上记录数据和/或从光学记录介质再现数据的设 备，所述设备包括写/读单元，将数据写到光学记录介质上和/或从光学记录介质读取数据；控制单元，控制写/读单元从光学记录介质读取连续缺陷列表条目，所述 连续缺陷列表条目包括分别与连续缺陷块中的第 一缺陷块和最后缺陷块相应 的开始条目和结束条目。
全文摘要
提供了一种光学记录介质、记录/再现设备和记录/再现方法。所述光学记录介质，包括用户数据区和SA/DL区，其中，用于替换用户数据区中的缺陷块的替换块以及与对应于所述缺陷块的缺陷有关的信息被记录在所述SA/DL区中，其中，所述与缺陷有关的信息包括连续缺陷列表条目，所述连续缺陷列表条目包括与位于用户数据区的连续位置中的缺陷有关的信息。
文档编号G11B7/007GK101312063SQ20081010979
公开日2008年11月26日 申请日期2004年12月27日 优先权日2004年1月5日
发明者高祯完, 黄盛熙 申请人:三星电子株式会社