专利名称：U盘通用测试装置的制作方法
技术领域：
本实用新型涉及存储器测试领域，尤其涉及U盘通用测试装置。
背景技术：
在U盘绑定生产过程中，需要对U盘的功能进行测试，以监控绑定生产过程中产品的成品率。传统的测试方式一般直接采用计算机对U盘进行测试，这种测试方式存在以下问题:1.因计算机容易感染病毒，当用于测试U盘的计算机感染病毒时，将会使大批量的被测试的U盘感染病毒，产生严重的后果；2.U盘在测试过程中，由于U盘自身的不稳定，易出现短路等各种情况，从而容易造成计算机主板的损坏，从而在一定程度上增加了生产成本；3.使用计算机进行U盘测试时，由于计算机系统性能的限制，造成测试的时间较长，即测试效率低；4.由于计算机的成本较高，不适合大批量的生产需求。综上所述，现有技术中直接采用计算机对U盘进行测试的方式存在易感染病毒、增加生产成本、测试效率低、不适合大批量生产的问题。
实用新型内容本实用新型的目的在于提供一种U盘通用测试装置，旨在解决现有技术中直接采用计算机对U盘进行测试的方式存在易感染病毒、增加生产成本、测试效率低、不适合大批量生产的问题。本实用新型通过以下技术方案实现:一种U盘通用测试装置，包括: 连接U盘的USB接口电路；测试所述U盘的单片机控制电路，所述单片机控制电路的输入端接所述USB接口电路的输出端；输出控制信号至所述单片机控制电路的按键输入电路，所述按键输入电路的输出端接所述单片机控制电路的受控端；指示所述单片机控制电路的测试结果的测试结果指示电路，所述测试结果指示电路的输入端接所述单片机控制电路的测试结果指示输出端；显示所述单片机控制电路的测试结果的测试结果显示电路，所述测试结果显示电路的输入端接所述单片机控制电路的测试结果显示输出端。本实用新型提供的U盘通用测试装置，使用单片机控制电路对U盘进行测试，与现有技术中直接采用计算机对U盘进行测试的方式相比，具有不易感染病毒、生产成本低、测试效率高、适合大批量生产的优点。
图1为本实用新型实施例提供的U盘通用测试装置的电路结构框图；图2为本实用新型实施例提供的U盘通用测试装置的电路原理示意图；图3为本实用新型实施例提供的U盘通用测试装置的测试流程图。
具体实施方式
为使本实用新型的目的、技术方案及优点更加清楚明白，
以下结合附图及具体实施例对本实用新型作进一步的详细说明。应当理解，此处所描述的具体实施例仅用于解释本实用新型，并不用于限制本实用新型。参照图1，本实用新型实施例提供的U盘通用测试装置的电路结构框图。一种U盘通用测试装置，包括:连接U盘I的USB接口电路2 ;测试U盘I的单片机控制电路3，单片机控制电路3的输入端接USB接口电路2的输出端；输出控制信号至单片机控制电路3的按键输入电路4，按键输入电路4的输出端接单片机控制电路3的受控端；指示单片机控制电路3的测试结果的测试结果指示电路51，测试结果指示电路51的输入端接单片机控制电路3的测试结果指示输出端；显示单片机控制电路3的测试结果的测试结果显示电路52，测试结果显示电路52的输入端接单片机控制电路3的测试结果显示输出端。参照图2，本实用新型实施例提供的U盘通用测试装置的电路原理示意图。本实施例中，单片机控制电路3采用ATMEML公司的ATmegal28单片机Ul ；ATmegal28单片机Ul的 USB信号输入脚PD0 PD7作为单片机控制电路3的输入端接USB接口电路2的输出端，按键信号输入脚ΡΑ(ΓΡΑ7以及ΡΕΓΡΕ7作为单片机控制电路3的受控端接按键输入电路4的输出端，测试结果指示输出脚PGO、PGl作为单片机控制电路3的测试结果指示输出端接测试结果指示电路51的输入端，测试结果显示输出脚PF0、PF2、PF3、PBl、PB2作为单片机控制电路3的测试结果显示输出端接测试结果显示电路52的输入端。USB接口电路2包括:USB总线接口芯片CH375U2、USB接口 CONl、电阻R3、指示U盘I连接状态的黄色发光二极管LED4 ；USB总线接口芯片CH375U2的正电源输入脚VCC接+3.3V电源、使能脚TXD接地、输出脚D0 D7作为USB接口电路2的输出端依次接ATmegal28单片机Ul的USB信号输入脚PD(TPD7、连接状态输出脚ACT#通过电阻R3接黄色发光二极管LED4的阴极、负数据输入脚UD-和正数据输入脚UD+分别接USB接口 CONl的负数据脚D-和正数据脚D+，黄色发光二极管LED4的阳极接+3.3V电源，USB接口 CONl的电源脚VDD接+5V电源、接地脚GND接地。测试结果指示电路51包括分别指示U盘I测试通过以及不通过的绿色发光二极管LEDl以及红色发光二极管LED2，电阻R5，电阻R6 ；绿色发光二极管LEDl以及红色发光二极管LED2的阳极均接+3.3V电源，阴极作为测试结果指示电路51的输入端分别通过电阻R5以及电阻R6依次接ATmegal28单片机Ul的测试结果指示输出脚PGO、PGl。测试结果显示电路52包括显示所测试的U盘I的总数、通过的数量、不通过的数量、良品率的液晶显不屏IXD ;液晶显示屏LCD的输入脚SCK、MOS1、LCD_RS、LCD_E、LCD_RST作为测试结果显示电路52的输入端依次接ATmegal28单片机Ul的测试结果显示输出脚PFO、PF2、PF3、PBl、PB2。以下结合图3本实用新型实施例提供的U盘通用测试装置的测试流程图对本实用新型实施例提供的U盘通用测试装置的工作原理作进一步说明。U盘I通用测试装置通电启动之后，系统即进行初始化，当按键输入电路4输入启动测试控制信号时，ATmegal28单片机Ul的所有变量复位。此时，将待检U盘I连接到USB接口电路的USB接口 CONl，当待检U盘I连接到USB接口电路的USB接口 CONl成功时，指示U盘I连接状态的黄色发光二极管LED4亮。此时ATmegal28单片机Ul测试U盘I连接是否超时，如果测试到U盘I连接超时，则液晶显示屏LCD显示PASS并显示U盘的实际容量为0，不良品指示灯红色发光二极管LED 2 売。如果测试到U盘I连接没有超时，则测试Flash准备是否超时。如果测试Flash准备超时,则液晶显示屏IXD显示PASS并显示U盘I的实际容量为0，不良品指示灯红色发光二极管LED2亮。如果测试Flash准备没有超时，则查询U盘IFlash物理容量并以M为单位计算Flash容量，液晶显示屏IXD显示PASS并显示实际容量值，良品指示灯绿色发光二极管LEDl 亮。U盘通用测试装置在对U盘I进行测试的过程中，ATmegal28单片机Ul实时记录测试的U盘I的总数、通过的数量、不通过的数量、良品率等信息并通过液晶显示屏LCD进行显示。综上所述，本实用新型提供的U盘通用测试装置，与现有技术中直接采用计算机对U盘进行测试的方式相比，具有如下优点:1.由于单片机的程序为一次烧录，所以程序烧录之后，单片机不会感染其他病毒程序；2.采用单片机的测试装置，由于单片机的成本较低，因此在U盘出现短路等情况损坏测试装置时，不会造成过大的成本损失；3.采用单片机可以采用低级语言进行编写测试程序，因此，最大限度的提供测试的速度，以提高测试效率；4.由于单片机的成本相对较低，因此适合于大批量的生产需求。以上所述仅为本实用新型优选实施例，并不用于限制本实用新型，凡在本实用新型的原理之内所作的任何修改、等同替换和改进等，均应包含在本实用新型保护的范围之内。
权利要求1.一种U盘通用测试装置，其特征在于，包括: 连接U盘(I)的USB接口电路(2)； 测试所述U盘(I)的单片机控制电路(3)，所述单片机控制电路(3)的输入端接所述USB接口电路(2)的输出端； 输出控制信号至所述单片机控制电路(3)的按键输入电路(4)，所述按键输入电路(4)的输出端接所述单片机控制电路(3)的受控端； 指示所述单片机控制电路(3)的测试结果的测试结果指示电路(51)，所述测试结果指示电路(51)的输入端接所述单片机控制电路(3)的测试结果指示输出端； 显示所述单片机控制电路(3 )的测试结果的测试结果显示电路(52 )，所述测试结果显示电路(52)的输入端接所述单片机控制电路(3)的测试结果显示输出端。
2.按权利要求1所述的U盘通用测试装置，其特征在于，所述单片机控制电路(3)采用ATMEML公司的ATmegal28单片机Ul ； 所述ATmegal28单片机Ul的USB信号输入脚PD0 PD7作为所述单片机控制电路(3)的输入端接所述USB接口电路(2)的输出端，按键信号输入脚ΡΑ(ΓΡΑ7以及ΡΕΓΡΕ7作为所述单片机控制电路(3)的受控端接所述按键输入电路(4)的输出端，测试结果指示输出脚PG0、PG1作为所述单片机控制电路(3)的测试结果指示输出端接所述测试结果指示电路(51)的输入端，测试结果显示输出脚PFO、PF2、PF3、PBl、PB2作为所述单片机控制电路(3)的测试结果显示输出端接所述测试结果显示电路(52)的输入端。
3.按权利要求2所述的U盘通用测`试装置，其特征在于，所述USB接口电路(2)包括:USB总线接口芯片CH375U2、USB接口 CONl、电阻R3、指示U盘(I)连接状态的黄色发光二极管 LED4 ； 所述USB总线接口芯片CH375U2的正电源输入脚VCC接+3.3V电源、使能脚TXD接地、输出脚D0 D7作为所述USB接口电路(2)的输出端依次接所述ATmegal28单片机Ul的USB信号输入脚PD(TPD7、连接状态输出脚ACT#通过所述电阻R3接所述黄色发光二极管LED4的阴极、负数据输入脚M)-和正数据输入脚UD+分别接所述USB接口 CONl的负数据脚D-和正数据脚D+， 所述黄色发光二极管LED4的阳极接+3.3V电源， 所述USB接口 CONl的电源脚VDD接+5V电源、接地脚GND接地。
4.按权利要求2所述的U盘通用测试装置，其特征在于，所述测试结果指示电路(51)包括分别指示U盘(I)测试通过以及不通过的绿色发光二极管LEDl以及红色发光二极管LED2,电阻R5，电阻R6 ； 所述绿色发光二极管LEDl以及红色发光二极管LED2的阳极均接+3.3V电源，阴极作为所述测试结果指示电路(51)的输入端分别通过所述电阻R5以及所述电阻R6依次接所述ATmegal28单片机Ul的测试结果指示输出脚PGO、PGl。
5.按权利要求2所述的U盘通用测试装置，其特征在于，所述测试结果显示电路(52)包括显示所测试的U盘(I)的总数、通过的数量、不通过的数量、良品率的液晶显示屏IXD ; 所述液晶显示屏LCD的输入脚SCK、MOS1、LCD_RS、LCD_E、LCD_RST作为所述测试结果显示电路(52)的输入端依次接所述ATmegal28单片机Ul的测试结果显示输出脚PF0、PF2、PF3、PB1、PB2。
专利摘要本实用新型涉及存储器测试领域，提供了一种U盘通用测试装置。该U盘通用测试装置包括连接U盘的USB接口电路，测试所述U盘的单片机控制电路，输出控制信号至所述单片机控制电路的按键输入电路，指示所述单片机控制电路的测试结果的测试结果指示电路，显示所述单片机控制电路的测试结果的测试结果显示电路。因此，本实用新型提供的U盘通用测试装置，使用单片机控制电路对U盘进行测试，与现有技术中直接采用计算机对U盘进行测试的方式相比，具有不易感染病毒、生产成本低、测试效率高、适合大批量生产的优点。
文档编号G11C29/56GK202930050SQ20122044868
公开日2013年5月8日 申请日期2012年9月5日 优先权日2012年9月5日
发明者方盼 申请人:深圳安博电子有限公司