专利名称：具有防错装置的集成电路元件测试插座组的制作方法
技术领域：
本实用新型涉及一种具有防错装置的集成电路元件测试插座组，特别是一种待测集成电路元件在进行电性功能测试作业时，可以解决由于待测集成电路元件未正确地插置于测试插座而导致测试设备及产品损坏的问题。
如
图1所示，一集成电路元件10置于一公知的测试插座本体20中，且集成电路元件10上的方位指针第一标记11a未与测试插座本体20的方位指针第二标记22a对准，此为方位不正确的情形；一般正确的放置法，是将集成电路元件10上的方位指针第一标记11a对准测试插座本体20上的方位指针第二标记22a，且置入测试插座本体20的凹槽21a中；但是，在此图中可见第一标记11a未与第二标记22a对准。
但是，由于受测的集成电路10的数量经常会十分庞大(每月数以万计至数以百万计)，难免会因人为疏忽而将集成电路元件10方位错误地置放测试插座本体20上，且当操作人员疏忽而没有立即改善，并进行下一步的集成电路元件10电性功能测试作业时，轻则会产生错误的测试结果，增加测试的误判率，重则会导致集成电路元件10烧毁或测试插座20损坏的问题，更严重则使电性功能测试作业设备损坏，因而增加成本，且减少测量产品的性能。
于是，本实用新型人针对以上缺点，提出一种设计合理且有效改善上述缺点的本实用新型。
本实用新型的另一目的，在于提供一种具有防错装置的集成电路元件测试插座组，可以防止待测集成电路元件以不正确方位插置于测试插座本体的相对应位置上，借此可使待测集成电路元件正确地被测试作业设备测量。
本实用新型的又一目的，在于提供一种具有防错装置的集成电路元件测试插座组，借由防呆销插置于测试插座本体上的防呆销插置孔洞，使待测集成电路元件的缺角对应于防呆销，使得待测集成电路元件正确地置于测试插座的凹槽内，使待测集成电路元件正确地被测试作业设备测量。
本实用新型的上述目的是这样实现的，一种具有防错装置的集成电路元件测试插座组，其设置有一测试插座本体及多数个与待测集成电路元件的缺角相对应的防呆销，其中测试插座本体上形成有一凹槽及多数个防呆销插置孔洞，且该防呆销插置孔洞与该凹槽相连通，并使该防呆销分别插置于该防呆销插置孔洞内，使待测集成电路元件的缺角对应于该测试插座本体上的防呆销，使待测集成电路元件以正确的方位置于该测试插座本体的凹槽内，用以避免待测集成电路元件在进行电性功能测试作业时，损坏待测集成电路元件及测试作业设备。
上述的具有防错装置的集成电路元件测试插座组，其中所述的防呆销的周缘各设置有一凹部。
上述的具有防错装置的集成电路元件测试插座组，其中所述的凹部为一环槽。
上述的具有防错装置的集成电路元件测试插座组，其中所述的防呆销插置孔设置于该凹槽的角落。
上述的具有防错装置的集成电路元件测试插座组，其中所述的三个防呆销分别插置于该防呆销插置孔洞内。
上述的具有防错装置的集成电路元件测试插座组，其中所述的防呆销呈圆柱状。
上述的具有防错装置的集成电路元件测试插座组，其中所述的防呆销是可以移除的方式设于该防呆销插置孔洞内。
上述的具有防错装置集成电路元件测试插座组，其中所述的凹槽呈正方形。
上述的具有防错装置的集成电路元件测试插座组，其中所述的凹槽呈长方形。
下面结合具体实施例及其附图，对本实用新型的技术特征及技术内容作进一步详细的说明，然而所示附图仅提供参考与说明用，并非用来对本实用新型加以限制。
其中，该待测集成电路元件10可利用球格数组(BGA)的方式封装，且该测试插座本体20上形成有对应于该待测集成电路元件10的凹槽21，且该待测集成电路元件10的基板12及该凹槽21为正方形。该测试插座本体20上另形成有多数个防呆销插置孔洞22，这些防呆销插置孔洞22设置于该凹槽21的角落并相互连通，该测试插座本体20上端而与该待测集成电路10的方位指针第一标记11相对应的一角设置有方位指针第二标记23，并使三个防呆销30分别插置于该测试插座20的防呆销插置孔洞22内，且该测试插座本体20的方位指针第二标记23方向未设置防呆销30。另外，该防呆销30可以呈圆柱状，且该防呆销30的周缘设有凹部31，该凹部31可为环槽，以便于操作者轻易地利用对象(图中未示)抵顶于该凹部31而将该防呆销30挑离于该测试插座本体20的防呆销插置孔侗22外，便于该防呆销30以可移除的方式设于该防呆销插置孔洞22内。
参阅图3至图4所示，该待测集成电路元件10具有一基板12且为正方形，该基板12的其中一角的上端面设置有方位指针第一标记11，并使该基板12的其它三个角分别形成有缺角13，其中设有方位指针第一标记11的一个角为直角，且不形成有缺角13，借此使该待测集成电路元件10插置于该测试插座本体20的凹槽21时，使该待测集成电路元件10的第一标记11与测试插座本体20的第二标记23相对应，且使该缺角13分别对应于该防呆销30，便于该待测集成电路元件10以正确的方位插置于该测试插座本体20的相对应位置上，且防止该待测集成电路元件10以错误的方位插置于该测试插座20的凹槽21内。
请参阅图3及图5所示，该集成电路元件10的缺角13是在制造该待测集成电路元件10的过程中所产生的，请参阅图5所示，该待测集成电路元件10的制造方式是先在一大块印刷电路板14冲制出彼此相连的多数个该待测集成电路元件10的基板12，其中每一个该待测集成电路元件10的基板12的三个角的位置分别冲制一圆孔15，便于该待测集成电路元件10的基板12完成后冲断分离，且该印刷电路板14设有第一标记11的一角的位置上没有设置圆孔15，所以当该待测集成电路元件10封装好且彼此分离后，该圆孔15的周缘被冲断，成为该待测集成电路元件10的基板12的缺角13，且该缺角13为圆弧角，使该缺角13对应于该测试插座20的防呆销30。
所以，请参阅图2所示，当进行该待测集成电路元件10的测试作业时，该待测集成电路元件10只有一方位能插置于该测试座本体20的凹槽21内，使该待测集成电路元件10的缺角13分别对应于测试插座本体20的防呆销30；但当该待测集成电路元件10的方位指针第一标记11，没有缺角13的方位对应于该测试插座本体20的防呆销30的方位时，该待测集成电路元件10无法置入于该测试插座本体20的凹槽21内，因此使该待测集成电路元件10进行测试作业时，可以保护并保证待测集成电路元件10正确地与测试插座本体20做电性连接，且不会造成产品及设备的损坏。
另外，该待测集成电路元件10可为长方体或正方体，且用以容置该待测集成电路元件10的凹槽21也可为正方形或长方形，便于对应该待测集成电路元件10的形状。
综上所述，本实用新型“具有防错装置的集成电路元件测试插座”借由防呆销插置于测试插座本体的防呆销插置孔洞，使得待测集成电路元件以正确的方位插置于测试插座本体，避免人工的错误动作，并保证待测集成电路元件可正确地被测试作业设备所测量，也不会造成产品及设备的损坏，故对于测试作业的产品性能提升及降低成本有很大的帮助，进而提高测试效率，且减少设备损坏，降低成本。
以上所述，仅为本实用新型的较佳可行实施例，并非用来限制本实用新型的专利范围，故凡是运用本实用新型的说明书及附图内容所为的等效结构变化，均同理函盖在本实用新型的专利保护范围内，给予陈明。
权利要求1.一种具有防错装置的集成电路元件测试插座组，其特征在于，它包括一测试插座本体，其上形成有一凹槽用于容置一待测集成电路元件及多数个与该凹槽相连通的防呆销插置孔洞；及多数个与待测集成电路元件的缺角相对应的防呆销，其分别插置于该测试插座本体的防呆销插置孔洞内。
2.如权利要求1所述的具有防错装置的集成电路元件测试插座组，其特征在于，所述的防呆销的周缘各设置有一凹部。
3.如权利要求2所述的具有防错装置的集成电路元件测试插座组，其特征在于，所述的凹部为一环槽。
4.如权利要求1所述的具有防错装置的集成电路元件测试插座组，其特征在于，所述的防呆销插置孔设置于该凹槽的角落。
5.如权利要求4所述的具有防错装置的集成电路元件测试插座组，其特征在于，所述的三个防呆销分别插置于该防呆销插置孔洞内。
6.如权利要求4所述的具有防错装置的集成电路元件测试插座组，其特征在于，所述的防呆销呈圆柱状。
7.如权利要求4所述的具有防错装置的集成电路元件测试插座组，其特征在于，所述的防呆销是可以移除的方式设于该防呆销插置孔洞内。
8.如权利要求4所述的具有防错装置集成电路元件测试插座组，其特征在于，所述的凹槽呈正方形。
9.如权利要求4所述的具有防错装置的集成电路元件测试插座组，其特征在于，所述的凹槽呈长方形。
专利摘要一种具有防错装置的集成电路元件测试插座组，其中测试插座本体上形成有一凹槽及多数个防呆销插置孔洞，并使多数个与待测集成电路元件的缺角相对应的防呆销分别插置于多数个防呆销插置孔洞内，使待测集成电路元件以正确的方位置于测试插座本体的凹槽内，以避免待测集成电路元件在进行电性功能测试作业时，损坏待测集成电路元件及测试作业设备。
文档编号H01R33/76GK2574253SQ0228282
公开日2003年9月17日 申请日期2002年10月14日 优先权日2002年10月14日
发明者黄耀奎 申请人:威盛电子股份有限公司