主动元件阵列基板及其修补方法

专利名称：主动元件阵列基板及其修补方法
技术领域：
本发明是有关于一种阵列基板及其修补方法，且特别是有关于一种主动元件阵列 基板及其修补方法。
背景技术：
平面显示器的运作方式是以两组相互垂直的信号线来控制排列成阵列的各像素 (pixel)，而达成显像的目的。在各种显像控制模式中，最常使用的是扫描线(scan line) 与数据线(data line)的设计，这些扫描线与数据线彼此垂直，且定义出多个像素。各扫描 线依序地被导通以开启或关闭对应的开关元件，以使各数据线所传送的信号能够写入像素 中，从而改变对应的像素的状态，并达成控制显示画面的目的。虽然平面显示器技术已趋成熟，但显示面板的组成元件，如主动元件阵列基板，在 制造过程中难免会产生一些瑕疵(defect)。举例来说，主动元件阵列基板上的扫描线与数 据线因其长度很长，故容易发生断线的情形。当扫描线与数据线发生断线时，会导致一部分 的像素无法动作(线缺陷)，故必须设法修补断线。此外，若仅依赖改善工艺技术来实现零 瑕疵率是非常困难的，因此，主动元件阵列基板的修补结构以及瑕疵修补技术就变得相当 重要。在现有技术中，主动元件阵列基板的瑕疵修补通常采用激光熔接(laser welding) 及/或激光切割(laser cutting)等方式进行。一般来说，为了能迅速地修补断线，主动元件阵列基板上会预留有一条以上的修 补线，在正常情况下，修补线会与信号线交错而具有焊接点，且修补线与信号线电性绝缘。 当信号线发生开路瑕疵(open defect)而断线时，可将此受损的信号线的两端分别经由焊 接点而与修补线熔接，使受损的信号线经由修补线维持电导通的状态，以使像素正常运作。换句话说，在正常情况下，修补线为电性浮置且与信号线之间保持电性绝缘，而仅 有在信号线发生断线时，修补线才会藉由激光熔接等方式通过焊接点与信号线电性连接， 以维持信号线的电导通。然而，值得注意的是，信号线与修补线极容易受到静电放电效应 (electro static discharge,ESD)的影响，导致信号线与修补线有短路的现象发生。如此 一来，会影响主动元件阵列基板的显示质量，甚至导致主动元件阵列基板必须报废。

发明内容
本发明提供一种主动元件阵列基板，使信号线与修补线不易受到静电放电效应影 响而具有良好的元件特性。本发明另提供一种适用于前述的主动元件阵列基板的修补方法，以对受损的信号 线进行修补，使像素能正常运作。本发明提出一种主动元件阵列基板，其包括一基板、多个像素、多条信号线以及一 修补结构。基板具有一显示区以及一外围区。像素阵列排列于基板的显示区上。信号线与 像素电性连接，且各信号线分别从显示区延伸至外围区。修补结构配置于外围区，修补结构 包括一第一修补线、一第二修补线、一静电释放导线以及一静电保护元件。第一修补线与信号线的其中一端交错，且第一修补线为电性浮置。静电保护元件连接于第二修补线与静电 释放导线之间，静电保护元件与第一修补线重叠且彼此电性绝缘。本发明另提出一种修补方法，适于修补上述的主动元件阵列基板，当其中一条信 号线发生开路瑕疵时，修补方法包括以下步骤。将第一修补线与具有开路瑕疵的信号线的 其中一端焊接。于静电保护元件与第一修补线重叠处，将静电保护元件与第一修补线焊接， 其中第二修补线通过静电保护元件以及第一修补线与具有开路瑕疵的信号线电性连接。本发明提出另一种主动元件阵列基板，其包括一基板、多个像素、多条信号线以及 一修补结构。基板具有一显示区以及一外围区。像素阵列排列于基板的显示区上。信号线 与像素电性连接，且各信号线分别从显示区延伸至外围区，其中一条信号线具有开路瑕疵。 修补结构配置于外围区，修补结构包括一第一修补线、一第二修补线、一静电释放导线以及 一静电保护元件。第一修补线与信号线的其中一端交错，且第一修补线为电性浮置。静电保 护元件电性连接于第二修补线与静电释放导线之间，且静电保护元件与第一修补线重叠且 彼此电性绝缘，其中第一修补线与具有开路瑕疵的信号线的其中一端具有至少一焊接点， 静电保护元件与第一修补线的重叠处具有至少一焊接点，以使得第二修补线通过静电保护 元件以及第一修补线与具有开路瑕疵的信号线电性连接。本发明提出又一种主动元件阵列基板，其包括一基板、多个像素、多条信号线以及 一修补结构。基板具有一显示区以及一外围区。像素阵列排列于基板的显示区上。信号线 与像素电性连接，且各信号线分别从显示区延伸至外围区，其中一条信号线具有开路瑕疵。 修补结构配置于外围区，修补结构包括一第一修补线、一第二修补线、一静电释放导线以及 一静电保护元件。第一修补线与信号线的其中一端交错，且第一修补线为电性浮置。静电 保护元件电性连接于第二修补线与静电释放导线之间，其中静电保护元件包括多个彼此串 接的二极管，各二极管包括一第一电极、一第二电极、一与第二电极电性连接的控制电极以 及一半导体层，半导体层位于控制电极上方，并连接于第一电极与第二电极之间，未与第二 电极电性连接的其中一个第一电极与静电释放导线电性连接，而未与第一电极电性连接的 其中一个第二电极与第二修补线电性连接，且第一修补线与其中一个第二电极重叠。其中 第一修补线与具有开路瑕疵的信号线其中一端交错处、第二电极与第一修补线重叠处、以 及部分控制电极与部分第二电极重叠处皆具有至少一焊接点，以使第二修补线通过部分控 制电极、部分第二电极以及第一修补线与具有开路瑕疵的信号线电性连接。基于上述，本发明的主动元件阵列基板具有修补结构，修补结构能保护信号线与 修补线不易受到静电放电效应的影响，以避免信号线与修补线发生短路。如此一来，主动元 件阵列基板能具有较佳的合格率与显示质量。为让本发明的上述特征和优点能更明显易懂，下文特举实施例，并配合所附图式 作详细说明如下。


图1A为本发明的一实施例的一种主动元件阵列基板的上视示意图；图1B为图1A的修补结构的放大示意图；图2A为本发明的一实施例的一种主动元件阵列基板的上视示意图；图2B为图2A的修补结构的放大示意图3为本发明的一实施例的一种修补方法，适于修补图1A的主动元件阵列基板；图4为图1A的主动元件阵列基板的另一种修补结构的放大示意图；图5为图2A的主动元件阵列基板的另一种修补结构的放大示意图；图6为本发明的一实施例的一种修补方法，适于修补具有图5的修补结构的主动 元件阵列基板。主要元件符号说明
100、100a 主动元件阵列基板
102基板
104显示区
106外围区
110像素
112主动元件
114像素电极
116栅极驱动电路
118源极驱动电路
120扫描线
130、130a 数据线
131au 131b 端
134软性电路板
136控制元件
138静电防护元件
140修补结构
142第一修补线
144第二修补线
146静电释放导线
150静电保护元件
152、152a、152b 二极管
154、156 电极
158控制电极
160半导体层
162导电层
180焊接点
D 开路瑕疵
具体实施例方式
图1A为本发明的一实施例的一种主动元件阵列基板的上视示意图，以及图1B为 图1A的修补结构的放大示意图。请参照图1A，主动元件阵列基板100包括一基板102、多 个像素110、多条扫描线120、多条数据线130以及一修补结构140。基板102具有一显示 区104以及一外围区106。在本实施例中，显示区104是图1A中的虚线所围出来的内部区域而虚线至基板102边缘的区域则是外围区106。像素110阵列排列于基板102的显示区 104上。外围区106内配置有栅极驱动电路116以及源极驱动电路118。像素110包括诸 如晶体管的主动元件112以及与主动元件112电性连接的像素电极114。扫描线120及数 据线130交错配置于基板102上，且分别从显示区104延伸至外围区106。栅极驱动电路 116与源极驱动电路118分别经由扫描线120及数据线130连接到所对应的像素110内的 主动元件112，以驱动像素110。请同时参照图1A与图1B，修补结构140配置于外围区106，修补结构140包括一 第一修补线142、一第二修补线144、一静电释放导线146以及一静电保护元件150。第一 修补线142与数据线130的其中一端131a交错而重叠。第一修补线142为电性浮置，且第 一修补线142与数据线130彼此电性绝缘。静电保护元件150连接于第二修补线144与静 电释放导线146 (请查看图1B)之间，以及静电保护元件150与第一修补线142重叠且彼此 电性绝缘。在本实施例中，静电保护元件150例如是包括至少一二极管152，二极管152包 括一第一电极154、一第二电极156、一控制电极158以及一半导体层160。其中，控制电极 158与第二电极156例如是藉由导电层162电性连接。其中，导电层162的材料可为透明材 料(例如铟锡氧化物、铝锡氧化物、铟锌氧化物、铝锌氧化物、氧化鎗、或其它合适的材料、 或上述的组合)、反射材料(例如金、银、铜、锡、铝、钼、钛、钽、或其它合适的材料、或上述 材料的合金、或上述材料的氮化物、或上述材料的氧化物、或上述材料的氮氧化物、或上述 的组合)、或上述的组合。本发明实施例的导电层162材料，以透明材料为范例，因此，又可 称为透明导电层162，但不限于此。半导体层160位于部分控制电极158上方，并连接于第 一电极154与第二电极156之间。第一电极154例如是藉由透明导电层162与静电释放导 线146电性连接，且静电释放导线146例如是电性连接于一共同电压端或者是接地。第二电 极156例如是与第二修补线144电性连接。第二修补线144例如是经由源极驱动电路118 与软性电路板134连接至一控制元件136，控制元件136例如是一电路控制板；或者是第二 修补线144例如是经由源极驱动电路118与软性电路板134连接。在本实施例中，主动元件阵列基板100例如是更包括一静电防护元件138，连接各 数据线130，且邻近于第一修补线142与各数据线130交错处。静电防护元件138例如是 一二极管。再者，值得一提的是，第一修补线142与数据线130的其中一端131a交错而重 叠，第二修补线144与数据线130的另一端131b交错而重叠，以及静电保护元件150的第 二电极156与第一修补线142重叠且彼此电性绝缘。一般来说，在制作主动元件阵列基板的工艺中或者是使用主动元件阵列基板时， 都很有可能引发静电放电效应，而影响主动元件阵列基板的元件特性或显示质量。特别是， 静电放电效应可能会导致信号线与修补线发生短路。因此，在本实施例中，主动元件阵列基 板100设置有静电保护元件150，以保护信号线(诸如数据线130)与修补线142不易受静 电放电效应的影响。详言之，当主动元件阵列基板100的外围区106中发生不当的静电荷累 积或是发生静电放电的情形时，由于第二修补线144与静电释放导线146之间配置有静电 保护元件150，因此静电能沿着第二修补线144、静电保护元件150的第二电极156、第一电 极154以及静电释放导线146的路径而导出。如此一来，能避免信号线(诸如数据线130) 与修补线142受到静电影响而发生短路，使得主动元件阵列基板100能具有较佳的合格率 与显不质量。
图2A为本发明的一实施例的一种主动元件阵列基板的上视示意图，以及图2B为 图2A的修补结构的放大示意图。图3为本发明的一实施例的一种修补方法，适于修补图 1A的主动元件阵列基板。特别注意的是，图2A所示的主动元件阵列基板100a的构件与图 1A所示的主动元件阵列基板100的构件实质上相同，但是在图2A所示的主动元件阵列基板 100a中，其中一条信号线(诸如数据线130a)具有开路瑕疵D，因此需藉由修补结构140及 图3所示的修补方法来进行修补。请同时参照图2A、图2B以及图3，首先，进行步骤S310，将第一修补线142与具有 开路瑕疵D的信号线(诸如数据线130a)的其中一端131a焊接。在本实施例中，主动元件 阵列基板100a的其中一条数据线130a例如是具有开路瑕疵D，第一修补线142与具有开 路瑕疵D的数据线130a的一端131a重叠，以及第二修补线144与具有开路瑕疵D的数据 线130a的另一端131b重叠。因此，在本实施例中，例如是以激光熔接的方式焊接第一修补 线142与数据线130a的一端131a重叠处，以形成一焊接点180。如此一来，具有开路瑕疵 D的数据线130a藉由焊接点180与第一修补线142电性连接。再者，在本实施例中，修补方 法更包括焊接第二修补线144与数据线130a的另一端131b重叠处，以形成一焊接点180。接着，进行步骤S320，于静电保护元件150与第一修补线142重叠处，将静电保护 元件150与第一修补线142焊接，其中第二修补线144通过静电保护元件150以及第一修 补线142与具有开路瑕疵D的信号线(诸如数据线130a)电性连接。详言之，在本实施例 中，静电保护元件150例如是包括至少一二极管152，二极管152包括一第一电极154、一第 二电极156、一控制电极158以及一半导体层160，半导体层160设置于控制电极158上方 并连接于第一电极154与第二电极156之间。静电保护元件150与第一修补线142重叠处 例如是第二电极156与第一修补线142重叠处，因此，焊接静电保护元件150与第一修补线 142重叠处例如是焊接第二电极156与第一修补线142重叠处，以于第二电极156与第一修 补线142重叠处形成一焊接点180。请参照图2A与图2B，在本实施例中，第二电极156例如是与第二修补线144电性 连接。因此，在焊接第一修补线142与数据线130a重叠处、第二修补线144与数据线130a 重叠处以及第二电极156与第一修补线142重叠处之后，信号能经由第二修补线144、静电 保护元件150的第二电极156、焊接点180 (位于第一修补线142与第二电极156重叠处)、 第一修补线142、焊接点180 (位于数据线130a与第一修补线142重叠处)而传送至数据线 130a的一端131a，且由于第二修补线144与数据线130a的另一端131b已藉由焊接点180 焊接，因此信号能经由上述路径而由具有开路瑕疵D的数据线130a的一端131a传送至另 一端131b。如此一来，具有开路瑕疵D的数据线130a能藉由修补结构140而维持电导通的 状态，使像素110能正常运作。此外，于其它实施例中，第二电极156亦可连接至如下列实施例的图4所述的静电 释放导线146。本发明的实施例，是以第二电极156不连接至如下列实施例的图4所述的静 电释放导线146为范例，但不限于此。由上述的实施例可知，主动元件阵列基板100、100a的修补结构140能保护数据线 130与修补线142不易受到静电放电效应影响，且可修补具有开路瑕疵D的数据线130a。换 句话说，如图1A与图1B所示，在信号线(诸如数据线130)为正常的状况下，由于修补结构 140能有效地将静电导出，因此能避免信号线(诸如数据线130)与修补线142因受到静电放电效应而有短路的情况发生。如此一来，能提升主动元件阵列基板100的合格率，进而使 显示面板具有良好的显示质量。此外，如图2A与图2B所示，当信号线(诸如数据线130a) 具有开路瑕疵D时，修补结构140能用以修补信号线(诸如数据线130a)，使具有开路瑕疵 的信号线维持电导通的状态，以使像素110正常运作。换言之，修补结构140的设计使主动 元件阵列基板100、100a具有良好的元件特性与较佳的显示质量。特别说明的是，虽然在上述的实施例中是以在数据线130a的其中一端131a配置 修补结构140为例，但修补结构140也可以配置在数据线130a的另一端131b或者是同时 配置于数据线130a的两端131a、131b。此外，虽然在上述的实施例中是以将修补结构140 用来修补数据线130为例，但是所属领域中具有通常知识者应理解本发明的主动元件阵列 基板的修补结构也可以配置成与扫描线交错而用以修补具有开路瑕疵的扫描线，于此不赘 述。再者，在上述的实施例中，是以静电保护元件150包括一个二极管152为例，但静电保 护元件150也可以包括多个二极管或者是包括具有其它构型的二极管。图4为图1A的主动元件阵列基板的另一种修补结构140的放大示意图。请参照 图4，在本实施例中，修补结构140包括一第一修补线142、一第二修补线144、一静电释放导 线146以及一静电保护元件150。第一修补线142与数据线130的其中一端131a交错而 具有一重叠处。第一修补线142为电性浮置，且第一修补线142与数据线130彼此电性绝 缘。静电保护元件150连接于第二修补线144与静电释放导线146之间，以及静电保护元 件150与第一修补线142重叠且彼此电性绝缘。请参照图4，在本实施例中，静电保护元件150例如是包括多个彼此串接的二极管 152a、152b，各二极管152a、152b包括一第一电极154、一第二电极156、一控制电极158以 及一半导体层160。其中，控制电极158例如是藉由导电层162与第二电极156电性连接。 其中，导电层162的材料可为透明材料(例如铟锡氧化物、铝锡氧化物、铟锌氧化物、铝锌 氧化物、氧化鎗、或其它合适的材料、或上述的组合)、反射材料(例如金、银、铜、锡、铝、 钼、钛、钽、或其它合适的材料、或上述材料的合金、或上述材料的氮化物、或上述材料的氧 化物、或上述材料的氮氧化物、或上述的组合)、或上述的组合。本发明实施例的导电层162 材料，以透明材料为范例，因此，又可称为透明导电层162，但不限于此。半导体层160位于 部分控制电极158上方，并连接于第一电极154与第二电极156之间。二极管152a的第一 电极154与二极管152b的第二电极156连接，以串接二极管152a与二极管152b。再者，未 与第二电极156电性连接的其中一个第一电极154(即二极管152b的第一电极154)例如 是藉由透明导电层162与静电释放导线146电性连接，静电释放导线146例如是电性连接 于一共同电压端或者是接地。未与第一电极154电性连接的其中一个第二电极156(即二 极管152a的第二电极156)例如是与第二修补线144电性连接，第二修补线144例如是连 接至一控制元件136，控制元件136例如是一电路控制板或者是软性电路板。在本实施例中，第一修补线142与数据线130其中一端131a交错而重叠，第二修 补线144与数据线130的另一端131b交错而重叠，第二电极156 (即二极管152b的第二电 极156)与第一修补线142重叠，以及控制电极158(即二极管152a的控制电极158)与第 二电极156 (即二极管152b的第二电极156)重叠。请同时参照图1A与图4，当主动元件阵列基板100的外围区106中发生不当的静 电荷累积或是发生静电放电的情形时，由于第二修补线144与静电释放导线146之间配置有静电保护元件150，因此静电能沿着第二修补线144、静电保护元件150的二极管152a的 第二电极156、二极管152a的第一电极154、二极管152b的第二电极156、二极管152b的第 一电极154以及静电释放导线146的路径而导出。如此一来，能避免信号线(诸如数据线 130)与修补线142受到静电影响而发生短路，使得主动元件阵列基板100能具有较佳的合 格率与显不质量。图5为图2A的主动元件阵列基板的另一种修补结构140的放大示意图。图6为 本发明的一实施例的一种修补方法，适于修补具有图5的修补结构140的主动元件阵列基 板100a。请同时参照图2A与图5，在本实施例中，主动元件阵列基板100a的其中一条信号 线(诸如数据线130a)具有开路瑕疵D，因此需藉由图5的修补结构140及图6所示的修补 方法来进行修补。请同时参照图2A、图5以及图6，首先，进行步骤S610，将第一修补线142与具有 开路瑕疵D的信号线(诸如数据线130a)的其中一端131a焊接。在本实施例中，主动元件 阵列基板100a的其中一条数据线130a例如是具有开路瑕疵D，第一修补线142与具有开 路瑕疵D的数据线130a的一端131a重叠，以及第二修补线144与具有开路瑕疵D的数据 线130a的另一端131b重叠。因此，在本实施例中，例如是以激光熔接的方式焊接第一修补 线142与数据线130a的一端131a重叠处，以形成一焊接点180。如此一来，具有开路瑕疵 D的数据线130a藉由焊接点180与第一修补线142电性连接。再者，在本实施例中，修补方 法更包括焊接第二修补线144与数据线130a的另一端131b重叠处，以形成一焊接点180。接着，进行步骤S620，于第二电极156与第一修补线142重叠处，将第二电极156 与第一修补线142焊接。在本实施例中，二极管152b的第二电极156例如是与第一修补线 142重叠。因此，此步骤例如是以激光熔接的方式焊接二极管152b的第二电极156与第一 修补线142，以形成一焊接点180。然后，进行步骤S630，将部分控制电极158与部分第二电极156焊接，以使第二修 补线144通过部分控制电极158、部分第二电极156以及第一修补线142与具有开路瑕疵D 的信号线(诸如数据线130a)电性连接。在本实施例中，静电保护元件150例如是包括多个 彼此串接的二极管152a、152b，各二极管152a、152b包括一第一电极154、一第二电极156、 一控制电极158以及一半导体层160。其中，二极管152a的控制电极158与二极管152a的 第二电极156重叠。因此，在此步骤中，焊接部分控制电极158与部分第二电极156例如是 焊接二极管152a的控制电极158与二极管152a的第二电极156，以形成一焊接点180。其 中，由于二极管152a的控制电极158例如是与二极管152b的第二电极156电性连接，因此 二极管152a的第二电极156可以通过焊接点180与二极管152a的控制电极158电性连接， 进而与二极管152b的第二电极156电性连接。请参照图2A与图5，在本实施例中，二极管152a的第二电极156例如是与第二修 补线144电性连接。因此，在焊接第一修补线142与数据线130a重叠处、二极管152b的第 二电极156与第一修补线142重叠处以及二极管152a的控制电极158与二极管152a的第 二电极156之后，信号能通过第二修补线144、静电保护元件150的二极管152a的第二电 极156、焊接点180 (位于二极管152a的控制电极158与二极管152a的第二电极156重叠 处)、静电保护元件150的二极管152a的控制电极158、静电保护元件150的二极管152b的 第二电极156、焊接点180 (位于第一修补线142与二极管152b的第二电极156重叠处)、第一修补线142、信号焊接点180 (位于数据线130a与第一修补线142重叠处)而传送至数 据线130a的一端131a，且由于第二修补线144与数据线130a的另一端131b已藉由焊接 点180焊接，因此信号能经由上述路径而由具有开路瑕疵D的数据线130a的一端131a传 送至另一端131b。如此一来，具有开路瑕疵D的数据线130a能藉由修补结构140而维持电 导通的状态，使像素110能正常运作。此外，于其它实施例中，二极管152b的第二电极156亦可如上述实施例的图2所 述设计而不连接至静电释放导线146。本发明的实施例，是以二极管152b的第二电极156 连接至静电释放导线146为范例，但不限于此。由上述的实施例可知，主动元件阵列基板100、100a的修补结构140能保护数据线 130与修补线142不易受到静电放电效应影响，且可修补具有开路瑕疵的数据线130a。换 句话说，如图1A与图4所示，在信号线(诸如数据线130)为正常的状况下，由于修补结构 140能有效地将静电导出，因此能避免信号线(诸如数据线130)与修补线142因受到静电 放电效应而有短路的情况发生。如此一来，能提升主动元件阵列基板100的合格率，进而使 显示面板具有良好的显示质量。此外，如图2A与图5所示，当信号线(诸如数据线130a) 具有开路瑕疵D时，修补结构140能用以修补信号线(诸如数据线130a)，使具有开路瑕疵 的信号线维持电导通的状态，以使像素110正常运作。换言之，修补结构140的设计使主动 元件阵列基板100、100a具有良好的元件特性与较佳的显示质量。特别说明的是，虽然在上述的实施例中是以在数据线130a的其中一端131a配置 修补结构140为例，但修补结构140也可以配置在数据线130a的另一端131b或者是两端 131a、131b。此外，虽然在上述的实施例中仅以修补结构140是用来修补数据线130为例， 但是所属领域中具有通常知识者应理解本发明的主动元件阵列基板的修补结构也可以配 置成与扫描线交错而用以修补具有开路瑕疵的扫描线。再者，在上述的实施例中，是以静电 保护元件150包括二个二极管152为例，但静电保护元件150也可以包括二个以上串接的 二极管或者是包括具有其它构型的二极管。综上所述，本发明的主动元件阵列基板具有修补结构，修补结构能有效地将静电 导出。因此，当主动元件阵列基板的外围区中发生不当的静电荷累积或是发生静电放电的 情形时，修补结构可以保护信号线与修补线不易受到静电放电效应的影响，进而避免信号 线与修补线发生短路。亦即，本发明的主动元件阵列基板不易受到静电放电的破坏而具有 良好的质量。因此，当显示面板具有上述的主动元件阵列基板，显示面板亦具有良好的显示 质量且不易因静电放电的破坏而受损。虽然本发明已以较佳实施例揭露如上，然其并非用以限定本发明，在不背离本发 明精神及其实质的情况下，熟悉本领域的技术人员当可根据本发明作出各种相应的改变和 变形，但这些相应的改变和变形都应属于本发明所附的权利要求的保护范围。
权利要求
一种主动元件阵列基板，包括一基板，具有一显示区以及一外围区；多个像素，阵列排列于该基板的该显示区上；多条信号线，与该些像素电性连接，且各该信号线分别从该显示区延伸至该外围区；以及一修补结构，配置于该外围区，该修补结构包括一第一修补线，与该些信号线的其中一端交错，且该第一修补线为电性浮置；一第二修补线；一静电释放导线；以及一静电保护元件，连接于该第二修补线与该静电释放导线之间，该静电保护元件与该第一修补线重叠且彼此电性绝缘。
2.如权利要求1所述的主动元件阵列基板，其特征在于，该些信号线包括多条扫描线 与多条数据线，且该些扫描线与该些数据线交错。
3.如权利要求1所述的主动元件阵列基板，其特征在于，该静电释放导线电性连接于 一共同电压端。
4.如权利要求1所述的主动元件阵列基板，其特征在于，该静电释放导线接地。
5.如权利要求1所述的主动元件阵列基板，其特征在于，该静电保护元件包括至少 一二极管，而该二极管包括一第一电极；一第二电极；一控制电极，与该第二电极电性连接；以及一半导体层，位于该控制电极上方，并连接于该第一电极与该第二电极之间。
6.如权利要求5所述的主动元件阵列基板，其特征在于，该第一电极与该静电释放导 线电性连接，该第二电极与该第二修补线电性连接，其中该第二电极与该第一修补线重叠 且彼此电性绝缘。
7.如权利要求1所述的主动元件阵列基板，其特征在于，该静电保护元件包括多个彼 此串接的二极管，各该二极管包括一第一电极、一第二电极、一与该第二电极电性连接的控 制电极以及一半导体层，该半导体层位于该控制电极上方，并连接于该第一电极与该第二 电极之间。
8.如权利要求7所述的主动元件阵列基板，其特征在于，未与该第二电极电性连接的 其中一个第一电极与该静电释放导线电性连接，而未与该第一电极电性连接的其中一个第 二电极与该第二修补线电性连接，且该第一修补线与其中一个第二电极重叠。
9.如权利要求1所述的主动元件阵列基板，其特征在于，该第二修补线连接至一控制 元件。
10.如权利要求1所述的主动元件阵列基板，其特征在于，进一步包含另一静电防护元 件，连接各该信号线，且邻近于该第一修补线与各该信号线交错处。
11.一种修补方法，适于修补权利要求1所述的主动元件阵列基板，当其中一条信号线 发生开路瑕疵(open defect)时，该修补方法包括将该第一修补线与具有该开路瑕疵的信号线的其中一端焊接；以及在该静电保护元件与该第一修补线重叠处，将该静电保护元件与该第一修补线焊接， 其中该第二修补线通过该静电保护元件以及该第一修补线与具有该开路瑕疵的信号线电 性连接。
12.如权利要求11所述的修补方法，其特征在于，该静电保护元件包含至少一二极管， 该二极管包含一控制电极、一第一电极、一第二电极及一半导体层，该半导体层设置于该控 制电极上方并连接于该第一电极与该第二电极之间，其中该静电保护元件与该第一修补线 重叠处是该第二电极与该第一修补线重叠处。
13.一种修补方法，适于修补权利要求8所述的主动元件阵列基板，当其中一条信号线 发生开路瑕疵(open defect)时，该修补方法包括将该第一修补线与具有该开路瑕疵的信号线的其中一端焊接； 在该第二电极与该第一修补线重叠处，将该第二电极与该第一修补线焊接；以及 将部分控制电极与部分第二电极焊接，以使该第二修补线通过部分控制电极、部分第 二电极以及该第一修补线与具有该开路瑕疵的信号线电性连接。
14.一种主动元件阵列基板，其特征在于，包括 一基板，具有一显示区以及一外围区；多个像素，阵列排列于该基板的该显示区上；多条信号线，与该些像素电性连接，且各该信号线分别从该显示区延伸至该外围区，其 中一条信号线具有开路瑕疵(open defect)；以及 一修补结构，配置于该外围区，该修补结构包括一第一修补线，与该些信号线的其中一端交错，且该第一修补线为电性浮置； 一第二修补线； 一静电释放导线；一静电保护元件，电性连接于该第二修补线与该静电释放导线之间，该静电保护元件 与该第一修补线重叠且彼此电性绝缘，其中该第一修补线与具有该开路瑕疵的信号线的其 中一端具有至少一焊接点，该静电保护元件与该第一修补线的重叠处具有至少一焊接点， 以使得该第二修补线通过该静电保护元件以及该第一修补线与具有该开路瑕疵的信号线 电性连接。
15.如权利要求14所述的主动元件阵列基板，其特征在于，该静电保护元件包含至少 一二极管，该二极管包含一控制电极、一第一电极、一第二电极及一半导体层，该半导体层 设置于该控制电极上方并连接于该第一电极与该第二电极之间，其中该静电保护元件与该 第一修补线重叠处是该第二电极与该第一修补线重叠处，而该重叠处具有该焊接点。
16.如权利要求14所述的主动元件阵列基板，其特征在于，进一步包括另一静电防护 元件，连接各该信号线，且邻近于该第一修补线与各该信号线交错处。
17.—种主动元件阵列基板，其特征在于，包括 一基板，具有一显示区以及一外围区；多个像素，阵列排列于该基板的该显示区上；多条信号线，与该些像素电性连接，且各该信号线分别从该显示区延伸至该外围区，其 中一条信号线具有开路瑕疵(open defect)；以及 一修补结构，配置于该外围区，该修补结构包括一第一修补线，与该些信号线的其中一端交错，且该第一修补线为电性浮置； 一第二修补线； 一静电释放导线；以及一静电保护元件，电性连接于该第二修补线与该静电释放导线之间，其中该静电保护 元件包括多个彼此串接的二极管，各该二极管包括一第一电极、一第二电极、一与该第二电 极电性连接的控制电极以及一半导体层，该半导体层位于该控制电极上方，并连接于该第 一电极与该第二电极之间，未与该第二电极电性连接的其中一个第一电极与该静电释放导 线电性连接，而未与该第一电极电性连接的其中一个第二电极与该第二修补线电性连接， 且该第一修补线与其中一个第二电极重叠；其中该第一修补线与具有该开路瑕疵的信号线其中一端交错处、该第二电极与该第一 修补线重叠处、以及部分控制电极与部分第二电极重叠处皆具有至少一焊接点，以使该第 二修补线通过部分控制电极、部分第二电极以及该第一修补线与具有该开路瑕疵的信号线 电性连接。
18.如权利要求17所述的主动元件阵列基板，其特征在于，进一步包括另一静电防护 元件，连接各该信号线，且邻近于该第一修补线与各该信号线交错处。
全文摘要
本发明公开了一种主动元件阵列基板，其包括一基板、多个像素、多条信号线以及一修补结构。基板具有一显示区以及一外围区。像素阵列排列于基板的显示区上。信号线与像素电性连接，且各信号线分别从显示区延伸至外围区。修补结构配置于外围区，修补结构包括一第一修补线、一第二修补线、一静电释放导线以及一静电保护元件。第一修补线与信号线的其中一端交错，且第一修补线为电性浮置。静电保护元件连接于第二修补线与静电释放导线之间，静电保护元件与第一修补线重叠且彼此电性绝缘。
文档编号H01L23/60GK101866917SQ20101018895
公开日2010年10月20日 申请日期2010年5月24日 优先权日2010年5月24日
发明者庄文奇, 彭中宏, 林东村, 郭雅翎 申请人:友达光电股份有限公司