在绝缘基底上沉积薄膜来制造加热元件的方法以及由此获得的元件的制作方法

文档序号:8136256阅读:149来源:国知局
专利名称:在绝缘基底上沉积薄膜来制造加热元件的方法以及由此获得的元件的制作方法
在绝缘基底上沉积薄膜来制造加热元件的方法以及由此获
得的元件本发明涉及在绝缘基底上沉积薄膜以制造加热元件的技术领域。本发明在为表面(比如汽车工业中的反射面或航空工业中的机翼的前缘)除雾或 除冰的领域中具有有利的应用。如本领域技术人员所知,加热元件由以下区域构成被称作“冷区”的由低电阻表 征的区域,以及构成实际的加热部分的具有高得多的电阻的区域。在加热元件的一种设计中,两个冷区是通过串联连接来与热带相连接的,从而流 经每个带的电流密度相同。冷区的作用是连接从外部电源获得的电流供给并且将电流均勻地分配给加热部 分的终端。要提醒读者的是,功率等于电阻与电流平方的乘积,并且电流的流动在具有较高 电阻并且被称作热带的区域中引起显著的温度上升。相反地,考虑到冷区具有尽可能低的 电阻的事实,因此最小的热功率从电连接处产生。此外,因为电阻等于电阻率乘以导体长度除以导体的截面面积,因此可以通过改 变任意上述参数(电阻率、长度、截面面积)来改变电阻值。在例如采用真空沉积技术的薄膜加热元件的一种实施方式中,可以使用至少两种 电阻率不同的材料,它们各自通过特定掩膜而被沉积以便相继地以迹线形式构成(热带) 加热部分以及一个或更多个集电极或漏极。所述两种材料是根据它们的本征电阻率来选择 的,而它们的截面面积是根据冷区所要求的电导值和加热部分所要求的电阻值来确定的。如果加热覆层并不能通过调整所述覆层的厚度来获得足够高的电阻,则必须改变 以迹线形式沉积的电阻的长度,以因此增大电流流经的距离。如上所述,高导电的第二材料被沉积在电阻的端部,以起到漏极的作用。可以引用 例如专利JP7226301和JP8124707中的公开内容。在另一实施方式中,如果沉积的电阻不是以迹线形式,则通过以被称为漏极的 条带形式制造的导电覆层可以在电阻覆层的两侧都形成电连接。这种解决方案在文献 WOO158213、W003095251和US4543466中得到公开。如文献W00158213中所公开的,加热 层由透明导电材料制成并与银制成的高导电层相连接,以实现漏极的功能而不引起温度升
尚ο由于这一现有技术,通过沉积薄膜来制造加热元件包括两个步骤-第一步骤在以迹线形式的电阻的情况下通过掩膜来沉积电阻,或者将电阻直 接沉积在基底的整个表面上。应注意,迹线还可以通过选择性地去除电阻性沉积物来制 造;-第二步骤通过另一掩膜沉积另一覆层来制造漏极。因此,必须使用两种不同的材料并且在这两种沉积步骤之间对掩膜进行操作。在

图1中示意性地图示了这一现有技术,图1示出了用两个步骤制造的加热元件。 加热元件由基底(C)构成,基底(C)由比如陶瓷、玻璃或塑料等电绝缘材料制成。在基底(C)的整个表面上沉积弱导电覆层(B)。掩膜例如以如下方式位于覆层(B)上使得掩膜不 覆盖覆层(B)的端部以能够沉积高导电的第二覆层,以便制造用于连接比如发电机(G)等 电源的漏极㈧。基于这一现有技术,本发明要解决的问题是使用单一材料通过单一沉积步骤来制 造薄膜加热元件。为了解决该问题,设想并完善了一种在绝缘基底上沉积薄膜来制造加热元件的方 法,通过该方法可以-改变基底的表面状态,以获得至少一个具有低表面粗糙度Ra的平滑区域以及至 少一个具有更高表面粗糙度Rax的区域;-在上述各种区域上施加高导电材料;
-将平滑区域与电源连接。通过该方法,加热元件可以通过单一沉积步骤来制造,以便同时制造电阻和漏极, 在此情况下所述漏极由低粗糙度的区域构成。因此,不再需要使用两种不同的材料或者在制造覆层的过程中使用不同的掩膜。与本领域技术人员的常识相反的是,根据本发明,高导电材料不只用于较冷部分 或漏极,而且还用于加热部分。基于这种基本设计_在整个基底上沉积高导电材料层,以覆盖所有平滑区域和粗糙区域,或者_沉积高导电材料层,以形成覆盖部分平滑区域以及部分粗糙区域的迹线。在一种实施方式中,在两个平滑区域之间制造凸出的粗糙区域。本发明还涉及通过在绝缘基底上沉积薄膜而获得的加热元件,其具有利用焦耳效 应的至少一个加热部分以及至少一个电连接部分,所述至少一个电连接部分由至少一个具 有更高粗糙度Rax的区域和至少一个具有低粗糙度Ra的平滑区域构成,所述区域覆有高导 电材料的薄膜,并且电源与平滑区域连接。可使用的高导电材料包括(仅作为举例而绝非限制性地)铝、铜、银、金,以及,更 一般地说,包括室温下本征电导率超过30X IO6S. πΓ1的任何材料。根据另一方面,平滑区域的粗糙度Ra小于0. 5 μ m。在一种实施方式中,基底具有位于具有更高粗糙度Rax的区域旁边的具有低粗糙 度Ra的平滑区域。在另一实施方式中,基底具有位于具有更高粗糙度Rax的区域的两侧的具有低粗 糙度Ra的两个平滑区域。基于该方法,显而易见有-高导电材料的薄膜被沉积在基底的整个表面上,以覆盖各个区域,或者-高导电材料的薄膜以覆盖各个区域的迹线的形式沉积。当电阻比值R2/R1大于系数α 1和α 2的平方的比值(即R2/R1 > ( α 2)7( α 1)2) 时,实现了特别有利的结果,其中Rl =具有低粗糙度(Ra)的平滑区域的以欧姆为单位的阻值;R2 =具有较高的粗糙度(Rax)的区域的以欧姆为单位的阻值;α 1 =平滑区域的展开长度除以由轮廓曲线仪(表面光度仪)扫描得到的它的长度;α 2 =具有更高粗糙度的区域的展开长度除以由轮廓曲线仪扫描得到的它的长度。下面参照附图更详细地解释本发明,在附图中-图1是根据现有技术的加热元件的示意图;-图2是等效于图1的俯视图;-图3是类似于图1的示意性截面图,示出了根据本发明获得的加热元件;-图4是对应于图3的俯视图;-图5和图6是加热元件的其它实施方式的示意性俯视图,其中高导电覆层以迹线 形式沉积;-图7是具有平滑区域和粗糙区域的元件的示意性透视图;-图8是在覆层沉积在圆柱形区域外部之后的对应于图7的视图。图3和图4示出了在任何已知的适当类型的电绝缘基底(1)上的根据本发明的方 面获得的加热元件的第一实施方式。根据本发明的一个基本方面,改变基底(1)的表面状态,从而获得具有低粗糙度 Ra (通常小于0.5 μ m)的平滑区域(Ia)和(Ib)以及具有必须大于0. 5 μ m的更高粗糙度 Rax的区域(Ic)。由高导电材料构成的覆层(2)被沉积在基底⑴的与区域(la)、(lb)和(Ic)相 同的一侧的整个表面区域上。该高导电材料的电导率在室温下超过30X 106S/m2。因此,在 基底(1)的平滑区域(Ia)和(Ib)之上的区域(2a)和(2b)构成用于连接电源(比如发电 机(3))的漏极,而在具有更高粗糙度的区域(Ic)之上的区域(2c)构成元件的加热部分。电阻主要是通过改变基底的区域(Ic)的表面粗糙度来调整的。还可以对粗糙特 性进行组合并改变覆层的厚度,以调整阻值。覆层(2)可以以迹线的形式例如通过在沉积所述覆层之前布置掩膜或者通过选 择性移除该覆层来沉积。为制造迹线,已证实优先选择接近迹线的曲率半径的低粗糙度的表面尤为重要, 因为低粗糙度的表面有利于低电阻,这使得能够减小温度的升高从而避免对沉积有害。在图5中图示了一种优选的实施方式,其示出了基底(1),基底(1)具有具有更 高粗糙度Rax的凸出的中央区域(lc),以及具有低粗糙度(Ra)的两个旁边区域(Ia)和 (Ib)。区域(Ia)(低粗糙度的迹线(2)的曲率半径(2d)位于其中)使得能够以与在电连 接发电机(3)的漏极附近相同的方式避免过热。在示出的图中,基底具有位于具有更高粗糙度Rax的区域的两侧的具有低粗糙度 Ra的两个平滑区域(Ia)和(lb)。该基底可以具有位于具有更高粗糙度Rax的区域旁边的 具有低粗糙度Ra的单个平滑区域。类似地,由高导电覆层(2)构成的迹线(2d)可以被制 造为不同的形状。参见图5和图6。在图7中,基底具有低粗糙度的区域(Ib)和粗糙度更高的区域(Ic)。在区域(2c) (粗糙度更高的区域)以及连接发电机(3)的区域(2b)(低粗糙度的区域)中,覆层(2)被 沉积在圆柱形表面的外部上。首先,有必要强调以下优点根据本发明,在沉积导电覆层之前对基底表面状态的局部改变使得能够使用单一材料来制造加热元件,而无论元件是否是以迹线形式。这种表面状态的改变可以在制造基底之前产生,在聚合物基底的情况下,可以例 如通过注塑模具表面上的凸出部来产生。这种表面状态的改变还可以利用被称为喷砂的技术或者任何其它改变所讨论的 基底的粗糙度的适当方式在沉积之前直接在基底上获得。在基底导电的情况下,可在沉积加热元件之前施加第一绝缘覆层。应注意,为了实现加热元件的基本特性,根据本发明,可以-采用具有低粗糙度Ra的基底,对其进行处理以例如得到在粗糙度为Ra的两个平 滑区域之间的具有更高粗糙度Rax的区域,或者_采用具有更高粗糙度Rax的基底,对其进行处理以例如得到在具有更高粗糙度 Rax的区域的两侧的具有低粗糙度Ra的两个区域。参见以下三个示例示例 1 在示例1中,利用真空沉积技术将铜沉积在聚碳酸酯基底上。以条带形式的聚碳酸酯基底具有初始表面粗糙度值Ra = 0. 02 μ m。在真空沉积之 前对这些聚碳酸酯基底进行喷砂,这使其粗糙度提高到Ra = 4. 9 μ m。使条带的端部保持平滑,以便确保电接触功能并均勻地分配电流。在每个表面状态上产生三种电阻。电阻的长度是98mm,而它们的宽分别是5mm、 12mm和24mm。粗糙度轮廓被用来计算每个表面状态的展开长度。电阻通过施加电流并测量电阻两端的电压来表征。在真空沉积设备中同时覆上全 部基底。所述基底还相对于沉积源定位一致。在粗糙度Ra小于0.01 μ m的样品玻璃基底上,所测得的沉积的铜的厚度是 1. 15 μ m。根据图3和图4中示出的原理来制备粗糙测试的样件。
权利要求
一种通过在绝缘基底(1)上沉积薄膜来制造加热元件的方法,其中 改变基底(1)的表面状态,以获得至少一个具有低粗糙度Ra的平滑区域(1a) (1b)以及至少一个具有更高粗糙度Rax的区域(1c); 在所述各个区域(1a)、(1b)、(1c)上施加高导电材料(2); 将所述材料(2)的平滑区域(2a)和(2b)与电源(3)连接。
2.如权利要求1所述的方法,其特征在于,在整个所述基底(1)上沉积所述高导电材料 (2)的层,从而覆盖所有平滑区域(Ia)和(Ib)以及粗糙区域(Ic)。
3.如权利要求1所述的方法,其特征在于,沉积所述高导电材料(2)的层,从而形成覆 盖部分平滑区域(Ia)和(Ib)以及部分粗糙区域(Ic)的迹线。
4.如权利要求1至3之一所述的方法,其特征在于,在两个平滑区域(Ia)与(Ib)之间 制造凸起的粗糙区域(Ic)。
5.一种通过在绝缘基底(1)上沉积薄膜而获得的加热元件,具有至少一个电加热部 分以及至少一个电连接部分,其特征在于所述部分由至少一个具有低粗糙度Ra的平滑区 域(Ia)和(Ib)以及至少一个具有更高粗糙度Rax的区域(Ic)以及构成,所述区域(la)、 (lb)、(Ic)覆有高导电材料(2)的薄膜,电源(3)与覆层(2)的平滑区域(2a)和(2b)连 接。
6.如权利要求5所述的元件,其特征在于,所述平滑区域的所述粗糙度Ra小于 0. 5 μ m0
7.如权利要求5所述的元件,其特征在于,所述基底(1)具有在具有更高粗糙度Rax的 区域旁边沉积的具有低粗糙度Ra的平滑区域。
8.如权利要求5所述的元件,其特征在于,所述基底具有在具有更高粗糙度Rax的区域 的两侧沉积的具有低粗糙度Ra的两个平滑区域。
9.如权利要求5至8之一所述的元件,其特征在于,所述高导电材料(2)的薄膜被沉积 在所述基底的整个表面之上,从而覆盖所述各个区域(la)、(lb)、(Ic)。
10.如权利要求5至8之一所述的元件,其特征在于,所述高导电材料(2)的薄膜以覆 盖所述各个区域(la)、(lb)、(Ic)的迹线的形式被沉积。
11.如权利要求5至10之一所述的元件,其特征在于,所述高导电材料的电导率在室温 下超过 30X 106S/m2。
12.如权利要求5至11之一所述的元件,其特征在于,所述高导电材料(2)是铜、铝、银或金。
13.如权利要求5至11之一所述的元件,其特征在于,所述基底(1)由绝缘材料制成。
14.如权利要求5至11之一所述的元件,其特征在于,所述基底(1)由覆有绝缘层的导 电材料制成。
15.如权利要求5至14之一所述的元件,其特征在于,电阻比值R2/R1大于系数α1和 α 2的平方的比值,即R2/R1 > ( α 2) 7 ( α 1)2,其中:Rl =所述具有低粗糙度(Ra)的平滑区域的以欧姆为单位的阻值; R2 =所述具有更高粗糙度(Rax)的区域的以欧姆为单位的阻值; α 1 =所述平滑区域的展开长度除以由轮廓曲线仪扫描得到的它的长度; α2 =所述具有更高粗糙度的区域的展开长度除以由轮廓曲线仪扫描得到的它的长度。
16.如权利要求5至15之一所述的加热元件用于为反射面除雾或除冰的用途。
全文摘要
根据本方法改变基底(1)的表面状态,以获得至少一个具有最低限度的粗糙度Ra的平滑区域(1a)-(1b)以及至少一个具有更高粗糙度Rax的区域(1c);在上述各个区域(1a)、(1b)、(1c)上施加高导电材料(2);将材料(2)的平滑区域(2a)和(2b)与电源(3)连接。
文档编号H05B3/84GK101939164SQ200980104511
公开日2011年1月5日 申请日期2009年1月26日 优先权日2008年2月6日
发明者伯努瓦·泰尔姆, 克里斯托弗·埃奥, 菲利普·毛林-佩里耶 申请人:H.E.F.公司
网友询问留言 已有0条留言
  • 还没有人留言评论。精彩留言会获得点赞!
1