处理银纳米线的方法以及银纳米线与流程

文档序号:12437873阅读:来源:国知局

技术特征:

1.一种处理银纳米线的方法,其特征在于,包括:

在存在保护剂的条件下,使含有所述银纳米线的溶液与卤化银溶解剂接触,以便去除卤化银。

2.根据权利要求1所述的方法,其特征在于,所述保护剂包括聚乙烯吡咯烷酮、聚乙烯醇、氯代十六烷基吡啶以及十六烷基三甲基溴化铵的至少之一。

3.根据权利要求1所述的方法,其特征在于,所述保护剂与所述含有银纳米线的溶液的质量比为1:100至1:10000。

4.根据权利要求1所述的方法,其特征在于,所述卤化银溶解剂含有硫代硫酸根离子、硫氰根、氰根、氨基、乙二胺离子以及EDTA的至少之一。

5.根据权利要求1所述的方法,其特征在于,根据所述卤化银的量确定加入的所述氯化银溶解剂的量。

6.根据权利要求5所述的方法,其特征在于,所述卤化银溶解剂与所述卤化银的摩尔比为1:1至2:1。

7.根据权利要求1所述的方法,其特征在于,所述接触是在搅拌下进行的。

8.根据权利要求1所述的方法,其特征在于,所述含有银纳米线的溶液与所述卤化银溶解剂的接触时间为5~120分钟。

9.根据权利要求1所述的方法,其特征在于,进一步包括:

(a)对含有所述卤化银溶解剂的银纳米线溶液进行离心处理,保留沉淀;

(b)在所述沉淀中加水并搅拌,对所述沉淀的水溶液进行二次离心处理;以及

(c)多次重复步骤(b)。

10.一种银纳米线,其特征在于,所述银纳米线是利用权利要求1~9任一项所述的方法进行处理而获得的。

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