一种半导体测试分选装置的制造方法
【专利摘要】本实用新型公开了一种半导体测试分选装置，包括一震动盘，通过导轨连接定吸嘴，所述定吸嘴用于放置待检测元件，在一转盘上设置有一动吸嘴，用于吸取所述待检测元件；所述转盘周边对应所述动吸嘴的工作半径上设置有多个操作模块；其中,所述定吸嘴正对待检测元件设置有一竖直壁面，并在该竖直壁面上开有一凹槽，用于过盈配合所述待检测元件。本实用新型提供的半导体测试分选装置，由于采用了在定吸嘴的吸气口外竖直壁面对应设置一凹槽,以及在各工作模块的相应位置设置用于放置待检测元件管脚的定位槽，可以对待检测的半导体元件加以充分固定，防止在检测中因接触面不平，产生左右摆动而损坏半导体元件管脚或因吸附不牢而引起停机的问题。
【专利说明】
一种半导体测试分选装置
技术领域
[0001]本实用新型涉及一种半导体测试装置，尤其涉及的是一种半导体测试分选装置。
【背景技术】
[0002]半导体器件测试分选打标编带一体设备，简称半导体测试分选设备，用于将大规模封装好的散装半导体器件进行测试后，分选并打印编带，自动完成剔除不合格产品并收集合格产品的工作。
[0003]半导体测试分选设备，一般包括一震动盘，通过导轨连接一定吸嘴，所述定吸嘴则设置于距离一转盘外沿一定距离处。待检测的半导体元器件经过震动盘分散并通过导轨滑动至所述定吸嘴处后，由所述定吸嘴吸附固定。所述转盘还连接有一跟随转盘转动的动吸嘴，所述动吸嘴用于将待检测的半导体元器件从所述定吸嘴上吸走，并随着所述转盘而转动，移动至沿着转盘外沿分布的各模块上方释放并进行相应的操作后，再吸取并移动至出口排出。
[0004]现有技术的半导体测试分选设备在工作时，当一半导体测试产品从所述导轨滑动至所述定吸嘴时，若所述测试产品的注塑凸口端对着并接触所述定吸嘴旁的竖直壁面，则由于注塑凸口的表面不平，导致两者的接触不充分，所述测试产品在吸气作用下，就会产生左右摆动，从而可能因测试产品吸附不牢而造成停机。而在继续下一道工序时，所述测试产品由所述动吸嘴吸附提取并移动至下一模块上方释放，由于所述下一模块的相应落点部位没有设置定位结构，就可能导致所述测试产品在落点部位左右摆动，其管脚可能因触碰到边壁而导致变形，甚至多次变形。这不但不能保证测试产品的质量，并且可能因停机而导致生产效率低下。
[0005]因此，现有技术还有待于改进和发展。
【实用新型内容】
[0006]鉴于上述现有技术的不足，本实用新型的目的在于提供一种半导体测试分选装置，可以在工作中对所述待检测的半导体元器件加以充分的固定，以解决测试产品吸附不牢的问题。
[0007]本实用新型的技术方案如下:
[0008]—种半导体测试分选装置，包括一震动盘，通过导轨连接定吸嘴，所述定吸嘴用于放置待检测元件，在一转盘上设置有一动吸嘴，用于吸取所述待检测元件;所述转盘周边对应所述动吸嘴的工作半径上设置有多个操作模块;其中，所述定吸嘴正对待检测元件的竖直壁面上开有一凹槽，用于过盈配合所述待检测元件的注塑凸口 ；
[0009]所述的半导体测试分选装置，其中，在所述凹槽的底部设置有接触传感器，以及所述操作模块包括一定位器，设置于所述定吸嘴与其他操作模块之间，用于调整所述待检测元件的朝向；
[0010]所述的半导体测试分选装置，其中，所述定位器上设有匹配待检测元件管脚数目的至少一对定位槽，用于容纳所述待检测元件的管脚；
[0011]所述的半导体测试分选装置，其中，所述操作模块还包括一用于检测所述待检测元件的检测台，在所述检测台放置待检测元件的台面上设有一活动门，用于在待检测元件不合格时打开所述活动门；
[0012]所述的半导体测试分选装置，其中，所述操作模块还包括一卫星工作台，所述卫星工作台上设置有数个定位块，所述定位块沿卫星工作台周向分布，用于在所述待检测元件上打印图文；
[0013]所述的半导体测试分选装置，其中，每一所述定位块上设有匹配待检测元件管脚数目的至少一对定位槽，用于完全容纳所述待检测元件的管脚；
[0014]所述的半导体测试分选装置，其中，所述定位块设置为三个，并在所述卫星工作台上均匀分布，对应其转动停留位置分别设置为接受位置、打印位置和提取位置;所述打印位置对应设置用于打印标号的至少一激光发射头；
[0015]所述的半导体测试分选装置，其中，所述卫星工作台的旋转速度与所述转盘的旋转速度设置为相匹配，使得所述转盘旋转一步的时间等于所述卫星工作台旋转两步的时间；
[0016]所述的半导体测试分选装置，其中，所述导轨外还设置有至少一组吹气孔，用于推动待检测元件向所述定吸嘴方向移动。
[0017]本实用新型提供的半导体测试分选装置，由于采用了在定吸嘴的吸气口外竖直壁面对应设置一凹槽，以及在各工作模块的相应位置设置定位槽，可以对所述待检测的半导体元器件加以充分固定，防止了所述待检测半导体元器件在检测中因接触面不平，产生左右摆动而损坏管脚或因吸附不牢而引起停机的问题，降低了测试工作中的停机可能和故障率，从而保证了所述待检测半导体元件产品的质量和生产效率。
【附图说明】
[0018]图1是本实用新型半导体测试分选装置的结构示意图；
[0019]图2为本实用新型半导体测试分选装置的侧面剖视图；
[0020]图3为本实用新型半导体测试分选装置的定吸嘴的放大图；
[0021 ]图4为本实用新型半导体测试分选装置的定位器的结构示意图；
[0022]图5为本实用新型半导体测试分选装置的卫星工作台的结构示意图。
【具体实施方式】
[0023]本实用新型提供一种新型半导体测试分选装置，为使本实用新型的目的、技术方案及效果更加清楚、明确，以下参照附图并举实例对本实用新型进一步详细说明。应当理解，此处所描述的具体实施例仅仅用以解释本实用新型，并不用于限定本实用新型。
[0024]本实用新型的半导体测试分选装置的一个具体实施例，如图1的正面示意图和图2的侧面示意图所示，包括一震动盘1，通过端部平滑连接在一起的弯弧导轨7和直导轨8与一定吸嘴4相连接，所述定吸嘴4则设置于距离一转盘2外沿一定距离处，所述转盘2接受一步进电机的驱动，沿顺时针或逆时针方向转动，本实施例中，如图所示，所述转盘2在所连接的第一步进电机的作用下沿顺时钟方向步进转动。所述转盘2外围，均匀分布有多个操作模块，在本实施例中，所述操作模块包括一定位器5，一检测台15，一卫星工作台6，和一排塑口9，以及所述定吸嘴4，根据实际的空间和功能在所述转盘2的周边均匀分布设置，与现有技术的实现方式基本类似，在此不再赘述。
[0025]所述操作模块的排列顺序按照实际工作中的操作顺序，一般可以按照定吸嘴4、定位器5、检测台15、卫星工作台6的两个定位块位置、排塑口 9的顺序，共五个操作模块，六个停留位置，在所述转盘2外沿周向均匀分布排列。所述转盘2上还固定连接有一跟随所述转盘2—起转动的动吸嘴3，所述动吸嘴3的操作臂长度设置为其上的吸气提取口 31正好达到沿所述转盘2外围均匀分布的各操作模块上待检测元件10的安放位置上方。这样，所述第一步进电机每转动一格，所述转盘2就转动一个位置，正好将所述动吸嘴3的吸气提取口 31送至下一操作模块。
[0026]当所述吸气提取口31到达对应操作模块的上方，正对所述操作模块上的待检测元件安放位置时，所述吸气提取口 31停止吸气，释放所述待检测元件10至所述安放位置，并停留一设定时间，以便所述操作模块对其进行相应的操作。此时，所述待检测元件10在所在的操作模块接受相应操作，当该相应操作的所述设定时间期满经过后，所述吸气提取口31再对所述待检测元件10吸气将其提取，然后跟随步进电机驱动的圆盘2再转动送至下一操作模块。
[0027]本实用新型所述较佳实施例中，所述震动盘I通过磁铁等装置，在震动分散并依次整理出的所述待检测元件10进入所述轨道的同时，也将所述待检测元件位姿调整完毕，例如，成为以管脚站立的姿势侧向单行进入所述弯弧导轨7和直导轨8。此为现有技术，在此不作详述。在一个较佳实施例中，所述弯弧导轨7和直导轨8上方可设有一覆盖层，并在与所述震动盘I相连接处的开口略大于所述待检测元件10的横截面，从而保证所述待检测元件10在行进中不会改变其已经调整好的正确姿势，此时所述待检测元件10的注塑凸口 101要么朝前，要么朝后，如图3所示。
[0028]所述弯弧导轨7和直导轨8的端部平滑过渡连接在一起，所述导轨附近，设置有至少一组吹气孔71，如图2所示，本实施例采用一组吹气孔71，设置于所述导轨旁或导轨上。所述吹气孔71向所述定吸嘴4方向，沿着所述导轨78，持续吹气，用于推动和加速待检测元件10在所述弯弧导轨7和直导轨8中移动，更快更稳的到达定吸嘴4，从而提升工作效率。
[0029]所述直导轨8在所述定吸嘴4附近的部分，上方不设覆盖层，从而将所述待检测元件10暴露在外，以便于所述动吸嘴3进行提取。
[0030]所述定吸嘴4的局部放大图如图3所示，在吸气口42附近、正对着传送至此的待检测元件10前端的竖直壁面上设置有一凹槽41，用于在所述吸气口 42吸附固定所述待检测元件10时，过盈配合待检测元件10的注塑凸口 101，从而增加待检测元件10在吸附时的稳定性，方便所述动吸嘴3进行提取。所述凹槽41的各方向尺寸均略大于所述注塑凸口 101相应方向的尺寸，即所述凹槽41的深度H略大于所述注塑凸口 101的凸起高度;所述凹槽41的上壁面高度略大于所述注塑凸口 101上缘高度，但略小于所述待检测元件10的上缘高度;所述凹槽41的宽度略大于所述注塑凸口 101的宽度，且所述凹槽41的位置与所述注塑凸口 101的位置相对应，以保证所述凹槽41可以全部容纳所述注塑凸口 101，从而保证所述待检测元件10与所述定吸嘴4的吸气口充分稳定接触而被吸牢，这就杜绝了因待检测元件10吸附不牢而造成的停机故障。当然，若是待检测元件10的注塑凸口朝后，则其对侧平坦端面朝前，并接触到所述吸气口 42附近的竖直壁面，此时，因为所述凹槽41开口的上壁面的高度低于所述待检测元件10的上缘高度，所述待检测元件10无法插入所述凹槽41，因此也不会产生吸附不牢的问题。
[0031]在本实施例中，当所述定吸嘴4吸附固定住所述待检测元件10后，受轨道限制，所述待检测元件10本体沿着转盘半径方向，并在后面的操作中维持半径方向直至完成在所述卫星工作台6上操作后再次被提取。
[0032]本实用新型较佳实施例的一个优选方案，是在所述定吸嘴4旁竖直壁面的凹槽41内放置有一接触传感器43，如图3所示，用于探测所述待检测元件10的朝向，若所述待检测元件10的注塑凸口 101朝前，则其可以伸入所述凹槽41内，触碰激发所述接触传感器43，从而可以借此确定所述注塑凸口 101的朝向，从而确定所述待检测元件10上需要打印文字面的朝向。若是反向，则可以在下步的定位器5中旋转180度，修正为打印文字面的正确方向。
[0033]图4是本实用新型的定位器5的结构示意图。如图4所示，所述定位器5上设置有至少一对第一定位槽51，关于定位器5转轴中心呈两边对称分布，其数目与所检测的待检测元件10的管脚数相匹配。所述待检测元件10通过所述动吸嘴3的吸气提取口 31吸附后跟随所述转盘2转动，被移动到所述定位器5上方，所述动吸嘴3的吸气提取口 31停止吸气，所述待检测元件10下落，被放置于所述定位器5上，其管脚伸进所述第一定位槽51的相应凹槽内部。所述第一定位槽51的具体数目和位置根据待检测元件10的管脚数目和位置对应设置，且其凹槽宽度B大于所述待检测元件10管脚的宽度b，凹槽深度大于管脚长度，以保证可以完全容纳各管脚，且管脚在所述凹槽内部不会触碰到凹槽底部，这就保证了管脚不会受到挤压变形，因此不会造成对管脚的任何损伤。
[0034]本实施例中所述定位器5的作用是若上一步的接触传感器43探测到所述注塑凸口101方向相反，也即打印文字面方向不正确，则所述定位器5在其所连接的独立电机、即第二步进电机驱动下绕其中心位置，同时也是其上待检测元件10的中心位置，旋转180度，将所述待检测元件10调整为正确朝向，方便下一步的检测和文字打印。
[0035]经过所述定位器5后，所述待检测元件10方向都成为一致，则由所述动吸嘴3再次吸提，并随着所述转盘2旋转至下一操作模块，检测台15上方并被以正确姿势释放，接受检测。所述检测台15的结构与上述定位器5相似，也通过设置多个定位槽来固定所述待检测元件10的管脚后，再接受周边各仪器检测，检测过程为现有技术所熟知，在此不再赘述。经过检测后，不合格元件被直接从检测台15上排出，例如使用吹气方式吹离检测台15，或所述检测台15的台面上设有一活动门，遇到检测不合格产品则打开，使其掉落离开;而合格元件则再次由所述动吸嘴3吸附提取并跟随所述转盘2转动至下一操作模块，即卫星工作台6。
[0036]图5是本实用新型的卫星工作台6的结构示意图。所述卫星工作台6上设置有多个完全相同的定位块62，在相同半径处沿周向均匀设置，且其位置关于所述卫星工作台6中心旋转对称，每个定位块62的结构类似于所述定位器5的结构，其上相同位置相同角度都设有匹配待检测元件管脚数目的至少一对定位槽，用于完全容纳所述待检测元件的管脚;每个定位块62附近都设有相应的操作装置。在工作时，所述卫星工作台6接受一第三步进电机的驱动，沿着顺时针或逆时针方向步进旋转，每步依次将一个定位块送入下一定位块的位置。例如在本实施例的所述装置工作时，所述动吸嘴3在转动中暂时停留于一定位块62的停留位置上方，在所述动吸嘴3停留的时间内，所述卫星工作台6将一定位块62送入所述动吸嘴3的吸气提取口 31正下方，所述动吸嘴3释放所吸提的待检测元件10至其下方定位块62上的相应位置处，所述定位块62则在所述动吸嘴3开始吸气操作前即已旋转离开。
[0037]本实施例中设置三个完全相同的定位块62，沿着所述卫星工作台6的平台中心一定半径距离处周向均匀分布设置;每个定位块62的结构类似于所述定位器5的结构，即类似于图4所示的结构，其包括多个第二定位槽61，当所述待检测元件10被放置于所述定位块62上的时候，其管脚伸进所述第二定位槽61的相应凹槽内部。所述第二定位槽61的具体数目和位置根据待检测元件10管脚的数目和位置对应设置，且其凹槽宽度B大于所述待检测元件10管脚的宽度b，凹槽深度大于所述管脚的长度，以保证可以完全容纳各管脚，且管脚在所述凹槽内部时，不会触碰到凹槽底部，这就保证了管脚不会受到挤压变形，因此不会造成管脚的任何损伤。
[0038]在进行工作时，所述动吸嘴3将所述待检测元件10(合格产品)重新从所述检测台15上吸提起，并跟随所述转盘2转动至转盘2的下一个停留位置释放并作短暂停留，所述待检测元件10落于其下方正对的位于所述卫星工作台6上正停留于该停留位置的某一定位块62上，所述待检测元件10的管脚伸进所述定位块62上的所述第二定位槽61内部，从而可以保持正确的位姿，并保持稳定的状态。所述卫星工作台6在所述第三步进电机的驱动下，沿着顺时针或逆时针方向步进旋转并每步短暂停留，而其上的所述待检测元件10在转动到不同定位块停留位置时，分别接受该定位块位置附近所设置的相应装置的操作，例如，在本实施例中，因为沿着所述卫星工作台6表面均匀设置了三个定位块62，故沿着顺时针方向，所述三个定位块62的三个转动停留位置分别设置为接受位置，打印位置和提取位置，各定位块转动停留位置附近分别设置有相应的操作设备，例如在打印位置附近设置至少一激光发射头66，发射激光用于在所述检测模块10的相应打印平面打印所需标号文字;而所述接受位置和提取位置则分别对应于转盘2上的动吸嘴3转动时所停留的两个相邻位置，用于使所述动吸嘴3的吸气提取口 31分别在所述位置释放和提取待检测元件10。
[0039]本实施例中，对应所述三个定位块62，相应设有三个转动停留位置，但在其他实施例中，所述卫星工作台上定位块62的数目和相应停留位置完全可以根据实际功能操作需要设置，只需要一一对应并沿周向均匀分布即可。
[0040]所述卫星工作台6的旋转速度与所述转盘2的旋转速度设置为相匹配，具体在本实施例中，即设置为所述转盘2旋转一步的时间等于所述卫星工作台6旋转两步的时间，具体为:所述动吸嘴3在对应于卫星工作台6的释放位置释放所提待检测元件10后，继续步进旋转至下一位置，即可从新位置提取已经跟随所述卫星工作台旋转两步，且已经完成打印工作的所述待检测元件10。换而言之，所述待检测元件10，在卫星工作台的释放位置被所述动吸嘴3释放后，跟随所述卫星工作台6旋转一步，至打印位置，接受激光打印文字操作后，跟随所述卫星工作台6再旋转一步，到达第三个位置，即提取位置，同时，所述转盘2上的动吸嘴3也旋转至其下一位置，即位于所述卫星工作台6的提取位置上方，故所述待检测元件10被再次送入动吸嘴3的吸气提取口 31下方，通过吸气被再次提取，随着第一步进电机的旋转被送至排塑口 9。
[0041]值得注意的是，此时所述待检测元件10的角度姿势已经因为所述卫星工作台6的释放和提取操作发生在不同位置而被改变，所述待检测元件10的本体已经未必还是吻合平行于该处的半径方向。若下一步操作需要所述待检测元件10的某个确定位姿，则可以在所述转盘2外围，在所述卫星工作台6后，排塑口9前，增加一第二定位器，并连同所有的操作模块，重新沿着圆盘周向均匀排列。所述第二定位器用于旋转所述待检测元件10为正确位姿。但在本实施例中，因为后续操作不需要关心所述待检测元件10的位姿，故省略了所述第二定位器。
[0042]所述待检测元件10在被送入排塑口9后，离开本检测装置，进入下一工序。这样，整个测试打印过程就得以完成。
[0043]在整个检测打印过程中，所述动吸嘴3在跟随所述转盘2每步旋转至一新位置，皆先停止吸气并短暂等待后再次吸气离开，即每步皆先释放所提的待检测元件10至相应位置接受相应操作后，再吸气提取所述待检测元件10，继续转动。
[0044]本实用新型的实施例中，通过在所述定吸嘴4附近壁面上增加用于过盈配合待检测元件10的注塑凸口 101的凹槽41，和在所述定位器上增加与所述待检测元件10的管脚数目相对应的用于容纳所述管脚的第一定位槽51，以及在所述卫星工作台6的定位块62上增加相应数目的第二定位槽61，使得所述待检测元件10在操作的全程保持正确的位姿和稳定状态，这就大大减少了故障率，增加了检测的效率，使用同一台装置即可实现对S0D23-3，S0D123，S0D323三种封装的测试分选，从而在保证检测效果的基础上，降低了成本。
[0045]本实用新型的应用不限于上述的举例，对本领域普通技术人员来说，可以根据上述说明加以改进或变换，所有这些改进和变换都应属于本实用新型所附权利要求的保护范围。
【主权项】
1.一种半导体测试分选装置，包括一震动盘，通过导轨连接定吸嘴，所述定吸嘴用于放置待检测元件，在一转盘上设置有一动吸嘴，用于吸取所述待检测元件;所述转盘周边对应所述动吸嘴的工作半径上设置有多个操作模块;其特征在于，所述定吸嘴正对待检测元件的竖直壁面上开有一凹槽，用于过盈配合所述待检测元件的注塑凸口。2.根据权利要求1所述的半导体测试分选装置，其特征在于，在所述凹槽的底部设置有接触传感器，以及所述操作模块包括一定位器，设置于所述定吸嘴与其他操作模块之间，用于调整所述待检测元件的朝向。3.根据权利要求2所述的半导体测试分选装置，其特征在于，所述定位器上设有匹配待检测元件管脚数目的至少一对定位槽，用于容纳所述待检测元件的管脚。4.根据权利要求1至3任一所述的半导体测试分选装置，其特征在于，所述操作模块还包括一用于检测所述待检测元件的检测台，在所述检测台放置待检测元件的台面上设有一活动门，用于在待检测元件不合格时打开所述活动门。5.根据权利要求4所述的半导体测试分选装置，其特征在于，所述操作模块还包括一卫星工作台，所述卫星工作台上设置有数个定位块，所述定位块沿卫星工作台周向分布，用于在所述待检测元件上打印图文。6.根据权利要求5所述的半导体测试分选装置，其特征在于，每一所述定位块上设有匹配待检测元件管脚数目的至少一对定位槽，用于完全容纳所述待检测元件的管脚。7.根据权利要求6所述的半导体测试分选装置，其特征在于，所述定位块设置为三个，并在所述卫星工作台上均匀分布，对应其转动停留位置分别设置为接受位置、打印位置和提取位置;所述打印位置对应设置用于打印标号的至少一激光发射头。8.根据权利要求7所述的半导体测试分选装置，其特征在于，所述卫星工作台的旋转速度与所述转盘的旋转速度设置为相匹配，使得所述转盘旋转一步的时间等于所述卫星工作台旋转两步的时间。9.根据权利要求8所述的半导体测试分选装置，其特征在于，所述导轨外还设置有至少一组吹气孔，用于推动待检测元件向所述定吸嘴方向移动。
【文档编号】B07C5/344GK205684366SQ201620552958
【公开日】2016年11月16日
【申请日】2016年6月8日 公开号201620552958.6, CN 201620552958, CN 205684366 U, CN 205684366U, CN-U-205684366, CN201620552958, CN201620552958.6, CN205684366 U, CN205684366U
【发明人】杨全忠, 陈祺, 李淑平
【申请人】佛山市蓝箭电子股份有限公司