专利名称：记忆体组装状态的自动化检查方法
技术领域：
本发明涉及一种记忆体组装状态的检查方法，尤其是指一种可读取一电子装置的主机板上所设记忆体模组，进而取得各记忆体模组的组装状态，且令该电子装置的显示器可显示匹配该组装状态一代码，检测人员通过察看该代码，可实时发现该等记忆体模组于该主机板的各记忆体插槽的组装情形。
背景技术：
进年来，各类型的记忆体不断推陈出新，现今所流通的记忆体模组，大都设有一个可支持串列式规格侦测装置功能(Serial Presence Detect)的唯读记忆体，亦即电子业界所简称的“SPD”，但何谓SPD呢？其是一种记忆体模组的新标准，该标准规定一记忆体模组的规格、型式、容量、速度、组成方式、制造商等资料，都必须被放在该记忆体模组上所设的一唯读记忆体中，因此，有了具串列式规格侦测装置功能的唯读记忆体，不必再去作以往开机时需以输出入介面去侦侧记忆体模组上所设的各个记忆体，而改由该输出入介面直接读取唯读记忆体内的资料，藉以缩短繁杂的侦测动作。
由上述可知，现今的记忆体模组不断被改良，具有更多的功能，但反观一般生产线，对于记忆体模组插接至主机板上的组装状态，却没有大幅的进步，其相关的检查，例如记忆体的大小、数量、位置、种类等，均是依靠作业人员以目测的方式为之，因此，作业人员若于值班当日因睡眠不足而精神不佳、心浮气燥、身体不适，或临时被其它因素所影响，例如，他人突然的叫唤、与人打招呼，甚至电话铃声等外在突发状况，都有可能一时分神，以致于造成无法正确地查找出错误点的疏失，而且，使用大量人力去作检测的方式，在人事成本上无疑会增加一笔极大的开销。
因此，如果能开发出一种记忆体组装状态的自动化检查方法，以代替人工检测记忆体的方式，对于记忆体组装生产线的品质，实为一大助益，对于企业主而言，任何一项所生产的产品，其品质的良窳，都是维系该企业主信誉的重要因素，对于产品的销售，亦是影响销售成绩的一大要素。而且，对于广大的消费大众而言，亦能使其消费行为受到保障。
有鉴于目前生产线对于记忆体的组装状态，全凭作业人员以目测方式检查，故，于整体制程上不仅较为费时费工，且于检测过程中较易出错，为改进上述的缺陷，发明人经过长久努力研究与实验，终于开发出本发明的一种记忆体组装状态的自动化检查方法。
发明内容
本发明要解决的技术问题是提供一种记忆体组装状态的自动化检查方法，其借助现今记忆体模组大都具备支持串列式规格侦测装置功能的特性，并配合一简单的检测程序，以代替人工方式检测记忆体的方式，改善使用大量人力以目视方式检测所带来的缺陷。
本发明的技术解决方案是一种记忆体组装状态的自动化检查方法，在一电子装置设有一测试程序，该电子装置执行该测试程序后，藉由察看该电子装置所设的显示器上所显示的一代码，即可轻易地获知记忆体模组于各记忆体插槽的插设情形，其中该测试程序是依下列步骤，以达到上述的测试结果首先，通过该电子设备所设的双向两线式串列汇流排，以侦测被安装在该电子装置的各记忆体插槽上的记忆体模组，并读取该等记忆体模组上具有串列式规格侦测装置功能的一唯读记忆体，藉以取得各该插接记忆体模组的组装状态；然后，将该组装状态相对应于该测试程序所设的一代码；最后，该代码被传送到该电子装置的显示器输出显示。
如上所述的记忆体组装状态的自动化检查方法，所述测试程序可将第0-N个二进制位元，相对应于第0-N个记忆体插槽作定义，并以二进制的1，代表各该记忆体插槽各自插设有一记忆体模组，0则表示未插设，其所得的二进制字节可转换成该代码。
如上所述的记忆体组装状态的自动化检查方法，可将第N+1个二进制位，定义成记忆体模组的大小，当第N+1个二进制位为1时，代表记忆体模组的大小有错误，而为0时，则代表记忆体模组的大小正确无误。
如上所述的记忆体组装状态的自动化检查方法，可将第N+2个二进制位，代表记忆体模组的种类，当第N+2个二进制位为1时，表示记忆体模组的种类有错误的情形，而为0时，则表示记忆体模组的种类正确无误。
如上所述的记忆体组装状态的自动化检查方法，该代码可为十进制数值。
如上所述的记忆体组装状态的自动化检查方法，该代码可为十六进制数值。
本发明的特点和优点是本发明提出的记忆体组装状态的自动化检查方法，借助现今记忆体模组大都支持串列式规格侦测装置功能的特性，利用一电子装置中执行一测试程序后，可侦测出各该记忆体模组的组装状态，该组装状态相对应该测试程序所设的一代码，且该代码可被传送到该电子装置的显示器输出，如此，测试人员将可通过察看该显示器所显示的代码，得知各记忆体插槽的插设情形，从而克服了现有技术的缺陷，不仅在整体制程上可节约工时，且检测过程稳定可靠，此外，还可降低沉重的人工成本，且无须另行开发测试机具或设备。
具体实施例方式
为便贵审查员能对本发明的目的、形状、构造装置特征及其功效做更进一步的认识与了解，兹举实施例并配合附图
，详细说明如下本发明提出的一种记忆体组装状态的自动化检查方法，在一电子装置设有一测试程序，该电子装置执行该测试程序后，通过其所设的双向两线式串列汇流排(Inter-Integrated Circuit，简称I2C)，侦测被安装在该电子装置的各记忆体插槽上的记忆体模组(memory module)，以读取该等记忆体模组上具有串列式规格侦测装置(Serial Presence Deteetion，简称SPD)功能的一唯读记忆体，藉以取得各该插接记忆体模组的组装状态，且该组装状态相对应于该测试程序的一代码，该代码可被传送到该电子装置的显示器输出显示，如此，藉由察看该显示器上所显示的代码，即可轻易地获知记忆体模组于各记忆体插槽的插设数量与位置。
在本发明的一具体实施例，利用该测试程序将第0-N个二进制位元，相对应于第0-N个记忆体插槽而作定义，并藉以读取各该记忆体模组的唯读记忆体内的参数，以将记忆体模组的相关资讯分别纪录于相对应的二进制位元，以形成一个二进制字节，继而将该二进制字节转换成十进制数值或十六进制数值的代码，该代码再由该显示器输出显示，如此，检测人员由所观看到的代码，即可轻易地得知记忆体模组于各记忆体插槽的插设情形，今假设该主机板上所设的记忆体插槽共六个，分别为插槽0、插槽1、插槽2、插槽3、插槽4、插槽5，位元0至位元5则分别对应于插槽0至插槽5，其相对应的表示方式如下
因此，该六个记忆体插槽与记忆体模组的插设情形，共有64中排列组合，此外，二进制的“1”代表记忆体模组存在于相对应的各记忆体插槽，而“0”则表示不存在，以下兹举数例以说明本发明例如，当该测试程序，通过双向两线式串列总线去读取插设于各记忆体插槽内的记忆体模组的唯读记忆体，测试得知仅有插槽0上设有记忆体模组，因此，所获得的二进制字节为
经转换后的十进制数值则为“1”，因此，当一测试人员收到代表十进位数值的代码为“1”时，即可得知该插槽0上插设一记忆体模组；而当二进制字节为“000011”，该测试人员收到由十进制数值的代码则为“3”，由此即可得知于插槽0与插槽1上分别有插设一记忆体模组；此外，当二进制字节为“111111”时，其十进制数值则为“63”，因此，该测试者藉由所收到的十进位数值的代码为“63”，即可快速得知插槽0至插槽5，均各自插设一记忆体模组。
由于本发明利用读取各该记忆体模组的具有串列式规格侦测装置功能的唯读记忆体，藉以判断各个记忆体插槽，是否有插设记忆体模组，且由于唯读记忆体内，有烧录各该记忆体模组的规格、型式、容量、速度、组成方式、制造商等相关资料，因此，若于侦测各该记忆体模组是否存在时，亦同时读取该唯读记忆体内所烧录的资料，如此，即可判断出各该记忆体模组的大小与种类是否有误。
因此，只须对于各记忆体插槽的数量与记忆体模组的插设与否，事先计算出全部二进制字节的排列组合，并将各种排列组合对应于一个十进制数值或十六进制数值作为代码以作出一对照表(请参阅表1所示)，藉由该对照表，即可快速地得知各记忆体模组于各记忆体插槽的插设情形。
在本发明的另一具体实施例，是对于上述所采用的实施例，另增加一个被定义成“大小”的位元6，以及一个代表“种类”的位元7，其表示方式如下
在该另一实施例中，当位元6为“1”时，代表记忆体模组的大小有错误，而为“0”时，则代表记忆体模组的大小正确无误，此外，当位元7为“1”时，表示记忆体模组的种类有错误的情形，而为“0”时，则表示记忆体模组的种类正确无误，以下兹举数个具有代表性的实例进行说明
例一若二进制字节为“00000001”，其转换后的十进制数值为“1”(十六进制数值则为“01H”)，因此，当测试人员收到的十进位数值的代码为“1”时，即可得知该主机板仅在该插槽0插设有一记忆体模组，而该记忆体模组的插设位置、大小以及种类均无错误；例二若二进制字节为“01111111”，得知转换后十进制数值为“127”(十六进制数值则为“7FH”)，表示插槽0-插槽5均各自插设有一记忆体模组，且该等记忆体模组的种类无误，但大小却有错误；例三二进制字节若为“10111111”时，其转换后的十进制数值则为“191”(十六进制数值则为“BFH”)，此情形表示插槽0-插槽5均插设有一记忆体模组，且该等记忆体模组的大小无误，但种类却有错误；例四若所获得的二进制字节为“11111111”，则十进制数值为“255”(十六进制数值则为“FFH”)，该数值表示插槽0-插槽5均插设有一记忆体模组，且该等记忆体模组的大小及种类均有错误。
表1
虽然本发明已以具体实施例揭示，但其并非用以限定本发明，任何本领域的技术人员，在不脱离本发明的构思和范围的前提下所作出的等同组件的置换，或依本发明专利保护范围所作的等同变化与修饰，皆应仍属本专利涵盖之范畴。
权利要求
1.一种记忆体组装状态的自动化检查方法，在一电子装置设有一测试程序，该电子装置执行该测试程序后，藉由察看该电子装置所设的显示器上所显示的一代码，即可轻易地获知记忆体模组于各记忆体插槽的插设情形，其中该测试程序是依下列步骤，以达到上述的测试结果首先，通过该电子设备所设的双向两线式串列汇流排，以侦测被安装在该电子装置的各记忆体插槽上的记忆体模组，并读取该等记忆体模组上具有串列式规格侦测装置功能的一唯读记忆体，藉以取得各该插接记忆体模组的组装状态；然后，将该组装状态相对应于该测试程序所设的一代码；最后，该代码被传送到该电子装置的显示器输出显示。
2.如权利要求1所述的记忆体组装状态的自动化检查方法，其特征在于所述测试程序可将第0-N个二进制位，相对应于第0-N个记忆体插槽作定义，并以二进制的1，代表各该记忆体插槽各自插设有一记忆体模组，0则表示未插设，其所得的二进制字节可转换成该代码。
3.如权利要求2所述的记忆体组装状态的自动化检查方法，其特征在于可将第N+1个二进制位，定义成记忆体模组的大小，当第N+1个二进制位为1时，代表记忆体模组的大小有错误，而为0时，则代表记忆体模组的大小正确无误。
4.如权利要求3所述的记忆体组装状态的自动化检查方法，其特征在于可将第N+2个二进制位，代表记忆体模组的种类，当第N+2个二进制位为1时，表示记忆体模组的种类有错误的情形，而为0时，则表示记忆体模组的种类正确无误。
5.如权利要求4所述的记忆体组装状态的自动化检查方法，其特征在于该代码可为十进制数值。
6.如权利要求4所述的记忆体组装状态的自动化检查方法，其特征在于该代码可为十六进制数值。
全文摘要
本发明是一种记忆体组装状态的自动化检查方法，是在一电子装置中设有一测试程序，该测试程序通过该电子装置所设的双向两线式串列汇流排，侦测该电子装置的主机板的各记忆体插槽所插接的记忆体模组，取得该等记忆体模组的组装状态，且将该组装状态相对应一代码，该代码可由该电子装置的显示器输出，以籍由该代码可轻易地获知各记忆体插槽上所插接的记忆体模组的容量及插接位置是否正确。
文档编号G01R31/00GK1591029SQ0315586
公开日2005年3月9日 申请日期2003年8月25日 优先权日2003年8月25日
发明者李永谦 申请人:英业达股份有限公司